元器件参数测试仪.pdf

元器件参数测试仪 TH2826/TH2826A 型高频LCR数字电桥14性能特点■ 国内首台符合LXI标准的LCR表■ 测试频率20Hz～5MHz，10mHz步进■ 测试电平10mV～5V, 1mV步进■ 基本准确度0.1%■ 最高达200次/s的测量速度■ 320×240点阵大型图形LCD显示■ 五位读数分辨率■ 可测量22种阻抗参数组合■ 四种信号源输出阻抗■ 10点列表扫描测试功能■ 内部自带直流偏置源■ 外置偏流源至40A(配置两台TH1776)(选件)■ 电压或电流的自动电平调整(ALC)功能■ V、I测试信号电平监视功能■ 图形扫描分析功能■ 20组内部仪器设定可供储存/读取■ 内建比较器,10档分选及计数功能■ 多种通讯接口方便用户联机使用■ 2m/4m测试电缆扩展(选件)■ 中英文可选操作界面■ 可通过USB HOST 自动升级仪器工作程序简要介绍■ TH2826系列元件测试仪是国内首台符合LXI标准的新一代阻抗测试仪器，其0.1%的基本精度、20Hz～5MHz的频率范围可以满足元件与材料绝大部分低压参数的测量要求，可广泛应用于诸如传声器、谐振器、电感器、陶瓷电容器、液晶显示器、变容二极管、变压器等进行诸多电气性能的分析及低ESR电容器和高Q电感器的测量。

■ TH2826系列产品超高速的测试速度使其特别适用于自动生产线的点检机，压电器件的频率响应曲线分析等等其多种输出阻抗模式可以适应各个电感变压器厂家的不同标准需求■ TH2826系列产品以其卓越的性能可以实现商业标准和军用标准如IEC和MIL标准的各种测试广泛的测量对象 无源元件：电容器、 电感器、 磁芯、 电阻器、 压电器件、 变压器、芯片组件和网络元件等的阻抗参数评估和性能分析半导体元件：变容二极管的C-VDC特性；晶体管或集成电路的寄生参数分析其它元件：印制电路板、 继电器、 开关、 电缆、 电池等的阻抗评估介质材料：塑料、陶瓷和其它材料的介电常数和损耗角评估磁性材料：铁氧体、 非晶体和其它磁性材料的导磁率和损耗角评估半导体材料：半导体材料的介电常数、导电率和C-V特性液晶材料：液晶单元的介电常数、弹性常数等C-V特性TH2826/TH2826A体积 （mm） ： 400(W)×150(H)×430(D) 净重： 9.3Kg技术参数测试参数C, L, R,Z,Y,X,B, G, D, Q, θ,DCR测试频率TH282620 Hz～5MHz,10mHz步进TH2826A20 Hz～2MHz,10mHz步进测试信号电 平f≤1MHz10mV～5V,± （10%+10mV）f>1MHz10mV～1V,± （20%+10mV)输出阻抗10Ω, 30Ω, 50Ω, 100Ω基本准确度0.1%显示范围L0.0001 uH ～ 9.9999kHC0.0001 pF ～ 9.9999FR,X,Z,DCR0.0001 Ω ～ 99.999 MΩY, B, G0.0001 nS ～ 99.999 SD0.0001 ～ 9.9999Q0.0001 ～ 99999θ-179.99°～ 179.99°测量速度快速: 200次/s （f>30kHz） ,100次/s （f>1kHz） 中速: 25次/s, 慢速: 5次/s校准功能开路 / 短路点频、扫频清零，负载校准等效方式串联方式, 并联方式量程方式自动, 保持显示方式直读, Δ, Δ%触发方式内部, 手动, 外部, 总线内部直流偏 置源电压模式-5V ～ +5V, ±(10%+10mV), 1mV步进电流模式（内 阻为50Ω）-100mA ～ +100mA, ±(10%+0.2mA),20uA步进比较器功能10档分选及计数功能显示器320×240点阵图形LCD显示存储器可保存20组仪器设定值接口USB DEVICE( USBTMC and USBCDC support)USB HOST(FAT16 and FAT32 support)LAN(LXI class C support)RS232CHANDLERGPIB（选件）。