光电检测方法.doc

光电检测方法2.1直接探测2.1.1基本物理过程直接探测是将待检测的光信号直接入射到光探测器的光敏面上，由光探测器将光信号直接转化为电流或电压，根据不同的要求，再经后续电路处理，最后获得有用的信号一般，光探测器前可采用光学天线，在其前端还可经过频率滤波和空间滤波处理这是为了进一步提高探测效率和减小杂散的背景光信号光场可表示为，式中，A是信号光电场振幅，是信号光的频率则其平均功率P为 （2.1.1）光探测器输出的光电流为 （2.1.2）若光探测器的负载电阻为,则光探测器输出的电功率为 （2.1.3）光探测器输出的电功率正比于入射光功率的平方从而可知，光探测器对光的响应特性包含两层含意，其一是光电流正比于光场振幅的平方，即光的强度；其二是电输出功率正比于入射光功率的平方如果入射信号光为强度调制（TM）光，调制信号为从而得 （2.1.4）式中第一项为直流项，若光探测器输出有隔直流电容，则输出光电流只包含第二项，这就是直接探测的基本物理过程，需强调指出，探测器响应的是光场的包络，目前，尚无能直接响应光场频率的探测器。

2.1.2信噪比设入射到光探测器的信号光功率为,噪声功率为，光探测器输出的信号电功率为，输出的噪声功率为可得 （2.1.5）根据噪声比的定义，则输出功率信噪比为 （2.1.6）从上式可以看出I. 若 ，则有 （2.1.7）输出信噪比等于输入信噪比的平方由此可见，直接探测系统不适于输入信号比小于1或者微弱光信号的探测II. 若 ，则 （2.1.8）输出信噪比等于输入信噪比的一半，即经光—电转换后信噪比损失了3dB，在实际应用中还是可以接受的由此可见，直接探测方法不能改善输入信噪比如果考虑直接探测系统存在的所以噪声，则输出噪声总功率为 （2.1.9） 式中，分别为信号光，背景光和暗电流引起的散粒噪声。

为负载电阻的热噪声 （2.1.10）当直接探测系统主要为信号光引起的散粒噪声限制（即量子噪声限）时 （2.1.11）这就是理想的直接探测系统所能达到的最大信噪比极限2.1.3噪声等效功率(NEP)不同的系统有不同的信噪比要求，因而不可能有归一化的灵敏度指标，为了便于分析和评估探测系统的性能，引入等效噪声功率（NEP）这一指标它可以反映直接探测系统微弱光辐射的能力等效噪声功率为,时所需的信号功率在直接探测系统中往往同时存在多种噪声源，但是，在不同情况下，各种噪声源的噪声电平是不同的，按不同的起主导作用的噪声源分析，可得出一下几种噪声限下的NEP一般情况下的NEP表示式 （2.1.12）当热噪声是直接探测系统的主要噪声源，而其他噪声可以忽略时，我们就说直接探测系统受热噪声限制，这时的NEP为 （2.1.13）当散粒噪声为主，其它噪声可以忽略时，则直接探测系统受散粒噪声限制，这时的NEP为 （2.1.14）当背景噪声是直接探测系统的主要噪声源，其它噪声可以忽略时，我们就说直接探测系统受背景噪声限制，这时的NEP为 （2.1.15） 当入射的信号光波所引起的散粒噪声时直接探测系统的主要噪声源，而其它噪声可以忽略时，直接探测系统受信号噪声限制，这时的NEP为 （2.1.16）在实际的直接探测系统中，很难实现信号噪声极限探测，因为任何实际的光探测器都不是理想探测器，总会有噪声存在，在直接探测系统中所用的放大器也不可能没有噪声，至多可以做到放大器噪声比光探测器噪声低，再者，背景辐射和暗电流往往是客观存在的，最后，光探测器本身具有的电阻以及负载电阻等都会产生热噪声。

所以信号噪声限制的探测只能理解为直接探测系统的理想工作状态从以上分析可知，要想达到良好的直接探测效果，在接收光功率受到一定限制的情况下，必须合理的选择光探测器件，尽可能的降低各种噪声，以改善系统的特性2.1.4接收光学系统为了改善直接探测系统的性能，非常直观的分析是应尽可能多的收集信号光功率，为达到此目的，除了在可能条件下选择大的探测器件，往往也采用各种光学系统接收光学系统是为了收集尽可能多信号光能量，并使光束直径小于光探测器的直径，入射到光探测器光敏面上,对不同的系统，单位波长单位立体角所接收到的光功率具有不同的表达形式在一定距离上进行直接探测时，光探测器所能接收到的光功率与下述因素有关：i. 接收系统所能接收到的光功率与距离平方成反比，接收到的光能量随距离增加而衰减很快ii. 目标反射的光功率愈大，则在同一距离上接收到光功率也愈大，或在同样的接收灵敏度下，系统的作用距离也愈大，用合作目标就是增大接收光功率的方法之一iii. 光源发散角愈小，接收系统能接收到的光功率愈大，所以，在发射端往往采用准直或会聚透镜系统来准直光束iv. 接收到的光功率与接收光学系统的口径直接有关，在结构尺寸允许的条件下，增大接收光学系统的口径是有效的办法。

