《质谱仪工作原理》PPT课件.ppt

质谱法质谱法质谱法质谱法Mass Spectrometry, MS1一、质谱法概述一、质谱法概述二、质谱仪的结构和工作原理二、质谱仪的结构和工作原理进样系统、离子源、质量分析器、检测器、真空系统和进样系统、离子源、质量分析器、检测器、真空系统和数据处理系统数据处理系统三、质谱联用技术三、质谱联用技术GC-MS,LC-MS,串联质谱法串联质谱法四、质谱图与质谱仪性能指标四、质谱图与质谱仪性能指标质量范围、分辨率、灵敏度、质量稳定性和精度质量范围、分辨率、灵敏度、质量稳定性和精度第一节第一节 质谱仪及其工作原理质谱仪及其工作原理2 使待测的样品分子气化，用具有一定能量的电子使待测的样品分子气化，用具有一定能量的电子束（或具有一定能量的快速原子）轰击气态分子，使束（或具有一定能量的快速原子）轰击气态分子，使气态分子失去一个电子而成为带正电的分子离子分气态分子失去一个电子而成为带正电的分子离子分子离子还可能断裂成各种碎片离子，所有的正离子在子离子还可能断裂成各种碎片离子，所有的正离子在电场和磁场的综合作用下按质荷比（电场和磁场的综合作用下按质荷比（m/z）大小依次大小依次排列而得到谱图排列而得到谱图。

一、质谱法概述一、质谱法概述3质谱法是一种按照离子的质核比（质谱法是一种按照离子的质核比（m/zm/z）大小对离）大小对离子进行分离和测定的方法子进行分离和测定的方法质谱法的主要作用是：质谱法的主要作用是：（1 1）准确测定物质的）准确测定物质的分子量分子量分子量分子量（2 2）根据碎片特征进行化合物的）根据碎片特征进行化合物的结构分析结构分析结构分析结构分析419131913年，年，J.J. Thomson J.J. Thomson 制成第一台质谱仪制成第一台质谱仪有机质谱仪：有机质谱仪：无机质谱仪：无机质谱仪：同位素质谱仪同位素质谱仪气体分析质谱仪气体分析质谱仪IonizerSample+_Mass AnalyzerDetector5进样系统进样系统Inlet离子源离子源Ion source质量分析器质量分析器Mass Analyzer检测器检测器Detector数据处理数据处理系统系统Data SystemHigh Vacuum System二、质谱仪的结构和工作原理二、质谱仪的结构和工作原理6 4.快原子轰击快原子轰击 1.单聚焦单聚焦 2.双聚焦双聚焦 7质谱过程质谱过程撞击撞击 得到得到高速电子高速电子 气态分子气态分子阳离子阳离子 顺序谱图顺序谱图 质量分析器质量分析器定性结构定性结构 定量分析定量分析导导入入按质荷比按质荷比m/e峰强度峰强度峰位置峰位置8质谱仪的结构质谱仪的结构真空系统真空系统进样系统：直接进样和色谱进样进样系统：直接进样和色谱进样离子源：离子源：电子轰击离子源电子轰击离子源EI，化学电离源，化学电离源CI, 快原子轰击源快原子轰击源FAB,电喷雾源电喷雾源ESI, 大气压化学电离源大气压化学电离源APCI，激光，激光解吸源解吸源LD质量分析器：质量分析器：磁式单聚焦和双聚焦、四级杆、飞行时间、离子阱、磁式单聚焦和双聚焦、四级杆、飞行时间、离子阱、傅里叶变换离子回旋共振分析器傅里叶变换离子回旋共振分析器检测器：光电倍增管检测器：光电倍增管数据处理系统数据处理系统9离子源的真空度应达到离子源的真空度应达到1010-3-3-10-10-5 -5 PaPa，质量分析器应达到质量分析器应达到1010-6-6PaPa。

