Icp-Ms常见问题答疑（二）

1、ICP-MS 常见问题答疑（二）180、请教各位大虾，在环境系统中碰装反应池作用大吗？1. 如果您测的是 K,Ca,V,Cr,Fe As Se 等元素，用碰撞池或者反应池技术有很大的优势。2. 还有就是像海水那样基体复杂的样品也要用到碰撞反应池技术3. 基体较为简单时，如果不分析痕量的 K Ca Fe Se，碰撞反应池作用不大。当基体较高时，尤其是样品成分非常复杂的时候，会产生较多的干扰，不用碰撞反应池会导致多种元素测量结果由于叠加干扰而偏高。181、是不是无机质谱都是与等分析仪器联用的，不能单独地用无机？而有机质谱则是与色谱联用？如果不是这样，那它们是怎么用的？1. 无机质谱分析元素总量有机质谱分析有机化合物ICP 是无机质谱的离子源，就像 EI APCI 作为有机质谱源一样需要分离各种成分就在前面连接色谱使用。2. 无 机 质 谱 顾 名 思 义 主 要 用 于 无 机 元素 分 析.有 机 质 谱 则 主 要 用 于 有 机 化 合 物 的 结 构 分 析与 分 子 量 的 确 定 ,通 常 它 要 与 IR(红 外), UV(紫外),NMR(核 磁) 结 合 起 来 进 行 结

2、 构 剖 析 .182、最近碰到一些样品需要检测 Si，但是我连基本的校准曲线作的都很差，麻烦各位达人请指教：我使用的是 7500cs。应该使用什么手法做检测呢？有人做过磷（ P）的碰撞反应池检测吗？是检测 31 还是 47 呢？如果用冷激光模式，能够达到多大的检出限？1. Si 的实验没有做过。但是 P 的检测做过，选用 31 或 47 都有文献报道。如果用 O2 做碰撞气，当然测 47。如果用 He、 H2 做碰撞气，可采用 312. 冷激光模式做 P 可能不会太好，毕竟 P 的电离能很高3. 首先必须避免污染，并且用 99.999%的 Ar.在常规模式下， Si28 的 BEC 大约为 50ppb，DL1ppb。 P 在常规模式下则非常差。要达到更好的效果， Si、 P 均用 H2 为 ORS 气体。4. 不知道你是什么样品，如果是硅酸盐类样品，消解的时候用到 HF，生成的 SiF4 是挥发性的，可能有损失，这个可能是校准曲线作的很差主要原因吧。好像用碱熔可以避免这个问题，理论上应该是可行的。测 P 的话应该问题不大，可以将所有的干扰元素检测一下，排除叠加的部分再试试。5. 我觉

3、得还是得看是什么样品,如果主含量是 SI 可不可以考虑用其他的手段来测定啊,如果不是,要重点优化你的样品处理方法和仪器条件(标准曲线很差)P 的测定,我个人了解,用 ICP/MS 做的效果都不是很好,你要了解一下 P 的结合形式,是单质还是氯化物什么形式,如果是化合物的形式可以考虑用 GC 来解决6. 你具体样品是什么?样品如何处理的? 监测范围多少?Si28 受到 N14N14 和 C12O16 的干扰,Si29 同样受到 14N14NH 和 12C16OH 的干扰.P31 受到 14N16OH 的干扰.这些干扰来自,Ar 气(N2,O2,CO2 etc),水,HNO3,等.7500cs,H2 部分可以消除 Si 的干扰,背景（ BEC)可以 12ppb.调的好,BEC0.5ppb,DL30ppt.调机时用 DIW 检查背 景,Si 标液看灵敏度,maximize sensitivity, minimizebackground.Si 信号不稳,点火后多烧几个小时在测.H2 对 P31 的干扰没用,He 相对好一点,He+ED 背景（ BEC)可以降到50100ppb,或许 Xe的效果

