SC培训试题答案.pdf

SPC培训考试部门： _ 姓名： _ 分数： _ 一、填空题：侮空0.5分，共25分）1. SPC 是英文 Statistical Process Control的前缀简称，即统计过程控制 _ , 也称为统计制程管制2. CL 表示_管制中心限 UCL 表示_上控制界限 ; LCL 表示 下控制界限3. Ca 表示 准确度；Cp 表示 精密度 _ ； CPK 表示 制程能力4. PPM 是指制程中所产生之_百万分之不良数 _ , DPM 是指制程中所产生之_百万分之缺点数_Defect Per Millio n pcs 卖出的产品中发生故障的百万分比5. 品管七大手法分别是查检表、 柏拉图、特性要因图、散布图、管制图、 直方图、层别法6. 实施 SPC 能够帮助企业在质量控制上真正作到“事前”预防和控制7. 控制图的基本类型按数据类型分为计量值控制图和 计数值控制图8. 上方丄是以一组无间隔的直条图表现频数分布特征的统计图，能够直观地显示出数据的分布情况9. 如过程历史数据计算的AVERAGE=5, 1.67 b. 1.33 1.33 e. CPK v 1.33 12. 在汽车行业中，不属正态分配之数据，可依顾客之需求，采用（a ）法。

a.PPM 值 b. 合格率c. 柏拉图d. 直方图13. 对过程能力进行持续不断地改善，具体可以系统性从以下（ab ）方面入手a）调整过程加工之分布中心，减少偏移量b）提高过程作业水平，减少分散程度c）修正上下控制限范围2 ?以下哪种直方图的形态表现为缺齿形B15.( a ) 负责进行过程能力统计以及数据分析a.质检部b.生产部c.技术部 d.采购部e. 市场部三、判断题 ( 对，错X;每题1分，共15 分) 1. ( X )做初始能力研究时，Cp 大于 1.33，这台机器能力可以接受了2. ( X )只有超出 USL 和 LSL 才需要采取措施3. ( X )没有超出控制界限的点，过程能力是可接受的4. ( X ) 特殊特性的选择应由企业按产品 /过程中特性的重要程度来制定，并没有绝对的正确与否5. ( X )在绘制控制图时，不管采取何种方法，均应注意控制图应能显示过程受控，否则不能计算过程能力6. ( X ) P 图控制法适用于对所有的计数型数据做统计过程控制7. ( ) 1924 年，美国的品管大师休哈特(W.A.Shewhart) 博士提出将 3Sigma 原理运用于生产过程当中, 并发表了著名的“控制图法”( 亦称为： Shewhart 控制图或 3 控制图。

即：一种以实际产品质量特性与依过去经验所分析的过程能力的控制界限比较，而以时间顺序表示出来的图形) 通过对过程变差进行控制，为统计质量管理奠定了理论和方法基础8 ( X ) 因为 X(bar)-R 图最为精确和敏感，较其它方法优势更强，因此大多数企业都选择使用该方法9. ( ) 特殊原因都是恶性的，都应该进行剔除10. ( X ) 当过程能力较高时，为降低成本，采取方法使之降低11. ( ) 当过程能力不足时，为提高过程能力，应进一步减小普通原因和特殊原因造成的变差12. ( X ) Ppk 用于批量生产时对过程能力分析，Cpk 用于批产前对过程能力的分析13. () 正确使用统计技术，能达到早期预防或及时提出矫正措施并得以及时改善的目的14. ( X ) 控制计划规定的特殊特性都应做统计过程控制一SPC15. () 重要过程事件(如工具变更，机器修理等)须摘记于相应之X -R 控制图及 /或直方图上四、名词解释 ( 每题3分，共30分) 1. 变差：过程的单个输出之间不可避免的差别；变差的原因可分为两类：普通原因和特殊原因固有变差：仅由普通原因造成的过程变差，由？ = R/d 2来估计。

总变差：由普通原因和特殊原因共同造成的变差，用?S来估计2、特殊特性：可能影响安全性或法规的符合性、配合、功能、性能或产品后续生产过程的产品特性或制造过程参数3、控制限：控制图上的一条线 (或几条线 )，作为制定一个过程是否稳定的基础如有超出了控制极限变差存在，则证a.FMEA b. 控制计划c. 作业指导书d. 特殊特性清单明过程受特殊因素的影响控制限是通过过程数据计算出来的，不要与工程的技术规范相混淆4. 过程：一组将输入转化为输出的相互关联或相互作用的活动过程是向过程的顾客（内部的和外部的）提供产品或服务的增值活动链注：A） 个过程的输入通常是其它过程的输出B）组织为了增值通常对过程进行策划并使其在受控条件下运行C）过程的资源通常包括：人员、资金、设施、设备、材料、技术和方法5、过程能力：一个稳定过程的固有变差（6? : R/d2 ）的总范围6、Cpk （稳定过程的能力指数）：为一稳定过程【某一天、某一班次、某一批、某一机台其组內的变差（R-bar/d2 or S-bar / C4 ）下的“能力指数”，计算时须同时考虑过程数的趋势及该趋势接近于规格界限的程度即: 通常定义为 CPU 或 CPL 中的最小值。

7、Ppk （性能指数，即初期过程的性能指数）：为试生产阶段一项类似于Cpk 的能力指数，某一产品长期监控下的“能力指数”；但本项指数的计算，是以新产品的初期过程性能研究所得的数据为基础即：通常定义为PPU 或 PPL 中的最小值8、PPM（质量水准，即每百万零件不合格数）指一种根据实际的有缺陷材料来反映过程能力的一种方法9、Xbar, R c（需列出计算公式）Xbay : 均值（一般指子组均值）;R：极差，R MaxXi MinXi 10、正态分布：呈以标称值为中心、左右对称的倒钟形分布一般地说，计量值质量特性，如尺寸、重量、强度、温度、时间等，都有相似的分布状态：正态分布五、问答题（每题5分，共15 分）1 控制图应用在什么条件下可以由分析阶段转入控制阶段？答：控制图应用由分析阶段转入控制阶段应满足的条件：】短期PPM 数据常用来优先制定纠正措施T：标准差，Rd2或I ( Xi X)2n 1 、控制图是受控的； 、过程能力能够满足生产要求2、什么时候应该重新计算控制图的控制界限？答：、控制图是根据稳定状态下的条件（人员、设备、原材料、工艺方法、测量系统、环境）来制定的如果上述条件变化，则必须重新制定控制图； 、一定时间后检验控制图还是否适用； 、过程能力值有大的变化时。

3、请分别写出常用的三种计量型控制图和计数型控制图的简称、符号及主要用途和特点答：答：常用的五种计量型控制图的简称为： 、平均数与极差控制图（X - R Chart ） ； 、平均数与标准差控制图（X - Chart ）； 、中位数与极差控制图（X ChRrt）； 、个别值与移动极差控制图（X - Rm chart ） ； 、最大值与最小值极差控制图（L - S chart ）常用的四种计数型控制图的简称为： 、不良率控制图（P chart ）； 、不良数控制图（Pn chart, 又称 np chart 或 d chart ）； 、缺点数控制图（C chart ）； 、单位缺点数控制图（U chart ）。