固体电子器件原理期末考试题A卷及答案.doc

固体电子器件原理期末考试题A卷及答案得 分评分人一、能带图 (27分)1. 画出硅pn结零偏、反偏和正偏条件下的能带图，标出有关能量 (9 分)2. 画出n型衬底上理想的金属-半导体接触（理想金属-半导体接触的含义：金属-半导体界面无界面态，不考虑镜像电荷的作用）的能带图，(a) fm > fs, (b) fm < fs. 分别指出该接触是欧姆接触还是整流接触? （要求画出接触前和接触后的能带图）( 8 分 )fm > fs,fm < fs,3. 画出p型硅衬底上理想MOS结构（理想MOS结构的含义：栅极材料与衬底半导体无功函数差，栅极-氧化层-衬底无界面态，氧化层为理想的介质层）半导体表面处于反型状态时的能带图 (5分)4. 重掺杂的n+多晶硅栅极-二氧化硅-n型半导体衬底形成的MOS结构，假定氧化层电荷为零画出MOS结构在平衡态的能带图，说明半导体表面状态5分）得 分评分人二、器件工作机理和概念(35 分)1. 简述突变空间电荷区近似的概念 (5分)现在以突变pn结为例来研究平衡pn结的特性我们知道，在p型半导体中，空穴是多数载流子，电子是少数载流子；而在n型半导体中，电子是多数载流子，空穴是少数载流子。

于是，在pn结冶金界面的两侧因浓度差而出现了载流子的扩散运动 p区的空穴向n区扩散，在冶金界面的p型侧留下电离的不可动的受主离子; 同理，n区的电子向p区扩散，在冶金界面的n型侧留下电离的不可动的施主离子电离的受主离子带负电，电离的施主离子带正电于是，随着扩散过程的进行，在pn结界面两侧的薄层内，形成了由不可动的正负电荷组成的非电中性区域我们把这一区域称为pn结空间电荷区， 如图所示空间电荷的出现，在pn结两侧产生了由正电荷指向负电荷的电场Ebi， 即由n区指向p区的电场这一电场称为自建电场或内建电场在自建电场的作用下，空间电荷区内n型侧空穴向p区漂移，p型侧电子向n区漂移，同时产生与p区空穴和n区电子的扩散方向相反的“推挡”作用，减弱了浓度差引起的扩散运动对载流子的输运作用当扩散运动与自建电场的作用达到动态平衡时， 载流子通过pn结界面的净输运为零，空间电荷区的宽度不再变化，自建电场的大小也不再变化由于自建电场的作用，可近似认为空间电荷区内的自由载流子—电子和空穴 被完全“扫出”该区域，只剩下电离受主和电离施主原子，空间电荷区是一个高阻区，所以空间电荷区又称为耗尽区或阻挡层此外，空间电荷区的边界虽然是缓变的，但计算表明过度区很窄，因此，可近似认为空间电荷区边界是突变的。

这两个近似条件，称为突变空间电荷区近似或突变耗尽近似在突变耗尽近似条件下，如图在-xp到xn之间，没有自由载流子，电阻为无穷大；在-xp和xn的外侧是电中性的；在-xp和xn处，存在一个由电中性区到耗尽区的突变界面2. 简述耗尽层电容和扩散电容的概念 (6 分)pn结的耗尽层电容pn结的耗尽层电容，又称势垒电容，在教材中被称为Junction Capacitance在耗尽层近似下，当pn结的外加电压变化时，空间电荷区的宽窄跟着发生变化，空间电荷区的电荷也跟着发生变化，如图1所示这种空间电荷区电荷随外加电压的变化，类似于平板电容器的充放电也就是说，pn结空间电荷区具有电容效应，称为耗尽层电容 pn结的扩散电容当pn结加上正向直流偏压时，pn结空间电荷区外侧的载流子浓度分布如图2所示如果在直流偏压上叠加一交流电压，即 正偏pn结叠加交流电压后扩散区非平衡载流子分布随交流电压的变化，交流电压为则在交流电压的正半周，pn结总偏压增大，空间电荷区边界处的非平衡载流子浓度增大，并在扩散区内直流分布之上形成一新的分布在交流电压的负半周，空间电荷区边界处的非平衡载流子浓度减小，并在扩散区内直流分布之下形成一新的分布。

图2表示直流偏压、交流电压的正峰值、交流电压的负峰值时扩散区载流子浓度的分布扩散区非平衡载流子分布的改变也改变了积累在扩散区的非平衡电荷总量，电荷量的改变与电容器的充放电相同这种电容效应称为pn结的扩散电容由于电荷量的改变和新的稳态分布的建立有赖于非平衡电荷的注入、积累和输运，输入交流电压的频率受到一定的限制只有当电荷量的改变和新稳态分布的建立时间比交流电压的周期低得多时，才能保证交流信号经pn结的输运后不失真因此，扩散电容使pn结能处理的最高信号频率受到限制3. 画出npn晶体管正向有源状态下的非平衡少数载流子分布示意图，并定义晶体管的发射结注入效率g和基区输运系数aT (8 分)4. 简述MOSFET的短沟道效应和窄沟道效应，它们分别会对器件的的哪一个参数发生什么样的影响？ (6分)(1) 沟道长度方向的尺寸效应：当沟道长度缩短到与漏源结深相比拟时，栅压所控制的沟道电荷和耗尽层电荷减少在分析阈电压时已经得到 (4.144)对于n沟道MOSFET，，意味着沟道下面的矩型区域的电荷都是由栅压所控制的，或者说矩形区域的电荷对阈电压都有贡献。