但必须使出，由于大气传输，会引入随机闪烁，在一定程度上，过大的口径，反而会增大噪声v. 各种光源发射的能量有确定的光谱，除选用与之匹配的光探测器外，光学系统的材料也应与之匹配若工作距离较长，还应选用处于大气窗口以内的波长光学系统尽可能选择镜片少的透镜组，如用反射或折反射式系统，以减少镜片对光能的吸收损耗2.1.5直接探测方法应用a) 光功率测量利用光探测器的光电转换特性，可以很容易实现光功率的测定，这也是直接探测技术的最简单，最直接的应用之一，一个好的光功率计除要求有一定的精度外，还应尽可能做到：1. 能响应宽的光谱范围，以适应对不同光辐射源的测量2. 具有大的动态范围光探测器受待测光照射后，将光信号变成电流或电压信号，由于这个电流或电压信号一般都比较微弱，所以，再用一个稳定的线性放大器予以放大，输出至指示仪表，经过校准，即可直接读出光功率的绝对值在测量微弱光功率的场合，由于光探测器存在一定的暗电流和漏电流，信号光电流可能被淹没，为此，可在光功率计的探头中，采用斩波的方法，将恒定光变成交变光，经过隔直电容将交流信号与直流的暗电流和漏电流分离出来，再用锁相放大器放大到显示仪表所需电平b) 条形码阅读器条形码是印刷在标签上的一系列宽窄不同，距离不等的黑色线宽，这些线条的组合代表着各种信息。

对条形码进行读取的装置，实际上就是一种光辐射探测装置，这种装置通常称为阅读器其核心是光探测器对条纹反射光强变化的直接探测条形码阅读器原理框图如下所示： 图2.1.1条形码阅读器通常由两部分组成：一部分为输入装置，通常称作扫描器；另一部分是译码器评价条形码扫描器好坏由以下几个指标1. 条纹分辨率高2. 扫描角度适应性强3. 黑白条纹反光强弱适应性强4. 光信号抗干扰能力强而评价译码器，则有：1. 识别编码种类多2. 配接扫描器能力强3. 与微机接口多4. 拒识率与误码率低由条形码返回的光信号在扫描器中转换成电信号，再送至译码器变成一串编码信号，这个信号由计算机确定所代表的信号特征其指标好坏与其光学系统，光源，光探测器和电路选择密切相关2.2光外差探测方法2.2.1简介在电磁波谱的射频和微波波段，作为一种探测技术，外差接收的优点早已为人们所熟知，并在通信，广播，雷达等领域得到了广泛的应用近年来，随着激光与红外技术的发展，外差探测技术也广泛用于光学和红外波段由于光外差探测是基于两束光在光探测器光敏面上的相干效应，因此，光外差探测又称为光辐射的相干探测，或差拍探测。

2.2.2基本原理偏振方向相同，传播方向平行且重合的两束光垂直入射到光混频器上一束是频率为（即原来的）的本振光，另一束是频率为（即原来的）的信号光光混频器可在频率，，和频（＋）及差频（-）处产生输出但在实际情况下，光频，及（＋）极高，其远远超过光外差探测系统的响应速度因此在光混频器的输出中只需考虑频率较低的差频项，亦即中频项这个中频信号包含了信号光所携带的全部信息中频信号经过中频放大器放大，解调器解调，最后得到所需要的信息 下图所示为光差频探测的原理图 图 2.2.12.2.3特点1. 有利于微弱光信号的探测在光外差探测中，光混频器输出的中频信号功率正比于信号光和本振光平均光功率的乘积而在直接探测中光探测器输出的光电流正比于信号光的平均光功率，即光探测器输出的电功率正比于信号光平均光功率的平方在一般情况下，入射到光探测器上的信号光功率是非常小的（尤其在远距离上的应用，例如光雷达，光通讯等应用），因而，在直接探测中光探测器输出的电信号也是极其微弱的在光外差探测过程中，尽管信号光功率非常小，但只要本振光功率足够大，仍能得到可观的中频输出。

这就是光外差探测对微弱光信号的探测特别有利的原因2. 可获得全部信息在直接探测中，光探测器输出的光电流随信号光的振幅或强度的变化而变化，光探测器对信号光的频率或相位变化不响应，在光外差探测中，光混频器输出的中频光电流的振幅,频率和相位都随信号光的振幅，频率和相位的变化而变化这使我们能把频率调制和相位调制的信号光像幅度调制或强度调制一样进行解调3. 具有良好的滤波性能在直接探测过程中，光探测器除接收信号光以外，杂散背景光也不可避免的同时入射到光探测器上，为了抑制杂散背景光的干扰，提高信号噪声比，一般都要在光探测器的前面加上窄带虑光片，在光外差探测过程中，只有与本振光混频后所产。