企业标准规范汽车系统用电子元器件检验规范WORD档P.doc

电子元器件检验规范1 范围电子元器件、器件和组件，在本规范中，均统称为电子元器件本规范主要针对汽车系统中所使用的电子元器件电子元器件的种类繁多就安装方式而言，目前可分为传统安装（又称通孔装即DIP）和表面安装两大类（即又称SMT或SMD）2 目的确定了对设计、生产中所使用的电子元器件进行检验的一般方法和指导由于器件的种类繁多，应用目的不同，适用的试验方法上也有区别，具体可查阅相关标准3 参考文件适合于微电子器件组件的试验检测标准：MIL-STD-883E 美国国防部-微电子器件试验方法标准试验、检测方法及标准适用于军用及宇航用的，单片、多片、厚膜薄膜混合微电路、微电路阵列，以及构成微电路和阵列的各类元器件对于恶劣环境下的应用，也可以参考本标准对所用器件进行试验和检测适合于汽车电子器件的试验标准： VW80101：2005 大众-汽车中的电气和电子组件通用试验条件GMW3172：2006 通用工程标准-汽车电子器件的环境、可靠性、及性能要求符合性分析、开发及验证总规范MES PW67600：1995 马自达工程标准-汽车器件试验标准。

主要检验标准有：GB/T 5729—94 《电子设备固定电阻器第一部分：总规范》；GB/T 2693-2001《电子设备用固定电容器 第1部分：总规范》；GB/T 8554—1998 《变压器和电感器测量方法及试验程序》；GB/T 4023－1997《半导体器件分立器件和集成电路 第2部分：整流二级管》；GB/T 6571－1995《半导体器件分立器件 第3部分：信号（包括开关）和调整二级管》；GB/T 4587－94《半导体器件分立器件和集成电路 第7部分：双极型晶体管》；GB/T 4586－94《半导体器件 分立器件 第8部分：场效应晶体管》；GB/T 15651.2－2003《半导体器件分立器件和集成电路 第5-2部分：光电子器件基本额定值和特性》；GB/T15291－94《半导体器件 第6部分 晶闸管》；GB 3442－86《半导体集成电路 运算（电压）放大器测试方法的基本原理》；GB/T 6798－1996《半导体集成电路 电压比较器测试方法的基本原理》；GB/T 4377－1996《半导体集成电路 电压调整器测试方法的基本原理》；GB 3439-82《半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理》；GB 3834-83《半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理》；GB/T14028-92《半导体集成电路模拟开关测试方法的基本原理》；GB 3443-82《半导体集成电路MOS随机存储器测试方法的基本原理》；YD/T 731-2002《通信用高频开关整流器》；YD/T 1019-2001《数字通信用实心聚烯烃绝缘水平对绞电缆》；GJB128A-97《半导体分立器件试验方法》；GJB150－86《军用设备环境试验方法》；GJB 360A－96《电子及电气元件试验方法》；GJB 548A－96《微电子器件试验方法和程序》等。

5 程序5.1 试验及检测标准的选用原则：对于设计、试生产过程中所选用的新器件，在向器件厂家或其分销商申请样件时，应同时索取器件的检验报告，传感器等特殊器件还要求提供详细的试验报告，以便于我司质保部门按同样的试验要求和条件进行抽检和复验在收到器件时，首先应根据器件的特性、应用的产品类别，选择相应的试验检测标准在没有器件的试验及检测标准时，应该向供应商及器件厂家索取如果仍找不到器件的专用试验检测标准，可参考其应用的最终产品的试验标准如参考文件中，适合于汽车电子器件的试验标准具体的试验条件可参考器件的数据手册所提供的存贮温度，操作温度，和其它相关试验检测条件参数5.2 目检：接收元器件必须在10倍的放大镜下通过所有的外观检查项目，玻璃密封器件应该在7~10倍的放大镜下检验无源器件的目检可参考MIL-STD-883E 方法2032.1-无源元器件的目检；密封封装器件的外部目检依据MIL-STD-883E 方法2009.9-外部目检；对于组件（如遥控器的接收头、传感器等）的内部目检的实施细则和判据标准依据：MIL-STD-883E 方法2017.7 内部目检(混合电路)，此项试验带有破坏性带有旋钮/按钮等其它手柄的调谐元器件(如电位器、滑动电阻、开关、按钮)的内部目检，依据MIL-STD-883E 方法2014。

此项试验带有破坏性例如变压器，看其所有引线有否折断，外表有无锈蚀，线包、骨架有无破损等如三极管，看其外表有无破损，引脚有无折断或锈蚀，还要检查一下器件上的型号是否清晰可辨对于电位器、可变电容器之类的可调元器件，还要检查在调节范围内，其活动是否平滑、灵活，松紧是否合适，调节器件时，应无机械噪声，手感好，并且保证各触点接触良好5.3 尺寸检查 依据MIL-STD-883E 方法2016（物理尺寸）对于新购置的电子元器件，在PCB布线前或器件安装使用前，必须对其封装尺寸进行检查确认，是否与图纸相符5.4 试验前的性能参数检查电子元器件的数据手册均提供了各种电气性能及热性能参数器件的关键参数必须在试验前即进行检测，以便与试验后的检测结果进行比较判断其性能优劣测试条件应该符合电子元器件数据手册或电子元器件技术规范的要求因电子元器件试验后的检测方法和要求与试验前的一致，参见5.6检测时，只须做好检测数据的记录以备查5.5 老化筛选/加速寿命试验 `为了保证在产品试制的过程中不浪费时间，减少差错，同时也保证产品能长期稳定地工作，必须进行老化/加速寿命试验要保证试制的电子装置能够长期稳定地通电工作，并且经得起应用环境和其它可能因素的考验，对电子元器件的筛选是必不可少的一道工序。

