第二章4X射线衍射方法1.ppt

2.4 X射线衍射方法王美娥 wmesmile@12.4.1 多晶体衍射方法2粉末照相法是将一束近平行的单色X 射线投射到多晶样品上，用照相底片记录衍 射线束强度和方向的一种实验法照相法的实验主要装置为粉末照相机 德拜照相机（称为德拜法或德拜-谢乐法 ）31. 照相法• 456德拜相机• 德拜相机结构简单，主 要由相机圆筒、光栏、承 光管和位于圆筒中心的试 样架构成相机圆筒上下 有结合紧密的底盖密封， 与圆筒内壁周长相等的底 片，圈成圆圈紧贴圆筒内 壁安装，并有卡环保证底 片紧贴圆筒 7德拜相机• 相机圆筒常常设计为内圆周 长为180mm和360mm，对应的圆 直径为φ57.3mm和φ114.6mm• 这样的设计目的是使底片在 长度方向上每毫米对应圆心角 2°和1°，为将底片上测量的 弧形线对距离2L折算成2θ角提 供方便8样品要求：a. 细度：10-3cm～10-5cm（过250目～300目筛）b. 制成直径为0.3mm～0.6mm，长度为1cm的细圆柱状粉末集合体实验数据的测定：德拜粉末照相法底片实验数据的测量主要是测定底片上衍射线条的相对位置和相对强度，然后根据测量数据再计算出θhkl和晶面间距dhkl。

9样品要求：a. 细度：10-3cm～10-5cm（过250目～300目筛）b. 制成直径为0.3mm～0.6mm，长度为1cm的细圆柱状粉末集合体实验数据的测定：德拜粉末照相法底片实验数据的测量主要是测定底片上衍射线条的相对位置和相对强度，然后根据测量数据再计算出θhkl和晶面间距dhkl 10底片安装方 法 • 1正装法：底片中心开一圆孔 ，底片两端中心开半圆孔底片 安装时光栏穿过两个半圆孔和成 的圆孔，承光管穿过中心圆孔 • 2反装法：底片开孔位置同上 ，但底片安装时光栏穿过中心孔 • 3偏装法：底片上开两个圆孔 ，间距仍然是πR当底片围成 圆时，接头位于射线束的垂线上 底片安装时光栏穿过一个圆孔 ，承光管穿过另一个圆孔 11德拜法的实验参数选择• 选择阳极靶和滤波片是获得一张清晰衍射花样的前提 • 根据吸收规律，所选择的阳极靶产生的X射线不会被 试样强烈地吸收，即Z靶 ≤ Z样或Z靶 >> Z样• 滤波片的选择是为了获得单色光，避免多色光产生复 杂的多余衍射线条实验中通常仅用靶材产生的K线条 照射样品，因此必须滤掉K等其它特征射线滤波片的 选择是根据阳极靶材确定的。

• 在确定了靶材后，选择滤波片的原则是：当Z靶 ≤40时 ，Z滤 = Z靶 -1；当Z靶 >40时，Z滤 = Z靶 – 2 12德拜法的实验参数选择• 滤波片获得的单色光只是除K外其它射线强度相对很低 的近似单色光• 获得单色光的方法除了滤波片以外，还可以采用单色器 • 单色器实际上是具有一定晶面间距的晶体，通过恰当的 面间距选择和机构设计，可以使入射X射线中仅K产生衍 射，其它射线全部被散射或吸收掉 • 以K的衍射线作为入射束照射样品是真正的单色光但 是，单色器获得的单色光强度很低，实验中必须延长曝光 时间或衍射线的接受时间 13德拜法的实验参数选择• 实验中还需要选择的参数有X射线管的电压和电流 • 通常管电压为阳极靶材临界电压的3-5倍，此时特征 谱与连续谱的强度比可以达到最佳值• 管电流可以尽量选大，但电流不能超过额定功率下 的最大值• 在管电压和电流选择好后，就得确定曝光时间参数 14德拜相机的指数标定• 在获得一张衍射花样的照片后，我们必须确定照 片上每一条衍射线条的晶面指数，这个工作就是德 拜相的指标化• 进行德拜相的指数标定，首先得测量每一条衍射 线的几何位置（2角）及其相对强度，然后根据测量结果标定每一条衍射线的晶面指数。