4、会好一些,没试过.用Cool plasma,测PO47可以试,Ti47再Cool plasma下不会电离,所以不会干扰. BEC1ppb,DL1ppb7. 的检测做过，选用 31 或 47 都有文献报道。如果用 O2 做碰撞气，当然测 47。如果用He、 H2 做碰撞气，可采用 31183、 ICP-MS 老熄火.我怀疑是那漏气但不好检查1. 气体纯度不够也会熄火，一定要四个 9 以上2. 我刚开始用的时候也出现过这种情况。这时候：1.1 检查气体流量和压力1.2 检查雾室内有无积水。1.3 维护状态下 15， 1， 1 升每分吹矩管 10 分钟，再次点火。3. 检查湿度是否太大湿度太大也会熄火在热焰冷焰切换时也容易熄火4. 原因:1、雾室与 TORCH 连接部分漏气； 2、 TORCH BOX 温度过热； 3、 INTERFENCEGATE 温度过高。5. 是不是通风不好，炬管温度过高6. 也有可能是泵后面的电气元件散热不好，造成保护中断，比如风扇坏了。184、有人做过陶瓷的消解吗？请介绍一个好的方法。1. H2SO4： HF 1： 1， 220 度2. 是陶瓷材料吗？一般用酸溶和碱

5、熔酸溶： HF,HClO4,HNO3 混酸碱熔：碳酸钠，硼砂185、我们在用 ICP-MS 测茶叶中的铅时，采用不同的内标测定结果相差很大。用 In 作内标时，测出来茶叶标准样的结果为 4.2（真值为 4.34），样品结果为 2.2；用 Bi 作内标时，茶叶标准样为 4.7，样品为 2.7 ，标准曲线的线性都为 4 个 9，我不知道样品结果该用那个？1. 我觉得如果样品基体中不含 Bi 的话，用 Bi 应该比 In 要好一点吧。毕竟它和铅的质量数 更为接近。用标准加入法做下结果 看更接近哪个结果。2. 我觉得两个结果都是可以接受的。有时候质控样做的好，样品的结果不一定好的。3. Bi 的结果可能有些问题，有些茶叶里面的 Bi 的本底也比较高，这时你用 Bi 做内标，测试的结果会偏高。4. 用 Bi 的结果,因为 Bi 与 Pb 质量数接近.5. 理论上结果应相同，这种现象比较常见，不知道你用的是哪种加入法，在线加入还是直接加入，你可以多进几次，观察内标的变化，选择内标前后稳定的结果作为参考。186、谁能简单地跟我讲讲质谱分辨原理。一直不明白怎样才能分辨是何离子，且有多少量1. 由于四极

6、杆的快速扫描能力，通常使用脉冲计数离子检测，但对于平均电流检测来说在检测器之后要加入 A/D 转换器，因此，数据采集系统接受一个快速脉冲序列，这可以用正常的脉冲计数电子电路来实现，现代的数据采集系统可以在速率高达 100MHz 时没有明显地损失而很容易地实现计数，比一般使用的检测器能提供的高得多的计数。在一个质量谱上每一个质量峰的累积计数的储存和量化问题是值得考虑的，因为穿过质量数 100 或更大的范围内的每一次扫描期间，峰滞留时间仅仅为 300 s。在两个商品仪器系统中随着分析器跳过或步进穿过感兴趣的质量范围时，采用交互方式对每一个峰积分计数。为了确定每一个积分，在每一个峰处要测几个点，跳峰系统有很多优点，在质谱图的空白区不浪费时间，因此最有效地利用了给定总的积分时间和分析样品溶液。利用这种方式还可以花费较大块的分析时间在最小的峰上，以便可以改进统计计数和检出限。显示全谱的扫描肯定比正常的跳峰循环慢得多。在 VG 仪器上，遵照在 Surrey 最早发展时使用的方法，离子检测的输出最开始是储存在一个使用 MCS 方式的多道分析器里，有高达 4096 个通道可以使用，通道地址与扫描质量分

