AccoTEST硬件单板及编程- ACSM_PLUS.pdf

Make Testing More ValuableMake Testing More ValuableAccoTEST硬件单板及编程--- ACSM_PLUSMake Testing More Valuable ACSM_PLUS 特性ACS: 每模块四通道输出（共享同一交直流信号产生单元）可输出交流信号：正弦波、方波、三角波和锯齿波正弦波输出 THD可达 -80dB（ Vpp=10V， Freq=1.0KHz）ACM: 每模块四路交流表（共享同一路 AD）高阻抗差分输入低速测试模式 200 KHz 16 Bits高速测试模式 10 MHz 12 Bits可测量 DC、 RMS、 THD、 SNR、 SINAD等参数THD测量可达 -85dB（正弦波 Vpp=10V， Freq=1.0KHz）工作模式支持 4工位并行测试支持 乒乓（ Station A/Station B） 测试Make Testing More ValuableACSWaveform Sine、 Square、 Triangle、 Saw-toothAC Resolution 16 BitsAC Accuracy ± 0.1%（ Vpp > 1V）Output Frequency 0.05 KHz ~ 200.0 KHzFrequency Accuracy ± 0.01%The Square Wave Duty Ratio Accuracy0.02% ( 0.05KHz SetTestResult(0, 0, adresult[0]);RemarksACM低速 LADC测量模式下，测量用户 DUT板的交流信号，测量结果为有效值。

低速 LADC测量是利用 16位 200 KHz的 ADC芯片进行采样最好采样被测信号的整周期ACM_LADCParametersTestvrangeLADC_VR_10V, LADC_VR_5V, LADC_VR_2V, LADC_VR_1V, LADC_VR_20V, LADC_VR_50V, LADC_VR_100VTestcoupleDC_COUPLE： 选择直流耦合（缺省）AC_COUPLE： 选择交流耦合samplenumACM低速 LADC测量模式下，测量采样点数，范围： 10 ~ 60000 bufACM低速 LADC测量模式下，测量结果存放首地址 buf是 double类型数组首地址， buf[4]Make Testing More Valuableint ACMLMeaDutData(int testvrange, int testcouple,int samplenum, double * buf)ACMLMeaDutData()ACM_LADCParametersTestvrangeLADC_VR_10V, LADC_VR_5V, LADC_VR_2V, LADC_VR_1V, LADC_VR_20V, LADC_VR_50V, LADC_VR_100V TestcoupleDC_COUPLE： 选择直流耦合（缺省）AC_COUPLE： 选择交流耦合samplenumACM低速 LADC测量模式下，测量采样点数，范围： 10 ~ 60000。

bufACM低速 LADC测量模式下，存放数据结果的数组，由用户定义，如： double result[2048]={0.0};注意 ：1.Buf数组长度需不小于 samplenum的值，否则可能会发生不可预期的错误2.建议把该数组定义成全局变量Make Testing More ValuableACMLMeaDutData()Exampledouble result[2048]={0.0};acsm0.ACMLMeaDutData(LADC_VR_5V,DC_COUPLE,2048,result);RemarksACM低速 LADC测量模式下，测量用户 DUT板信号，返回所有测量 的时域 数据低速 LADC测量是利用 16位200 KHz的 ADC芯片进行采样注意 ：由于返回的是所有测量数据，因此根据采样点数，数组 buf的空间应足够大，四工位的数据都将置于buf数组中例如，采样点数为 1000，四工位测试，则 buf定义 buf[4000]单工位测试，采样数据置于 buf[0] ~ buf[999]，其他无效双工位测试，第一工位采样数据置于 buf[0] ~ buf[999]，第二工位采样数据置于 buf[1000] ~ buf[1999]，其他无效。

四工位测试，第一工位采样数据置于 buf[0] ~ buf[999]，第二工位采样数据置于 buf[1000] ~ buf[1999]，第三工位采样数据置于 buf[2000] ~ buf[2999]，第四工位采样数据置于 buf[3000] ~ buf[3999]，其他无效ACM_LADCMake Testing More Valuableint ACMLMeaDutTHD(int testvrange,int testcouple, int samplenum, int harmnum, int harmtype, double * buf)ACMLMeaDutTHD()Exampledouble adresult[4]={0.0};acsm0.ACMLMeaDutTHD(LADC_VR_5V,DC_COUPLE,2048,20,TOTAL_HARM,adresult);//low speed mode, sample=2048, 20 harmonic, read THDTHD->SetTestResult(0, 0, adresult[0]);RemarksACM低速 LADC测量模式下，测量用户 DUT板正弦波交流信号总谐波失真度。

