电子元器件可靠性老化筛选规定.docx

品及元器件可靠性老化筛选规定1 范围为了规范电子产品及元器件可靠性老化筛选符合产品设计要求特制订本企业标准 本标准规定了电子产品高温老化试验及外购电子元器件进厂后，进行可靠性老化筛选的项目、条件及筛选后的检 查、处理 剔除早期失效的器件，提高产品的可靠性本标准适用于所有装有电子元器件的产品，除非产品另有规定2 规范性引用文件下列文件中的条款通过本规范的引用而成为本规范的条款凡是注日期的引用文件，其随后所有的修改单（不包 括勘误的内 容）或修订版均不适用于本规范然而鼓励根据本规范达成协议的各方研究是否使用这些文件的最新版 本凡是不注日期的引用 文件，其最新版本适用于本规范GB/T 2828-87 抽样检验标准3 老化筛选项目及条件3.1 半导体器件、集成电路低温贮存：非工作状态下，将器件贮存在温度一 25士 3C的低温箱中，保持4h,常温下测试电参数高温贮存：非工作状态下，将器件贮存在温度+ 125± 3C的高温箱中，保持4h,常温下测试电参数3.2 继电器低温运行：将继电器置于温度一 25± 3C的低温箱中，保持 1 h,通电工作后测量低温下的释放电压，然后在此低温下，触点回路中加阻性负载，以 （2〜5）次/S的速率动作200次后，检测每对触点的接触电压或接触电阻。

高温运行将继电器置于温度+ 70土 3C的高温箱中，保持 1 h,通电工作后测量高温下的释放电压，然后在此温度下触点回路中加阻性负载，以 （2〜5）次/S的速率动作200次后，检测每对触点的接触电压或接触电阻注：以上筛选设备条件如暂时不具备时，可由工艺人员根据现有设备条件实施4 筛选检查4.1 文件编制元器件老化筛选由工艺人员编制筛选工艺，规定老化筛选程序、使用设备、测量仪器、工艺装置及操作、检测方 法和要求4.2 检验种类对进行老化的元器件实行全检4.3 检验电性能的项目4.3.1 电阻器4.3.1.1 电阻器的额定功率电阻器的额定功率系指电阻器在直流或交流电路中，当大气压力为 750 士 30mmHg在产品标准中规定的温度下，长期连续负荷所允许消耗的最大功率所选用电阻的额定功率应是该电阻实际承受功率的4.3.1.2 电阻器所用材料及代表符号电阻器所用材料及代表符号见表1电阻器色圈标志代表的意义见表2表2电阻器色圈标志代表的意义数数数字字字 倍允率差示图表1电阻器所用材料及代表符号材料碳膜金属膜金属氧化膜氧化膜合成膜线绕有机实芯无机实芯沉积膜付7TJ▲ ■ ” < *YGYHXSNC表3电阻器允许偏差的标志符号允许偏差（％+ 0.05+ 0.1+ 0.25+ 0.5+ 1+ 2+ 5+ 10±20+ 30标志符号WBGDFGJKM 1ON4.3・2电位器电位器在旋转时，其相应的阻值依旋转角度而变化，变化规律有三种形式见图X—为直线式D—为对数式z-一为指数式433 压敏电阻抑制浪涌电流和雷电引起电源电压变化时， 对电路起到保护作用， 正常情况下电阻阻值呈开路， 当 电源电压瞬间超过其压敏电阻电压时，阻值发生变化，瞬时电压越高，阻值越小，通过的电流也越大。

对于过压保护方面的应用， 实际数量是直流工作电压的 1 5 倍，在交流状态下要考虑电压峰值， 因 此还要扩大程倍4.3.4 电容器 电容器就是由中间夹有电介质的两块金属板（或金属厚膜电板）所构成的元件它具有贮能、 隔直 流和分离多种频率的能力，广泛应用于隔直流、耦合、旁路、滤波、调谐、能量转换等电路中4.3.4.1 电容温度系数 温度变化一度时所引起的电容量的变化率称为电容温度系数4.342 电容器绝缘电阻电容器所加直流电压 V 与其新产生的漏导电流 11 之比为该电容器的绝缘电阻IR 表示漏导电流 IR 与电容器容量 C 及所施加的电压 V 有电解电容器的绝缘电阻常以其漏导电流 尖4.3.4.3 电容器的无功功率电容器所能贮存的功率俗称无功功率4.3.4.4 电容器的有功功率电容器中的能量损耗即为有功功率漏导电流 b 是使电容器消耗能量而发热的电流4.3.4.5 电容器损耗角（损耗角3）正切（tgS）电容器有功功率与无功功率之比即为它的损耗角正切 tg 34.3.4.6 电容器的工作电压（额定电压 V）电容器在一定环境条件下，一定期间内能可靠地工作的电压称为它的工作电压或额定电压4.3.4.7 电容器型号中字母代表的意义电容器型号中字母代表的意义见表 4。

