原子发射分析课件.ppt

单击此处编辑母版标题样式,,单击此处编辑母版文本样式,,第二级,,第三级,,第四级,,第五级,,,*,,第三章 原子发射光谱法,,(,Atomic Emission Spectrometry, AES,),,原子光谱与分子光谱比较,,分子光谱,原子光谱,光谱形状,带状光谱,线光谱,光谱起源,振动能级跃迁(红外区),,电子能级跃迁(紫外可见区),电子能级跃迁,研究范围,气态或溶液中的分子,稀薄气体状态的原子,,,,3.1 概论,,3.2 基本原理,,3.3 原子发射光谱仪器,,3.4 干扰及消除方法,,3.5 光谱分析方法,,3.6 分析性能,,3.7 分析应用,本章着重掌握原子发射光谱分析法的基本原理、特点，了解光谱仪构造，掌握定性定量方法钠Na 锂 Li 钾 K 铷Rb 铯Cs 钙Ca 锶 Sr 铜 Cu 钡 Ba,,黄 紫红 浅紫 紫 紫红 砖红色 洋红 绿 黄绿,,原子发射光谱法，是依据原子在能量的激发下，发射特征的电磁辐射，,通过测量激发态原子所发射光谱线的波长和强度进行定性和定量分析的方法。

3.1 概 论,,特点,定性分析应用范围广,对,约70元素可较容易鉴定，这是光谱分折的突出应用多数情况，分析前不必把待测元素从基体元素中分离出来可进行,多种元素同时分析,消耗试样量少，灵敏度高,适于低含量及痕量元素分折,检出限可达ppm，精密度为±10%左右，线性范围约2个数量级如采用ICP光源，可使某些元素的检出限降低至10,-3,~10,-4,ppm，精密度达到±1%以下，线性范围可延长至7个数量级缺点：相对分析法，需要有标准样品对照,,3.2,,基本原理,一般情况下，原子处于基态，在激发光源作用下（电致激发、热致激发或光致激发等），物质元素获得能量，变为激发态原子，当从激发态跃迁到低能态或基态时产生发射光谱M,*,,,M + hv,3.2.1 原子发射光谱的产生,基态,E*,E,激发态,,,,·激发能：,原子中某一外层电子由基态激发到高能级所需要的能量,（激发电位）原子光谱中每一条谱线的产生各有其相应的激发电位·共振线：,由激发态向基态跃迁所发射的谱线第一共振线,具有最小的激发电位，因此最容易被激发，为该元素的,最强,谱线电离电位： 使原子电离所需要的能量离子也可能被激发产生发射光谱。

由于离子和原子具有不同的能级，所以离子发射的光谱与原子发射的光谱不一样2. 离子线(Ⅱ,Ⅲ),,离子外层电子受激发发生能级跃迁所产生的谱线失去一个电子为一级电离，一级电离线,Ⅱ,,失去二个电子为二级电离，二级电离线,Ⅲ,,Ca,（,Ⅱ,）,396.9 nm Ca,（,Ⅲ,）,376.2 nm,,,离子线和原子线都是元素的特征光谱,.,在原子谱线表中，罗马数Ⅰ表示中性原子发射光谱的谱线.,例如：,Mg (,Ⅰ) 285.21nm,1.,原子线(Ⅰ),,3.2.2 原子能级与能级图,1．光谱项,,原子光谱是由原子外层的价电子在两能级间跃迁而产生的，原子的能级通常用光谱项符号来表示：,,,n,2S+1,L,J,或 n,M,L,J,,,,,M=2S+1, 称为谱线的多重性n为主量子数，n=1,2,3,… ；,,L为总角量子数，L=∑l,i,，L=0,1,2,…；用 S,P,D,F…表示；,,S为总自旋量子数, S=∑m,s，i,, S= 0, ±1/2, ±1, ±3/2,…,,J为内量子数, 又称光谱支项, J=L+S.,B. 核外有多个电子，其运动状态可以用,n, L, S, J,表示。

