等厚干涉的应用
6页1、实验七 等厚干涉的应用光的干涉是重要的光学现象之一,它为光的波动性提供了重要的实验证据。 光的干涉现象广泛地应用于科学研究、工业生产和检测技术中,如用作测量光波 波长,精确地测量微小物体的长度、厚度和角度,检测加工工件表面的光洁度和 平整度及机械零件的内应力分布等。本实验主要研究牛顿环和劈尖两个典型的光的等厚干涉现象。实验目的1. 观察光的等厚干涉现象,熟悉光的等厚干涉的特点。2. 用牛顿环测定平凸透镜的曲率半径。3. 用劈尖干涉法测定细丝直径或微小厚度。实验仪器牛顿环仪,移测显微镜、钠灯、劈尖等。牛顿环仪是由待测平凸透镜(凸面曲率半径为200700cm) L和磨光的平玻 璃板P叠合装在金属框架F中构成(图1)。框架边上有三个螺旋H,用以调节L 和P之间的接触,以改变干涉环纹的形状和位置。调节H时,螺旋不可旋得过 紧,以免接触压力过大引起透镜弹性形变,甚至损坏透镜。a图2图-1实验装置如图2,图中所示移测显微镜部分内容请参阅实验一读数显微镜的 使用方法,调整时应注意:1. 调节45玻璃片,使显微镜视场中 亮度最大。这时,基本上满足入射光垂直于 透镜的要求。2. 因反射光干涉条纹产生在空
2、气薄膜 的上表面,显微镜应对上表面调焦才能找到 清晰的干涉图像。3. 调焦时,显微镜应自下而上缓慢地 上升,直到看清楚干涉条纹时为止。实验原理利用透明薄膜上下两表面对入射光的 依次反射,入射光的振幅将被分解成有一定 光程差的几个部分。若两束反射光相遇时的 光程差取决于产生反射光的透明薄膜厚度, 则同一干涉条纹所对应的薄膜厚度相同。牛顿环和劈尖干涉都是典型的等厚干涉。1 .牛顿环将一块平凸透镜的凸面放在一块光学平板玻璃上,因而在它们之间形成以接 触点0为中心向四周逐渐增厚的空气薄膜,离0点等距离处厚度相同。如图3 (a)所示。当光垂直入射时,其中有一部分光线在空气膜的上表面反射,一部 分在空气膜的下表面反射,因此产生两束具有一定光程差的相干光,当它们相遇 后就产生干涉现象。由于空气膜厚度相等处是以接触点为圆心的同心圆,即以接 触点为圆心的同一圆周上各点的光程差相等,故干涉条纹是一系列以接触点为圆 心的明暗相间的同心圆,如图3 (b)所示。这种干涉现象最早为牛顿所发现, 故称为牛顿环。设入射光是波长为九的单色光,第k级干涉环的半径为rk,该处空气膜厚度 为,则空气膜上、下表面反射光的光程差
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