所谓筛选，就是对电子元器件施加一种应力或多种应力试验，暴露元器件的固有缺陷而不破坏它的完整性筛选的理论是：如果试验及应力等级选择适当，劣质品会失效，而优良品则会通过人们在长期的生产实践中发现新制造出来的电子元器件，在刚投入使用的时候，一般失效率较高，叫做早期失效，经过早期失效后，电子元器件便进入了正常的使用期阶段，一般来说，在这一阶段中，电子元器件的失效率会大大降低过了正常使用阶段，电子元器件便进入了耗损老化期阶段，那将意味着寿终正寝这个规律，恰似一条浴盆曲线，人们称它为电子元器件的效能曲线，如图1所示电子元器件失效的原因，是由于在设计和生产时所选用的原材料或工艺措施不当而引起的元器件的早期失效十分有害，但又不可避免因此，人们只能人为地创造早期工作条件，从而在制成产品前就将劣质品剔除，让准备用于产品的元器件一开始就进入正常使用阶段，减少失效，增加其可靠性常用的试验项目一般有：无载温度存贮；有载温度存贮；温度交变；湿热；热冲击试验；寿命；热疲劳（也称热老化）等等其中有载温度存贮是给试验的电子元器件通电，模拟实际工作条件，存放于＋90℃(依据电子元器件数据手册或零件技术规范)高温试验箱内，经历96小时或更长（依据所选用的试验标准），它是一种对元器件多种潜在故障都有检验作用的有效措施，也是目前采用得最多的一种方法。

这些试验方法，在国标及ISO/IEC标准及其它主机厂的标准如：大众标准VW80101，通用标准GMW3172，马自达标准MES PW67600等文件中均有详细描述我们只需要按要求选用一种即可序号试验项目GB标准IEC标准美国国防部标准MIL-STD-883E1低温存贮IEC68-2-1,Aa-2低温操作-3高温存贮方法1015.9方法1030.1(待密封组件)4高温操作-5温度交变方法1010.76热冲击方法1011.97湿热方法1004.7浸水（浸液）方法1002沙尘-高温耐久性方法1016高温高湿老化-端子强度IEC68-2-21 Ua/Ub可焊性IEC68-2-20 Ta耐焊接热IEC68-2-20 Tb振动IEC68-2-6 Fc方法2026方法2005.2老化跌落/机械冲击IEC68-2-27 Ea方法2002.4盐雾(腐蚀)IEC68-2-11方法1009.85.6 元器件电性能及参数的检测经过外观检查，试验前后的电子元器件，还必须通过对其电气性能与技术参数的测量，以确定其优劣，剔除那些已经失效的元器件当然，对于不同的电子元器件应有不同的测量仪器测量时，必须根据被测元器件标称值/或参数值的大小来选择合适的量程，以减小测量误差，提高测量精度。

如果没有专用的电子测量仪器，也可利用万用电表或其它现有仪器对一些常用的电子元器件进行粗略检测各种电子元器件涉及到的电性能参数很多，我们可以根据产品的特点和在电路中所起的作用，挑择其中某几项关键参数，进行检测，而不必对该元器件的所有参数都一一检测另外为了统一、规范该元器件的检验工作，还须编制该元器件的《检验文件》，以归档以后，就可以按《检验文件》的要求对元器件进行检测了下面列举几种基本元器件的检测方法5.6.1 固定电阻（阻值）、固定电容（容值，漏电流）、固定电感（电感量，Q值）的检测检测方法比较简单，而且都可使用RLC数字电桥或万用表测量出其值的大小，漏电流的测量使用漏电流测试仪直接测量，具体操作方法参见仪器的《使用说明书》及《操作规程》根据元器件标称值的不同，选择合适的量程和档位；读数与标称阻值之间分别允许有±1％±5％、±10％或±20％的误差如不相符，超出允许误差范围，则说明该元器件变值了应按不良品处置方法保存5.6.2 熔断电阻器-功率电阻与普通电阻的测量方法相同5.6.3 电阻排的检测，电阻排也常简称为排阻，其内部含有多个相同阻值的电阻，有互相独立的，也有内部每个电阻的一个端子相连引出一个公共端。

所以根据其特性，检测时，每个电阻引出脚均应测量，且均不得超出误差范围否则应作为不良品5.6.4 可调电阻/电位器的检测检查电位器时，首先要转动旋柄，看看旋柄转动是否平滑，开关是否灵活，开关通、断时“喀哒”声是否清脆，并听一听电位器内部接触点和电阻体摩擦的声音，如有“沙沙”声，说明质量不好其次，用电桥或万用表的欧姆挡测“1”、“3”两端，其读数应为电位器的标称阻值，如万用表的指针不动或阻值相差很多，则表明该电位器已损坏最后，检测电位器的活动臂与电阻片的接触是否良好用万用表的欧姆档测“1”、“2”(或“2”、“3”)两端，将电位器的转轴按逆时针方向旋至接近“关”的位置，这时电阻值越小越好再顺时针慢慢旋转轴柄，电阻值应逐渐增大（如果是指针式万用表，应该可以观到，表头中的指针应该平稳移动）当轴柄旋至极端位置“3”时，阻值应接近电位器的标称值如阻值有突变式跳动（或者看到指针在电位器的轴柄转动过程中有跳动现象），说明活动触点有接触不良的故障正温度系数热敏电阻(PTC)的检测检测时，用万用表R×1挡，具体可分两步操作：A常温检测(室内温度接近25℃)；将两表笔接触PTC热敏电阻的两引脚测出其实际阻值，并与标称阻值相对比，二者相差在±2Ω内即为。