n为主量子数，n=1,2,3,… n；,,l为角量子数， l=0,1,2,…n-1；用s,p,d,f,…表示；,,m为磁量子数, m=0, ±1, ±2, …，±m；,,m,s,为自旋量子数, m,s,=±1/2.,A. 核外只有一个电子，其运动状态可以用,n, l, m, m,s,表示当四个量子数确定之后，原子的运动状态就确定.,,1,S,0,L=0， M=1 (S=0) ， J=0,,,,1,P,1,L=1， M=1 (S=0) ， J=1,,,,,3,D,3,L=2， M=3 (S=1) ， J=3,,3,2,S,1/2,钠原子能级的光谱项符号,,(,n,2S+1,L,J,) n=3, S=1/2, L=0, J=1/2,10/29/2024,,跃迁遵循选择定则：,1．,主量子数n变化Δn为整数，包括02．,总角量子数L的变化ΔL=±13．,内量子数J 变化ΔJ=0，±1,,但当J=0时，ΔJ=0的跃迁是禁戒的4．,总自旋量子数S的变化ΔS=0,(上角标一样）.,10/29/2024,,例：钠原子核外电子基态光谱项为: 3,2,S,1/2,,,,表示: n=3 L=0 S=1/2 J=1/2。

3,2,P,3/2,n=3 L=1 S=1/2 J=3/2,,3,2,P,1/2,n=3 L=1 S=1/2 J=1/2,,钠谱线：5889.96 Å 3,2,S,1/2,----3,2,P,3/2,,5895.93 Å 3,2,S,1/2,----3,2,P,1/2,,10/29/2024,,,,谱线强度,I,ij,=,N,i,A,ij,h,υ,ij,N,i,单位体积内处于高能级i的原子数,,A,ij,两能级间的跃迁概率,,,h,Plank常数,,υ,ij,发射谱线的频率,电子在i，j 两能级间跃迁，谱线强度可表示为：,,N,i,单位体积内处于高能级i的原子数,,N,0,单位体积内处于基态的原子数,,g,i,, g,0,激发态和基态的统计权重,,E,i,激发能,,K Boltzmann 常数,,T 激发温度,,当体系在一定温度下达到平衡时，原子在不同状态的分布也达到平衡，分配在各激发态和基态的原子密度应遵守,波尔兹曼分布规律,N,i,、,N,0,—,分别为处于,i,能态和基态原子密度,,,g,i,、,g,0,—,分别,i,能态和基态的统计权重。

E,i,—,激发态,i,能态的激发电位,,,k,—,波尔兹曼常数（,1.38×10,-23,J· K,-1,）,,,T,—,激发温度,,将波耳兹曼方程式代入谱线强度公式中,——此式为谱线强度公式,,原子线离子线都适用,从上式看出，谱线强度与激发电位、温度、处于基态的粒子数、跃迁概率有关1.激发电位,E,i,,谱线强度与原子(或离子）的激发电位是,负指数关系,当N,0,、T一定时，,激发电位越低，越易激发，谱线强度越大每一元素的,主共振线的激发电位最小，强度最强.,影响谱线强度的因素,,2. 跃迁概率 Aij,谱线强度与跃迁概率成正比.,,,跃迁概率是指两能级间的跃迁在所有可能发生的跃迁中的概率i,j,I,ij,,3.,温度,T—关系较复杂,T 既影响原子的,激发过程,，又影响原子的,电离过程,,在一定范围内，激发温度升高谱线强度增大，但超过某一温度，温度越高，原子发生电离的数目越多，原子谱线强度降低，离子线谱线强度升高不同元素的不同谱线各有其,最佳激发温度,，激发温度与所使用的光源和工作条件有关4. 统计权重,5. 基态原子,,谱线强度与基态原子密度N,0,成正比,I ∝ N,0,,,在一定条件下,N,0,与试样中元素含量成正比,N,0,∝ c,，∴谱线强度也与被测定元素含量成正比。

I ∝ c,,,I ∝ c ——光谱定量分析的基础,谱线强度与统计权重成正比,,,g=2J+1 J,为原子的内量子数,,,2J+1,为能级的简并度,,3.2.4 谱线的自吸与自蚀,,,,在一般光源中，谱线是在弧焰中,,产生的，弧焰具有一定的厚度原子在高温时被激发，发射某一波长的谱线，而处于低温状态的同类原子又能吸收这一波长的辐射，这种现象称为,自吸现象当自吸现象非常严重时，谱线中心的辐射将完全被吸收，这种现象称为,自蚀,a,b,,,,,1，无自吸； 2，自吸； 3，自蚀,1,2,3,,,,3.3 原子发射光谱仪器,,,原子发射光谱仪主要由,激发光源、分光系统和检测器,三部分组成原子发射光谱仪结构示意图,,,,,,,作用：提供足够的能量使试样蒸发、原子化、激发，产生光谱目前常用的光源有：,,直流电弧(DC arc),,交流电弧(AC arc),,电火花(electric spark),,电感耦合等离子体（ICP）,3.3.1 光源,,使电极间的气体电离的方法：UV线照射，电子轰击，电子或离子对中性原子碰撞及灼热金属等当电压增大到某一值时，电流突然增大，电极间的电阻突然变小，这种现象称为,击穿,。

