文件5－检测方法标准解读.ppt

中国赛宝实验室罗 道 军0086-2087237161,luodj@《电子信息产品中有毒有害物质检测方法 》 标准解读罗道军中国赛宝实验室0086-20-87236986,luodj@主要内容n标准概述n标准内容简述n规范性附录－－机械拆分制样n总结1 标准概述项目来源信息产业部科技司2006年（信科函【2006】4号）， 项目编号S06026-T 主要起草单位信息产业部电子第五研究所(中国赛宝实验室）上海通标标准技术服务有限公司（ SGS)上海天祥质量技术有限公司(ITS)安捷伦科技有限公司 深圳华测检测技术有限公司(CTI)北京谱尼理化分析测试中心信息产业部专用材料检测中心华为技术有限公司制定标准目的意义n配合《电子信息产品污染控制管理办法》实施n污染控制监督实施的依据n为业界与提供统一的检测方法标准概述标准概述◆信息产业部2006年第39号令《电子信息 产品污 染控制管理办法》； ◆ SJ/T 11363－2006《电子信息产品中有毒有害 物质的限量要求》 ◆参考IEC 《Procedures for the Determination of Levels of Regulated Substances in Electrotechnical Products》 （CDV draft）标准概述标准概述制定标准主要依据制定标准主要依据标准起草过程◆本标准的起草工作在计划下达之前已经开始 ◆2005年6月13号广州首次标准起草工作会议 ﹡起草工作组由信息产业部电子第五研究所牵头 ，共由十一家单位组成；﹡讨论了标准的框架 ；﹡进行了任务分工； ◆2005年12月第二次广州会议 形成了首次完整的标注文本；讨论文本内容，并做了较大篇幅的修改；标准概述标准概述标准起草过程（续）到2006年1月工作组全体成员大会，共收到修改建议100多 条； ◆经过大小五次讨论修改，其中方法经历试验验证，最终 形成送审稿； ◆从起草到形成送审稿历时一年。

u最后经工作组成员投票（P成员102），51成员投票，其 中48票同意，2票弃权、一票反对（秘书处备案）标准内容总览目录：本标准共分八条和一个指导性附录（另外还有引言/前言）1）适用范围；2）规范性引用文件；3）术语与定义；4）检测方法概述；5)用X射线荧光技术对样品进行筛选的测试方法（铅、镉、汞、铬和溴）6）电子信息产品中多溴联苯（PBB）和多溴二苯醚（PBDE）的测试方法；7）电子信息产品中铅（Pb）、镉（Cd）以及汞（Hg）的测试方法；8）比色法定量测定电子信息产品中的六价铬；附录 A 有害物质检测过程中的机械制样方法指引（规范性）标准概述标准概述2 标准的主要内容简述n 2.1 适用范围n本标准规定了电子信息产品中含有的铅（Pb）、汞（Hg）、镉（Cd ）、六价铬[Cr（Ⅵ）]、多溴联苯（PBB）和多溴二苯醚（PBDE） 六种限用的有毒有害物质或元素的检测方法n本标准适用于《管理办法》定义的电子信息产品n2.2 规范性引用文件n下列文件中的条款通过本标准的引用而成为本标准的条款凡是注 日期的引用文件，其随后所有的修改单（不包括勘误的内容）或修 订版均不适用于本标准，然而，鼓励根据本标准达成协议的各方研 究是否可使用这些文件的最新版本。

