电子显微镜发展史.docx

电子显微镜的发展史姓名杨柏栋学号200701071312专业应用物理指导教师刘永皓电子显微镜的发展史杨柏栋大庆师范学院 物理与电气信息工程学院 摘要：电子显微镜自从被发明出来就为人类做着巨大的贡献，随着现代社会的发展，电子显 微镜的作用将会越来越大，我们应该知道电子显微镜的由来，本文将着重介绍电子显微镜的 定义、分类、作用及其发展史关键字：电子显微镜、电子引言随着电子显微镜应用的广泛，人们对于电子显微镜的了解需求大大的增加 了，本文介绍了电子显微镜的定义与组成、电子显微镜的种类与用途、电子显微 镜的发展史以及电子显微镜的优缺点，以此让人们更加的了解电子显微镜一、 电子显微镜的定义与组成电子显微镜，简称电镜，是根据电子光学原理，用电子束和电子透镜代替光 束和光学透镜，使物质的细微结构在非常高的放大倍数下成像的仪器［1］电子显微镜由镜筒、真空装置和电源柜三部分组成 镜筒主要有电子源、电子透镜、样品架、荧光屏和探测器等部件，这些部件 通常是自上而下地装配成一个柱体电子透镜 用来聚焦电子，是电子显微镜镜筒中最重要的部件一般使用的 是磁透镜，有时也有使用静电透镜的它用一个对称于镜筒轴线的空间电场或磁 场使电子轨迹向轴线弯曲形成聚焦，其作用与光学显微镜中的光学透镜（凸透镜） 使光束聚焦的作用是一样的，所以称为电子透镜。

光学透镜的焦点是固定的，而 电子透镜的焦点可以被调节，因此电子显微镜不象光学显微镜那样有可以移动的 透镜系统 现代电子显微镜大多采用电磁透镜，由很稳定的直流励磁电流通过 带极靴的线圈产生的强磁场使电子聚焦 电子源 是一个释放自由电子的阴极，栅极，一个环状加速电子的阳极构成的 阴极和阳极之间的电压差必须非常高，一般在数千伏到 3 百万伏之间它能发射 并形成速度均匀的电子束，所以加速电压的稳定度要求不低于万分之一样品架 样品可以稳定地放在样品架上此外往往还有可以用来改变样品（如 移动、转动、加热、降温、拉长等）的装置探测器 用来收集电子的信号或次级信号二、 电子显微镜的种类与用途电子显微镜按结构和用途可分为透射式电子显微镜、扫描式电子显微镜、反 射式电子显微镜和发射式电子显微镜等透射式电子显微镜常用于观察那些用普 通显微镜所不能分辨的细微物质结构［2］；扫描式电子显微镜主要用于观察固体表 面的形貌，也能与 X 射线衍射仪或电子能谱仪相结合，构成电子微探针，用于 物质成分分析；发射式电子显微镜用于自发射电子表面的研究透射式电子显微镜常用于观察那些用普通显微镜所不能分辨的细微物质结 构；扫描式电子显微镜主要用于观察固体表面的形貌，也能与 X 射线衍射仪或 电子能谱仪相结合，构成电子微探针，用于物质成分分析；发射式电子显微镜用 于自发射电子表面的研究。

三、 电子显微镜的发展史德国柏林工科大学的年轻研究员卢斯卡，1932 年制作了第一台电子显微镜 ——它是一台经过改进的阴极射线示波器，成功地得到了铜网的放大像——第一 次由电子束形成的图像，加速电压为7 万，最初放大率仅为12 倍尽管放大率 微不足道，但它却证实了使用电子束和电子透镜可形成与光学像相同的电子像经过不断地改进，1933 年卢斯卡制成了二级放大的电子显微镜，获得了金 属箔和纤维的 1 万倍的放大像1937 年应西门子公司的邀请，卢斯理建立了超显微镜学实验室1939 年西 门子公司制造出分辨本领达到 30 埃的世界上最早的实用电子显微镜，并投入批 量生产电子显微镜的出现使人类的洞察能力提高了好几百倍，不仅看到了病毒， 而且看见了一些大分子，即使经过特殊制备的某些类型材料样品里的原子，也能 够被看到但是，受电子显微镜本身的设计原理和现代加工技术手段的限制，目前它 的分辨本领已经接近极限要进一步研究比原子尺度更小的微观世界必须要有概 念和原理上的根本突破1978年，一种新的物理探测系统—— “扫描隧道显微镜已被德国学者宾尼 格和瑞士学者罗雷尔系统地论证了，并于1982 年制造成功。

这种新型的显微镜， 放大倍数可达 3 亿倍，最小可分辨的两点距离为原子直径的 1/10，也就是说它 的分辨率高达 0.1 埃扫描隧道显微镜采用了全新的工作原理，它利用一种电子隧道现象，将样品 本身作为一具电极，另一个电极是一根非常尖锐的探针，把探针移近样品，并在 两者之间加上电压，当探针和样品表面相距只有数十埃时，由于隧道效应在探针 与样品表面之间就会产生隧穿电流，并保持不变，若表面有微小起伏，那怕只有 原子大小的起伏，也将使穿电流发生成千上万倍的变化，这种携带原子结构的信 息，输入电子计算机，经过处理即可在荧光屏上显示出一幅物体的三维图象[3]四、 电子显微镜的优缺点在电子显微镜中样本必须在真空中观察，因此无法观察活样本在处理样本 时可能会产生样本本来没有的结构，这加剧了此后分析图像的难度由于投射电 子显微镜只能观察非常薄的样本，而有可能物质表面的结构与物质内部的结构不 同此外电子束可能通过碰撞和加热破坏样本现在的最新技术可以在电子显微镜中观察湿的样本和不涂导电层的样本（环 境扫描电子显微镜，Environmental Seanning Electron Microscopes, ESEM）。

假如事先对样本的情况比较清晰的话则可以基本上进行不破坏的观察此外电子显微镜购买和维护的价格都比较高参考文献[1] 柯江华 杨光，扫描电子显微镜 ；科学出版社，1993[2] 陈利永 叶锋，透射电子显微镜数字图像增强技术 - 福建师范大学学报；自然科学出版 社,1992[3] 刘剑霜 谢锋，扫描电子显微镜 ；上海计量测试，1983。