数电实验报告实验八寄存器功能测试及应用32.docx
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实验八寄存器功能测试及应用一、 实验目的1、 熟悉寄存器的电路结构和工作原理2、 掌握集成移位寄存器74HC194的逻辑功能和使用方法二、 实验设备及器件1、 数字逻辑电路实验板2、 74HC74双D触发器2片3、 74HC04六反相器1片4、 74HC194四位双向通用移位寄存器1片三、 实验原理移位寄存器是一个具有移位功能的寄存器，是指寄存器中所存的 代码能够在移位脉冲的作用下依次左移或右移既能左移乂能右移的 称为双向移位寄存器，只需要改变左、右移的控制信号便可实现双向 移位要求根据移位寄存器存取信息的方式不同分为：串入串出、串 入并出、并入串出、并入并岀四种形式本实验选用的4位双向通用移位寄存器，型号为CC40194或 74HC194,两者功能相同，可互换使用，其逻辑符号及引脚排列如图 8—1所示功能表如表8-1所示 ie|is| 14 | 131 T u1 io|4Vdd Qo Qi 4 A CP SiSo)CC4O 19 4I74LS194)OrSk Do Di D2 Da ScV5511|2I 3I 叫列6i n@8-1 74HC194引脚排列其中DO、DI、D2、D3为并行输入端；QO、QI、Q2、Q3为并 行输出端；SR为右移串行输入端，SL为左移串行输入端；SI、SO为 操作模式控制端；R C为直接无条件清零端；CP为时钟脉冲输入端。
功 能输入输出功 能CPCRSoiS1GSrSLDoDiD2DaQoQiq2Qa除XXXXXXXXX0000送 数t111XXabcdabcd右 移t101DsRXXXXXD&rQoQiq2左 移t110XDeXXXXQiq2QaD*保持f100XXXXXXq505Q戛保持t1XXXXXXXXqSq5Q月四、实验内容与步骤1、利用两块741IC74 （四个D触发器）构成一个单向的移位寄存器参照图8-2搭接电路，观察并记录结果于表8-2图8-2右移移位寄存器表8-2CP输入数据D右移移位寄存器输岀QC2QIGC0OOOOO112O31412、验证74HC194的功能，观察左移、右移功能按图8 —3接线，CR、SI、SO、SL、SR、DO、DI、D2、D3分别接至逻辑开关的输出插口; Q0、QI、Q2、Q3接至逻辑电平显示输入插口CP端接单次脉冲源按表8—1所规定的输入状态，逐项进行测试5V 昼示插仃I 、 辣冲遨16I is! 14113I 12I 111 10Von Qo Q. Q2 Q3 CP Si So) 74H)C194TTr Sr Du Di 6 Ds Sl V33l]- I 3| 4| 5| 6| 7| 8L按逻轨开关输出俯口 图8-3 74LS194逻辑功能测试3、用74IIC194组成七位串行输入转换为并行输出电路。
按图8—4接线，进行右移串入、并出实验，串入数码自定；改接线 路用左移方式实现并行输出并行■出t A 、G Q乂 ② Q. G C Q Q.4 2込74HC1940)消0XT — 五、 实验注意事项1、 注意集成块功能端有效的状态2、 使用移位寄存器的时候注意左移和右移的方向六、 实验感想实验中出现问题，当你仔细检查过你的电路都没有问题的时候， 可以尝试着看看你所使用的元器件是否有问题，正如这次我在实验中 发现我的指示灯（led）老是不亮，当我直接测试这个灯时，发现这 等直接就是坏的，而出户乎我意料的是，坏掉的灯不止一个，八个中 坏了五个！还有，那个芯片的一个脚可能已经坏了，不然我怎么会老 是有移不了，当我换掉一个芯片后，果然就好了还有，在测试中， 要注意全面，这点有点像软件的测试，可以试试两个极端，再在中间 取一个情况，如果不可能全部都测试到的话。
