组件HF试验失败原因分析.doc

HF失败原因分析现象描述:UV 序列试验中 4 块样品组件 PSTP00338880212, PSTP00328880212,PSTM00298880312, PSTM00318880312在做完HF实验后，发现4块组件的最大功率衰减较大试验前后功率如下表所示：组件条码出货功率/W实验后复测功率/W衰降率PSTP00338880212305.49258.1415.5%PSTP00328880212305.49259.0115.2%PSTM00298880312311.60286.368.1%PSTM00318880312309.76288.996.7%二.IEC61215标准描述：10.12.5 RequirementsThe requirements are as follows:一 no evidenee of major visual defects, as defined in Clause 7;一 the degradation of maximum output power shall not exceed 5 % of the value measured before the test;一 insulation resistance shall meet the same requirements as for the initialmeasureme nts.85 % 5 % RHNo RH controlContinue for totalof 10 cyclesRoom temperatureStart of cycle100 C/h max.End of cycle200 C/h max.20 h min.4 h max.Time hIEC 595/05Humidity-Freeze Cycle由于试验后组件功率衰减值大于5% ,因此试验失败。

三・原因分析：HF试验所在为UV试验序列，首先进行UV老化试验和TC50试验，然后再进 行HF10试验在试验过程中，连续的温度转变使组件各组成都承受较大的热冲 击，电池片、焊带和EVA的热膨胀系数各不相同，彼此之间存在一定的应力在 这种情况下，组件生产过程中的焊接不良直接导致焊带脱落和移位对于多晶电池组件PSTP00338880212 , PSTP00328880212我们从试验前后的 EL图像对比可以发现：试验后两块组件均2・3片的黑片及个别电池片发暗的情况，如图所示中间的黑片则是由于焊接工序的虚焊在经过HF试验后发生脱落 移位使电池片短路导致黑片组件EL图像中电池片发暗则是焊接工序虚焊使电 池互联条脱落，电池电流的收集性能变差导致电池片发暗试验后电池黑片出现 在头部最边缘，可能是层叠员工焊接汇流带是接触时间过长，温度传递到互联条 上导致互联条与电池电极的焊接出现松脱，在经过HF试验后发生脱落移位使电池片短路导致黑片组件试验前EL试验后ELPSTP00338880212PSTP00328880212对于单晶组件 PSTM00298880312, PSTM00318880312组件试验前EL试验后ELPSTP00298880212PSTP00318880212材料与工艺的控制对于浸泡互联条做岀了详细的作业指导书（附件1）,重点管控项目；五•结论：我司对于工艺及材料的管控是极其严谨负责，绝不让不良的原材料进入生产线，绝不让不良的在制品存在生产线上，绝不让不良品流岀成品库.对于此次试验中出现的背板鼓包现象，我司追溯了相同批次的产品，无此 现象发生，经一系列的追踪检查分析，我司发现是由于个别员工误操作导致此产 品出现助焊剂残留过多。

我司认为是非常偶然的现象对于员工的误操作行为，发现一次，脱岗培训，合格后再上岗绝不让偶然 的现象第二次发生。