质量数据及分析、统计基本方法.ppt

SPC统计技术统计技术Statistical Process Control磁通品质部磁通品质部一、质量数据的基本知识一、质量数据的基本知识1、质量数据的分类、质量数据的分类          质量数据是多种多样的，按其性质和使用目的不同，可分为两大类：•计量值数据            计量值数据是可以连续取值，或者说可以用测量工具具体测量出小数点以下数值的这类数据如长度、压力、温度等b.计数值数据计数值数据c.              计数值数据是不能连续取值，只能以个数计算的数据d.            如不合格品数，缺陷数等2、总体和样本、总体和样本a.总体：又叫“母体”是指要分析研究对象的全体可以是一个过程，也可以是这一过程的结果即产品Ø组成总体的每个单元（产品）叫做个体Ø总体中所含的个体数叫做总体含量，也称总体大小通常用N表示b.样本样本Ø样本也叫“子样”它是从总体中随机抽取出来，并且要对它进行详细研究分析的一部分个体Ø样本中所含的样品数目，一般叫样本容量或样本大小通常用n表示Ø样本中所含的每一个个体叫样品3、抽样及抽样方法、抽样及抽样方法a.抽样：抽样：Ø 抽样：是指从总体中随机抽取样本的活动。

Ø随机性：是指要使总体中的每一个个体（即产品）都有相同机会被抽取出来组成样本的特性Ø在质量管理过程中，常用抽取样本并通过样本检测所得到数据来预测总体质量状况的这种手段常分为以下几种方法：常分为以下几种方法：§一般随机抽样法；§顺序抽样法；§分层抽样法；§整群抽样法b.一般随机抽样法：一般随机抽样法：§抽取样品是随机§方法：将全部产品编号后可用抽签、抓阄儿、查随机数表或掷骰子等办法抽取样品§优点：抽样误差小§缺点：较复杂c.顺序抽样法顺序抽样法§又称等距抽样法、系统抽样法、或机械抽样法Ø方法：先将全部产品编号，用随机抽样法产生一个抽样起点，每隔相同数据间隔而抽取的个体样本方法Ø优点：操作简便Ø缺点：偏差性可能会很大d.分层抽样法（又称类型抽样法）分层抽样法（又称类型抽样法）§方法：总体可分为不同的子总体（也称层）时，按规定的比例从不同层中随机抽取样品（子样）来组成样本时的方法§常用于产品质量的验收§优点：抽样误差较小§缺点：较一般随机抽样还要繁锁e.整群抽样法（又称集团抽样法）整群抽样法（又称集团抽样法）Ø方法：将总体分成许多群，每个群由个体按一定方式结合而成，然后进行随机抽取若干群，并由这些群中所有个体组成样本。

Ø优点 ：实施方便Ø缺点：代表性差、误差大4、几个重要的特征数、几个重要的特征数a. 平均数：用       表示：b.n：数据个数c.            ：第i个数据值b.中位数，用中位数，用 X 表示表示Ø将一组数据按从小到大顺序排列，位于中间位置的数叫中位数Ø当n为奇数时，则取顺序排列的中间数Ø当n为偶数时，则取顺序排列的中间两个数的平均数c.极差极差RØ极差是指一组数据中最大与最小之差，用符号R表示：                                     R=L-SØL：数据的最大值ØS：数据的最小值d.样本方差样本方差§样本方差：是衡量统计数据分散程度的特征数字，用符号S2表示e.标准偏差标准偏差§国际标准化组织规定：将样本方差的平方根做为国际标准化组织规定：将样本方差的平方根做为标准偏差，用标准偏差，用S S表示：表示：标准偏差标准偏差S S反映了数据的离散程度：反映了数据的离散程度：S S值大，数据密集程度差，离散度大值大，数据密集程度差，离散度大S S值小，数据密集程度高，离散度小值小，数据密集程度高，离散度小同时也反映平均值的代表性同时也反映平均值的代表性若若S S值大，则值大，则        代表性差代表性差若若S S值小，则值小，则        代表性好代表性好标准差σ （Sigma）总体标准差 =通常用样本标准差近似的估计为总体标准差§标准差的意义：一组数中各单个值与总体平均数之间的平均离差，说明该组数的离散程度5：为什么要应用SPC   在生产过程中，产品的加工尺寸/性能的波动是不可避免的。