真空装置：机械真空泵真空装置：机械真空泵 扩散泵扩散泵 分子涡轮泵分子涡轮泵高真空高真空原因原因大量氧会烧坏离子源的灯丝；大量氧会烧坏离子源的灯丝；几千伏的加速电场会引起放电；几千伏的加速电场会引起放电；引起额外的离子分子反应，改变裂解模型，引起额外的离子分子反应，改变裂解模型，谱图复杂化谱图复杂化1 1、真空系统、真空系统102 2、进样系统、进样系统（1）直接进样）直接进样 适用于单组份、有一定挥发性的固体或适用于单组份、有一定挥发性的固体或高沸点液体样品高沸点液体样品 （2）色谱进样）色谱进样 适用于多组分分析适用于多组分分析 气相色谱气相色谱-质谱联用仪（质谱联用仪（GC-MS） 液相色谱液相色谱-质谱联用仪（质谱联用仪（LC-MS）等）等 11电子轰击离子源电子轰击离子源EI，化学电离源化学电离源CI, 快原子轰击源快原子轰击源FAB, 磁式双聚焦质谱仪磁式双聚焦质谱仪 电喷雾源电喷雾源ESI, 大气压化学电离源大气压化学电离源APCI，激光解吸源激光解吸源LD3 3、离子源、离子源GC-MSLC-MS12+: R1: R2: R3: R4: e+M+(M-R2)+(M-R3)+Mass Spectrum(M-R1)+(1)(1)电子轰击源电子轰击源(electron impact ionization, EI)(electron impact ionization, EI)(electron impact ionization, EI)(electron impact ionization, EI)13ABCD + eABCD + e- - ABCD ABCD+ + + 2e+ 2e- - 分子离子分子离子 BCD + A + B + A + CD + AB + A + B + ABCD+ D + C + AB + CD + C + D +碎碎片片离离子子分子离子、碎片离子、重排离子、加合离子、同位素离子。

分子离子、碎片离子、重排离子、加合离子、同位素离子 电子轰击法是通用的电离法，是使用高能电子束电子轰击法是通用的电离法，是使用高能电子束从试样分子中撞出一个电子而产生正离子，即从试样分子中撞出一个电子而产生正离子，即 14EI EI 源的特点：源的特点：H电离效率高；应用广泛；操作方便电离效率高；应用广泛；操作方便EIEI源：源：可变的离子化能量可变的离子化能量 (10(10240eV,240eV,常用常用70eV )70eV )电子能量电子能量 电子能量电子能量 分子离子增加分子离子增加碎片离子增加碎片离子增加 对于易电离的物质降低电子能量，而对于难对于易电离的物质降低电子能量，而对于难电离的物质则加大电子能量（常用电离的物质则加大电子能量（常用70eV 70eV ）15CH4 + e CH4 + + 2eCH4+ + CH4 CH5 + + CH3 离子室内的反应气（甲烷等；离子室内的反应气（甲烷等；1010100Pa100Pa，样品，样品的的10103 310105 5倍），电子（倍），电子（100100240eV240eV）轰击，产生离）轰击，产生离子，再与试样分离碰撞，产生准分子离子。

子，再与试样分离碰撞，产生准分子离子 结构与结构与EIEI同，但是在离子化室充同，但是在离子化室充CHCH4 4，电子首先，电子首先将将CHCH4 4离解，其电离过程如下：离解，其电离过程如下：生成的气体离子再与样品分子生成的气体离子再与样品分子M反应：反应： CH5 + + M CH4 + MH+(2) (2) 化学电离源化学电离源(chemical ionization CI)(chemical ionization CI)16+气体分子气体分子试样分子试样分子+准分子离子准分子离子电子电子(M+1)+;(M+17) +;(M+29) +;过程过程17特点：特点： v得到一系列准分子离子（得到一系列准分子离子（M+1M+1）+ +, ,（M-1M-1）+ +，（M+2M+2）+ +等等；等等；vCICI源的的碎片离子峰少，图谱简单；源的的碎片离子峰少，图谱简单；v不适于难挥发成分的分析不适于难挥发成分的分析18 （3 3）快原子轰击）快原子轰击 (fast atom bombardment FAB) (fast atom bombardment FAB) 高能量的高能量的ArAr原子原子轰击涂在靶上的样轰击涂在靶上的样品，溅射出离子流。

