寿命试验作业标准书.docx

为确保产品符合设计规格，仿真实体操作于预定之操作周期或寿命试验后，其外观结构、机械特性及电气特性，符合产品规格书之规定1 范围：适用于新产品开发阶段、生产制品、出货批、不良分析及客户要求各阶段作业均适用之2 权责：研究开发部：产品规格之相关资料提供，开发阶段之验证与确认品质保证课/品质工程课：执行产品各阶段量测与记录3 定义：3.1 插拔仿真寿命：以测试卡插入至卡片阅读机定位后，再退出测试卡为1次插拔仿真寿命3.2 机械特性：CP8接触压力，插、退卡力量与电镀磨损情形3.3 电气特性：CP8接触阻抗，Detector接触阻抗3.4 外观功能：待测物外观结构及操作功能4 作业内容：4.1 作业范围：4.1.1 新产品开发阶段：新产品在研究发展阶段，由品质工程课进行各项量测，并将量测之结果以书面资料或测试报告回馈以供开发验证及改善依据4.1.2 生（试）产制品：当产品在生（试）产中或完成时，依实际需求由品质保证课执行各项量测以确保其品质及早发现问题，并将测试之结果以书面资料或测试报告回馈以供参考及改善依据4.1.3 出货批：由品质保证课视需求对出货批成品执行量测，以供出货品质判定与有关单位之改善依据。

4.1.4 不良分析及客户要求：在生产过程中之不良品或客户不良信息回馈，为追查原因及分析，或客户要求提出检测报告时4.2 抽样标准与室温条件：4.2.1 量测样品数视实际需求或依【抽样作业标准书】中机构尺寸、物理特性抽样作业标准之规定办理4.2.2 室温条件：温度15℃~35℃,湿度10%~95%,气压86~106kPa（mbar）4.3 寿命试验：4.3.1 执行时机：适用于产品新产品开发阶段、生产制品、出货批、不良分析、客户要求及更换零件材质或设计变更结构4.3.2 测试条件：4.3.2.1 使用寿命测试治具，气动压力kg/cm2土cm：PCB测试卡，插拔寿命周期约为2秒1次4.3.2.2 当只要求仿真测试插拔寿命次数，用以分析待测物结构或特定零件之寿命，得以IC塑料卡作为测试卡，以气动压力kg/cm2±cm2及插拔寿命周期约为2秒1次的条件，执行测试4.3.3 检测频率：4.3.3.1 基本检测点：测试前（初始值），第5,000/10,000/20,000/30,000/50,000/70,000/100,000/130,000次……累积至插卡寿命次数，超过130,000次后，每30,000次检测一次，到产品所规范的次数，最后一次不足60,000次时，则选择实际剩余次数直接累积至插卡寿命次数作为检测点。

4.3.3.2 经济检测点：0/50K/50K……累积至插卡寿命次数，当最后一次不足50K次时，选择剩余次数作为检测频率4.3.3.3 快速检测点：测试前（初始值）及完成产品插拔寿命次数4.3.3.4 检测频率之选定：检测频率时机备注基本检测点对未知机械结构强度做评估时采用的检测点检测成本较高经济检测点对机械结构强度有把握时所采用的检测点检测成本次之快速检测点用以评估某项设变零件或生产中的产品检测成本最低4.3.4 电镀之检测：以20倍之光学显微镜检测并记录磨耗情形后，再去做其它各项之机械/电气特性的检测附记1:若有特别分析需求时，可选用适合倍率来检测样品4.3.5 检测顺序：外观检测一功能检测一电镀磨耗检测一机械特性检测一电气特性检测4.3.6 量测接触压力依【接触压力测试作业标准书】作业之规定进行量测4.3.7 量测接触阻抗依【接触阻抗测试作业标准书】作业之规定进行量测4.3.8 量测插卡力量：测试卡片厚度为4.3.8.1 设定推拉力计为非峰值读数模式，推拉力计架设于高度规后，设置待测物卡片位置与推拉力计成垂直位置4.3.8.2 校正插卡位置：调降高度规将测试卡推入定位当读值大于100g时，调升高度规使推拉力计读值为0,将高度规数值归零，再高度规将调升位置后归零，完成校正插卡位置作业。

4.3.8.3 调升高度规，并退出卡片为非读卡位置（此时仍插在读卡槽内），此时设定为峰值读数模式（Peakholdmode）并且归零4.3.8.4 调降高度规至校正插卡位置（高度规读值=0）,此时读值为插卡力量4.3.9 量测退卡力量：4.3.9.1 设定推拉力计为峰值读数模式（Peakholdmode）,推拉力计架设于高度规后，设置待测物卡片位置与推拉力计成垂直位置4.3.9.2 调升高度规，由推拉力计带动卡片，并退出在非读卡位置，此时读值为退卡力量4.3.10 PCB1M卡：4.3.10.1 当寿命测试治具侦测CP8功能错误，而且分析待测样品确定无异常，判断PCB1I试卡不良时，应更换PCB1I试卡后再继续执行寿命试验4.3.10.2 待测样品需牢固焊在PCB上，再固定于转接基座，PCBM质为94V0等级（含或以上）4.3.11 执行与设置：4.3.11.1 完成初始值量测后，以每一机种专用之转接基座，牢固架设于插卡寿命测试治具4.3.11.2 设定气压源：向上拉起气压阀调整钮，调整气压阀为kg/cM±cm2的读值，压回调整钮完成气压源设定4.3.11.3 寿命测试治具参数设定：4.3.11.3.1 持压【MODE键，可听一长声beep并显示,表示进入设定测试寿命次数，按[ENTER键，利用【+】/【-】[SHIFT!键，设定寿命次数。

4.3.11.3.2 再按一次【ENTER键完成次数设定，此时显示口洋也表示进入设定推拉卡片测试周期，利用【+】II1选择测试周期代码『1』（约2秒）测试周期代码秒1=28=1015=1520=204.3.11.3.3 再按一次【ENTER键完成测试周期设定后，此时按【G键开始测试4.3.11.4 暂停模式：按【PAUSE键，寿命测试治具停止送退卡测试动作,可操作设定、清除、执行测试及检视ERRORMESSAGE莫式4.3.11.5 清除模式：按［CLEAR键先不放开再【ENTER键，听至U一长声beep,表示清除计数器及错误讯息(ERRORMESSAG藤料4.3.11.6 ERROMESSAGE式：持按【CLEAR键，听到一长声beep进入ERRORMESSAGE式，使用禾【J用【+】/【-】键检视ERROMESSAGE在持压一次【ENTER键离开ERRORMESSAGED,错误讯息SN1/SN2代表气压缸sensor错误，CPX代表第CPXg点功能不正常，SN3代表插卡detector功能不正常，SN4代表退卡的detector功能不正常，因目前产品无此detector故此时显示讯息可忽略。

4.3.11.7 执行测试中，有任何异常现象发生，需保留样品现况及测试卡，以作为分析的信息4.3.12结果判定：所有待测物之规格需完全符合产品规格书之规定，只要有一台以上或任一项检测不符合则判定本次试验失败，并于完成改正对策后重新再执行测试5 相关文件：5.1 【抽样作业标准书】(DOC-INS-000021)5.2 【接触压力测试作业标准书】(DOC-INS-000122)5.3 【接触阻抗测试作业标准书】(DOC-INS-000090)5.4 【产品规格书】6 使用窗体：6.1 测试报告。