凡是不注日期的引用文件，其 最新版本适用于本标准nSJ/T11363－2006 电子信息产品中有毒有害物质的限量要求n（指定的仲裁方法）2.3 术语和定义n（部分关键）n筛选 screening初步量化被检物中待测元素浓度的一种分析方法n专用电子材料 special electronic materials 在电子信息产品中所使用的一些特殊材料，由金属材料 、有机材料、无机非金属材料中两种或三种材料组成的 混合物注：专用电子材料有线路板基材、导电胶、半 导体功能材料等n检测单元 test unit 可以直接提交进行精确检测的不需要进一步机械拆分的样 品限量标准中定义的：EIP－A/B/C）2.4 检测方法概述n2.4.1 检测方法的内容n各种有毒有害物质或元素的检测方法由如下6个 部分组成：n——范围；n——方法概要；n——仪器设备；n——试剂；n——制样方法；n——测试步骤 2.4.2 检测方法流程EIP－A/B/C筛选?样品均匀?样品无损制备样品有损制备筛选测定程序满足要求?精确测定?样品制备精确测定满足要求?符合性结论不符合性结论不符合性结论是否是否否否是是是否（检测单元为SJ/T××××－200×中规定的EIP-A/B/C）2.4.3 筛选检测方法n用能量散射X射线荧光光谱法（ED-XRF）或波长散射X 射线荧光光谱法（WD-XRF）对试样中目标物进行测试 ，可以是直接测量样品（不破坏样品），也可以是破坏 样品使其达到“均匀材料”（机械破坏制样）后测试。

n注意：第5章详细介绍的用XRF光谱法进行筛选的方法 尽管是一种快速且节省资源的分析手段，但这种分析技 术在获得结果的适用性和应用方面存在一定的局限性n筛选分析得到的结论分成三个基本类别：n—— 合格（P）：试样中目标物的浓度低于允许值n—— 不合格（F）：试样中目标物的浓度高于允许值n—— 不确定（X）：试样中目标物的浓度在允许值附近 ，因为没有肯定的合格与否的结果而需要进一步检测2.4.4 精确测定方法步骤骤物质质金属材料聚合物材料无机非金属 材料专专用电电子材料机械制样样 方法/ 直接破碎法直接破碎法破碎破碎化学样样品 制备备/微波消解 酸消解微波消解 酸消解 干灰化法 溶剂提取微波消解 酸消解 溶剂提取微波消解 酸消解 溶剂提取仪仪器 分析方法PBB/PBDE无气相色谱-质谱 法（6）无气相色谱-质 谱法（6）Pd/Cd电感耦合等离子体原子发射光谱法、电感耦合等离子体质谱法 、原子吸收光谱法（7.1）Hg电感耦合等离子体原子发射光谱法、电感耦合等离子体质谱法 、冷蒸汽原子吸收光谱法、原子荧光光谱法（7.2）Cr(VI)涂层显色法 (8.1) 碱消解- 比色法（8.2）碱消解-比色法（8.2）2.5 用X射线荧光光谱仪对电子信息产品中有毒有害 物质进行筛选的测试方法范围 本章规定了用X射线荧光光谱仪对电子信息产品中含有的铅 （Pb）、汞（Hg）、镉（Cd）、铬（Cr）以及溴（Br） 的筛选测定方法。

本测试方法适用于电子信息产品按附 录A机械制样后的各种部件和材料 方法概要 用适当方法制备好不同材料的样品放入X射线荧光仪样品室 内，按所选定的测试模式对试样进行X射线分析根据 不同样品不同元素的筛选限值判断试样中铅（Pb）、汞 （Hg）、镉（Cd）、铬（Cr）和溴（Br）的含量是否合 格以及是否需要进行精确测定筛选设备与试剂n 仪器设备n5.3.1 X射线荧光仪（波长散射－X射线荧光仪WD-XRF或能量散射 －X射线荧光仪ED-XRF）:主要由激发源、探测器、样品室以及数据 分析系统组成n5.3.2 附属设备：常用的附属设备有自动进样装置、试料切割机 、研磨机、粉碎机、混匀机、压样机、熔融机等，需要时性能应满 足使用要求n5.3.3 参数选择：n 试剂n5.4.1 硼酸（HBO3）：分析纯， 105℃烘1h，置于干燥器内储存 ；n5.4.2 含铅（Pb）、汞（Hg）、镉（Cd）、铬（Cr）以及溴（Br ）五种元素的相应标准样品n5.4.3 方法中所用到的其他试剂和材料都应不含待分析的铅、镉 、汞、铬、溴等元素或化合物，制样过程中也不能受到这些元素或 化合物的污染筛选测试的样品制备n5.5.1 块状匀质样品n对各种块、板或铸件等不定形试样，可用切割机、研磨机等加工成 适合测试的一定尺寸的样品。

