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qfn爬锡分析资料.ppt

11页
  • 卖家[上传人]:w****i
  • 文档编号:98759938
  • 上传时间:2019-09-14
  • 文档格式:PPT
  • 文档大小:5.33MB
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    • QFN爬锡分析,外观状况(一),外观状况(二),外观3D显微镜对比,融化的锡膏大部分堆积到PCB板上,且形成圆球(由于侧面裸铜氧化严重,多余的锡是无法爬到侧面),极少部分上到QFN侧面,融化的锡膏全部爬到QFN侧面,客户可接受,X-Ray图片对比(底部PIN脚),,,,从X-Ray上QFN底部PIN脚都有上锡OK,X-Ray图片对比(底部接地部分),,从X-Ray上QFN底部接地(散热)部分都有上锡OK,电气性能分析,综上所述:外观上锡多少对电气性能无影响,备注:一级普通类电子产品消费类,电子和部分计算机的外围设备. 二级专用服务类电子产品通讯设备,复杂商业机器,测量仪器等 长使用寿命 三级高性能电子产品救生和飞行电子设备,使用过程中不能出现 中断IPC标准,侧面焊盘的长度H=0.34mm 钢网厚度:0.12mm 一次性(正常)过炉后锡膏厚度F大于0.12mm F/H35% 二级标准 我们可以一次性过炉达到二级标准,一次性过炉可以达到的标准,方案推荐,从两个方案的优缺点,我们建议选择方案一,Thank You !,。

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