扫描设计中的并行测试技术研究
31页1、数智创新变革未来扫描设计中的并行测试技术研究1.并行测试技术概述1.基于时钟相移的扫描技术1.基于片上总线结构的扫描技术1.基于三态总线结构的扫描技术1.基于混合扫描技术的并行测试1.基于压缩扫描技术的设计方法1.扫描技术的应用范围和发展趋势1.扫描技术的优缺点分析Contents Page目录页并行测试技术概述扫扫描描设计设计中的并行中的并行测试测试技技术术研究研究#.并行测试技术概述1.并行测试的概念:一种允许在电路的不同部分同时执行多个测试向量的测试方法,以减少测试时间和提高测试效率。2.并行测试的优点:缩短测试时间,提高测试覆盖率,降低成本,使测试过程更方便。3.并行测试的缺点:硬件开销大,设计复杂,需要更多的测试时间来生成测试向量。并行测试类型:1.基于控制的并行测试:通过使用多个控制信号同时控制电路的不同部分来执行并行测试。2.基于数据驱动的并行测试:通过使用多个数据向量同时驱动电路的不同部分来执行并行测试。3.基于寄存器的并行测试:通过使用多个寄存器同时存储测试向量并将其加载到电路的不同部分来执行并行测试。并行测试基础:#.并行测试技术概述并行测试技术:1.SCAN设计:
2、一种常用的并行测试技术,通过将电路中的各类寄存器连接成一个或多个扫描链,依次扫描寄存器的内容来执行测试。2.RTIST技术:一种基于TestpointNewMethod的并行测试技术,通过在电路中的关键节点上添加测试点来执行并行测试。3.BIST技术:一种内置自测试技术,通过在电路中设计自测试电路来执行并行测试。并行测试中的挑战:1.硬件开销:并行测试需要额外的硬件资源,如测试向量生成器、测试响应分析器和控制逻辑,这可能会增加芯片面积和功耗。2.测试时间:并行测试需要生成更多的测试向量,这可能会延长测试时间。3.测试复杂性:并行测试需要设计复杂的测试电路和测试算法,这可能会增加设计和验证的难度。#.并行测试技术概述并行测试的应用:1.芯片测试:并行测试被广泛用于芯片测试,以减少测试时间和提高测试覆盖率。2.系统测试:并行测试也被用于系统测试,以验证系统功能并检测故障。3.设计验证:并行测试可用于设计验证,以验证设计是否满足要求并检测设计缺陷。并行测试的前沿研究:1.基于人工智能的并行测试:利用人工智能技术来生成测试向量和分析测试结果,以提高测试效率和准确性。2.基于硬件在环的并行测试:
3、通过将电路与外部硬件连接起来执行并行测试,以验证电路的功能和性能。基于时钟相移的扫描技术扫扫描描设计设计中的并行中的并行测试测试技技术术研究研究基于时钟相移的扫描技术1.时钟相移的扫描技术是一种基于时钟相移原理的扫描测试技术,它通过在不同时钟相位下对电路进行扫描测试,从而提高扫描测试的效率和覆盖率。2.时钟相移的扫描技术可以有效地检测出电路中的时序故障,包括路径延迟故障、组合逻辑故障和时序逻辑故障等。3.时钟相移的扫描技术可以与其他扫描测试技术相结合,从而进一步提高扫描测试的效率和覆盖率。时钟相移的扫描技术实现1.时钟相移的扫描技术可以通过在扫描链中插入时钟相移单元来实现,时钟相移单元可以实现对时钟信号的相移。2.时钟相移的扫描技术也可以通过在扫描链中插入可变延迟单元来实现,可变延迟单元可以实现对时钟信号的延迟。3.时钟相移的扫描技术可以通过在扫描链中插入时钟控制单元来实现,时钟控制单元可以控制时钟信号的相位和延迟。时钟相移的扫描技术原理基于时钟相移的扫描技术1.时钟相移的扫描技术可以用于数字集成电路的扫描测试,提高扫描测试的效率和覆盖率。2.时钟相移的扫描技术可以用于模拟集成电路的扫
4、描测试,检测模拟集成电路中的时序故障。3.时钟相移的扫描技术可以用于混合信号集成电路的扫描测试,提高混合信号集成电路的扫描测试效率和覆盖率。时钟相移的扫描技术发展趋势1.时钟相移的扫描技术的发展趋势是向高精度、高可靠性和高集成度方向发展。2.时钟相移的扫描技术的发展趋势是向多时钟域扫描测试方向发展。3.时钟相移的扫描技术的发展趋势是向片上测试方向发展。时钟相移的扫描技术应用基于时钟相移的扫描技术时钟相移的扫描技术前沿1.时钟相移的扫描技术的前沿研究方向是时钟相移扫描测试技术的自动化,包括时钟相移扫描测试模式的自动生成和时钟相移扫描测试结果的自动分析。2.时钟相移的扫描技术的前沿研究方向是时钟相移扫描测试技术的并行化,包括多时钟域扫描测试的并行化和片上测试的并行化。3.时钟相移的扫描技术的前沿研究方向是时钟相移扫描测试技术的故障诊断,包括时钟相移扫描测试故障诊断方法的研究和时钟相移扫描测试故障诊断工具的开发。基于片上总线结构的扫描技术扫扫描描设计设计中的并行中的并行测试测试技技术术研究研究基于片上总线结构的扫描技术基于片上总线结构的扫描技术之总线连接配置1.片上总线结构可用于构建扫描链,
5、其中总线连接配置决定了扫描链的组织方式。2.总线连接配置有两种主要类型:线性和树形。3.线性连接配置简单且易于实现,但扫描效率较低。4.树形连接配置可以提高扫描效率,但其布线复杂且需要额外的控制逻辑。基于片上总线结构的扫描技术之扫描数据传输1.扫描数据传输是通过总线结构进行的,可以使用各种协议,如时分多路复用(TDM)、空间分时复用(SDM)或混合协议。2.TDM协议简单易行,但扫描效率较低。3.SDM协议可以提高扫描效率,但需要复杂的布线和控制逻辑。4.混合协议可以结合TDM和SDM的优点,实现更高的扫描效率。基于片上总线结构的扫描技术基于片上总线结构的扫描技术之总线仲裁1.当多个扫描单元同时请求访问总线时,需要进行仲裁以确定谁能够访问总线。2.总线仲裁算法有多种,如轮询、优先级仲裁和随机仲裁等。3.轮询算法简单易行,但平均等待时间较长。4.优先级仲裁算法可以减少平均等待时间,但需要额外的控制逻辑。5.随机仲裁算法可以避免对特定扫描单元的优待,但可能会导致较长的等待时间。基于片上总线结构的扫描技术之扫描单元设计1.扫描单元是连接到总线结构的单元,负责扫描数据的接收和发送。2.扫描单元
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