扫描设计中的分布式测试技术研究
28页1、数智创新变革未来扫描设计中的分布式测试技术研究1.测试质量保证1.多晶体硅缺陷检测1.电路功能验证1.片上系统设计1.芯片质量控制1.嵌入式诊断方案1.SOC分布式测试1.电路性能优化Contents Page目录页 测试质量保证扫扫描描设计设计中的分布式中的分布式测试测试技技术术研究研究测试质量保证测试质量保证1.制定详细的测试计划和测试流程,确保测试覆盖率和测试有效性。2.定期进行测试并记录测试结果,以便及时发现和修复缺陷。3.采用自动化测试工具,提高测试效率和准确性。4.建立完善的测试环境,确保测试结果的可靠性和可重复性。5.培养专业测试人员,提高测试人员的技能和经验。测试覆盖率1.测试覆盖率是指测试用例覆盖软件代码的范围,是衡量测试质量的重要指标。2.测试覆盖率越高,意味着被测试的代码越多,缺陷被发现的可能性越大。3.测试覆盖率可以分为代码覆盖率、分支覆盖率和路径覆盖率等。4.提高测试覆盖率的方法包括:增加测试用例的数量、修改测试用例的逻辑、使用代码覆盖率工具等。测试质量保证测试有效性1.测试有效性是指测试用例发现缺陷的能力,是衡量测试质量的另一个重要指标。2.测试有效性越高,
2、意味着测试用例发现缺陷的能力越强。3.提高测试有效性的方法包括:设计合理的测试用例、选择合适的测试方法、使用自动化测试工具等。自动化测试1.自动化测试是指使用自动化测试工具代替人工进行测试,可以提高测试效率和准确性。2.自动化测试工具包括单元测试工具、集成测试工具、系统测试工具等。3.自动化测试可以分为有监督自动测试和无监督自动测试。4.自动化测试的优势在于可以快速执行测试用例、提高测试覆盖率和有效性、减少人工成本等。测试质量保证测试环境1.测试环境是指用于执行测试的软硬件环境,包括操作系统、数据库、中间件、应用程序等。2.测试环境需要满足测试要求,以确保测试结果的可靠性和可重复性。3.测试环境可以分为开发环境、测试环境和生产环境。4.开发环境用于开发软件,测试环境用于测试软件,生产环境用于部署软件。测试人员1.测试人员是负责测试软件的人员,是软件质量保证的重要组成部分。2.测试人员需要具备扎实的技术功底、良好的沟通能力和分析能力。3.测试人员需要掌握测试方法、测试工具和测试流程,并能根据实际情况设计和执行测试用例。4.测试人员需要不断学习新知识、新技术,以适应软件开发和测试技术的发展
3、。多晶体硅缺陷检测扫扫描描设计设计中的分布式中的分布式测试测试技技术术研究研究多晶体硅缺陷检测1.多晶体硅缺陷检测技术的发展历程多晶体硅缺陷检测技术从早期的人工目检发展到现在的自动化检测,经历了漫长的发展历程。2.多晶体硅缺陷检测技术面临的挑战多晶体硅缺陷检测技术的发展面临着许多挑战,包括检测精度、速度、成本等。3.多晶体硅缺陷检测技术的研究热点目前,多晶体硅缺陷检测技术的研究热点主要集中在提高检测精度、速度和降低成本等方面。多晶体硅缺陷检测方法1.光学检测法光学检测法是利用光学原理对多晶体硅缺陷进行检测的方法。光学检测法包括透射光检测法、反射光检测法和散射光检测法等。2.电学检测法电学检测法是利用电学原理对多晶体硅缺陷进行检测的方法。电学检测法包括导通测试、漏电流测试和电容测试等。3.声学检测法声学检测法是利用声学原理对多晶体硅缺陷进行检测的方法。声学检测法包括超声波检测法和声发射检测法等。多晶体硅缺陷检测研究现状 电路功能验证扫扫描描设计设计中的分布式中的分布式测试测试技技术术研究研究电路功能验证可测试性设计1.可测试性设计(DFT)是一系列技术,用于提高电路的测试效率和可靠性。2
4、.DFT技术可以分为结构DFT和功能DFT两类。结构DFT技术主要包括扫描设计、边界扫描设计和内建自检(BIST)设计等。功能DFT技术主要包括随机激励和确定性激励两种。3.DFT技术的目的是提高电路的可测试性,降低测试成本,提高测试质量。扫描设计1.扫描设计是一种结构DFT技术,通过引入扫描链将电路的内部节点连接起来,形成一个可以被外部测试设备访问的扫描路径。2.扫描设计可以提高电路的可测试性,降低测试成本,提高测试质量。3.扫描设计的主要步骤包括:扫描单元插入、扫描链形成和扫描模式生成。电路功能验证边界扫描设计1.边界扫描设计是一种结构DFT技术,通过在芯片的边界上插入一个边界扫描单元(BSU),实现对芯片内部节点的访问。2.边界扫描设计可以提高电路的可测试性,降低测试成本,提高测试质量。3.边界扫描设计的主要步骤包括:BSU设计、BSU插入和边界扫描模式生成。内建自检(BIST)设计1.内建自检(BIST)设计是一种结构DFT技术,通过在芯片内部设计一个自检电路,实现对芯片的功能和性能进行自检。2.BIST设计可以提高电路的可测试性,降低测试成本,提高测试质量。3.BIST设计的
5、主要步骤包括:自检电路设计、自检模式生成和自检结果评估。电路功能验证1.随机激励是一种功能DFT技术,通过使用随机生成的激励信号对电路进行测试。2.随机激励可以提高电路的覆盖率,降低测试成本,提高测试质量。3.随机激励的主要步骤包括:随机激励信号生成、激励应用和测试结果分析。确定性激励1.确定性激励是一种功能DFT技术,通过使用精心设计的激励信号对电路进行测试。2.确定性激励可以提高电路的覆盖率,降低测试成本,提高测试质量。3.确定性激励的主要步骤包括:确定性激励信号生成、激励应用和测试结果分析。随机激励 片上系统设计扫扫描描设计设计中的分布式中的分布式测试测试技技术术研究研究片上系统设计片上系统设计1、系统复杂度增加:片上系统集成度高,组件种类多,系统规模大,设计难度和复杂度不断提升。2、可测性下降:芯片面积受限,可用于测试的引脚数有限,导致片上系统测试变得困难。3、测试成本上升:随着片上系统规模和复杂度的增加,测试成本也随之增加。可测试性设计1、设计方法:包括结构测试、随机测试和设计换算等方法,通过增加冗余电路或修改电路结构来提高可测性。2、设计技术:包括测试点插入、扫描设计和边界
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