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led测量光学测量.pdf

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  • 卖家[上传人]:油条
  • 文档编号:20238295
  • 上传时间:2017-09-09
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    • LED 测量 - 生产线测试和实验室应用 LED 基于制造过程不能制造出光特性恒定的 LED 产品这就造成,即便相同的产品系列,它们组件的亮度和颜色也会有很大区别由于 这个原因,生产中及制成成品后对 LED 产品进行测试极为重要此外,在研发 LED 和以 LED 为基础的产品时,全面测定光的特性也必不可少 用于测量 LED 的发光强度、光通量、颜色值、光谱和空间辐射特征, Instrument Systems 自主研发了多套系统解决方案它们按照国际照明协会 CIE 的准则提供最为精确、可重复的 测量结果 这些产品主要应用在以下两个领域:  实验室应用 : 用于研发及质量检查  生产线测试 : 用于生产前晶片测试和分类以及生产后成品测试和分类  Instrument Systems 提供多种完整的用于测量 LED 光学特征的测量系统这些系统以 MAS 40 和 CAS 140CT 系列精准光谱仪为核心,以丰富的光谱仪配件为辅助   光谱仪  CAS 140CT:阵列式光谱仪的标准仪器 >> 更多信息 CAS 140CT - 阵列式 光谱仪的标准仪器 CAS 140CT 是 Instrument Systems 在 全球销量极高的产品系列 — 耐用型阵列式光谱仪的第三代产品。

      它集测量的精准性、设计的结实性和操作的简单为一身,使用范围从生产中 24 小时的连续工作到校准实验室的标准仪器极为广泛 CAS 140CT 的 核心是新研发的配有高端背照射 CCD 探测器的交叉 Czerny-Turner 摄谱仪它使光谱仪能够高效抑制杂散光,使光谱仪无论在信号动态范围还是测量精准性上均有极明显改善 CAS 140CT 是市场上唯一拥有集成轮式密度滤光片的阵列式光谱仪该轮式密度滤光片使光谱仪的强度测量范围扩大了 4 个等级,使无论是弱光源还是强光源都可以全自动测量 特征:  有从 200 到 2150 nm 光谱范围 的多种型号  带制冷的高端背照明 CCD 探测器获得最高的测量灵敏度和信号稳定性  集成的轮式密度滤光片带来极大 的强度测量范围  集成的暗电流快门  毫秒时间内的测量时间  可在 USB 和 PCI 接口之间选择  配有用于实验室和生产应用的软件 应用:  LED 产品、显示屏和闪光灯的测试  紫外线、可见光、近红外线范围的光谱辐射测量  作为普遍适用的光谱仪用于实验室应用  工业生产测试    LED-Station  低价位的完整 LED 测量系统 >> 更多信息    LEDGON 光强角度分布测定仪  用于光辐射特征测量的光强角度分布测定仪 >> 更多信息    光通量积分球  用于光通量测量,不同型号覆盖单个标准 LED 测量到大的大功率 LED 模块测量 >> 更多信息    发光强度及 LED 平均发光强度测量套筒  CIE 127 下发光强度和 LED 平均光强度的精准测量 >> 更多信息    LED 测试夹具  LED-5xx / -6xx 系列 :用于普通和高亮 LED >> 更多信息    大功率 LED 测试夹具  LED-81x / -850 系列:用于大功率 LED,配有被动或者主动冷却装置 >> 更多信息 LED 测试系统 - 生产线上测量的完整系统 LED 测试系统 将实验 室的测量精度带到了生产线上。

      这套完全组装好的系统由一台阵列式光谱仪 CAS 140CT、一个 Keithley 2400/2600 系列电流源和一台配有测试软件的计算机组成在保持 CAS 140CT 高测量精准度的前提下,全部部件在生产线上持续工作的能力已得到最大优化 优点:  持续工作下稳定的高测量精度  最短测试时间内的大批量测试  CAS 140CT 的自我诊断功能使测量更可靠  唯一按照 CIE-127 标准进行绝对测量的 LED 测试系统  可自行设置所有 LED 光学和电子参数的测试  与分拣机系 统和芯片检测仪的连接简单、易操作 LED 测试系统还能非常精准地测量临界参数,如白光 LED 产品的色品坐标该系统的所有校准都回溯至国家标准 PTB 和 NIST此外, Keithley 2600 还使快速通电下的 LED 测量成为可能 LED 测试系统软件界面操作简单,功能丰富按照应用可以选择不同的测量结果,并设置它们在监视器上的显示方式在硬件安装程序下,每台仪器都有一个用于设置参数的输入介面芯片检测还有一个单独的程序模块通过这个模块,芯片图可以多角度显示。

      技术参数 LED 测试系统 测量周期 单芯片 LED 的最短测量时间 30 msec (毫秒) 三芯片 LED 的最短测量时间 59 msec (毫秒) 分拣机连接接口 数字输入 测试结束信号 数字输出 测试开始,忙碌, 测试结束 (MultiDie Testing),结果 ( 8x) 连接 光学隔离所有输入 /输出线路 使用 LED 测试系统可以测试 LED 所有的重要光学、电子参数,例如 :  发光强度 [cd] 和辐射亮度 (W/sr)  光通量 [lm] 和辐射功率 [W]  主波长、重心波长和峰值波长  色品坐标、色温和显色指数  正向电压和反向电流 Instrument Systems 为多种领域开发和研制顶 尖的 光测量仪器 ,包括 光谱仪 、图像亮度和色 度测量仪 、 测角光度器 、 积分球 和 成套解决方案, Instrument Systems 都应有尽有此外, Instrument Systems 积极地参与各标准化委员会和协会的工作,像 DIN 和 CIE,还与 多个知名度量衡机构合作 Instrument Systems 拥有源源不绝的资源以及国际网络,无论何时何地,都能为您提供与最好的服务。

      作为 Instrument systems 在中国地区的独家代理商竭诚为你 提供一切技术 服务咨询 田先生 13482496215 。

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