EMC基本测试报告格式及说明3000字.docx

    EMC基本测试报告格式及说明3000字    随着电气电子技术的发展，家用电器产品日益普及和电子化，广播电视、邮电通讯和计算机网络的日益发达，电磁环境日益复杂和恶化，使得电气电子产品的电磁兼容性（EMC电磁干扰EMI与电磁抗EMS）问题也受到各国政府和生产企业的日益重视欧共体政府规定，从19xx年1月1起，所有电气电子产品必须通过EMC认证，加贴CE认证标志后才能在欧共体市场上销售此举在世界上引起广泛影响，各国政府纷纷采取措施，对电气电子产品的RMC性能实行强制性管理根据欧盟的电磁兼容（EMC）指令2004/108/EC，所有在欧盟市场销售的电子电气产品必须在其对其他产品的干扰性及对外来影响的抗干扰性方面严格符合欧盟法律要求检 验 记 录产 品 名 称NAME OF SAMPLE商 标 型 号TRADE MARK & TYPE制 造 厂 商MANUFACTURER委 托 单 位CLIENT检 验 类 别TEST SORT检 验 项 目TEST ITEM 静电放电抗扰度、电快速瞬变脉冲群抗扰度、浪涌（冲击）抗扰度报告编号： 第 页 共 页检 验 记 录第 3 页 共 页检验负责人：审核：批准： 职务：年 月 日年 月 日 年 月 日报告编号： 第 页 共 页抗扰度试验判据说明：检验项目：浪涌（冲击）抗扰度试验依据标准：IEC 61000-4-5:2005 、企业要求产品名称： 商标型号： 样品编号：1#试验条件：温度： 23 ℃， 湿度： 52 %RH， 正常大气压。

电磁条件保证受试设备正常工作，并不影响试验结果EUT状态：试验前工作正常，试验中受试设备刷卡及RS485命令开锁正常，使受试设备处于正常工作状态试验等级：在受试设备的DC电源和信号线端口：正-负：电压峰值2kV，开路电压波形1.2/50?s（短路电流波形8/20?s），2Ω内阻正（或负）-地：电压峰值2kV，开路电压波形1.2/50?s（短路电流波形8/20?s），12Ω内阻信号线对线：电压峰值2kV，开路电压波形1.2/50?s（短路电流波形8/20?s），15Ω内阻信号线对地：电压峰值2kV，开路电压波形1.2/50?s（短路电流波形8/20?s），15Ω内阻要求符合性能判据B试验布置：严格按标准要求试验过程：：浪涌（冲击）电压施加在EUT的DC电源和信号线端口，60秒钟一次，正、负极性各做5次试验电压由低等级增加到规定的试验等级，较低等级均应满足要求EUT表现：在整个试验过程中没有出现危险或不安全的后果，试验中及试验后，EUT工作正常，表现出抗扰能力符合性能判据 A 描述如下：受试设备在试验前正常工作，试验中及试验后EUT工作正常符合性能判据要求检 验 人： 校 核 人：检验日期： 校核日期：报告编号： 第 页 共 页抗扰度试验判据说明：检验项目：静电放电抗扰度试验依据标准：IEC 61000-4-2：2001 、企业要求产品名称： 商标型号： 样品编号：1#试验条件：温度 24 ℃ ，湿度： 52 ％RH ，正常大气压。

