电子元器件的贮存可靠性及评价技术.docx

X U □□ I I LJ"八一Ip T F 1/ I I八」人/ I、在现代工业的发展中，电子元器件是许多设备和机械中的基础 元 件随着电子工业的发展进步，对电子元器件贮存可靠性的研究也在不 断的深入一些电子元器件需要保持较长的贮存年□艮，来满足其使用 功能的发挥尤其是一些长期贮存，短期使用的零部件，其贮存的可靠 性显得更为重要在加强对电子元器件贮存的管理中，企业通过建立科 学的考核评价制度，以及对电子元器件贮存的可靠性和评价技术进行研 究，来实现电子元器件长期贮存的目标一.电子元器件贮存可靠性的重要意义在对电子元器件贮存时效的研究中，发现大多数贮存超过十年的 电子元器件其性能存在一定的问题也即是说部分电子元器件的使用寿 命因为贮存性能不达标而大大缩短这些电子元器件在制造和使用的初 期，由于制造工艺和内部模块等出现的一些问题，？ e略谑褂玫暮笃谄 ^X T玫目煽啃越档停？出现较多的问题因此，加强对电子元器件贮存 可靠性的研究，能够对提高电子元器件使用已经装备的可靠性起到保障 作用C.电子元器件贮存中失效的原因在对电子元器件贮存可靠性研 究中，分析电子元器件失效的原因是重要的内容一般情况下， 长期贮存后的电子元器件失效的原因包括水汽因素、环境因素、制造 H艺等。

在对电子元器件失效原因的划分中，可以分为国内电子元器件 失效模式和国外电子元器件失效的原因一）国内电子元器件失效的原因在对电子元器件失效的研究中，不同电子元器件根据其结构和制 造和构造等不同，其失效的原因和形式也各有差别在国内电子元器件 中，半导体分立器件失效的主要原因主要是引线焊接过程中出现的工 艺缺失，以及空气中水汽过多，密封性较差等，造成半导体分立器件的 漏气和开路等失效形式在一般情况下，混合集成电路的失效主要是由 引线和铝金属受到腐蚀、 粘结和键合失效，表现出外引线断裂等另外，电阻器件失效表现为电阻数值出 现漂移，以及电路出现短路的情况造成其失效的原因较多，主要是由 制造过程中工艺中电极和基片的焊接缺陷， 以及绝缘材料变质，内部污染，热应力造成的电阻增大等原因电真空器件 失效的原因主要由管壳的漏气， 电真空器件的腐蚀等其主要表现为灯丝端断裂和真空度下降和失效 电磁继电器失效的原因有引线和触电有机化学受到腐蚀、器件密封性较差，以及有机污染物 的挥发等其造成的失效表现为外引线受腐蚀后脆化断裂、电阻状态不 稳定，以及器件漏气等状况连接器是电子器件的连接材料，其失效 主要受到环境中水汽的影响， 造成的连接器中的绝缘材料的老化腐蚀。

连接器失效的表现形式为锈蚀频率元件的 失效表现为频率器件的停振和晶片的断裂破碎 频率元件 失效的原因由空气中水汽过多，以及器件在制造过程中晶片本身的工艺 缺陷等射频电缆失效主要的原因是器件受环境的影响，造成其绝缘材 料老化，其主要的表现形式为射频电缆的短路二）国外电子元器件失效的主要原因在国外电子元器件失效 原因的研究中，包括内部结构失效和外部结构失效其中，电子元器 件的内部结构失效和其贮存的环境、制造工艺、温度和水汽等因素有 关而外部结构失效是电子元器件失效的主要原因，其主要是受到元器 件在贮存过程中受到环境中温、湿度，以及其他情况的影响外部结构 失效包括腐蚀造成的外引线断裂，以及工艺缺陷引起的封装漏气失效和 引线焊接失效在国外电子元器件的失效研究中，混合集成电路常见的失效形式 表现为电容器的短线、短路，以及电阻器的短线等导致混合继承电路 失效的原因有集成电路的元件、绝缘体受到破坏，电容耦合以及电器粘 结失效等单片微型器件的失效原因主要是制造过程中连接不合格，以 及器件遭受的磨损和腐蚀、绝缘体损坏等其造成的器件连接缺陷，电 路短路等电阻器失效的原因主要是受到环境因素的影响，导致的器 件干燥或遭受腐蚀和不绝缘等状况。

电阻失效的表现形式有电阻值的增 加，电路的短路和断路等电容器常见的失效形式表现为电器绝缘材料 和介质等受环境影响而出现的变质、破损等现象电容器件失效的原因 有水汽过多造成器件的潮解和密封损坏三.电子元器件贮存可靠性评价技术根据电子元器件失效的原因和形式的了解，可知电子元器件失效工切心 f I U工/ 寸 JZJX 心，ISC I寸七 U IT 久工 U2J芯片引线脱落和水汽的影响因此，为了解决电子元器件的长期贮存问 题，提高其贮存的可靠性，需要从多个方面入手，结合各种影响因素， 进行全面的管理其中，许多国家和地区引入了电子元器件可靠性评价 技术来加强对电子元器件可靠性的掌握电子元器件可靠性评价技术包 括长期贮存实验评价技术，极限应力评价技术和加速贮存寿命实验技术 三个方面一） 长期贮存实验评价技术在电子元器件贮存可靠性评价技术中，长期贮存实验技术能够掌握电子元器件贮存中失效的信息，是提 高电子器件贮存可靠性的一种直接和有效的方法使用长期贮存实验评 价技术，根据电子元器件是失效的原因找回失效的信息，并在此基础上 找出提高电子元器件可靠性的有效措施但是，在其进行失效信息的找 回和分析中需要耗费大量的时间。

在实际运用中，长期贮存实践评价技 术较为适用关键电子元器件和新型的电子元器件二） 极限应力评价技术极限应力评价技术是指通过运用某些力学性能实验来对产品的失效模、失效机理进行研究，并在此基础上提 出相应的改正措施，降低产品失效的几率，提高其可靠性极限应力评 价技术是针对电子元器件缺陷的评价技术，它包括应力---强度模型、 应力---时间模型等三） 加速贮存寿命实验技术在电子元器件贮存可靠性评价技术中，加速贮存寿命实验技术是一项时间较短、费用较低的电子元器件 可靠性评价技术加速贮存寿命实验技术主要是通过模拟并加快电子元 器件的应力和环境的变化速度来加快其贮存，完成可靠性实验虽然， 加速贮存寿命实验技术能够具有较快的速度，但是在实际运用中其误差 较大，准确性需要进一步提高四.结语保持电子元器件在长期贮存条件下的可靠性，是电子元器件 研 究 的热点问题提高电子器件贮存的可靠性，对保障电子产品的使 用寿命 具有重要的意义在电子产品贮存失效原因的分析中，可以分 为国内电 子元器件失效原因和国外电子元器件失效的原因并根据 电子元器件失 效的原因，提出电子元器件贮存可靠性技术评价其主要包括，长期贮 存实验评价技术、极限应力评价技术以及加速贮存寿命实验技术等，对 提高电子产品贮存可靠性有重要的作用。