气体被击穿后，即使没有外界电离作用，仍然能继续电离，使放电持续，这种放电称为,自持放电,直流电弧,两个碳电极为阴阳两极，试样装在阳极的孔穴中，电弧被引燃后，,阴极产生的电子不断轰击阳极,，使阳极表面形成炽热的,阳极斑,，阳极头温度高达,3800K,，有利于试样的,蒸发、解离阳,阴,,,直流电弧光源电极头温度高，有利于,试样的蒸发；适用于难挥发物质的定性分析；,,弧焰温度较低,, 4000~7000K,，难以激发电离能高的元素,;,绝对灵敏度高；,,放电不稳定，稳定性差，重现性不好；弧层较厚，自吸现象严重，,不适于高含量定量分析；,,适用于矿物、难挥发试样的定性、半定量及痕量组分分析特点,阳,阴,,2. 交流电弧,交流电弧具有与直流电弧相似的放电性质,,特点：,,（1）每交流半周点弧一次，阴极或阳极亮斑不固定在某一局部，因此，,试样蒸发均匀——重现性好；,,（2）电极头的温度比直流电弧阳极低，试样蒸发能力差，,分析绝对灵敏度低；,,（3）弧焰温度高，可达4000~8000K，激发能力强,，,适用于难激发元素；,,（4）光源稳定性好、及精密度高，,适用于金属、合金中低含量元素的定量分析；,,,,电火花,由于高压火花放电时间极短，故在这一瞬间内通过分析间隙的电流密度很大（高达10000-50000A/cm,2）,，因此弧焰瞬间温度很高，可达10000K以上，故激发能量大，可激发电离电位高的元素。

以间隙方式进行工作，平均电流密度不高，所以电极头温度较低，不利于元素的蒸发弧焰半径较小，弧层较薄，自吸不严重稳定性好，重现性好主要用于,易熔金属合金试样,的分析,,高含量元素,的定量分析，及,难激发元素,的分析等离子体光源,,,,等离子体,是一种电离度大于0.1%的电离气体，由电子、离子、原子和分子所组成，其中电子数目和离子数目基本相等，整体呈现中性最常用的等离子体光源是直流等离子焰,（DCP）、,电感耦合等离子体（ICP）、,电容耦合微波等离子炬（CMP）和微波诱导等离子体（MIP）等感耦高频等离子炬（,ICP),,,,感耦高频等离子炬用电感耦合传递功率，是应用较广的一种等离子光源感耦高频等离子炬由,高频发生器、进样系统（包括供气系统）和等离子炬管,三部分组成在有气体的石英管外套装一个高频感应线圈，感应线圈与高频发生器连接等离子炬管分为三层：,,●最外层通Ar气作为冷却气，沿切线方向引入，并螺旋上升，,,其作用：,,第一，将等离子体吹离外层石英管的内壁，可保护石英管不被烧毁；,,第二，是利用离心作用，在炬管中心产生低气压通道，以利于进样；,,第三，参与放电●中层管通入辅助气体Ar气，用于点燃等离子体。

