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荧光数据的可靠性测定（二）刘美蓉（分析测试中心光谱组 ：62566250 Email: mrliu@）1. 背景介绍在荧光光谱仪的测试过程中,有很多影响因素决定了获得数据的可靠性（本文所有数 据均出自Edinburgh FLS980荧光光谱仪）比如，杂散光、样品架、样品槽、脉冲周期、 积分球污染等本文从稳态、寿命，量子产率三个方面探讨可能影响测定结果准确性的因 素2. 方法介绍2.1 技术原理：一般固体样品散射光较强，溶液样品散射光较弱，散射光的强度与粒径大小的六次方 成正比，粒径越小，散射光越弱稳态光谱或寿命测试中可以通过添加滤光片或者与KBr 研磨压片，来降低杂散光，获得真实的荧光数据寿命测试中，寿命曲线衰减是否完成直 接影响拟合寿命值的准确性寿命曲线必须衰减完成，才可以得到准确的寿命值量子产 率测定中，样品槽、积分球都会吸收光，造成量子产率测定的不准确性；溶液吸光度不同， 会显著影响量子产率测定值；积分球污染会产生不必要的荧光，致使量子产率无法测试 2.2实验方法：稳态光谱（1）杂散光的影响 一般固体样品散射光较强，溶液样品散射光较弱，散射光的强度与粒径大小的六次 方成正比，粒径越小，散射光越弱。

有的样品散射光非常强，如TiO^样品，散射光远远 超过荧光信号，对测试带来极大的影响，无法获得真实的数据因此,测试固体样品或浓 溶液样品时,需要在激发处加带通滤光片,发射处加截止滤光片，有必要的话在激发、发射 处加两片以上滤光片ytisnetnIecnecseroul500 600 700 800 wavelength/nm5000470 520 570 620 670 720 770wavelength/nmytisnetnIecnecseroulF(a)激发370n m,激发处加370n m(带宽10nm)滤光片，发射处加400n m长通滤光片(b)激发370nm,激发处加370nm(带宽10nm)滤光片，发射处加400nm和420n m长通滤光片图1 TiO^样品荧光发射光谱TiO2类样品散射非常强，在370nm激发下做荧光发射光谱时，图1 (a)激发处加了370n m带通滤光片，发射处加了 400nm长通滤光片，做出的谱图依旧完全没法用(670nm 后谱图有显著变化是因为仪器自带的自动长通滤光片670nm在起作用)；发射处又加了 420nm的长通滤光片，对杂散光抑制就非常好，得到样品的正常发射光谱，如图1 (b)显 示。

切 叩 切 Em o D o o O 0 8 6 4 2scnoo25000200001500010000slunoo5000(c)与KBr混合研磨压片， 激发处加290nm-380nm带通 滤光片，发射处加400nm长 通滤光片(a)发射处加400nm长通滤光片 (b)激发处加290nm-380nm带通滤光片，发射处加400n m长通滤光片图2某有机样品荧光发射光谱(激发350nm)某有机样品散射非常强，在350nm激发下做荧光发射光谱，图2(a)发射处加了400nm 长通滤光片，图2 (b)激发处加290nm-380nm带通滤光片，发射处加400nm长通滤光片 图2 (a)显然做出的谱图不对，峰的位置错误，但图2 (b)仍有很多杂峰将样品与KBr 混合后研磨压片，如图3所示，然后进行测试，杂散光明显得到抑制，得到满意的谱图 因此，如果样品研磨压片不改变其荧光性质的话，这也是一种有效降低杂散光的方式图3某有机样品与KBr研磨压片 图4带通滤光片、截止滤光片和中性衰减片图5 固体样品支架因此，散射光的降低方法可以通过在激发和发射处加滤光片，或者与KBr研磨压片 但这些方法只可有效降低瑞利散射，拉曼散射与激发光波长不同，与荧光相伴出现，不可 消除。

