塑料茶几项目可行性研究报告(发改立项备案+2013年最新案例范文)详细编制方案
31页1、GTM Electronics (Shanghai) Ltd.,MOS測試原理解析,By Antly_law,MOSFET-簡介,MOSFET定義及特點 MOSFET結構 MOSFET工作原理(NMOS) MOSFET特性曲線(NMOS) 分立器件測試機 MOSFET的直流參數及測試目的 MOSFET的交流參數 MOSFET Related 廠內分析MOSFET異常方法 習題,MOSFET定義,MOSFET=Metal-Oxide-Semiconductor Field-Effect Transistor即金属-氧化层-半导体-场效晶体管. MOSFET是一种可以广泛使用在类比电路与数位电路的场效晶体管(field-effect transistor)。 MOSFET依照其“通道”的极性不同,可分为n-type与p-type的MOSFET,通常又称为NMOSFET与PMOSFET,其他简称尚包括NMOS FET、PMOS FET、nMOSFET、pMOSFET等 特點:,1.单极性器件(一种载流子导电) 2.输入电阻高(107 1015 ,IGFET(絕緣柵型) 可高达 1015 )
2、3.工艺简单、易集成、功耗小、体积小、成本低,MOSFET結構,增強型NMOS結構與符號;,在一块掺杂浓度较低的P型硅衬底上,制作两个高掺杂浓度的N+区,并用金属铝引出两个电极,分别作漏极d和源极s。然后在半导体表面覆盖一层很薄的二氧化硅(SiO2)绝缘层,在漏源极间的绝缘层上再装上一个铝电极,作为栅极g。在衬底上也引出一个电极B,这就构成了一个N沟道增强型MOS管。MOS管的源极和衬底通常是接在一起的(大多数管子在出厂前已连接好)。 它的栅极与其它电极间是绝缘的,符號如右,MOSFET工作原理,增強型NMOS工作原理;,A.当 UGS = 0 ,DS 间为两个背对背的 PN 结; B.当 0 UGS UGS(th)(开启电压)时,GB 间的垂直电 场吸引 P 区中电子形成离子区(耗尽层); C.当 uGS UGS(th) 时,衬底中电子被吸引到表面,形 成导电沟道。 uGS 越大沟道越厚。,反型层 (沟道),1)uGS 对导电沟道的影响 (uDS = 0),如左圖,DS 间的电位差使沟道呈楔形,uDS,靠近漏极端的沟道厚度变薄。,1.预夹断(UGD = UGS(th):漏极附近反型层
3、消失。. 2.预夹断发生之前: uDS iD。 3.预夹断发生之后:uDS iD 不变。,2) uDS 对 iD的影响(uGS UGS(th),MOSFET特性曲線,增強型NMOS特性曲線:轉移特性曲線,MOSFET特性曲線,增強型NMOS特性曲線:輸出特性曲線,恒流区,截止区,可 变 电 阻 区,可變電阻區:uDS uGS UGS(th) uDS iD ,直到预夹断 飽和放大區:uDS,iD 不变uDS 加在耗尽层上,沟道电阻不变 截止區:uGS UGS(th) 全夹断 iD = 0,每一條曲線均是由每一個Vgs電壓得來的 橫軸為UDS(單位:V) 縱軸為ID(單位為Ma),分立器件測試機,目前廠內測試分立器件的模擬測試機有:,1.TESEC: Tesec 881(20A,1000V) ; Tesec8820 (3A,500V) 2.KDK: KDK2002 (10A,1000V) ; KDK2003 (30A,1500V) 3.聯動測試機: 30A,1000V 4.SM-2095: (5A,500V),1.對于測試MOSFET及其他分立器件,用規格較小測試機撰寫的程序均可在規格較大
4、的測試機上測試,切勿反之! 2. Tesec881 +8610-Cu(大電流)可測到200A. 3.測試MOSFET時,使用9824BOX(G-I-O腳位)盒.晶體管使用BCE腳位之BOX,MOSFET的直流參數及測試目的,測試項目:,1.IGSS:Gate-to-Source Forward Leakage Current 2.IDSS:Drain-to-Source Forward Leakage Current 3.BVDSS:Drain-to-Source Breakdown Voltage 4.VTH: Gate Threshold Voltage 5.RDSON: Static Drain-to-Source On-Resistance 6.VFSD:Diode Forward Voltage 7.GMP:GFS 8.VP: Pinch-Off Voltage,1.測試項目(IGSS),測試線路如右:,測試方法: D,S 短接,GS端給電壓,量測IGS,IGSS:此為在閘極周圍所介入的氧化膜的洩極電流,此值愈小愈好,當所加入的電壓,超過氧化膜的耐壓能力時,往往會使元件遭受破
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