●内层石英管以Ar为载气，把经过雾化器的试样溶液以气溶胶形式引入等离子体中不同频率的电流所形成的等离子体，具有不同的形状：,,在低频（约5兆赫）时形成的等离子形状如水滴，试样微粒只能环绕等离子炬表面通过，对试样的蒸发激发不利在高频（约30兆赫）时形成的等离子炬形状似,环状结构,，试样微粒可以沿着等离子炬轴心通过，对试样的,蒸发激发极为有利,这种具有中心通道的等离子炬，正是发射光谱分析的优良的激发光源ICP环状结构分为若干区，各区的温度不同，性状不同：,,（1）焰心区,,感应线圈区域内，白色不透明，高频电流形成的涡流区，温度最高，达10000K，电子密度高它发射很强的连续光谱试样气溶胶在此区域被,预热、蒸发,，又叫,预热区,2）内焰区,,在感应圈上10-20mm左右，淡蓝色半透明，温度约为6000-8000K试样在此,原子化、激发,，然后发射很强的原子线和离子线这是光谱分析所利用的区域，称为,测光区,常规分析区,3）尾焰区,,在内焰区上方，无色透明，温度低于6000K，只能发射激发电位较低的谱线1）检出限低（10,-9,~10,-11,g/L）；,,（2）稳定性好，精密度高、,相对标准偏差约1%。

准确度高,相对误差为1%，,,,（3）线性范围极宽,4~6个数量级4）自吸效应、基体效应小；,,（5）选择合适的观测高度,光谱背景小6) 激发能力强，灵敏度高；,,,局限性：,,雾化效率低，对非金属测定灵敏度低，仪器价格昂贵，维持费用较高（耗用大量Ar气）ICP的分析性能,,,光源,蒸发温度,激发温度,稳定性,应用范围,直流电弧,高(阳极),,3000~4000,4000~7000,较差,矿物,纯物质,难挥发元素(定性半定量分析),交流电弧,中,,1000~2000,4000~7000,较好,金属合金低含量元素的定量分析,高压火花,低,,《1000,瞬间可达~10000,好,含量高元素,易挥发,难激发元素,ICP,,5000~8000,很好,适用范围广,火焰光源,略低,1000~5000,好,溶液.碱金属.碱土金属,各种光源性质比较,,3.3.2. 试样引入激发光源的方法,,,,,试样引入激发光源的方法，依试样的性质而定1）固体试样,,,金属与合金本身能导电，可直接做成电极，称为自电极若金属箔丝，可将其置于石墨或碳电极中粉末样品，通常放入制成各种形状的小孔或杯形电极中2）溶液试样,,,ICP光源，直接用雾化器将试样溶液引入等离子体内。

电弧或火花光源通常用溶液干渣法进样将试液滴在平头或凹液面电极上，烘干后激发常用的电极材料为石墨，加工成各种形状石墨具有导电性能良好，沸点高（可达4000K），有利于试样蒸发，谱线简单，容易制纯及容易加工成型等优点3）气体试样,,,,通常将其充入放电管内3.3.5 检测器,,,根据接收光谱辐射方式的不同，检测方法有：,,3.3.5.1 目视法（看谱法）,这种方法仅适用于可见光波段看谱镜是一种小型的光谱仪，专门用于钢铁及有色金属的半定量分析3.3.5.2,摄谱,法,,摄谱并显像后在感光板上呈现出黑的谱线,感光板受光变黑程度常用黑度S表示——主要取决于曝光量H，曝光量与感光时间t与光的强度,I,的乘积成正比:,,,H,,It,,受光强度越大，曝光时间越长，则黑度越大谱线黑度,,,谱线黑度S一般用测微光度计进行测量,未感光部分的透光强度,受光变黑部分的透光强度,黑度S与照射在感光板上的曝光量H有关，关系复杂，用乳剂特性曲线描述以黑度S为纵坐标，曝光量H的对数为横坐标得曲线i,i,0,I,0,,一般，定量分析选用反衬度较高的感光板（γ,≈1）,，定性分析时常选用灵敏度较高的感光板lgH,i,—线性部分在横轴上的截矩,,,H,i,称惰延量,, 表示感光板的灵敏度。