电磁条件保证受试设备正常工作，并不影响试验结果EUT状态：试验前工作正常，试验中受试设备刷卡及RS485命令开锁正常使受试设备处于正常工作状态试验等级：a) 接触放电：试验电压6kVb) 空气放电：试验电压8kV要求符合性能判据 B 试验布置：严格按标准要求试验过程：a) 对EUT可接触的导电表面、螺钉、端口等金属体进行接触放电，分别选择4个以上试验点进行（每点至少50次，正负极性各25次），其中一个试验点承受水平耦合板前边缘中心距EUT 0.1m处至少50次间接（接触）放电试验电压4kV，用尖端接触放电枪头，最大放电重复频率为1次/s试验电压应从最小值逐渐增加至规定的试验值，以确定故障的临界值b) 对EUT可接触的壳体表面，按键、指示灯、显示屏、壳体等的缝隙进行空气放电，分别选择3个以上试验点，每点进行至少20次单次放电，正负极性各10次，试验电压8kV，用圆形空气放电枪头试验电压应从最小值逐渐增加至规定的试验值，以确定故障的临界值EUT表现：在整个试验过程中没有出现危险或不安全的后果，表现出抗扰能力，符合性能判据 描述如下：受试设备在试验前正常工作，试验中及试验后受试设备工作正常。

符合性能判据要求检 验 人： 校 核 人：检验日期： 校核日期：报告编号： 第 页 共 页抗扰度试验判据说明：检验项目：电快速瞬变脉冲群抗扰度试验依据标准：IEC 61000-4-4-2004、企业要求产品名称： 商标型号： 样品编号：1#试验条件：温度： 23 ℃， 湿度： 52 %RH， 正常大气压电磁条件保证受试设备正常工作，并不影响试验结果EUT状态：试验前工作正常，试验中受试设备刷卡及RS485命令开锁正常使受试设备处于正常工作状态试验等级：在EUT供电电源端口：线对线和线对地：试验电压峰值2kV；重复频率2.5kHz，5/50ns Tr/Td脉冲群波形脉冲群持续时间、周期分别为15ms，300ms要求符合性能判据B在信号线端口，通过电容耦合钳耦合：试验电压峰值2kV；重复频率5kHz，5/50ns Tr/Td脉冲群波形脉冲群持续时间、周期分别为15ms，300ms要求符合性能判据B试验布置：严格按标准要求试验过程：EUT的电源插入电快速瞬变脉冲群发生器的EUT插座端口，加峰值为2kV的试验电压，分别加在+、-和+/-线、地线上，每根线上的试验持续时间为1分钟，分别进行正负极性试验。

EUT的信号线放入电快速瞬变脉冲群发生器的电容耦合钳里，通过耦合，加峰值为2kV的试验电压，试验持续时间为1分钟，分别进行正负极性试验EUT表现：在整个试验过程中没有出现危险或不安全的后果，试验中及试验后，EUT工作完全正常，表现出抗扰能力符合性能判据 B 描述如下：受试设备在试验前正常工作，试验中及试验后受试设备工作正常符合性能判据要求检 验 人： 校 核 人：检验日期： 校核日期：试验仪器设备清单检查人：注：打“√”为本次试验使用仪器、设备，所有仪器、设备均在校准有效期内检验报告审批登记表第二篇：EMC电磁兼容测试报告2 2900字产 品 名 称NAME OF SAMPLE商 标 型 号TRADE MARK & TYPE 智能读卡锁 CHD1200M深圳市纽贝尔电子有限公司深圳市纽贝尔电子有限公司委托 制 造 厂 商 MANUFACTURER 委 托 单 位 CLIENT 检 验 类 别TEST SORT检 验 项 目TEST ITEM静电放电抗扰度、电快速瞬变脉冲群抗扰度、浪涌（冲击）抗扰度深圳电子产品质量检测中心 SHENZHEN ELECTRONIC PRODUCT QUALITY TESTING CENTER报告编号：2811068 第 页 共 页深 圳 电 子 产 品 质 量 检 测 中 心检 验 记 录第 2 页 共 页检验负责人：审核：批准： 职务：年 月 日年 月 日 年 月 日抗扰度试验判据说明：报告编号：2811068 第 页 共 页检验项目：浪涌（冲击）抗扰度试验依据标准：IEC 61000-4-5:2005 、企业要求产品名称：智能读卡锁 商标型号：CHD1200M 样品编号：1#试验条件：温度： 23 ℃， 湿度： 52 %RH， 正常大气压。

