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关于极耳发白技术实验报告反馈1.doc

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  • 卖家[上传人]:简****9
  • 文档编号:98746511
  • 上传时间:2019-09-13
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    • 极耳发白实验报告一、验证目的: 针对近期出现批量性正极铝极耳发白氧化现象,进行实验分析,找出发白原因并针对此原因进行整改二、验证计划: 分别将已切边封装电芯60PCS, 进行电芯放置实验,观察记录极耳氧化现象在各个车间发生的时间段以及严重程度三、环境条件:各个车间温湿度一览表:地点温度℃湿度%RH技术实验室29.825抽气封口车间30.861高温渗液室4521注液车间29.020分容车间36.624电芯1.2装配车间29.728 注:其中抽气封口、注液车间、高温渗液车间空气中含电解液成分四、验证内容: 将电芯10PCS一组无遮挡放置在以不同车间内,以48小时为限,每隔4小时观测一次,记录极耳发白个数,得出结果如下:不良数搁置时间搁置地点合计技术实验室抽气封口注液车间分容车间高温渗液室1.2装配线4H00000008H000000012H000000016H000000020H020000224H060000628H01020001232H01050101636H01050101640H01080302144H010102402648H0101024026结果0101024026 从此图表可证抽气封口车间属于极耳最先发生且氧化速度较快快的车间。

      其次是注液车间,抽气封口车间及注液车间空气都含有电解液成分,且因为抽气封口湿度大于注液车间所以抽气封口氧化速度>注液车间氧化速度针对此情况附加以下实验:一:将10PCS电芯表面覆盖一层缠绕膜,放置在抽气封口处,与一组10PCS无缠绕膜电芯比较下,出现极耳氧化现象的第一只电芯时间段推迟至40H,且氧化程度较小图表如下:搁置时间不良个数包缠绕膜不包缠绕膜8H0012H0020H0124H0532H0840H11048H110 注:实验地点为抽气封口车间二:将三组各10PCS封装电芯铝极耳处分别滴上电解液、水、以及手触摸留下指印,放置在温湿度控制的注液干燥房,电解液先出现极耳氧化现象时间为16H,而后是水滴极耳出现氧化时间为30H,手触摸极耳36小时内无出现氧化现象,图表如下:搁置时间不良个数 滴电解液电芯 滴水电芯手触摸电芯16H10020H30024H80028H100032H101036H1030 注:实验地点为注液车间干燥房五、实验结论:一:对于极耳氧化影响度比例应为:空气电解液含量>湿度>温度。

      对此比例分析所定论为抽气封口为重点防护车间,注液为次等防护车间即空气中电解液含量对极耳发白影响最大,其次是车间湿度,车间温度对极耳发白影响并不明显二:如若电芯表面有隔离保护措施极耳氧化现象将大幅度减少三:抽气封口处电芯流转时间应不超过12H,注液车间电芯流转时间应不超过20H四:同为含电解液车间如控制水含量亦能推迟氧化现象及减小氧化数量五:最终实验结果得出处理方案应为抽气封口车间电芯无覆盖隔离措施流转时间不得超过12H,或覆盖隔离措施可放置时间不超过36H,注液车间可无需隔离但流转时间不得超过20H 报告人: ZJM 2016年7月22日。

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