2423环境试验标准文件控制清单.docx

精品文档环境试验相关标准在舁 厅P文件编号文件名称状态实施日期备注1GB/T 2423.1-2008电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试^A :低温现行2009.10.012GB/T 2423.2-2008电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试^B:高温现行2009.10.013GB/T 2423.3-2016电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验Cab :恒定湿热试现行2017.07.01替代4GB/T 2423.4-2008电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验Db :交变湿热（12h现行2009.01.015GB/T 2423.5-1995电工电子产品环境试验 第2部分：试验Ea和导则：冲击现行1996.08.016GB/T 2423.6-1995电工电子产品环境试验 第2部分：试验Eb和导则：碰撞现行1996.08.017GB/T 2423.7-1995电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试当《Ec和导则：倾跌现行1996.08.018GB/T 2423.8-1995电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试当缸Ed :自由跌落现行1996.08.019GB/T 2423.9-2001电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试^Cb :设备用恒定作废2007.09.01被 2423.3-200610GB/T 2423.10-2008电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试当缸Fc:振动（正弦）现行2008.10.0111GB/T 2423.11-1997电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验Fd:宽频带随机振作废2005.10.1412GB/T 2423.12-1997电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试当Fda :宽频带随机作废2005.10.14可编辑13GB/T 2423.13-1997电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试当区Fda :宽频带随机作废2005.10.1414GB/T 2423.14-1997电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试当区Fda :宽频带随机作废2005.10.1415GB/T 2423.15-2008电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试当缸Ga和导则：稳态现行2008.10.0116GB/T 2423.16-2008电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试当J和导则：长霉现行2009.10.0117GB/T 2423.17-2008电工电子产品环境试验 第2部分试验方法试验Ka:盐雾现行2009.01.0118GB/T 2423.18-2012电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验Kb :盐雾，交变（氯现行2013.02.0119GB/T 2423.19-2013环境试验 第2部分：试验方法 试验Kc:接触点和连接件的二氧化硫现行2014.03.0720GB/T 2423.20-2014环境试验第2部分：试验方法 试验Kd:接触点和连接件的硫化氢现行2015.04.0121GB/T 2423.21-2008电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试^M :低气压现行2009.10.0122GB/T 2423.22-2012电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验N :温度变化试验现行2013.06.0123GB/T 2423.23-2013环境试验第2部分：试验方法 试验Q :密封现行2014.03.0724GB-T 2423.24-2013电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验Sa:模拟地面上的现行2014.03.0725GB/T 2423.25-2008电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验Z/AM :低温/低气现行2009.10.0126GB/T 2423.26-2008电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验Z/BM :高温/低气现行2009.10.0127GB/T 2423.27-2005电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试马Z-AMD :低温低现行2006.04.0128GB/T 2423.28-2005电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试^T:锡焊试验方法现行2006.04.01可编辑29GB/T 2423.29-1999电工电子产品基本环境试验规程 试验U引出端及整体安装件强度作废2005.10.1430GB/T 2423.30-2013环境试验 第2部分试验方法 试验XA和导则在清洗剂中浸渍现行2014.06.1431GB/T 2423.31-1985电工电子产品基本环境试验规程 倾斜和摇摆试验方法作废2008.12.01被32GB/T 2423.32-2008电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试当区Ta_润湿称量法可现行2008.10.0133GB/T 2423.33-2005电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试当缸Kca :高浓度二氧现行2005.08.0134GB/T 2423.34-2012电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验ZAD :温度湿度组现行2013.06.0135GB/T 2423.35-2005电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验ZAfc :散热和非散现行2006.04.0136GB/T 2423.36-2005电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试当区ZBFc :散热和非现行2006.04.0137GB/T 2423.37-2006电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试^L:沙尘试验现行2007.09.0138GB/T 2423.38-2008电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试^R:水试验方法和现行2009.03.0139GB/T 2423.39-2008电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验方法试验Ee:弹跳现行2009.03.0140GB/T 2423.40-2013环境试验 第2部分：试验方法 试验Cx:未饱和高压蒸汽恒定湿热现行2014.07.1341GB/T 2423.41-2013环境试验第2部分：试验方法风压现行2014.03.0742GB/T 2423.42-1995电工电子产品环境试验 低温低气压振动（正弦）综合试验方法作废2008.12.01被43GB/T 2423.43-2008电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 振动、冲击和类似动力现行2009.01.0144GB/T 2423.44-1995电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试当《Eg :撞击弹簧锤作废2005.10.14可编辑45GB/T 2423.45-2012电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试当ZABDM :气候顺现行2013.06.0146GB/T 2423.46-1997电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试当《Ef:撞击摆锤作废2005.10.1447GB/T 2423.47-1997电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试当缸Fg:声振现行1998.10.0148GB/T 2423.48-2008电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试当《Ff:振动-时间历现行2009.03.0149GB/T 2423.49-1997电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试当缸Fe:振动一正弦现行1998.10.0150GB/T 2423.50-2012电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试^^Cy:恒定湿热 主现行2013.02.0151GB/T 2423.51-2012环境试验 第2部分：试验方法 试验Ke :流动混合气体腐蚀试验现行2013.02.0152GB/T 2423.52-2003电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验77:结构强度与撞现行2004.08.0153GB/T 2423.53-2005电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试当缸Xb :由手的摩擦现行2005.06.0154GB/T 2423.54-2005电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试^XC :流体污染现行2005.06.0155GB/T 2423.55-2006电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试当缸eh :锤击试验现行2006.06.0156GB/T 2423.56-2006电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验Fh:宽带随机振动现行2007.04.0157GB/T 2423.57-2008电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试当缸Ei:冲击—冲击响现行2009.01.0158GB/T 2423.58-2008电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试当叙Fi:振动_混合模现行2009.01.0159GB/T 2423.59-2008电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验Z-Abmh :温度（低现行2009.11.0160GB/T 2423.60-2008电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试^U:引出端及整体现行2009.11.01可编辑61GB/T 2423.101-2008电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验：倾斜和摇摆现行2008.12.0162GB/T 2423.102-2008电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验：温度（低温、高现行2008.12.01备注2018.7.16 号查询卜载可编辑 。