它是由人、机器、材料、方法和环境等基本因素的波动影响所致波动分为两种：正常波动和异常波动正常波动是偶然性原因（不可避免因素）造成的它对产品质量影响较小，在技术上难以消除，在经济上也不值得消除异常波动是由系统原因（异常因素）造成的它对产品质量影响很大，但能够采取措施避免和消除过程控制的目的就是消除、避免异常波动，使过程处于正常波动状态6：SPC技术原理      统计过程控制（统计过程控制（SPCSPC）是一种借助数理统计方法的）是一种借助数理统计方法的过程控制工具它对生产过程进行分析评价，根据过程控制工具它对生产过程进行分析评价，根据反馈信息及时发现系统性因素出现的征兆，并采取反馈信息及时发现系统性因素出现的征兆，并采取措施消除其影响，使过程维持在仅受随机性因素影措施消除其影响，使过程维持在仅受随机性因素影响的受控状态，以达到控制质量的目的当过程仅响的受控状态，以达到控制质量的目的当过程仅受随机因素影响时，过程处于统计控制状态（简称受随机因素影响时，过程处于统计控制状态（简称受控状态）；当过程中存在系统因素的影响时，过受控状态）；当过程中存在系统因素的影响时，过程处于统计失控状态（简称失控状态）。

由于过程程处于统计失控状态（简称失控状态）由于过程波动具有统计规律性，当过程受控时，过程特性一波动具有统计规律性，当过程受控时，过程特性一般服从稳定的随机分布；而失控时，过程分布将发般服从稳定的随机分布；而失控时，过程分布将发生改变SPCSPC正是利用过程波动的统计规律性对过正是利用过程波动的统计规律性对过程进行分析控制的因而，它强调过程在受控和有程进行分析控制的因而，它强调过程在受控和有能力的状态下运行，从而使产品和服务稳定地满足能力的状态下运行，从而使产品和服务稳定地满足顾客的要求顾客的要求   §特殊原因§一种间断性的，不可预计的，不稳定的变差来源有时被称为可查明原因，存在它的信号是：存在超过控制线的点或存在在控制线之内的链或其他非随机性的情形普通原因造成变差的一个原因，它影响被研究过程输出的所有单值；在控制图分析中，它表现为随机过程变差的一部分二、质量管理七大手法二、质量管理七大手法常用质量管理手法分为：§排列图法§直方图法§控制图法§调查表法§分层法§散布图法§因果图法排列图：将质量改进项目从最重要到最次要进行排列排列图：将质量改进项目从最重要到最次要进行排列而采用的一种简单图示技术。