低速 LADC测量是利用 16位200 KHz的 ADC芯片进行采样ACM_LADCParametersTestvrangeLADC_VR_10V, LADC_VR_5V, LADC_VR_2V, LADC_VR_1V, LADC_VR_20V, LADC_VR_50V, LADC_VR_100VTestcoupleDC_COUPLE： 选择直流耦合（缺省）AC_COUPLE： 选择交流耦合SamplenumACM低速 LADC测量模式下，测量采样点数，范围： 10 ~ 60000harmnumACM低速 LADC测量模式下，测量谐波次数，范围： 2 ~ 50HarmtypeTOTAL_HARM： 总谐波（缺省）ODD_HARM： 奇次谐波EVEN_HARM： 偶次谐波* bufACM低速 LADC测量模式下，测量结果存放首地址 buf是 double类型数组首地址， buf[4]Make Testing More Valuableint ACMGetFFTResult(int TestVRange,int TestCouple,int SampleNum,double * buf);ACMGetFFTResult()Exampledouble fft_result[2048]={0.0};acsm0.ACMGetFFTResult(LADC_VR_5V,DC_COUPLE,2048,fft_result);RemarksACM低速 LADC测量模式下，测量用户 DUT板交流信号，测量结果为 FFT变换值。

低速 LADC测量是利用 16位 200 KHz的 ADC芯片进行采样最好采样被测信号的整周期ACM_LADCParametersTestvrangeLADC_VR_10V, LADC_VR_5V, LADC_VR_2V, LADC_VR_1V, LADC_VR_20V, LADC_VR_50V, LADC_VR_100VTestcoupleDC_COUPLE： 选择直流耦合（缺省）AC_COUPLE： 选择交流耦合samplenumACM低速 LADC测量模式下，测量采样点数，范围： 10 ~ 60000* bufACM低速 LADC测量模式下，存放 FFT变换结果的数组，由用户定义，如： double fft_result[2048]={0.0};注意 ：1.Buf数组长度需不小于 samplenum的值，否则可能会发生不可预期的错误2.建议把该数组定义成全局变量Make Testing More Valuableint ACMGetFFTDataBlackmanHarris(int TestVRange,int TestCouple,int SampleNum); ACMGetFFTDataBlackmanHarris()RemarksACM低速 LADC测量模式下， 加窗 测量用户 DUT板交流信号。

与函数 ACMGetFFTResultBlackmanHarris（）配合使用ACM_LADCParametersTestvrangeLADC_VR_10V, LADC_VR_5V, LADC_VR_2V, LADC_VR_1V, LADC_VR_20V, LADC_VR_50V, LADC_VR_100VTestcoupleDC_COUPLE： 选择直流耦合（缺省）AC_COUPLE： 选择交流耦合samplenumACM低速 LADC测量模式下，测量采样点数，范围： 10 ~ 60000Make Testing More Valuableint ACMGetFFTResultBlackmanHarris(int TestVRange,int TestCouple,int SampleNum,double *level10,double *window,double * buf);ACMGetFFTResultBlackmanHarris()RemarksACM低速 LADC测量模式下，测量用户 DUT板交流信号测量结果为加窗后 FFT变换值以及平均值与函数 ACMGetFFTResultBlackmanHarris（）配合使用。

ACM_LADCParametersTestvrangeLADC_VR_10V, LADC_VR_5V, LADC_VR_2V, LADC_VR_1V, LADC_VR_20V, LADC_VR_50V, LADC_VR_100VTestcoupleDC_COUPLE： 选择直流耦合（缺省）AC_COUPLE： 选择交流耦合samplenumACM低速 LADC测量模式下，测量采样点数，范围： 10 ~ 60000* level10ACM低速 LADC测量模式下，测量信号平均值存放首地址level10是 double类型数组首地址 windowACM低速 LADC测量模式下，由用户输入窗函数数据存放首地址窗函数需用户定义如： double bhwin[2048] ={0.0};注意 ：1. window数组长度需不小于 samplenum的值，否则可能会发生不可预期的错误2.建议把该数组定义成全局变量Make Testing More ValuableACMGetFFTResultBlackmanHarris()Exampledouble level[4] ={0.0};double bhwin[2048] ={0.0};double result[2048] ={0.0};//用户生成窗函数数据double q;for (int i=0; iSetTestResult(0, 0, adresult[0]);RemarksACM高速 HADC测量模式下，测量用户 DUT板交流信号，测量结果为有效值。

高速 HADC测量是利用 12位 10MHz的 ADC芯片进行采样最好采样被测信号的整周期ACM_HADCParametersTestvrangeLA。