15衍射花样照片的测量与计 算 • 衍射线条几何位置测量可以在专用的底片测量尺 上进行，用带游标的量片尺可以测得线对之间的距 离2L，且精度可达0.02-0.1mm用比长仪测量， 精度可以更高 • 当采用φ114.6的德拜相机时，测量的衍射线弧对 间距（2L）每毫米对应的2角为1°； • 若采用φ57.3的德拜相机时，测量的衍射线弧对 间距（2L）每毫米对应的2角为2° • 实际上由于底片伸缩、试样偏心、相机尺寸不准 等因素的影响，真实相机尺寸应该加以修正 16• 德拜相衍射线弧对的强度通常是相对强度，当要 求精度不高时，这个相对强度常常是估计值，按很 强（VS）、强（S）、中（M）、弱（W）和很弱 （VW）分成5个级别精度要求较高时，则可以 用黑度仪测量出每条衍射线弧对的黑度值，再求出 其相对强度精度要求更高时，强度的测量需要依 靠X射线衍射仪来完成 衍射花样照片的测量与计 算 17衍射花样 标定• 完成上述测量后，我们可以获得衍射花样中每条 线对对应的2角，根据布拉格方程可以求出产生衍 射的晶面面间距d• 如果样品晶体结构是已知的，则可以立即标定每 个线对的晶面指数； • 如果晶体结构是未知的，则需要参考试样的化学 成分、加工工艺过程等进行尝试标定。

• 在七大晶系中，立方晶体的衍射花样指标化相对 简单，其它晶系指标化都较复杂本节仅介绍立方 晶系指标化的方法 18立方晶体衍射花样 标定• 立方晶体的面间距公式为 • 将上式代入布拉格方程有：• 2/4a2对于同一物质的同一衍射花样中的各条衍 射线是相同的，所以它是常数由此可见，衍射花 样中的各条线对的晶面指数平方和（H2+K2+L2） 与sin2是一一对应的令m = H2+K2+L2 ，则有：sin21:sin22:sin23:···sin2n= m1:m2:m3:···mn19• 根据立方晶系的消光规律，不同的结构消光规 律不同，因而m值的序列规律就不一样我们可 以根据测得的θ值，计算出：• sin2 1/ sin2 1，sin2 2/sin2 1，sin2 3/sin2 1…得到一个序列，然后与表2-2对比，就可以确定衍 射物质是哪种立方结构 20表2-2 立方晶系点阵消光规律 衍射 线线序 号简单简单 立方体心立方面心立方 HKLmmi/m1HKLmmi/m1HKLmmi/m11100111102111131 2110222004220041.33 3111332116322082.66 42004422084311113.67 521055310105222124 621166222126400165.33 722088321147331196.33 8221,30099400168420206.67 93101010411,330189422248 103111111420201033327921思考题有一体心立方晶体的晶格常数是0.286nm，用铁靶K（K=0.194nm）照射该晶体能产生几条衍射线？分别对应那几个晶面指数？ 22X射线衍射仪法 • X射线衍射仪是广泛使用的X射线衍射装置。

