X射线荧光仪器分析误差的来源.doc

X 射线荧光仪器分析误差的来源X 射线光谱分析仪的好坏常常是以 X 射线强度测量的理论统计误差来表示 的，BX 系列波长色散 X 射线荧光仪的稳定性和再现性，已足以保证待测样品分 析测量的精度，被分析样品的制样技术成为影响分析准确度的至关重要的因素， 在样品制备方面所花的工夫将会反映在分析结果的质量上 X 射线荧光仪器分析 误差的来源主要有以下几个方面：1．采样误差：非均质材料样品的代表性2．样品的制备：制样技术的稳定性 产生均匀样品的技术3． 不适当的标样： 待测样品是否在标样的组成范围内 标样元素测定值的准确度 标样与样品的稳定性4．仪器误差： 计数的统计误差 样品的位置 灵敏度和漂移重现性5．不适当的定量数学模型：不正确的算法元素间的干扰效应未经校正颗粒效应纯物质的荧光强度随颗粒的减小而增大， 在多元素体系中， 已经证明一些元 素的强度与吸收和增强效应有关， 这些效应可以引起某些元素的强度增加和另一 些元素的强度减小 图1 列举了强度与研磨时间的关系： ①粒度的减小，引起铁、 硫、钾的强度减小，而使钙、硅的强度增加②随着粒度减小至某一点，强度趋于稳定③较低原子序数的元素的强度随粒度的减小有较大的变化矿物效应图 2 中样品为用不同矿物配成的水泥生料。

标为“ I ”的样品是用石灰石、 页岩和铁矿石配成的标为“ F”的样品含有相同的石灰石和铁矿石，但硅的来 源是用砂岩代替了页岩 两组原料用同一设备处理， 用同一研磨机研磨， 每一个 样品约有 85%通过 200 目图2 表明这种强度—浓度上的变化首先反映了硅的 来源不同，“ I”的硅来自页岩，“F” 的硅来自砂岩然而两组样品的进一步研 磨指出这仅仅是一个粒度效应问题图 3 表明在全部样品经研磨机粉研到 325 目（ 44 μm ）以后，两组样品的实验点均落在同一曲线上元素间吸收—增强效应任何材料的定量 X 射线荧光分析要求元素的测量强度与其百分含量成正比，在岩石和矿物 （由两种或两种以上矿物的组合） 这类复杂的基体中， 由于试样内其它元素的影响， 元素的强度可能不直接与其含量成正比 一般认为， 多元素体系中 这种 非线 性是 由元 素间 效应 引起 的元 素间效应可以是增强效应或吸收效应，也可以是同时包括这两种效应仍以图 2 、图3 实验为例，图 4 表明通过简单的研磨可以改进 CaO 的分析结果图 5 表明校 正钾对钙的干扰后，两组样品的实验点均落在同一曲线上。