设备失效模式及后果分析苍松书店.ppt

设备 FMEATim Mahoney1C类学堂2C类学堂MFMEA失效模式及后果分析理念可被应用于机器（工具和设备）MFMEA 支持设备设计过程MFMEA 在设备的全部工作中可以对每个步骤、每个功能进行彻底的审查被应用在工具/设备的设计过程MFMEA 在工具/设备采购时就应被实施3C类学堂MFMEAMFMEA的“客户”是设备将被用于生产的制造车间MFMEA 小组应该包括生产、ME、安全、质量、供应商、维修等部门的代表 供应商负责阶段工程报告和长远发展规划ME负责参与并召集来自车间的参与者4C类学堂MFMEA设备潜在 FMEA:在设备的每一步给予客观评价的辅助手段在设备生产之前，增加潜在失效模式和对客户的影响被考虑到的可能性有效预防性维护的辅助手段提高设备的可靠性和耐用性，降低使用成本，降低MTTR,并增加有效使用时间形成一个潜在的失效模式等级，从而建立一个优先的预防和纠正体系5C类学堂6C类学堂后果评定准则：后果的严重度严重度无警告的严重危害这是一种非常严重的失效形式，它是在没有任何失效预兆的情况下影响到操作人员、车间、或维修人员的安全和/或不符合政府的法规。

10有警告的严重危害这是一种严重的失效形式，是在具有失效预兆的前提下所发生的，影响到操作人员、车间、或维修人员的安全和/或不符合政府的法规9很高停机超过8小时或生产不合格品超过4小时8高停机超过4小时，小于8小时或生产不合格品超过4小时7中等停机超过1小时，小于4小时或生产不合格品超过1小时，小于2小时6低停机超过30min，小于1小时或生产不合格品达到1小时5很低停机超过10min，小于30min，并没有不合格品4轻微停机达到10min，并没有不合格品3很轻微过程参数变化不在技术要求范围内在生产过程中需要调整或其它的过程控制，没有停机和不合格品2无过程参数在技术要求范围内，在正常维修过程中可以调整或使用其它的过程控制1严重度表格7C类学堂频度表格评定准则：可能的失效数量在操作小时内OR评定准则：可能的失效数量在操作循环内OR评定准则：基于用户要求时间的可靠性级别1/1　1/90　R(t)<1％:MTBF=10％×UR(t)101/8　1/900　R(t)=5％:MTBF＝30％×UR(t)91/24　1/36000　R(t)=20％:MTBF＝60％×UR(t)81/80　1/90000　R(t)=37％:MTBF＝100％×UR(t)71/350　1/180000　R(t)=60％:MTBF>200％×UR(t)61/1000　1/270000　R(t)=78％:MTBF>400％×UR(t)51/2500　1/360000　R(t)=85％:MTBF>600％×UR(t)41/5000　1/540000　R(t)=90％:MTBF>1000％×UR(t)31/10,000　1/900000　R(t)=95％:MTBF>2000％×UR(t)21/25,000　1/超过900000个循环　R(t)=98％:MTBF>5000×UR(t)1上述可靠性计算采取设备有一个恒定的失效率并可修复。

参照附录D的频度计算表格（MTBF:平均无故障时间，UR(t)：The User’s required time）8C类学堂探测度表格探测度评定准则：设计控制可能探测出的概率等级几乎不可能设计或设备控制不能探测出潜在的风险和后续的失效，或没有设计或设备控制10很极少设计或设备控制有很极少的机会能够探测出潜在的风险和后续的失效模式9极少设计或设备控制有极少的机会能够探测出潜在的风险和后续的失效模式设备控制能够提供失效指示8很少设计或设备控制不能阻止失效的发生设备控制能够在失效发生后控制风险和后续的失效模式7少设计或设备控制有很低的机会能够探测出潜在的风险和后续的失效模式设备控制能够提供一个危急的失效指示6中等设计控制有中等的机会能够探测出潜在的风险和后续的失效模式设备控制能够阻止危急失效的发生5中上设计控制有中上的机会能够探测出潜在的风险和后续的失效模式设备控制能够阻止危急失效的发生4多设计控制有多的机会能够探测出潜在的风险和后续的失效模式设备控制能够阻止危急失效的发生并能控制风险3很多设计控制有很多的机会能够探测出潜在的风险和后续的失效模式设备控制可以不被要求2几乎肯定设计控制几乎肯定能够探测出潜在的风险和后续的失效模式。

设备控制不被要求19C类学堂系统/子系统/零部件级别PFMEA自行车车架车架上梁系统级别系统级别子系统级别子系统级别零部件级别零部件级别10C类学堂系统/子系统/零部件级别PFMEA11C类学堂FMEA定义12C类学堂FMEA过程分析顺序13C类学堂潜在失效模式14C类学堂潜在失效后果15C类学堂严重度（Severity）16C类学堂频度（Occurrence）17C类学堂探测度（Detection）18C类学堂风险顺序系数（RPN）19C类学堂。