1913年布拉格父子设计的X射线衍射装置是衍射仪的早期雏形，经过了近百年的演变发展，今 天的衍射仪如下图所示• X射线衍射仪是采用衍射光子探测器和测角仪来记录衍射线位置及强度的分析仪器232425X射线衍射仪法• 衍射仪记录花样与德拜法有很大区别• 第一，接收X射线方面衍射仪用辐射探测器，德 拜法用底片感光；• 第二，衍射仪试样是平板状，德拜法试样是细丝 第三，衍射仪法中辐射探测器沿测角仪圆转动， 逐一接收衍射；德拜法中底片是同时接收衍射• 相比之下，衍射仪法使用更方便，自动化程度高 ，尤其是与计算机结合，使得衍射仪在强度测量、 花样标定和物相分析等方面具有更好的性能26常用粉末衍射仪主要由X射线发生系统、测 角及探测控制系统、记数据处理系统三大部分组 成 核心部件是测角仪27测 角 仪28测角仪 • 测角仪圆中心是样品台H样 品台可以绕中心O轴转动平板 状粉末多晶样品安放在样品台H 上，并保证试样被照射的表面与 O轴线严格重合• 测角仪圆周上安装有X射线辐 射探测器D，探测器亦可以绕O 轴线转动• 工作时，探测器与试样同时 转动，但转动的角速度为2：1的 比例关系 29测角仪• 设计2:1的角速度比，目的是确保探测的衍射 线与入射线始终保持2θ的关系，即入射线与 衍射线以试样表面法线为对称轴，在两侧对称 分布。

• 这样辐射探测器接收到的衍射是那些与试样 表面平行的晶面产生的衍射 • 当然，同样的晶面若不平行于试样表面，尽 管也产生衍射，但衍射线进不了探测器，不能 被接受30测角仪• X射线源由X射线发生器产生，其线状焦点位于 测角仪周围位置上固定不动状焦点S到试样 O和试样产生的衍射线到探测器的光路上还安装有 多个光阑以限制X射线的发散• 当探测器由低θ角到高θ角转动的过程中将逐一探 测和记录各条衍射线的位置（2θ角度）和强度探 测器的扫描范围可以从-20º到+165º，这样角度可保证接收到所有衍射线31聚焦圆 测角仪聚焦几何当试样的转动角速度 为探测器（接收狭缝）的 角速度的1/2时，无论在何 角度，线焦点、试样和接 收狭缝都在一个圆上，而 且试样被照射面总与该圆 相切，此圆则称为聚焦圆3233粉末衍射仪常见相分析测试图谱（ SiO2）34样品 制备被测试样制备良好，才能获得正确良好的衍射信息对于粉末样品，通常要求其颗粒 平均粒径控制在5μm左右，亦即通过 320目的筛子，而且在加工过程中，应防止由于外加物理或化学因素而影响 试样其原有的性质35样品制备样品制备非常小 0.1μm以下小 ～10μm粗 ～50μm单晶36在样品制备过程中，应当注意：1）样品颗粒的细度应该严格控制，过粗将 导致样品颗粒中能够产生衍射的晶面减少， 从而使衍射强度减弱，影响检测的灵敏度； 样品颗粒过细，将会破坏晶体结构，同样会 影响实验结果。

2）在制样过程中，由于粉末样品需要制成 平板状，因此需要避免颗粒发生定向排列， 存在取向，从而影响实验结果3）在加工过程中，应防止由于外加物理或 化学因素而影响试样其原有的性质37实验室衍射仪常用的粉末样品形状为平 板形其支承粉末制品的支架有两种，即透 过试样板和不透孔试样板 粉末物质制样示意图38样品托39衍射仪法 Debey法1快0.3—1h >4—5h; 手工化;2灵敏，弱线可分辨; 用肉眼;3可重复，数据可自动处理， 无法重复，人工处理结果可自动检索; 结果;4盲区小，约为3°; 盲区大，>10°;5贵，使用条件要求高; 便宜且简便;6样品量太大; 样品极其微量;7常用用于定量相结构分析; 定性，晶体颗粒大小衍射仪法与Debey法的特点对比40总结• 通过比较德拜法和衍射仪法的试样,衍射花样,接收形式,花样分析方法等可以充分理解X射线衍射多晶结构分析• 花样标定方法(着重掌握立方晶体的标定方法)41总 结• 衍射仪法的特点:试样是平板状• 存在两个圆(测角仪圆,聚焦圆)• 衍射是那些平行于试样表面的平面提供的• 接收射线是辐射探测器(正比计数器…)• 测角仪圆的工作特点:试样与探测器以 1:2的角速度转动;射线源,试样和探测器三者 应始终位于聚焦圆上42。