品，溅射出离子流 本法适合于高极本法适合于高极性、大分子量、低性、大分子量、低蒸汽压、热稳定性蒸汽压、热稳定性差的样品差的样品19(4) 场致电离源（场致电离源（FI）电压：电压：7-10 kV；d1 mm；强电场将分子中拉出一个电子；强电场将分子中拉出一个电子；分子离子峰强；分子离子峰强；碎片离子峰少；碎片离子峰少；不适合化合物结构鉴定；不适合化合物结构鉴定；阳极+阴极d1mm20ESIESI是一种表面离子化技术先在溶液中离子化，然后是一种表面离子化技术先在溶液中离子化，然后在电场作用下雾化在电场作用下雾化气帘的作用：雾化；蒸发溶剂；阻止中性溶剂分子气帘的作用：雾化；蒸发溶剂；阻止中性溶剂分子（5 5）电喷雾源）电喷雾源 (Electron spray Ionization (Electron spray Ionization，ESI)ESI)21RayleighLimitReached+-+-+-+-Evaporation+Charged Droplets试样离子准分子离子Analyte Ions Solvent Ion ClustersSalts/Ion pairsNeutrals+-其他离子ESIESI是软电离源，通常很少或没有碎片，是软电离源，通常很少或没有碎片，准分准分子离子，子离子，只能提供未知化合物的只能提供未知化合物的分子量分子量信息，信息，不能提供结构信息。

不能提供结构信息22(6)大气压化学电离源大气压化学电离源(Atmospheric pressure chemical (Atmospheric pressure chemical Ionization, APCI)Ionization, APCI) 234 4、质量分析器原理、质量分析器原理磁式分析器磁式分析器单聚焦分析器单聚焦分析器双聚焦分析器双聚焦分析器四极杆分析器四极杆分析器飞行时间分析器飞行时间分析器离子阱分析器离子阱分析器回旋共振分析器等回旋共振分析器等24（1 1）磁式质量分析器）磁式质量分析器收集器收集器离子源离子源BS1S2磁场磁场R25电离室原理与结构仪器原理图26离子生成后，在质谱仪中被电场加速加速后其动能和离子生成后，在质谱仪中被电场加速加速后其动能和位能相等，即位能相等，即：其中其中 m m: : 离子质量；离子质量；v v: : 离子速度；离子速度；z z: : 离子电荷；离子电荷；V V: : 加速电压加速电压(1)27当被加速的离子进入磁分析器时，磁场再对离子进行作用，当被加速的离子进入磁分析器时，磁场再对离子进行作用，让每一个离子按一定的弯曲轨道继续前进。

其行进轨道的让每一个离子按一定的弯曲轨道继续前进其行进轨道的曲率半径决定于各离子的质量和所带电荷的比值曲率半径决定于各离子的质量和所带电荷的比值m/zm/z此时由离子动能产生的离心力由离子动能产生的离心力( (mvmv2 2/R/R) )与由磁场产生的向心力与由磁场产生的向心力( (HzvHzv) )相等：相等：其中：其中：R R为曲率半径为曲率半径 H H为磁场强度为磁场强度由此式得由此式得：(2)代入代入(1)(1)式得式得：质谱的基本方程质谱的基本方程28当当 R为仪器设置不变时，改变加速电压为仪器设置不变时，改变加速电压或磁场强度，则不同或磁场强度，则不同m/z的离子依次通过的离子依次通过狭缝到达检测器，形成质量谱，简称质狭缝到达检测器，形成质量谱，简称质谱29方向聚焦方向聚焦；相同质荷比，入射方向不同的离子会聚；相同质荷比，入射方向不同的离子会聚；分辨率不高分辨率不高30双聚焦磁场分析器双聚焦磁场分析器方向聚焦：相同质荷比，方向聚焦：相同质荷比，入射方向不同的离子会聚；入射方向不同的离子会聚；能量聚焦：相同质荷比，能量聚焦：相同质荷比，速度速度( (能量能量) )不同的离子会不同的离子会聚；聚；离子源离子源收集器收集器磁场磁场电场电场S1S2+- 质量相同，能量不同质量相同，能量不同的离子通过电场和磁场时，的离子通。