运算放大器主要参数测试方法说明1.docx

通用运算放大器主要参数测试方法说明1. 运算放大器测试方法基本原理采用由辅助放大器(A)与被测器件(DUT)构成闭合环路的方法进行测试， 基本测试原理图如图1所示Rf图1辅助放大器应满足下列要求：(1) 开环增益大于60dB；(2) 输入失调电流和输入偏置电流应很小；(3) 动态范围足够大环路元件满足下列要求：(1) 满足下列表达式Ri • IbVVosRVRid R • Ib >Vos RosVRfVRid R1 = R2 R1>RL式中：Ib：被测器件的输入偏置电流；Vos :被测器件的输入失调电压；Rid :被测器件的开环差模输入电阻； Ros :辅助放大器的开环输出电阻；(2) Rf/ Ri值决定了测试精度，但须保证辅助放大器性区工作2. 运算放大器测试适配器SP-3160III数/模混合集成电路测试系统提供的运算放大器测试适配器便是 根据上述基本原理设计而成它由运放测试适配板及一系列测试适配卡组成，可 以完成通用单运放、双运放、四运放及电压比较器的测试运算放大器适配器原 理图如附图所示3 .测试参数以OP-77G为例，通用运算放大器主要技术规范见下表elECTrpCal CHARACTERISTICS at va - j isu,。

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3.2.3编程举例：(测试对象：OP-77G,测试系统：SP3160)测试条件详见下一参数图4⑴ 在规定的环境温度下，将被测器件接入测试系统中；(2)电源端施加规定的电压；⑶开关K4置“地”(或规定的参考电压)；⑷开关K1断开、K2闭合，在辅助放大器A的输出端测得电压VL2；⑸ 开关K1闭合、K2断开，在辅助放大器A的输出端测得电压VL3；(6)计算公式：Ib=(Ri/(Ri+Rf))*((VL2-VL3)/2R)3.3.3编程举例：(测试对象：OP-77G,测试系统：SP3160)----测试名称:Ib/Ios----测量方式 :Ib/IosBias 1=-15.000 VClamp1=-10.000mABias 2=15.000 VClamp2=10.000mA测量高限=2.8 nA测量低限=2.8 nA测量延迟 ：10mS箝位延迟 ：10mSSKon=[0,4,11,12,13,19,23,27]电压基准源2电压=0V电压基准源2量程+/-2.5V电压基准源3电压=0V电压基准源3量程+/-2.5V测试通道TP1测量单元DCVDCV 量 程:+/-2V图5⑴ 在规定的环境温度下，将被测器件接入测试系统中；(2)电源端施加规定的电压；⑶ 开关K4置“1”，在辅助放大器A的输出端测得电压VL4；⑷ 开关K4置“2”，在辅助放大器A的输出端测得电压VL5；⑸计算公式：Avo=((Vref+-Vref-)/(VL4-Vl5))*((Ri+Rf)/Ri) 或 +Avo=20lg(((Vref+-Vref_)/|(VL4-Vl5)|)*((Ri+Rf)/Ri))(dB)。

3.4.3编程举例：(测试对象：OP-77G,测试系统：SP3160) ----测试名称:Avo----测量方式 :Op_AvoBias 1=-15.000 VClamp1=-10.000mABias 2=15.000 VClamp2=10.000mA测量高限= dB测量低限=126 dB测量延迟 ：10mS箝位延迟 ：10mSSKon=[0,4,11,12,13,17,19,23,27]电压基准源2电压=0V电压基准源2量程+/-2.5V电压基准源3电压=-5_5V 电压基准源3量程+/-10V 测试通道TP1测量单元DCVDCV 量 程：+/-2V图6⑴ 在规定的环境温度下，将被测器件接入测试系统中；(2) 电源端施加规定的电压；(3) 输入端施加规定的直流共模信号电压Vic+，在辅助放大器A的输出端测得电压VL6；⑷ 输入端施加规定的直流共模信号电压Vic-，在辅助放大器A的输出端测得 电压VL7；⑸计算公式：CMRR=((Vic+-Vic_)/(VL6-VL7)*((Ri+Rf)/Ri)或 +CMRR=20lg(((Vic+-Vic_)/(VL6-VL7)*((Ri+Rf)/Ri))(dB)。

3.5.3编程举例：(测试对象：OP-77G,测试系统：SP3160) ----测试名称:CMRR---- 测量方式 :Cmrr Bias 1=-5_-25 V Clamp1=-10.000mA Bias 2=25_5 V Clamp2=10.000mA 测量高限=―dB 测量低限=116 dB 测量延迟 ：10mS箝位延迟 ：10mSSKon=[0,4,11,12,13,18,19,23,27]电压基准源2电压=0V电压基准源2量程+/-2.5V 电压基准源3电压=-5_5V 电压基准源3量程+/-10V 测试通道TP1 测量单元DCVDCV 量 程:+/-2V。