,— 线性部分斜率，称为乳剂的反衬度，表示乳剂在曝光量改变时黑度变化的快慢摄谱法的优点,① 可同时记录整个波长范围的谱线,,② 分辨能力强,,③ 可用增加曝光时间的方法来增加谱线的黑度,摄谱法的缺点,,,操作繁琐，检测速度慢,8,,3.3.5.3 光电法,,光电转换器件的作用是把辐射能转换成光电流信号光电法用光电倍增管、光电二极管或CCD检测器直接获得光谱线的相对强度进行定量分析光电直读光谱仪和摄谱仪的区别,检测器,,摄谱仪 感光板,,光电直读光谱仪 光电倍增管,,出射狭缝,,摄谱仪 无,,光电直读光谱仪 有,,光谱仪类型,,,,多道直读光谱仪,多个出射狭缝，多个检测器，可实现多元素同时测定，分析速度快，分析元素固定,一个出射狭缝，一个检测器，分析速度慢，分析元素范围广单道扫描光电直读光谱仪,,3.4.1 光谱干扰,,光谱干扰主要是背景干扰由带光谱、连续光谱以及杂散光等引起背景干扰会使校准曲线弯曲或平移，要进行背,,景校准3.4 干扰及消除方法,,3.4.2 非光谱干扰,,,,试样激发过程对谱线强度的影响,,,具有低电离能的组分越多，试样激发温度就越低，也就是说激发温度受试样基体组成的影响，从而影响光谱强度。

基体效应的抑制,,,基体效应是标准试样与试样基体组成的区别造成的实际工作中应尽量采用与试样基体组成一致的标准试样主要来源于试样组成的影响，也叫基体效应3.5,原子发射光谱分析方法,,3.5.1 光谱定性分析,,,光谱定性分析一般采用摄谱法，此法简便，是目前进行元素定性检出的最好方法同一种元素有许多条发射谱线，最简单的,H,已发现谱线,54,条,，,Fe,元素谱线,4~5,千条,，,每种元素有特征谱线,——,定性分析的依据1）具有足够的强度2）不与其它干扰谱线重叠定性分析时通常选3—5条谱线作为分析线即可3）具有足够的灵敏度定性分析检出限的高低与 所选用的分析线的灵敏度有直接关系一般选用,最后线,作为分析线，不选自吸严重的谱线选用的分析线应满足：,,一般元素谱线的强度会随浓度的下降而消失，其总数量也同时减少，所以,谱线中最后消失的“最后线”也是最灵敏线目前最通用的方法，采用铁的光谱作为波长的标尺，来判断其他元素的谱线铁光谱作标尺有如下特点：,,① 谱线多在210-660nm范围内有几千条谱线② 谱线间距离都很近且在上述波长范围内均匀分布每一条谱线波长，都已进行了精确的测量1. 铁光谱比较法,,标准光谱图是在相同条件下，在铁光谱上方准确地绘出68种元素的谱线并放大20倍后的图片。

铁光谱比较法实际上是与标准光谱图进行比较，因此又称为标准光谱图比较法在进行分析时将,试样,与,纯铁,在完全相同条件下并列摄谱，摄得的谱片置于映谱仪（放大仪）上放大20倍，再与标准光谱图进行比较比较时首先须将谱片上的铁谱与标准光谱图上的铁谱对准，然后检查试样中的元素谱线若其与标准图谱中标明的某一元素谱线出现的波长位置相同，即为该元素的谱线铁谱线比较法可同时进行多元素定性鉴定,将要检出元素的纯物质或纯化合物与试样,并列摄谱于同一感光板上,，在映谱仪上比较试样与纯物质光谱若两者谱线出现在同一波长位置上，即可说明某一元素的某条谱线存在2. 标准试样光谱比较法,,3.5.2 光谱半定量分析,,3.5.3 光谱定量分析,,3.5.3.1 光谱定量分析的关系式,I=ac,b,,a：与试样的蒸发、激发过程和试样组成有关的参数，与样品处理过程、样品基底密切相关，很难保持常数b：与自吸收有关的参数，称为,自吸系数I=ac,,,特点：,,,标准物与被测物,不是同一物质,是标准曲线法和标准加入法两种校正曲线的改进在原子及色谱分析中应用较多优点：,,,待测物与内标物的响应值的波动一致，可克服或减少仪器或方法的不足及操作波动等引起的随机误差或系统误差。