见例图而采用的一种简单图示技术见例图）例：频数表不良项目不良项目不良数不良数不良率不良率累计不良率累计不良率沾锡渣沾锡渣313142.5%42.5%42.5%42.5%骨架破骨架破181822.7%22.7%67.2%67.2%磁芯破损磁芯破损131317.8%17.8%85%85%胶带破胶带破7 79.6%9.6%94.6%94.6%焊点高焊点高2 22.7%2.7%97.3%97.3%其它其它2 22.7%2.7%100%100%合计合计7373100%100%排列图不良率与累计不良率计算1：不良率       P=单项不良数/总不良数2：累计不良率     Np=P1+P2+P3+P4…b.直方图：用一系列宽度相等，高度不等的矩形表示数直方图：用一系列宽度相等，高度不等的矩形表示数据分布的图据分布的图直方图统计§收集一组数据收集一组数据§计算数据的变化范围（极差计算数据的变化范围（极差R)R)§确定组数（样本大小确定组数（样本大小n, n, 组数组数k k））§计算组距计算组距h, hh, h一般取整数一般取整数§确定组边界确定组边界§计算频数，例如唱票法计算频数，例如唱票法§计算频率计算频率§绘制频数分布表绘制频数分布表§绘制频数直方图，纵轴为频数绘制频数直方图，纵轴为频数§绘制频率直方图，纵轴为频率绘制频率直方图，纵轴为频率§进行分析进行分析第一步收集数据（共第一步收集数据（共100100个数据）个数据）某规格变压器尾线长度，公差某规格变压器尾线长度，公差mmmm第二步：计算极差• •R= R= XmaxXmax- -XminXmin第三步：设定组数，计算组距第三步：设定组数，计算组距§ §有上表，设定组数有上表，设定组数k=10k=10，，测量值最小单位为测量值最小单位为§ §则则   组距（组距（第四步：计算组边界和中心值§第一组下限值=Xmin-测量最小单位的一半§第二组下限值§第一组中心值§以此类推……第五步：制作频数表，必要时可以制作频率表第五步：制作频数表，必要时可以制作频率表第六步：按频数第六步：按频数/ /频率画横坐标、纵坐标与直方图频率画横坐标、纵坐标与直方图直方图分析§1:1:对称型对称型: :质量特性分布范围质量特性分布范围B B在在T T的中间的中间, ,平均值平均值X X基本与公差中心重合基本与公差中心重合, ,质量特性分布的两边还有一定质量特性分布的两边还有一定的余地的余地, ,这很理想这很理想; ;§2:2:单侧型单侧型: :质量特性分布范围质量特性分布范围B B虽然也落在公差范围虽然也落在公差范围内内, ,但因偏向一边但因偏向一边, ,故有超差的可能故有超差的可能, ,应采取措施纠正应采取措施纠正; ;§3:3:双侧型双侧型: :质量特性分布范围质量特性分布范围B B也落在公差范围内也落在公差范围内, ,但但完全没有余地完全没有余地, ,说明总体已出现一定数量的废品说明总体已出现一定数量的废品, ,应应设法使其分布集中设法使其分布集中, ,提高工序能力；提高工序能力；直方图分析§4:尖峰型:公差范围比特性分布范围大很多,此时应考虑是否可以改变工艺,以提高生产效率,降低生产成本或者缩小公差范围;§5:超差型:质量特性分布范围过分地偏离公差范围,已明显看出超差,应立限采取措施加以纠正;直方图图形直方图分布状态与分析A A：正常形，对称，是一般稳定生产状态的正常情况：正常形，对称，是一般稳定生产状态的正常情况直方图分布状态与分析     b.b.右右偏偏峰峰型型。

由由于于某某种种因因素素使使下下限限受受到到限限制制时时多多出出现现此此型型，，如如清洁度近于零，缺陷数近于零，孔加工尺寸偏小等清洁度近于零，缺陷数近于零，孔加工尺寸偏小等直方图分布状态与分析c. c.    左偏峰型由于某种因素使上限受到限制时多出现左偏峰型由于某种因素使上限受到限制时多出现此型直方图分布状态与分析d.d.双峰型常常是两种不同的分布混合在一起时多出现此型，双峰型常常是两种不同的分布混合在一起时多出现此型，如两台设备或不同原料所生产的产品混在一起的情况如两台设备或不同原料所生产的产品混在一起的情况   直方图分布状态与分析§e.e.平峰型常常是由于在生产过程中有某中缓慢的平峰型常常是由于在生产过程中有某中缓慢的倾向在起作用时多出现此型，如刀具的磨损，操作倾向在起作用时多出现此型，如刀具的磨损，操作者的疲劳等者的疲劳等直方图分布状态与分析f. f. 高端型当工序能力不足时为找到适合标准的产品而做全数高端型当工序能力不足时为找到适合标准的产品而做全数检查时多出现此型，也就是说用剔除不合格产品的产品数据检查时多出现此型，也就是说用剔除不合格产品的产品数据作直方图时易出现此型。