一般激发处加带通滤光片，须包括激发光波长，带通越窄越好，发射处加截止滤光 片(如图4所示)，一般比激发波长大20nm以上，但收集发射波长范围比所加截止滤光片 要再多20nm以上，因为国产滤光片的透过率有一个逐渐上升沿，并不是完全直角突变，约 20-30nm缓冲区另外，也可以通过使用显微激光拉曼光谱仪来减少散射光，因为拉曼仪 器使用单色激光作为激发光，激发光带宽很窄，且其edge滤光片可以很好地过滤掉绝大多 数激发光，从而有效抑制激发光的瑞利散射2)固体样品支架的影响 在做固体粉末样品、膜类样品及块状样品时，会用到固体样品支架，如图5所示但固 体样品支架有时会被样品污染，产生荧光信号，如图6所示a)为未清洁前固体样品支架 的荧光信号，405激发，530发射；(b)为用乙醇清洁后固体样品支架的荧光信号，405激发， 530发射固体样品支架经乙醇清洁后，荧光信号明显降低如样品较薄或较少，激发光会 穿透样品照射到固体样品架上，对样品的真实荧光信号造成影响，因此固体样品支架的影 响一定要考虑另外，发射校正文件、激发校正文件都会影响荧光光谱的准确性；在做共聚焦荧光成像时，也会存在荧光假象；盖玻片本身的荧光等，这些已经在第一届仪器管理员交流会上作(b)为用乙醇清洁后固体样品支架的荧光信号，405激发，530发射荧光(磷光)寿命 在做荧光寿命和磷光寿命时，同样要考虑杂散光和固体样品支架的影响。

寿命测定时， 激发波长和发射波长固定如用脉冲EPL激光作光源，因激光单色性比较好，激发处的带 通滤光片是否添加一般对测试影响不大，发射处加截止滤光片，一般比发射波长小20nm以 上,比激发波长大20nm以上；当使用脉冲氙灯做光源时，因氙灯是场光源，波长范围很宽， 做固体样品时，激发处最好添加带通滤光片，同样发射处添加截止滤光片针对寿命测试， 还有一些其他影响因素，比如脉冲周期、脉冲触发延迟等寿命曲线衰减必须完全结束，才能拟合得到正确的寿命值图8(a)显示不同脉冲周期500ns、1000ns、2000ns下的寿命曲线，拟合得到的寿命分别为38.8ns、38.8ns和48.3ns. 为什么会拟合得到不同的荧光寿命？不同的脉冲周期，脉冲触发延迟不同，如图8 (b)所 示，是因为不同的脉冲触发延迟引起的吗？为了回答这个问题，对同一个寿命曲线，在x 轴上做了平移，也就是保持纵坐标不变，横坐标加一个常数，如图 9所示，拟合寿命值没 有明显的变化，也就是脉冲触发延迟不会影响拟合寿命值实际是脉冲周期影响拟合寿命 值，对于图8(a)，脉冲周期为500ns和1000ns时，寿命曲线并没有衰减结束，一直在单 调下降，这样拟合得到的寿命值不准确，偏小，38.8ns，寿命曲线必须衰减完成才可以拟 合得到正确的寿命值，如脉冲周期为2000ns，拟合得到的寿命值为48.3ns.0 50 100 150 200 250 300 350 400Time/ns(c)a) (b)图8 不同脉冲周期对拟合寿命的影响 图9 脉冲延迟时间对拟合寿命的影响荧光寿命测试时，一般来说峰值处的光子数尽量多些（3000-10000），数据统计更接 近真实情况，寿命拟合更加准确。