电容器型号中数字代表的意义见表5表 4 电容器型号中字母代表的意义CTYZJBDAL介质高频瓷低频瓷云母纸介金属化纸聚苯乙烯铝电解铉电解涤纶SQF0IHNBBSJ介质聚碳酸脂漆膜聚四氟 乙烯1 .玻璃（膜）玻璃釉混合介质聚丙烯金属化聚碳酸脂4.34S~~电容器型号中数字代表的意义表 5 电容器型号中数字代表的意义数字123456789含义圆片管形叠片独石穿心支柱无极性高压特殊4・3・5电感器我们常用的软磁铁氧体材料主要有两大类：猛一锌（ Mn— Zn）铁氧体材料和镰一锌（Ni -Zn）铁氧体材料工作频率在1MHZ以下大量使用镭一锌（Mr— Zn）铁氧体，频率在1- 200MHZ时，大量使用镰一锌（Ni —Zn）铁 氧体436互感器互感器根据用途不同，可分为电流互感器和电压互感器两种4.3.6.1 电流互感器二次绕组匝数较多,与测量电流互感器的一次绕组匝数很少， 使用时一次绕组串联在被测线路里，仪表和继电器等电流线圈串联使用，工作原理如图 2:L1 L2K1 K2 L I图2电流互感器工作原理图4.362 电压互感器电压互感器一次绕组匝数较多，使用时并联接于被测电路的两端，二次绕组匝数较少，工作原理如图3：U1N1N2丄 K1 K2U2图3电压互感器工作原理图4.3.7 变压器变压器根据用途不同可分为电源变压器、采样变压器'线间变压器等。

4.3.8二极管二极管符号见图4图4二极管符号4.3.8.1 正向直流电流沿半导体二极管较低电阻方向流动的方向4.3.5.2 反向直流电流沿半导体二极管较高电阻方向流动的方向4.3.8.3 阳极端子4.384 阴极端子正向电流流向外电路的端子4.3.8.5 正向电压电流正向流动时在器件两端产生的电压4.3.8.6 正向电流沿二极管低阻方向流过的电流4.3.8.7 击穿电压在发生击穿的区域内的电压5 工具、设备、仪器仪表工具'设备、仪器仪表见表 6 °表 6 工具、设备、仪器仪表序号名称 规格型号 用途 数量 1游标卡尺0 155mm测量长度12c漏电测试仪TH2686A 型测试漏电电流13A晶体管特性图示仪QT2晶体管特性14LLCR电桥TC2810C 型测量标称值15数字三用表GDM-8055测量电压用16音频毫伏表测纹波电压17交流稳压电源稳压18耐压试验台DF2670A 型测量耐压19交流恒流源GL13 型恒流110兆欧表500V测量绝缘电阴16 老化筛选的抽样对于同一批采购来的元器件应同时进行老化筛选数量大于 1000 只时老化应同时进行，但老化后的测试可以抽样进行 抽样的比例：总数为 1000-5000 时抽取 20%总数为 5000-10000 时抽取 10% 总数为〉10000 时抽取 5%最多不超过 1000 只。

7 老化时的包装老化时元器件应将原包装拆去，放在铝盒中，每盒中放置量约 1/3 空间8老化筛选参数设定8.1咼温老化老化温度：150老化时间：4h8.2低温老化老化温度：-18老化时间：4h9 仪器仪表功能检查及操作步骤认真阅读所用仪器的使用所用的计量器具、仪器仪表必须在专业的计量单位鉴定合格的有效期内 说明书遵循：参数设置 T 开机预热 T 功能检查 T 元器件的性能测试 T 记录 T 尖机 10 测试项目参数测试项目应根据元器件使用的情况来选择一般情况下应检查、测试以下参数：10.1 电阻器目测，对照产品合格证、包装盒、实物，三位一体查看规格型号、功率、色圈（标称阻值和精度）是否一致，是否符 合设计资料规定的技术要求，必要时可以通过 LCR 电桥核实10.2 电位器首先确定该电位器的阻值变化属于哪一种特性： 直线式、对数式还是指数式另外在旋转过程中阻 值变化是否均匀，接触是否可靠10.3 压敏电阻该器件检测的主要项目是借助 DF2670A 型耐压试验台测试，其击穿电压是否符合要求10.4 电容器10.4.1 电容器额定电压 U 的检测10.4.2 电解电容器漏电电流|r的检测一般电解电容器漏电电流计算公式：luA =0.02 U VCJF20式中：——u V :额定电压---C 呻： 标称电容值；希望漏电流（Ir）愈小愈好。

10.5 电感器一般检测电感器的直流电阻、电感量和允许通过的电流是否在规定的范围之内一般检测电感器的直流电阻、电感量和允许通过的电流是否在规定的范围之内10.6 互感器空心参数，借助大电流发生器通过相应的 ln电流，分别测量20Kl采样电阻两端的电压和通过1501 采样电阻的电流值注：1. 20K1 采样电阻连接空心线圈两端2. 1501 采样电阻连接速饱和线圈两端10.7 变压器根据不同性能用途的变压器及其指标要求测量工频耐压10.7.1 变压器的输入端与外壳之间10.7.2 变压器的输入端与输出端（初次级） 之间10.8 二极管反向击穿电压、正向电压降10.9 稳压管稳压值10.10 发光二极管 正向压降、批亮度10.11 三级管集电极一发射极反向击穿电压 集电极一发射极漏电流 电流放大倍数10.12 运算放大器空载电流、失调电压、最大输出幅度10.13 延时电路空载电流、输出高电平、输出低电平10.14 稳压管输入一输出击穿电压、输出电压10.15 光电耦合器输入一输出转移特性、输出集电极一发射极反向击穿电压、输出集电极一发射极暗电流11 测量参数的判据 以元器件厂标准为依据，配对元器件的参数的误差一般不超过 10%。

以设计资料规定的技术要求为依据，检测出的所有参数必须在规定的范围之内12老化后的参数测试老化后应在两小时内将参数测试完毕， 测试参数应记录在册，记录中应包括以下内容： 元器件型号 规格、牌号、生产厂家、生产日期、老化参数、本批数量、抽样数量、不合格数、不合格原。