另外，在等外品超差返修时或制造作直方图时易出现此型另外，在等外品超差返修时或制造假数据等情况易出现此型假数据等情况易出现此型直方图分布状态与分析§g. g. 孤岛型当生产条件的明显变化，如一时原料发孤岛型当生产条件的明显变化，如一时原料发生变化或者在短期内由不熟工人替班加工时易出现生变化或者在短期内由不熟工人替班加工时易出现此型；另外在测量有误时易出现此型此型；另外在测量有误时易出现此型直方图分布状态与分析§ §h.h.栉齿型如分组不当，级的宽度没有取为测量单位的整数倍时多出现栉齿型如分组不当，级的宽度没有取为测量单位的整数倍时多出现此型另外，测量方法或测量用表读数有问题时也容易出现此型另外，测量方法或测量用表读数有问题时也容易出现此型与公差界限比较分析§理想型：直方图的分布中心与公差中心重合，其分理想型：直方图的分布中心与公差中心重合，其分布在公差范围内，且两边有余量布在公差范围内，且两边有余量§偏向型：直方图的分布在公差范围内，但分布中心偏向型：直方图的分布在公差范围内，但分布中心和公差中心有较大偏移和公差中心有较大偏移————工序稍微变化都易出现工序稍微变化都易出现不合格不合格§无富余型：直方图的分布在公差范围内，两边的分无富余型：直方图的分布在公差范围内，两边的分布均没有余地布均没有余地————工序稍微变化都易出现不合格工序稍微变化都易出现不合格§能力富余型：直方图的分布在公差范围内，两边有能力富余型：直方图的分布在公差范围内，两边有过大的余地过大的余地————不经济不经济§能力不足型：实际分布超出公差范围能力不足型：实际分布超出公差范围————已出现不已出现不合格合格§陡壁型：实际分布中心严重偏离公差中心，但作图陡壁型：实际分布中心严重偏离公差中心，但作图时已剔除了不合格时已剔除了不合格直方图总结§利用正态分布的原理§作用–解析看似杂乱无章数据的规律性解析看似杂乱无章数据的规律性–一目了然的了解数据的中心值一目了然的了解数据的中心值/ /分布分布§与柱形图（柱状图）的区别–柱形图利用推移的原理只反映过去每期或每类别柱形图利用推移的原理只反映过去每期或每类别项目的状态比较项目的状态比较–直方图利用正态分布原理，反映整个时期的质量直方图利用正态分布原理，反映整个时期的质量分布状况，从中找出可能存在的问题分布状况，从中找出可能存在的问题c.控制图：将一个过程定期收集的样本数据按顺序点控制图：将一个过程定期收集的样本数据按顺序点绘成的一种图形技术，用于判断过程正常或异常的绘成的一种图形技术，用于判断过程正常或异常的一种工具。

见例图）一种工具见例图）控制图的原理§当质量特性的随机变量x服从正态分布时，则x落在μ±3 σ的概率是99.73%§根据小概率事件可以“忽略”的原则：如果出现超出μ±3 σ范围的x值，则认为过程存在异常§所以，在过程正常情况下约有99.73%的点落在在此控制线内§观察控制图的数据位置，可以了解过程情况有无改变控制图的控制线§中心线（CL): X§上控制线/限（UCL): X+ 3 σ§下控制线/限（LCL): X- 3 σ§右转90度3 σ3 σx+ 3 σx- 3 σx99.73%公差界限与控制界限的区别§公差界限：   区分合格品与不合格品§控制界限：   区分正常波动与异常波动两类错误§ §第第ⅠⅠ类错误（类错误（α α）：虚发警报）：虚发警报§ §第第ⅡⅡ类错误（类错误（β β）：漏发警报）：漏发警报αβUCLLCL两类错误§两类错误都会造成损失§上下控制限间距变大： α减小， β增大§上下控制限间距变小： α增大， β减小§间距的设定寻求二者的均衡点（ 3 σ）计数型数据控制图计数型数据控制图P P管制图管制图管制图管制图        P        P图是用来测量在一批检验项目中不合格品（缺陷）项目图是用来测量在一批检验项目中不合格品（缺陷）项目的百分数。

的百分数 收集数据收集数据收集数据收集数据选择子组的容量、频率和数量选择子组的容量、频率和数量选择子组的容量、频率和数量选择子组的容量、频率和数量 子组容量子组容量子组容量子组容量：子组容量足够大（最好能恒定），并包括几个不：子组容量足够大（最好能恒定），并包括几个不                                                合格品 分组频率：分组频率：分组频率：分组频率：根据实际情况，兼大容量和信息反馈快的要求根据实际情况，兼大容量和信息反馈快的要求          子组数量：子组数量：子组数量：子组数量：收集的时间足够长，使得可以找到所有可能影响收集的时间足够长，使得可以找到所有可能影响                                                过程的变差源一般为过程的变差源一般为2525组计算每个子组内的不合格品率（计算每个子组内的不合格品率（计算每个子组内的不合格品率（计算每个子组内的不合格品率（P P）））） P=np /nP=np /nn n为每组检验的产品的数量；为每组检验的产品的数量；npnp为每组发现的不良品的数量。