缺点：,,操作程序麻烦，每次内标物和试样都要准确称量，寻找合适的内标物有时也有困难内标法（,Internal standard method,）,,合适的内标物要尽量与待测物物理化学性质相似而且仪器可以识别各自信号，或重复引入内标物往往有一定的困难，因此，寻找合适内标物是十分费时的说明：,具体作法：,,寻找一种物质或内标物，该内标物必须是样品中,大量存在的,或,完全不存在的,例如：,Li,可作为血清中,K,，,Na,测定的内标物（,Li,与,K,，,Na,性质相似，但在血清中不存在）然后在所有样品、标准及空白中加入,相同量,的内标物；,,分别测量样品、标准中待测物及内标物的响应值，然后以,S,i,/S,s,比值对标准浓度,c,作图；,,按校正方法获得,c,x,,,3.5.3.2 内标法,首先在被测元素的谱线中选一条,分析线,，另外向试样中准确加入已知浓度的某种内标元素（参比元素，可以是试样中某种浓度固定的元素或是主体元素）内标元素谱线中选一条谱线做为,内标线,(或称比较线)分析线和内标线合称为分析线对根据分析线对的相对强度与被分析元素含量之间的关系进行定量分析这样可以使谱线强度由于光源的波动而引起的变化得到补偿。

I=ac,b,I,0,=a,0,c,0,,b0,=a,1,=constant,R = =,I,,I,0,a,,a,1,c,b,lgR = lg = blgc+ lgA,I,,I,0,1. 定量关系式,I 分析线的强度,,I,0,内标线的强度,,R 分析线与内标线的强度之比,此式为内标法定量分析的关系式,,2.,内,标元素与分析线对的选择原则,①,内标元素与被测元素在光源作用下应有相近的蒸发性质② 内标元素必须是试样中不含或含量极少③ 分析线对选择需匹配：两条原子线或两条离子线④ 分析线对两条谱线的激发电位相近⑤ 分析线对波长应尽可能接近两条谱线应没有自吸或自吸 很小，并不受其它谱线的干扰3.5.3.3 校准曲线法,,,在确定的分析条件下，用三个或三个以上含有不同浓度被测元素的标准样品与试样在相同的条件下激发光谱，以分析线强度I或内标分析线对强度比R或lgR对浓度c或lgc做校准曲线再由校准曲线求得试样被测元素含量S,1,=,,1,lgH,1,– i,1,S,2,=,,2,lgH,2,– i,2,,D,S=,,lgR =,,blgc+,,lgA,S,1 ：,分析线的黑度，,,S,2：,内标线的黑度,,上式为摄谱法定量分析内标法的基本关系式。

因分析线对所在部位乳剂特征基本相同，故,,,,1,=,,2,=,,i,1,= i,2,= i,,由于曝光量与谱线强度成正比，因此,,S,1,=,,lgI,1,– i S,2,=,,lgI,2,– i,△,S = S,1,–S,2,=,,lg（I,1,-I,2,）=,,lgI,1,/ I,2,=,,lgR,（1） 摄谱法,,（2） 光电直读法,,,ICP光源稳定性好，一般可以不用内标法，但由于有时试液粘度等有差异而引起试样导入不稳定，也采用内标法ICP光电直读光谱仪商品仪器上带有内标通道，可自动进行内标法测定在相同条件下激发试样与标样的光谱，测量标准样品的电压值U和U,r,，U和U,r,分别为分析线和内标线的电压值；再绘制lgU-lgc或lg（U/U,r,）-lgc校准曲线；最后求出试样中被测元素的含量2 标准加入法,（,Standard addition method,）,,,当测定低含量元素时，找不到合适的基体来配制标准试样时，一般采用标准加入法具体做法：,,将一系列待测物的标准物质（浓度改变，,0,,,c,2,，,c,2,，,c,3,…,）分别加入到几等份的样品中（含量固定，,c,x,），配制成浓度为,(c,x,+0),(c,x,+c,1,),(c,x,+c,2,),(c,x,+c,3,),……,，得到和样品有相同基体的标准系列；,,通过仪器测量以上系列响应值,S,0,，,S,1,，,S,2,，,S,3,，,S,4,……,；,,以浓度,c,对响应信号与,S,作图，再将直线外推与浓度轴相交于一点，求得样品中待测物浓度,c,x,,。