但一般不超过样品发射光子数，否则光子累积时间过长， 激发光对热敏、光敏样品损伤就会很大，不能反映样品真实情况寿命测试一般不超过 30min,最好在10min内完成量子产率光谱组的FLS980稳态瞬态荧光光谱仪可以做绝对量子产率，按照定义，就是样品发射 的光子数除以样品吸收的光子数相比相对量子产率不需要标准品，但需要有积分球附件， 实验室的积分球附件内壁为聚四氟乙烯相对量子产率用普通荧光光谱仪就可以测试，但 只能测试溶液样品，而且需要标准品，标准品的激发、发射波长和折射率要与样品相近 （1）样品皿或样品槽的影响绝对量子产率的测试过程并不复杂，但要得到准确的量子产率值并非易事对溶液样 品来说，先用溶剂做空白，一般溶剂体积为3ml，溶液样品须和溶剂体积相同，且用同样的 比色皿以确保溶液样品扣去空白的吸收，只是所测溶质的吸收因为样品在积分球内放 置，为避免污染积分球，一定要确保比色皿表面清洁（用擦镜纸蘸上无水乙醇擦拭表面， 并用洗耳球吹干），比色皿盖子塞紧（比色皿平放，不会漏液）溶液的量子产率与浓度 有很大的关系，一般浓度越低量子产率越高，但要保证荧光发射峰具有可测定性一般OD（optical density）值在0.05-0.1之间，因此在做量子产率之前先做紫外可见吸收，确保样品浓度合适。

相比溶液样品，准确测定固体样品量子产率的难度要大固体样品量子产率测定时， 一般用聚四氟乙烯白板作为空白，测试样品时，样品放在固体样品槽中，如图10所示但 实际上，聚四氟乙烯白板、固体样品槽和积分球本身对光都有吸收，尤其是紫外段,因此 量子产率测定肯定会有误差从表1可以看出，对于这四个激发波长，固体样品槽和白板 吸收光子数接近，紫外区吸收光子数较大，可见区较小，随激发波长的增加而减少但以 白板作空白，样品置于固体样品槽时，因为会遮挡一部分样品槽的表面，致使其吸收会比 白板要少，实验测得样品吸收的光子数比真实情况偏小，测得的量子产率偏大有时，会 直接用固体样品槽作为空白使用，但加入样品后，固体样品槽的吸收会与原来不同,同样 测得的量子产率偏大而且与加入样品的多少会有关系，这同样会造成量子产率测定的误 差举例说明：以白板或固体样品槽作为空白，显示光子数为100万，固体样品槽加上样 品后，显示光子数为80万，那么在激发波长下测得的吸收光子数为20万假定白板或固体 样品槽实际吸收光子数为15万，固体样品槽加上样品后实际吸收光子数为10万如果不放 白板或固体样品槽检测器收集的光子数应为115万,减去固体样品槽（加样品）的吸收10万， 再减去显示的光子数80万，实际样品吸收的光子数为25万。

因此，测得的量子产率比样品 真实的量子产率理论上要偏大,但具体偏大多少与激发光波长、样品量多少、样品吸收及 样品量子产率相关为了避免白板或固体样品槽对测定结果的影响，我们加工了一种石英 样品槽，如图11所示从表1可以看出，石英样品槽在这几个波长下对光几乎没有吸收， 也就是加不加石英样品槽对量子产率测定结果理论上是没有显著影响的，因此使用石英样 品槽测定结果更接近真实情况当然，石英样品槽在使用前和使用后都须用无水乙醇擦拭 干净放上样品后，尤其是粉状固体时（样品表面须加石英盖片），确保将石英样品槽和Ex波长Em波长Ex带宽Em带宽N0*(万固体样品槽（万光白板（万光子）/光石英样品槽（万(nm)(nm)(nm)(nm)光子）子）/光子损失百分子损失百分率光子）/光子损率失百分率石英盖片的表面、周围用无水乙醇擦拭干净，以防粉末落到积分球内污染积分球3603604.00.42947520.2%7520.2%9403803803.50.34968115.6%7917.7%951.0%4004003.00.28958312.6%8213.7%941.1%4204202.80.2798926.12%926.12%971.0%表1 样品槽和白板对光子损失的分析* 指积分球内什么都没加，也就是没加固体样品槽、白板或石英样品槽图10 固体样品槽（左）和聚四氟乙烯白板（右） 图11 石英样品槽2）积分球的清洁积分球在使用前后都要用高压氮气吹扫，去除可能的灰尘或污染物。

但有些污染物 用高压氮气吹扫。