为每组发现的不良品的数量选择控制图的坐标刻度选择控制图的坐标刻度选择控制图的坐标刻度选择控制图的坐标刻度选择控制图的坐标刻度选择控制图的坐标刻度 一一般般不不良良品品率率为为纵纵坐坐标标，，子子组组别别（（小小时时/ /天天））作作为为横横坐坐标标, ,纵纵坐坐标标的的刻刻度度应应从从0 0到到初初步步研研究究数数据据读读读读数数中中最最大大的的不合格率值的倍不合格率值的倍将不合格品率描绘在控制图上将不合格品率描绘在控制图上将不合格品率描绘在控制图上将不合格品率描绘在控制图上 a a 描点，连成线来发现异常图形和趋势描点，连成线来发现异常图形和趋势                                                    b b 在在控控制制图图的的“ “备备注注” ”部部分分记记录录过过程程的的变变化化和和可可能影响过程的异常情况能影响过程的异常情况计算控制限计算控制限计算控制限计算控制限计算过程平均不合格品率（计算过程平均不合格品率（计算过程平均不合格品率（计算过程平均不合格品率（P P））））                                   P= =（（n n1 1p p1 1+ +n n2 2p p2 2+…++…+n nk kp pk k））/ (/ (n n1 1+ +n n2 2+…++…+n nk k) )式中：式中：式中：式中： n n1 1p p1 1；；；；n nk kp pk k 分别为每个子组内的不合格的数目分别为每个子组内的不合格的数目分别为每个子组内的不合格的数目分别为每个子组内的不合格的数目 n n1 1；；；；n nk k为每个子组的检验总数为每个子组的检验总数为每个子组的检验总数为每个子组的检验总数计算上下控制限（计算上下控制限（计算上下控制限（计算上下控制限（UCLUCL；；；；LCLLCL）））） UCL UCLp p = P + 3 P ( 1 = P + 3 P ( 1– P ) / n – P ) / n LCLLCLp = p = P P – – 3 P ( 1 3 P ( 1– P ) / n– P ) / n P P 为平均不良率；为平均不良率；为平均不良率；为平均不良率；n n 为样本容量为样本容量为样本容量为样本容量注：注：注：注： 1 1、从上述公式看出，凡是各组容量不一样，控制限随之、从上述公式看出，凡是各组容量不一样，控制限随之、从上述公式看出，凡是各组容量不一样，控制限随之、从上述公式看出，凡是各组容量不一样，控制限随之 变化。

变化 2 2、在实际运用中，当各组容量不超过其平均容量、在实际运用中，当各组容量不超过其平均容量、在实际运用中，当各组容量不超过其平均容量、在实际运用中，当各组容量不超过其平均容量25%25%时，时，时，时， 可用平均样本容量可用平均样本容量可用平均样本容量可用平均样本容量 n n 代替代替代替代替 n n 来计算控制限来计算控制限来计算控制限来计算控制限UCLUCL；；；；LCLLCL方法如下：方法如下：方法如下：方法如下： A A、、、、确定可能超出其平均值确定可能超出其平均值   ± 25%± 25%的样本容量范围的样本容量范围 B B、、、、分别找出样本容量超出该范围的所有子组和没有超出该范围分别找出样本容量超出该范围的所有子组和没有超出该范围                              的子组 C C、、、、按上式分别计算样本容量为按上式分别计算样本容量为 n n    和和   n n     时的点的控制限时的点的控制限. .            UCL,LCL = P UCL,LCL = P ± 3 P ( 1 – P ) / n = P ± 3 p ( 1– p) / n ± 3 P ( 1 – P ) / n = P ± 3 p ( 1– p) / n 画线并标注画线并标注画线并标注画线并标注                      过程平均（过程平均（P P）为水平实线，控制限（）为水平实线，控制限（UCLUCL；；LCLLCL）为虚线。