c,x,,0.0,,0.2,,0.0,,10,,20,,30,,-10,,浓度,c,,S,,S,2,,S,3,,S,4,,S,1,,0.4,,0.6,,0.8,,1.0,,1.2,,,,当样品量很少时，可在一份样品中加标，加一次作一次测量 可得到上述方法相同的结果；,,,优点：基体相近，或者说基体干扰相同；,,缺点：麻烦，适于小数量的样品分析3.5.3.4 背景的扣除,,,光谱背景,是指状光谱上，叠加着由于连续光谱和分子带状光谱等所造成的谱线强度（摄谱法为黑度）1. 光谱背景来源,,（1）,分子辐射,,,在光源作用下，试样与空气作用生成的分子氧化物、氮化物等分子发射的带状光谱如CN，SiO、AlO等分子化合物解离能很高，在电弧高温中发射分子光谱2）,连续辐射,,,在经典光源中炽热的电极头，或蒸发过程中被带到弧焰中去的固体质点等炽热的固体发射的连续光谱3）,谱线的扩散,,,分析线附近有其它元素的强扩散性谱线（即谱线宽度较大），如Zn、Sb、Pb、Bi、Mg等元素含量较高时，会有很强的扩散线4）,电子与离子复合过程产生连续背景,,（5）,光谱仪器中的杂散光,,,杂散光是指由于光谱仪光学系统对辐射的散射，使其通过非预定途径，而直接达到检测器的任何所不希望的辐射。

2 背景的扣除（略),,3.5.3. 5.光谱定量分析工作条件的选择,,（,1）光谱仪,,,一般多采用中型光谱仪，但对谱线复杂的元素（如稀土元素等）则需选用色散率大的大型光谱仪2）光源,,,可根据被测元素的含量、元素的特征及分析要求等选择合适的光源3）狭缝,,,在定量分析中，为了减少由乳剂不均匀所引入的误差，宜使用较宽的狭缝，一般可达20,m,m 4）内标元素和内标线,,（5）光谱缓冲剂,,,试样组份影响弧焰温度，弧焰温度又直接影响待测元素的谱线强度这种,由于其它元素存在而影响待测元素谱线强度的作用称为第三元素的影响,对于成分复杂的样品，第三元素的影响往往非常显著，并引起较大的分析误差为了减少试样成分对弧焰温度的影响，使弧焰温度稳定，试样中加入一种或几种辅助物质，用来抵偿试样组成变化的影响，这种物质称为,光谱缓冲剂（p90）,6）光谱载体,指在定量分析中所加的一些有利于分析的高纯度物质，如化合物，盐类，碳粉等载体的作用是增加谱线强度，提高分析灵敏度和准确度，并消除干扰11.某合金中Pb的光谱定量测定,以Mg作为内标,实验测得数据如下:,黑度计读数,,,,溶液,Mg,Pb,Pb的质量浓度/(mg.mL,-1,),1,,2,,3,,4,,5,,A,,B,,C,7.3,,8.7,,7.3,,10.3,,11.6,,8.8,,9.2,,10.7,17.5,,18.5,,11.0,,12.0,,10.4,,15.5,,9.2,,10.7,0.151,,0.201,,0.301,,0.402,,0.502,,根据以上数据,(1)绘制工作曲线,(2)求溶液A, B, C的质量浓度.,解: 以,D,S=S,Pb,-S,Mg,对logC作图,即得如下的工作曲线.,根据图中查出的相应logC数据,即可求得A,B,C浓度分别为,-1,,12. 用内标法测定试样中镁的含量.用蒸馏水溶解MgCl,2,以配制标准镁溶液系列.在每一标准溶液和待测溶液中均含有,-1,的钼.钼溶液用溶解钼酸铵而得.测定时吸取50,m,L的溶液于铜电极上,溶液蒸发至干后摄谱,测量279.8nm处镁谱线强度和281.6nm处钼谱线强度,得到下列数据.试据此确定试液中镁的浓度.,r,Mg,相对强度,,r,Mg,相对强度,,ng.mL,-1,279.8nm,281.6nm,ng.mL,-1,279.8nm,281.6nm,1.05,,10.5,,100.5,0.67,,3.4,,18,1.8,,1.6,,1.5,1050,,10500,,分析试样,115,,739,,2.5,1.7,,1.9,,1.8,,解:根据绘内标法制标准曲线的要求,将上页表格做相应的变换如下:,log,r,Mg,Log(I,Mg,/I,Mo,),log,r,Mg,,Log(I,Mg,/I,Mo,),0.0212,,1.02,,2.00,-0.43,,0.33,,1.1,3.02,,4.02,,试样,1.8,,2.6,,0.14,以log(IMg/IMo)对logrMg作图即得如下页所示的工作曲线.,,从图中查得,log,r,=0.768, 故试液中镁的浓度为,-1,,,,,,作 业,,,,,P,92,5、6、8、11 题,,,。