7、析器的连续扫描相同步。因此每个峰在顺序扫描中占有同样多的道数，也就是在全部质量范围内正常扫描时每一个峰占 10 个通道。在 MCS 系统中通道的滞流时间可能在10?s，通道和通道之间没有明显地信息损失，因此使用 2048 道扫描大约可在 20ms 内完成，每一个质量峰约使用 8 个通道。这个扫描速度比质量分析器扫描速度快，质量分析器的扫描速度限制大约为 100ms 每扫一次，因此在这个系统中数据采集并不限制扫描速度。一旦所选的整个积分时间到达时，储存在 MCS 内存中的数据就会转存到计算机进行处理。因为全谱扫描的速度很快，进行全谱扫描时，可以得到某种样品进样时引起的瞬时信号。这种连续扫描系统的不足之处在于谱图的空白区域浪费的时间，这就相应减少了对感兴趣元素的扫描时间。可以跳过一些区域节省时间。但可以在测量分析中看到快速全谱扫描的优点，即快速完成未知样品的半定量分析。对于复杂样品来说，记录未知元素和基体干扰的有关信息以后再进行评价是非常有价值的。另外对于扫描方式来说，这些仪器还可以提供全谱跳峰方式。2. 在进入质谱前，样品一般都要电离，使元素成带电离子，一般都为一个正电荷；根据物理里面的

8、一个什么公式（记得不清楚了），在一个电场的作用下，带电离子运动的轨迹与带电离子的质量和电荷量有关，也就是与质荷比有关，电荷为一个时就是只与质量有关咯，在不同的半径处接收这些带电离子，就能基本将该元素分开了。3. 对于同一个样品其实不同源出来的谱图是不同的，即便是同一台仪器，可能前后结果也有差异。图中可能出现你的分子离子峰，碎片峰，甚至聚合离子，也可能有引进的杂质离子，也有残留离子。至于量不能单靠峰的强度来说明，峰强，说明容易电离，离子多，并不代表此种样品多，质谱不好定量，考查纯度，建议其它方法4. 其实该主要是物质的分子质量和主要的锻炼离子质量来断定物质的。5. 质谱仪的工作原理质谱仪是利用电磁学原理，使带电的样品离子按质荷比进行分离的装置。离子电离后经加速进入磁场中，其动能与加速电压及电荷 z 有关，即z e U = 1/2 m v2其中 z 为电荷数， e 为元电荷（ e=1.6010-19C）， U 为加速电压， m 为离子的质量， 为离子被加速后的运动速度。 具有速度 v 的带电粒子进入质谱分析器的电磁场中，根据所选择的分离方式，最终实现各种离子按 m/z 进行分离。6. 作为

9、质谱来说，就是想办法把不同质量电荷比的离子分开，就是所谓的质量分析器。一般的质量分析器有四极杆、磁场、离子阱等等。不同的离子在这些质量分析器里面被分开以后分别达到接收器被检测。7. ICP 作为 MS 的离子源将元素有溶液中的离子状态还原成原子，拉出一个电子电离成一价离子（绝大部分），经过两极锥和透镜，将离子由高温常压变成常温低压高速进入四极杆质量分析器。并非经过传统的原形轨道，离子在四极杆的交变电磁场中摇摆运动，在一个较短的时间段内，只有一个确定荷质比的离子才能到达终点进入检测器。下一个时间段别的离子通过。从这个意义上讲， ICP MS 并非严格的多元素同时分析技术。但因 ICP 为连续离子源，离子在各个时间内的组成相同，这一点又类似与全谱 ICP AES。8. 我也刚在资料上看到质谱仪是利用电磁学原理，使带电的样品离子按质荷比进行分离的装置。离子电离后经加速进入磁场中，其动能与加速电压及电荷 z 有关，即z e U = 1/2 m n2其中 z 为电荷数， e 为元电荷（ e=1.6010-19C）， U 为加速电压， m 为离子的质量， n 为离子被加速后的运动速度。具有速度 n 的带电粒子进入质谱分析器的电磁场中，根据所选择的分离方式，最终实现各种离子按 m/z 进行分离。187、进样时进过含有乙氰组分的样，对火焰的温度影响很大吗？最高乙氰可以进多大浓度啊？有机溶剂会导致锥口结碳，如果加氧气（雾化气中），就没什么大问题，如果没有氧气，乙腈别超过 5188、最近做了几个 HPLC-ICP-MS 连用的实验，发现调节好 ICP 的参数，得到一个满意的的空白值后，一连上液相，空白值就会出现增高的现象，而且增高的计数差不多有三倍关系，求高手指点！是不是因为流速不匹配的问题啊？1. 应该是进了

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