为虚线      (      (初始研究时，这些被认为是试验控制限初始研究时，这些被认为是试验控制限   § § 过程控制用控制图解释：过程控制用控制图解释：过程控制用控制图解释：过程控制用控制图解释： 分析数据点，找出不稳定的证据（一个受控的分析数据点，找出不稳定的证据（一个受控的P P管制图管制图                                 中，落在均值两侧的点的数量将几乎相等）中，落在均值两侧的点的数量将几乎相等）   超出控制限的点超出控制限的点超出控制限的点超出控制限的点 a a 超出极差上控制限的点通常说明存在下列情况中的一种超出极差上控制限的点通常说明存在下列情况中的一种                              或几种：或几种： 1 1、控制限计算错误或描点时描错、控制限计算错误或描点时描错              2           2、测量系统变化（如：不同的检验员或量具）测量系统变化（如：不同的检验员或量具）           3           3、过程恶化。

过程恶化           b b 低于控制限之下的点，说明存在下列情况的一种或多种：低于控制限之下的点，说明存在下列情况的一种或多种：           1           1、控制限或描点时描错控制限或描点时描错           2           2、测量系统已改变或过程性能已改进测量系统已改变或过程性能已改进   链链链链 a a 出现高于均值的长链或上升链（出现高于均值的长链或上升链（7 7点），通常表明存在下列点），通常表明存在下列                            情况之一或两者情况之一或两者 1 1、、、、      测量系统的改变（如新的检验人或新的量具测量系统的改变（如新的检验人或新的量具                                       2 2、、、、        过程性能已恶化过程性能已恶化                b b            低于均值的链或下降链说明存在下列情况之一或全部：低于均值的链或下降链说明存在下列情况之一或全部：                                                      1 1、、、、      过程性能已改进过程性能已改进                                                   2 2、、、、      测量系统的改好测量系统的改好                       注：当注：当注：当注：当 np np 很小时（很小时（很小时（很小时（5 5以下），出现低于以下），出现低于以下），出现低于以下），出现低于 P P 的链的可能性增加，的链的可能性增加，的链的可能性增加，的链的可能性增加， 因此有必要用长度为因此有必要用长度为因此有必要用长度为因此有必要用长度为8 8点或更多的点的长链作为不合格点或更多的点的长链作为不合格点或更多的点的长链作为不合格点或更多的点的长链作为不合格 品率降低的标志。

品率降低的标志品率降低的标志品率降低的标志      明显的非随机图形明显的非随机图形明显的非随机图形明显的非随机图形 a a 非随机图形例子：明显的趋势；周期性；子组内数据间有非随机图形例子：明显的趋势；周期性；子组内数据间有                                    规律的关系等规律的关系等     b b             一般情况，各点与均值的距离：大约一般情况，各点与均值的距离：大约2/32/3的描点应落在控制的描点应落在控制                                限的中间限的中间1/31/3的区域内，大约的区域内，大约1/31/3的点落在其外的的点落在其外的2/32/3的区域          c c 如果显著多余如果显著多余2/32/3以上的描点落在离均值很近之处（对于以上的描点落在离均值很近之处（对于2525                              子组，如果超过子组，如果超过90%90%的点落在控制限的的点落在控制限的1/31/3区域），则应对下区域），则应对下                                列情况的一种或更多进行调查：列情况的一种或更多进行调查：                       1 1、、          控制限计算错或描点描错控制限计算错或描点描错                    2 2、、          过程或取样方法被分层，每个子组包含了从两个或多个过程或取样方法被分层，每个子组包含了从两个或多个                                        不同平均性能的过程流的测量值（如：两条平行的生产不同平均性能的过程流的测量值（如：两条平行的生产                                        线的混合的输出）。