样品的照射面应能代表样品整体n5.5.2 膜状材料n用薄膜材料制备膜状样品时要特别注意薄膜厚度的一致性及组成的 均匀性测量时为使薄膜平整铺开，可加内衬材料作为支撑物，尽 量选用背景低的内衬材料n5.5.3 电子专用材料n对电子专用材料通常为非均匀材料，可用切割机将样品切割破碎， 然后用研磨机将破碎后的样品研磨成粒径不超过1mm的粉末状样品， 混合均匀后用硼酸衬底压片制样，厚度不低于1mmn5.5.4 液体样品n测定液体样品时要定量分取试液装入液杯测定时要注意避免试液 挥发、泄漏、产生气泡或沉淀等现象也可取液体样品滴加到适当 的载体（如滤纸）上干燥后测量n5.5.5 样品污染防止筛选测试步骤n5.6.1 仪器的准备n按仪器厂家提供的说明书使用仪器，应该连续运转以保持最佳的稳定 性n5.6.2 绘制标准曲线n将含有铅（Pb）、汞（Hg）、镉（Cd）、铬（Cr）以及溴（Br）五种 元素不同浓度的一组（不少于3个不同浓度）标准样品放入样品室， 在仪器厂家推荐的时间内对该组标准样品测试，每个浓度的标准样品 至少进行4次测试，然后计算结果的平均值，最后根据各元素的谱线 强度和浓度绘制标准曲线。

若配有计算机的分析仪，可自动绘制标准 曲线n5.6.3 校验n在每次分析试样前，应用含有铅（Pb）、汞（Hg）、镉（Cd）、铬（ Cr）以及溴（Br）五种元素的标准试样校验标准曲线的有效性n5.6.4 样品测试n将制备好的试样放入样品室内，按所选定的测试模式对试样进行X射 线分析，每个试样应至少进行2次测试，然后计算结果的平均值 电子信息产品中不同样品不同元素的筛选限值元素聚合物材料金属材料无机非金属材料专用电子材料镉P≤70-3σ

单位为质量分数单位为质量分数(mg/kg)(mg/kg)准内容概述准内容概述合格（P）/不合格（F）/不确定（X）筛选方法的适用性n尽管X射线荧光光谱仪是一种快速无损便宜的分析仪器， 由于XRF存在一些局限性，使用时应当充分考虑到限制条 件以及结果的适用性n需要特别注意对于铬和溴元素的检测结果若为F，并不能 证明样品中含有有害的“六价铬”和“多溴联苯和多溴二 苯醚”，但相反，如果检测结果为P，则可以说明不含有 “六价铬”和“多溴联苯和多溴二苯醚”n对于含有异相材料的样品，如塑料表面的油漆样品，对于 表面油漆样品的X射线荧光分析，既要考虑到膜厚对灵敏 度的影响，也要考虑到X射线可能会击穿薄层样品到达基 材，造成对结果的偏差n此外，还需考虑设备对最小检测面积的要求以及被测样品 表面的平整度可能带来的干扰；n来自样品基体背景的干扰也不能忽视 2.6 电子信息产品中多溴联苯（PBB）和多溴二苯醚 （PBDE）的测试方法n范围n本测试方法适用于在电子信息产品中所使用的聚合物材 料和电子专用材料中多溴联苯（PBB）和多溴二苯醚（ PBDE）的测试,测试浓度范围为（100～20000）mg/kg 如果采取适当的浓缩和净化步骤，本方法可测定更低浓 度的样品。

n方法概要n本方法采用索氏提取法从聚合物材料和电子专用材料中 提取多溴联苯和多溴二苯醚，通过适当的稀释后，使用 气相色谱-质谱法(GC-MS)选择离子监测模式（SIM）来 测定提取液中多溴联苯和多溴二苯醚，然后计算出它们 在聚合物材料中的含量 GC－MS分析阻燃剂方法中样品制备n6.5.1 样品的粉碎n按附录A将电子信息产品拆解成为各种材料样品，用剪刀或切割机 （或其他方式）将样品制。