ALPHA能谱分析
62页1、能谱分析,张艾明,主要内容,概述 总放射性测量 能谱样品源制备方法 能谱测量仪器 数据处理 质量保证 能谱的发展,概述,粒子实际上就是氦原子核 由2个质子和2个中子组成 带有2个正电荷 放射性核素的核放射出粒子而变成另一新核素的变化过程称衰变; 该放射出粒子的核素称核素。,概述,核素所发射的粒子的能量在1.8-8.8MeV之间,常见核素的能量主要分布在4.0-8.8MeV范围内。 粒子在物质中射程很短,在固体或液体中,一般只有几微米到一百微米,质量厚度相当于10mg/cm2以下。,概述,放射性测量与分析的目的就是通过对粒子的能量和数量的探测,根据粒子与发射该粒子的核素的特定关系而取得被测样品中的核素的种类和含量。 根据不同的测量目的,可分为总放射性测量和能谱测量。,总放射性测量,所关心的主要是样品中辐射的总发射率,仅能知道样品中的总活度或总比活度,不能给出样品中核素的种类和各自的活度。,总放射性测量的特点,化学前处理简单; 产生废液少; 给出的结果快、成本低; 对大量放射性监测样品能起到筛选的作用。,总放射性测量方法,根据待测样品的厚度不同,样品的总放射性测量可分为: 薄样法 中间层
2、厚层样法(后者又称饱和层法、厚源法),总放射性测量常用探测器,常用测量总放射性的探测器有正比计数器、闪烁计数器、半导体探测器及长距探测器LRAD FJ2600、测量仪为流气式正比计数器、FJ2603G弱、测量仪和BH1216低本底、测量仪为金硅面垒半导体探测器;LB770、MINI2000。,能谱分析,能谱分析就是一种利用谱仪识别样品中核素的种类和定量其活度的核物理学分析方法。由于进行能谱测量所用的样品源必须是薄源,所以要求特殊的制源技术,特别是用于半导体探测器测量的样品,大多需经放射化学浓集、分离和纯化处理。,能谱样品源制备方法,根据制源主要流程的不同,可将制源方法粗略分为化学方法和物理方法。 化学方法:电沉积、共沉淀、蒸发及真空升华等 物理方法:真空干燥法 、气溶胶滤纸等 其它:液体源(液闪、直接半导体),能谱样品源制备方法,化学方法: 经预处理、浓集、分离、纯化等较复杂的放射分析化学流程后的制源方法 常见电沉积: 电沉积法多用于放射性含量低、干扰成分多(如能量相同或接近的其它核素,影响源性能的化学组分等)、分析单个或少数几个核素、介质组分复杂的样品的制备。,化学方法:,由于化学分
3、离不可避免的造成待测核素的损失,所以化学回收率的确定就很重要。 化学回收率大多采用放射性示踪剂来测定,理想的示踪剂应是同一种元素,处于相同的化学形态,在分析中能用同样的计数方法更好地测量,如236Pu、242Pu、232U和243Am可分别作为Pu、U及Am的其它核素的示踪剂,同时还应考虑粒子能量、半衰期、子体、纯度、价格和供应能力等因素。,化学方法,在磨光不锈钢盘上的U电沉积源(放大3500倍),在未磨光不锈钢盘上的U电沉积源(放大1400倍),能谱样品源制备方法,物理方法: 物理方法指采集的样品主要依靠诸如粉碎、烘干等物理过程而仅需简单化学处理或不必经化学处理的制源方法,常见的有真空干燥法和直接采集空气样的微孔滤纸法。 真空干燥法适于制备活性面积为大于几百平方厘米的源,用于屏栅电离室谱仪,源的大小主要依赖于屏栅电离室的大小。,能谱样品源制备方法,真空干燥法 (1)样品的预处理 (2)粉碎至lm左右的颗粒 (3)在真空干燥箱内铺制大面积样,能谱测量仪器,粒子能量谱仪 显示粒子径迹图象的仪器 磁偏转分离型仪器 电脉冲幅度监测型仪器,能谱测量仪器,电脉冲幅度监测型仪器 以电脉冲的幅度大小
4、作为测量能量的尺度 可粗略地分为探测器和电子学线路两大部分,可用于谱仪的探测器,屏栅电离室 正比计数器 闪烁计数器 半导体探测器,可用于谱仪的探测器,屏栅电离室,如中国原子能研究院开发的活性面积为300cm2平板型和1500cm2圆柱型屏栅电离室、美国ORDELA公司的MODEL 8250和CANBERRA公司的IN614 FRISCH 屏栅电离室等 半导体探测器,如美国ORTEC公司的OCTETE-PLUS 8路集成谱仪、CANBERRA公司的MODEL 7200-08集成谱仪和MODEL 7404四路谱仪等,半导体探测器谱仪,半导体谱仪的优点是设备简单、分辨率高,但其缺点是探测面积太小,因而除了微孔滤纸空气样品以外,需要进行化学分离制样,样品室需抽真空。制样程序一般较繁,耗费时间,较适用于分析单个或少数几个核素,不适用于未知样品的全核素分析。,半导体探测器谱仪,半导体探测器又可分为扩散型、面垒型和离子注入型三种 离子注入型与其它两种相比有更薄的窗和更abrupt的P-N结,因而有更低的反向漏电流、更好的分辨率、更低的本底和更高的操作效率。尤其是钝化注入平面硅(passivated
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