线的混合的输出）                       3 3、、        数据已经过编辑（明显偏离均值的值已被调换或删除）数据已经过编辑（明显偏离均值的值已被调换或删除）          d d 如果显著少余如果显著少余2/32/3以上的描点落在离均值很近之处（对于以上的描点落在离均值很近之处（对于2525                              子组，如果只有子组，如果只有40%40%的点落在控制限的的点落在控制限的1/31/3区域）则应对下列区域）则应对下列                              情况的一种或更多进行调查：情况的一种或更多进行调查： 1 1、、、、控制限或描点计算错描错控制限或描点计算错描错   2 2、、      过程或取样方法造成连续的分组中包含了从两个或多个过程或取样方法造成连续的分组中包含了从两个或多个                                        不同平均性能的过程流的测量不同平均性能的过程流的测量   寻找并纠正特殊原因寻找并纠正特殊原因寻找并纠正特殊原因寻找并纠正特殊原因                                 当有任何变差时，应立即进行分析，以便识别条件并防止当有任何变差时，应立即进行分析，以便识别条件并防止                                再发生，由于控图发现的变差一般是由特殊原因引起的，再发生，由于控图发现的变差一般是由特殊原因引起的，                                希望操作者和检验员有能力发现变差原因并纠正。

并在备希望操作者和检验员有能力发现变差原因并纠正并在备                                  注栏中详细记录注栏中详细记录   重新计算控制限重新计算控制限重新计算控制限重新计算控制限 初次研究，应排除有变差的子组，重新计算控制限初次研究，应排除有变差的子组，重新计算控制限过程能力解释过程能力解释过程能力解释过程能力解释                         计数型数据控制图上的每一点直接表明不符合顾客要求的不合格品计数型数据控制图上的每一点直接表明不符合顾客要求的不合格品的百分数和比值，这就是对能力的定义的百分数和比值，这就是对能力的定义   控制图的作用§能及时发现生产过程中的异常现象和缓慢变异能及时发现生产过程中的异常现象和缓慢变异, ,预防预防不合格品发生不合格品发生, ,从而降低生产成本和提高生产效率从而降低生产成本和提高生产效率; ;§2:2:能有效分析判断生产过程工序质量的稳定性能有效分析判断生产过程工序质量的稳定性, ,从而从而可降低检验、测试费用；可降低检验、测试费用；§3 3：可查明设备和工艺手段的实际精度，以便作出正：可查明设备和工艺手段的实际精度，以便作出正确的技术决定；确的技术决定；§4 4：使工序的成本和质量成为可预测的，并能以较快：使工序的成本和质量成为可预测的，并能以较快的速度和准确性测量出系统误差的影响程度；的速度和准确性测量出系统误差的影响程度；控制图类型控制图类型计计量量型型数数据据X-R X-R 均值和极差图均值和极差图计计数数型型数数据据P chart P chart 不合格品率不合格品率控制图控制图   X-δX-δ均值和标准差图均值和标准差图nP nP chartchart不不合合格格品品数数控制图控制图X -R X -R 中位值极差图中位值极差图   C chart  C chart  缺陷数控制缺陷数控制图图   X-MR X-MR 单值移动极差单值移动极差图图   U chart  U chart  单位缺陷数单位缺陷数控制图控制图   例图：例图：X-RX-R平均值与极差控制图平均值与极差控制图控制图的选择方法控制图的选择方法确定要制定控制图的特性是计量型数据吗？否关心的是不合格品率？否关心的是不合格数吗？是样本容量是否恒定？是使用np或p图否使用p图样本容量是否桓定？否使用u图是是使用c或u图是性质上是否是均匀或不能按子组取样—例如：化学槽液、批量油漆等？否子组均值是否能很方便地计算？否使用中位数图是使用单值图X-MR是接上页接上页子组容量是否大于或等于9？是否是否能方便地计算每个子组的S值？使用X—R图是否使用X—R图使用X— s图注：本图假设测量系统已经过评价并且是适用的。