电磁条件保证受试设备正常工作，并不影响试验结果EUT状态：试验前工作正常，试验中受试设备刷卡及RS485命令开锁正常，使受试设备处于正常工作状态试验等级：在受试设备的DC电源和信号线端口：正-负：电压峰值2kV，开路电压波形1.2/50?s（短路电流波形8/20?s），2Ω内阻正（或负）-地：电压峰值2kV，开路电压波形1.2/50?s（短路电流波形8/20?s），12Ω内阻信号线对线：电压峰值2kV，开路电压波形1.2/50?s（短路电流波形8/20?s），15Ω内阻信号线对地：电压峰值2kV，开路电压波形1.2/50?s（短路电流波形8/20?s），15Ω内阻要求符合性能判据B试验布置：严格按标准要求试验过程：：浪涌（冲击）电压施加在EUT的DC电源和信号线端口，60秒钟一次，正、负极性各做5次试验电压由低等级增加到规定的试验等级，较低等级均应满足要求EUT表现：在整个试验过程中没有出现危险或不安全的后果，试验中及试验后，EUT工作正常，表现出抗扰能力符合性能判据 A 描述如下：受试设备在试验前正常工作，试验中及试验后EUT工作正常符合性能判据要求检 验 人： 校 核 人：检验日期： 校核日期：报告编号： 第 页 共 页抗扰度试验判据说明：检验项目：静电放电抗扰度试验依据标准：IEC 61000-4-2：2001 、企业要求产品名称：智能读卡锁 商标型号：CHD1200M 样品编号：1#试验条件：温度 24 ℃ ，湿度： 52 ％RH ，正常大气压。

电磁条件保证受试设备正常工作，并不影响试验结果EUT状态：试验前工作正常，试验中受试设备刷卡及RS485命令开锁正常使受试设备处于正常工作状态试验等级：a) 接触放电：试验电压6kVb) 空气放电：试验电压8kV要求符合性能判据 B 试验布置：严格按标准要求试验过程：a) 对EUT可接触的导电表面、螺钉、端口等金属体进行接触放电，分别选择4个以上试验点进行（每点至少50次，正负极性各25次），其中一个试验点承受水平耦合板前边缘中心距EUT 0.1m处至少50次间接（接触）放电试验电压4kV，用尖端接触放电枪头，最大放电重复频率为1次/s试验电压应从最小值逐渐增加至规定的试验值，以确定故障的临界值b) 对EUT可接触的壳体表面，按键、指示灯、显示屏、壳体等的缝隙进行空气放电，分别选择3个以上试验点，每点进行至少20次单次放电，正负极性各10次，试验电压8kV，用圆形空气放电枪头试验电压应从最小值逐渐增加至规定的试验值，以确定故障的临界值EUT表现：在整个试验过程中没有出现危险或不安全的后果，表现出抗扰能力，符合性能判据 描述如下：受试设备在试验前正常工作，试验中及试验后受试设备工作正常。

符合性能判据要求检 验 人： 校 核 人：检验日期： 校核日期：报告编号： 第 页 共 页抗扰度试验判据说明：检验项目：电快速瞬变脉冲群抗扰度试验依据标准：IEC 61000-4-4-2004、企业要求产品名称：智能读卡锁 商标型号：CHD1200M 样品编号：1#试验条件：温度： 23 ℃， 湿度： 52 %RH， 正常大气压电磁条件保证受试设备正常工作，并不影响试验结果EUT状态：试验前工作正常，试验中受试设备刷卡及RS485命令开锁正常使受试设备处于正常工作状态试验等级：在EUT供电电源端口：线对线和线对地：试验电压峰值2kV；重复频率2.5kHz，5/50ns Tr/Td脉冲群波形脉冲群持续时间、周期分别为15ms，300ms要求符合性能判据B在信号线端口，通过电容耦合钳耦合：试验。