实际上，这个矩型区域包括了漏源耗尽区的一部分，如图4.50所示，栅压控制的耗尽区电荷只是梯形区域的部分设对有贡献的平均电荷密度为QAG，由图4.50得到图4.50 沟道方向的小尺寸效应使栅极实际控制的空间电荷减少 (4.145)式中，L为沟道的结构长度，L'为梯形耗尽区域的底边长度令L- L'= DL，则由图4.50得到 (4.146)于是，(4.145)式可以表示为 (4.147)当L >>时，，否则，从(4.144)式可以看出，对于n沟道MOSFET，沟道方向的尺寸效应使阈电压降低2) 窄沟道效应图4.51 沟道宽度方向的窄沟道效应，栅压控制的耗尽区电荷增加在沟道的宽度方向，由于耗尽区的扩展，栅压控制的衬底耗尽区电荷比栅下的矩形区域的电荷多如图4.51，将W方向的扩展以1/4园柱近似，则电荷密度的平均增加量为 (4.148)即 (4.149)式中是不考虑尺寸效应时栅压所控制的耗尽区电荷密度。

由(4.144)式可以看出，窄沟道效应使阈电压增加5. 向MOSFET沟道区的耗尽层内注入施主或受主杂质，可以调整阈值电压，简述其原理3分)要点：向MOSFET沟道区的耗尽层内注入施主或受主杂质，改变了空间电荷区的电荷密度注入受主，使阈值电压中的-Qd/Cox项增大，阈值电压向正方向移动，注入施主，使阈值电压中的-Qd/Cox项减小（负值增大），阈值电压向负方向移动6. 简述热电子效应，它对MOSFET的阈值电压有何影响？ (3分)1. 热电子效应 如图4.59(a)所示，有以下几类热电子:图4.59(a) 热电子类型：1 沟道热电子，2 漏区电离热电子，3 衬底热电子图4.59(b) 热电子效应对MOSFET转移特性和阈电压的影响[4]485 (1) 当沟道电场足够强时，反型层中的一些电子有可能获得足以克服Si-SiO2界面势垒的能量，注入到栅氧化层中沟道漏端的电场最强，注入主要发生在该区域 (2) 在漏区附近的耗尽区内，电场很强，由碰撞电离产生的电子空穴对中，具有克服Si-SiO2界面势垒能量的电子也可能注入栅氧化层3) 衬底热激发产生的电子，在纵向电场的作用下，也有可能获得足够高的能量，克服Si-SiO2势垒，注入栅氧化层。

图4.59(b)给出热电子效应对阈电压和转移特性的影响可以看出，热电子效应使MOSFET的阈电压增大，跨导降低在上述三种热电子过程中，注入到栅氧化层中的电子，或成为栅流的一部分，或者陷在氧化层中的陷阱位置上陷在氧化层中的陷阱位置上的热电子数在器件工作过程中不断增加，对器件的长期稳定性极为不利后果之一是限制了可使用的最高漏源电压要克服热电子效应，可从两方面着手：一方面提高栅氧化层质量，减小氧化层中的陷阱密度，使热电子成为栅流而不被氧化层所俘获；另一方面是削弱漏区的电场，把漏pn结做成缓变结，降低局部峰值电场强度等措施7. 提高MOSFET的漏极电流容量和跨导的措施有哪些？ (4分)要点：提高沟道宽长比，提高沟道载流子迁移率，增大栅极氧化层电容，例如采用高介电常数的介质作栅极介质得 分评分人三、计算（共38分）( T=300K，真空介电常数: 8.85´10-14 F/cm, Si的相对介电常数: 11.7, SiO2的相对介电常数: 3.9)1. 分别计算300K下GaAs和Ge两种pn结的接触电势差Vbi pn结的参数是：Nd = 1015 cm-3, Na = 1016 cm-3. (GaAs: ni =2´106 cm-3; Ge: ni =2.4´1013 cm-3). (8 分)对于GaAs，对于Ge2. 突变硅pn结的参数为 Na = 2.25´1017 cm-3 ，Nd = 1015 cm-3. T = 300 K，计算零偏时的空间电荷区宽度 W。

Si: ni =1.5´1010 cm-3) (8 分)3. 硅pn结的临界击穿电场可近似为 Ecrit= 4 ´ 105 V/cm. 要使pn结的击穿电压大于50V，计算p+n结的n区允许的最高杂质浓度 (7分) 4. 硅n沟道MOSFET， n+多晶硅栅极， Na= 2´1016 cm-3, tox = 50 nm, Qox = 2´1011 cm-2. 计算阈值电压 (15 分)衬底费米势氧化层电容衬底最大耗尽层厚度衬底耗尽层电荷氧化层等效电荷 近似认为，对于n+ 多晶硅栅极，费米能级与导带底能级重合，则n+ 多晶硅栅极与衬底功函数差为阈值电压 第 9 页 共 9 页。