d.调查表：用来系统地收集资料和积累数据确认事实并对数据进行粗略整理和分析的统计图表e.分层法：按照一定的标志把搜集到的大量有关某一特点主题的统计数据加以归类、整理和汇总的一种方法f.散布图：是研究成对出现的两组数据之间存在的关系及其相关情况的图示方法g.因果图：又称石川图、要因图、鱼刺图等，是以结果为特性，以原因为因素在它们之间用箭头联系起来散布图法§产品浸锡温度与浸锡效果关系§                  温度Y§                                                   效果 X散布图与相关分析法強正相關弱正相關強負相關弱負相關YXYXYXYX0000相关关系§1：强正相关：X变大，Y也显著变大；§2：弱正相关：X变大，Y也大致变大；§3：不相关：X和Y 之间没有相关关系；§4：强负相关：X变大，Y显著变小；§5：弱负相关：X变大，Y大致变小；§6：非线性相关：X变大，Y与X不成线性变化因果图作图方法§ §明确要管理的特性明确要管理的特性§ §划出特性（结果）与主干划出特性（结果）与主干§ §选取影响特性的要因选取影响特性的要因– –先画大枝（大分类的要因）先画大枝（大分类的要因）– –对大枝细究，一层一层，形成中枝、小枝、细枝，直到找出可采取对大枝细究，一层一层，形成中枝、小枝、细枝，直到找出可采取措施的原因为止措施的原因为止§ §检查要因是否有遗漏检查要因是否有遗漏§ §对特别重要的要因附以标记对特别重要的要因附以标记§ §几点注意事项：几点注意事项：– –结果（特性）要具体结果（特性）要具体– –一个特性（结果）一张图一个特性（结果）一张图– –要因的分析应尽可能深入细致，穷追到底要因的分析应尽可能深入细致，穷追到底– –不能将原因不能将原因大原因不一定是主要原因！特殊性要因图（鱼骨图）§图示人机物法不良现象鱼骨图例鱼骨图例•XE1 1 6 0 Y耐耐压压不不良良设备设备责任心不强责任心不强培训不足绕线员指甲未包裁线剪刀不锋利裁线剪刀不锋利材料材料方法方法环境环境砂剪前端锋利砂剪前端锋利外观检查工位手拿多个产品温度变化大人员人员未打磨或打磨不够使用时间过长刀口钝骨架槽口有毛刺浸锡工位产品摆放混乱裁剪且未用PE膜防护导致刮伤班长督促不够 成型模具嵌合不良对策表不良项不良项目目造成不造成不良的原良的原因因改善措改善措施施实施时实施时间间责任部责任部门门结果确结果确认认常用抽样计划§A：MIL-STD-105E§此为美国军方率先发行的抽样计划方案§B：GB/T2828-2003§此为中国国家质量监督检验检疫总局发布的抽样计划方案§C：C=0抽样计划§此为目前国际上较为流行采用的抽样计划方案，其理念与前两者有差异抽样检验的概念§从一批产品中随机抽取一小部分样本单位进行检验，然后根据不全格品的多少或质量特性，按一规则对产品总栓（或产品批）的质量状况作出判断，就称不抽样检验；§抽样检验的缺点就是存在可能犯两类错误，即将合格批判定为不合格批，或将不合格批判定为合格批的可能。

但从统计检验的原理可知，这两类错误都可以被控制在一定的概率以下GB/2828-2003抽样计划表GB/T2828-2003索引表表表1 1 样本量字码样本量字码GB/T 2828.1-2003/ISO 2859-1:1999GB/T 2828.1-2003/ISO 2859-1:1999批批 量量特殊检验水平特殊检验水平一般检验水平一般检验水平S-1S-1S-2S-2S-3S-3S-4S-4I III IIIIIIII2~82~8A AA AA AA AA AA AB B9~159~15A AA AA AA AA AB BC C16~2516~25A AA AB BB BB BC CD D26~5026~50A AB BB BC CC CD DE E51~9051~90B BB BC CC CC CE EF F91~15091~150B BB BC CD DD DF FG G151~280151~280B BC CD DE EE EG GH H281~500281~500B BC CD DE EF FH HJ J501~1 200501~1 200C CC CE EF FG GJ JK K1 201~3 2001 201~3 200C CD DE EG GH HK KL L3 201~10 0003 201~10 000C CD DF FG GJ JL LMM10 001~35 00010 001~35 000C CD DF FH HK KMMN N35 001~150 00035 001~150 000D DE EG GJ JL LN NP P150 001~500 000150 001~500 000D DE EG GJ JMMP PQ Q500 001 500 001 及其以上及其以上D DE EH HK KN NQ QR R　　　　　　　　　　　　　　　　C=0抽样计划表。