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关于射线探伤的简答题

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      2、4.3射线源至工件表面的最小距离f7.5db10db15db4.4X射线照相当焦距为700mm时曝光量的推荐值15mAmin15mAmin20mAmin4.11.2底片评定内的黑度D1.5D4.02.0D4.02.3D4.04.11.3底片像质计灵敏度表5表7表5表7表5表72、 按照新标准JB4730-2005对射线人员提出了那些新要求:答:(3.1射线检测人员)1、JB4730-2005标准规定:对从事射线间的人员上岗前应进行辐射安全知识培训,并取得放射工作人员证。2、射线检测人员经矫正或矫正的近(距)视力和远(距)视力应不低于5.0(小数点记录值为1.0)测试方法应符合GB11533的规定,从事评片的人员应每年检查一次视力。3、 新标准“射线胶片系统”如何分类?如何选用?答:(3.2射线胶片)1、工业胶片系统是指包括射线胶片、增感屏和冲洗条件的组合。胶片系统按照GB/T19348.2-2003分为四类胶片定级或分类依据四个特性参数,即D=2.0和.时的梯度;.时的颗粒度,以及D=2.0时的梯度噪声比G/(以上黑度是指净黑度,即在不包括本底会灰雾度D的光学密度)2、级和AB级射线检

      3、测技术应采用T3类或者更高级别胶片;级射线检测技术应采用或更高类别胶片,胶片本底灰雾度应不大于0.3;采用射线对裂纹敏感性大的材料进行射线检测时,应采用T2类或更高类别的胶片。4、 新标准对射线检测器的选用和效验有何规定:答:对胶片选用:A级和AB级应采用T3或者更高类别的胶片,B级采用T2或者更高类别的胶片。胶片本底灰雾度应不大于0.3;采用射线对裂纹敏感性大的材料进行射线检测时,应采用T2类或更高类别的胶片。对观片灯的要求:观片灯要求性能符合JB/T7903-1999的有关规定,观片灯的最大亮度应能满足评片要求。对黑度计的要求:黑度计可测最大黑度不小于4.5,测量值误差应不超过0.05;黑度计至少每6个月效验一次,黑度片每2年效验一次。对增感屏的要求:射线检测一般用金属增感屏或不用增感屏;增感屏的选用,应按射线源的种类确定,使用增感屏的前、后屏厚度和采用制作增感屏的材料(符合表1)。(如果AB级,级使用前屏0.03的真空包装胶片,应在工件和胶片之间加0.070.15mm的附加铅屏)像质计的要求:像质计的材料,材料代号和不同材料的像质计适用的工件材料范围像质计材料代号FeNiTiAl

      4、Cu像质计材料碳钢和奥氏体不锈钢镍-铬合金工业纯钛工业纯铝3号纯铜适用材料范围碳钢、低合金钢,不锈钢镍、铬合金钛、钛合金铝、铝合金铜、铜合金5、新标准对射线检测技术等级的适用有何变通规定?变通规定的前提是什么?(一般应采用AB级射线检测技术进行检测,对重要设备、结构、特殊材料和体术焊接工艺制作的焊接工艺制作的焊接接头可采用B级技术进行检测)答:变通性规定有:3.8.2由于结构、环境条件、射线设备等方面限制,检测的某些条件不能满足AB级(或级)射线检测技术的要求时,经检测方技术负责人批准,在采取有效补偿措施(例如选用更高类别的胶片)的前提下,若底片的像质计灵敏度达到AB级(或B级)射线检测技术的规定,则可认为按AB级(或B级)谁吸纳检测技术进行了检测。 3.8.3承压设备在用检测中,由于结构、环境、射线设备等方面限制,检测的某些 条件不能满足AB级射线检测技术的要求时,就能够检测方技术负责人批准,在采用有效补偿措施(例如选用更高类别胶片)后可采用A级技术进行射线检测,但应同时采用其他无所检测方法进行补充检测。变通性的前提:1、由于结构、环境、射线设备等方面的限制。 2、经检测方技术负责人

      5、批准。 3、采取有效补偿措施。6、新标准对现场进行X射线检测和射线检测有何新规定?答:现场进行X射线检验时,应按GB16357的规定划定控制区(边界K=40Gy/h)和管理区(K=4.0Gy/h);设置警告标志(如“禁止进入X射线区”)。检测工作人员在控制区边界外操作,并应佩戴个人剂量计,并携带剂量报警仪。现场进行射线检测时,应按照GB18465的规定划定控制区(边界K=40Gy/h)和管理区(K=2.5Gy/h);设置警告标志(如“禁止进入X射线区”)。检测工作人员在控制区边界外操作,并应佩戴个人剂量计,并携带剂量报警仪。7、对小径管(D100)的透照布置和透照次数有何规定?答:(4.1.4和4.1.5)小于等于100mm管子采用双臂双影透照布置,当同时满足下列两个条件时应采用倾斜透照方式椭圆成像:A) T(壁厚)8mm;B)g(焊缝宽度) D/4椭圆成像时,应控制影像的开口宽度(上下焊缝投影最大间距)在1倍焊缝宽度左右。不能满足上述条件或椭圆成像有困难时,可采用垂直透照方式重叠成像。透照次数规定:小径管环向对接焊接接头100%检测的透照次数:采用倾斜透照椭圆成像时,当T/ D0.1

      6、2时,相隔90透照2次。当T/ D0.12时,相隔120或60透照3次,垂直透照重叠成像时一般相隔相隔120或60透照3次。由于结构原因不能进行多次透照时,可采用椭圆成像或重叠成像方式透照一次。鉴于透照一次不能实现焊缝全长的100%检测,此时应采用有效措施扩大缺陷可检出范围,并保证底片范围内黑度和灵敏度满足要求。8、用射线现场透照薄壁焊缝可采取哪些有效措施提高射线照相质量。答:应用射线现场透照薄壁焊缝时,会出现灵敏度达不到标准要求的情况,因此对用射线双壁双影法透照100以下小径管环缝或双壁双影100400管子环缝,为解决这一问题应:1、 严格执行标准中关于源时取小透照厚度的规定(尽量采用Se-75透照)2、 严格执行比标准中关于射线源至工件表面的距离f的规定。3、 满足黑度()和灵敏度的要求;尽量选择高级别的胶片。4、 应保证足够的曝光时间以35分钟为宜,至少不小于输送源往返所需时间的10倍,要避免应用大活度源透照薄壁管。5、 应采取有效的散射线屏蔽措施。9、透照截面厚度变化大的工件时,新标准对提高射线照相厚度宽容度2倍,1.25倍有何新规定?答:(4.11)对透照截面厚度变化大的工件

      7、,1、在采用较高能量的管电压时,应保证适当的曝光量。2、AB级值可1.5;B级值可2.0;采用多胶片透照,以单张底片观察评定是,底片黑度仍应符合一般照相底片黑度要求,保证检测质量。3、同时选用高类别的胶片,按规定允许用T3类胶片,改用T2或T1类胶片。4、X射线加滤波板,减少软射线5、提高射线能量,也可加补偿块,减小被探伤厚度差。10、新标准对透照几何条件有何新规定?理由何在?(4.1.3;4.3.2;4.3.3)答:对100mmDo400mm的环向焊接接头的A级AB级照相的K值控制放宽,从K1.1放宽到K1.2.采用中心透照方式周向曝光或采用源在内单壁透照方式时,只要得到底片质量符合4.11.2(底片评定范围内的黑度)和4.11.3(底片的像质计灵敏度)的要求,f值可以减小,前者减小值最多不应超过规定值的50%,后者(采用源在内单壁透照方式)减小到最多不应超过规定值的20%内;内头优于外透,单壁照优于双壁透照,扩大检测区域。11、胶片、黑度、距离、射线源活度变化时,如何修正曝光条件?答:胶片黑度,距离变化时,可依据平方反比定律修正D-LgE曲线,按下列系数修正法修正曝光量,即:E2=

      8、E1 在相关条件情况下,也可了用拟合曝光曲线的共识选定曝光条件,KV-T曝光曲线按:KV=T(斜率)+B(截距);ET曝光曲线按E=m10修正12、按新标准,像质计灵敏度如何选用?如何让评价,金属丝影像规定在焊缝热影响区是否合理?答:1、像质计灵敏度选用是根据技术等级,工件的透照厚度或公称厚度;透照方式以及像质计放置的位置来选用。2、在母材区域评价灵敏度是合理的,因为母材区域平坦,黑度均匀,不受表面沟槽干扰,像丝是否连续,是否清晰一般不会发生争议,热影响区是焊接接头的最薄弱环节,力学性能最容易断裂的部位,另外新标准已考虑了焊缝余高对金属丝识别的影响,已作了相应的灵敏度的提高【如底片黑度均匀部位(一般时邻近焊缝的母材金属区域)能够清晰地看到长度不小于10mm的连续金属丝影响时,则认为该丝是可识别的。专用像质计至少能识别两根金属丝】13、按新标准规定,射线检测范围内放置哪些标记?有何放置要求?(4.8)答:透照部位的标记由识别标记和定位标记组成,标记一般由适当尺寸的铅(或其他适宜的重金属)制数字、拼音字母和符号等构成。1、识别标记一般包括:产品编号,对接焊接接头编号,部位编号和透照日期,返修后的透照还应有返修标记,库大检测比例的透照应有扩大检测标记。2、定位标记一般包括:中心标记和搭接标记,中心标记指示透照部位区段的中心位置和段编号的方向,一般用十字箭头“ ”表示,搭接标记是连续检测时的透照分段标记,可用符号“” 或者其他能显示搭接情况的方法表示。3、放置要求:标记一般放置在距焊缝边缘至少5mm以外的部位,搭接比较放置位置还应符合附录G(规范性附录)的规定,所有标记的影像不应重叠,且不应干扰有效评定范围内的影像。(对像质计放在胶片侧时应加放“F”标记,对检查背散射防护的要放“B”标记。

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