组成原理实验一 寄存器实验.docx

实验一计科121陈聪实验一寄存器实验一、 实验目的(1) 了解模型机中A, W寄存器结构、工作原理及其控制方法2) 了解模型机中寄存器组R0..R3结构、工作原理及其控制方法二、 实验要求(1) A、W寄存器：利用COP2000实验仪上的K16..K23开关做为DBUS的 数据，其它开关做为控制信号，将数据写入寄存器A，W⑵RO、R1、R2、R3寄存器实验：利用COP2000实验仪上的K16..K23开 关做为DBUS的数据，其它开关做为控制信号，对数据寄存器组R0..R3 进行读写三、 实验说明寄存器的作用是用于保存数据的，因为我们的模型机是8位的，因此在本模 型机中大部寄存器是8位的，标志位寄存器(Cy, Z)是二位的COP2000用74HC574来构成寄存器74HC574的功能如下:< oc< CLK< D7< D6< D5< D4< D3< D2< D1< DODDDDDDDD123456781234567819181716IT14IT1274HC574<_QI< DBUS6 > :DBUS5 >< DBUS4 > :DBUS3 >< DBUS2 >< DBUS1 >< DBUSO >74HC574工作波形图74HC574OC>CLK23TT77712345678A7 >li—< AS >H—< A4 >A吕 \A后 ?AO >寄存器A原理图< WEN74HC3274HC574OC>CLK< DBUS7 >< DBUS6 >< DBUS5 >< DBUS4 >< DBUS3 >< DBUS2 >< DBUS1 >< DBUSO >2_T7~57T712345678dddddddd12345678n—

K23K22K21K20K19K18K17K160001[0110置控制信号为:K4(WEN)K3(AEN)10按住CLOCK脉冲键，CLOCK由高变低，这时寄存器A的黄色选择指示灯 亮，表明选择A寄存器放开CLOCK键，CLOCK由低变高，产生一个上升沿, 数据55H被写入A寄存器将26H写入W寄存器二进制开关K23-K16用于DBUS[7:0]的数据输入，置数据26HK23K22K21K20K19K18K17K1600100110置控制信号为:(1)原理图实验 2： RO, R1, R2,R3寄存器实验74HC57474HC139BY0Y1Y2Y3A B -EY0Y1Y2Y3A B -E< DIN7 > < DIN6 > < DIN5 ) < DIN4 \ > >< DINI >< DINO >寄存器RO,74HC574OC >CLKOC>CLKOC>CLK2D3D4DOC、CLK74HC57474HC574Rl, R2,R3原理图19H777?IT13IT19n17H亘 IT19H17HIT131219H17HITBIT< DBUS7 >< DBUS6 >< DBUS5 >< DBUS4 >< DBUS3 >< DBUS2 >< DBUS1 >< DBUSO >K4(WEN)K3(AEN)01RWR ~| 「寄存器R写工作波形图(3)连接线表连接信号孔接入孔作用有效电平1J1座J3座将 K23-K16 接入DBUS[7:0]2RRDK11寄存器组读使能低电平有效3RWRK10寄存器组写使能低电平有效4SBK1寄存器选择B5SAK0寄存器选择A6RCKCLOCK寄存器工作脉冲上升沿打入(4)实验数据1. 数据是在放开CLOCK键后改变的,也就是CLOCK的上升沿数据被打入。

2. Kl(SB), KO(SA)用于选择寄存器K1(SB)K0(SA)选择00R001R110R211R3将数据分别写入R0,R1,R2,R3寄存器⑴二进制开关K23-K16用于DBUS[7:0]的数据输入，置数据17HK23K22K21K20K19K18K17K1600010111置控制信号为:K11(RRD)K10(RWR)K1(SB)K0(SA)1000(2)将28H写入R1寄存器二进制开关K23-K16用于DBUS[7:0]的数据输入，置数据28HK23K22K21K20K19K18K17K1600101000置控制信号为:K11(RRD)K10(RWR)K1(SB)K0(SA)1001(3)将39H写入R2寄存器二进制开关K23-K16用于DBUS[7:0]的数据输入，置数据39HK23K22K21K20K19K18K17K1600111001置控制信号为:K11(RRD)K10(RWR)K1(SB)K0(SA)1010(4)将50H写入R3寄存器二进制开关K23-K16用于DBUS[7:0]的数据输入，置数据50HK23K22K21K20K19K18K17K1601010000置控制信号为:K11(RRD)K10(RWR)K1(SB)K0(SA)1011将R0,R1,R2,R3寄存器数据读出(1)读R0寄存器数据：17置控制信号为:K11(RRD)K10(RWR)K1(SB)K0(SA)0100⑵读R1寄存器数据:28置控制信号为:K11(RRD)K10(RWR)K1(SB)K0(SA)0101⑶读R2寄存器数据:39置控制信号为:Kll(RRD)K10(RWR)Kl(SB)K0(SA)0110⑷读R3寄存器数据:50置控制信号为:Kll(RRD)Kl0(RWR)Kl(SB)K0(SA)0lll五、实验感想第一次进入组成原理实验室，第一次见到那个看起来很高大上的机器，瞬间 感觉好好玩啊。

当然做实验不是为了玩，是为了更好的结合学过的理论知识这次通过这个机器我了解了 A (读)W (写)寄存器的工作原理，通过控 制信号端K3 (AEN)、K4 (WEN)改变A、W的数据，低电平有效第二个实 验是为了了解R0・・・R3寄存器的工作原理，通过控制Kll(RRD)Kl0(RWR)Kl(SB)K0(SA)这四个数据来改变寄存器里面的数据，也是低电平有效控制信号转变时一 次使R0・・・R3寄存器数据发生转变最终摁CLOCK脉冲键使R0・・・R3里面的数 据显示到LED屏幕上，实验完成在老师的教导下，我们这一组完成了实验内容，很有成就感通过本次实次 验，我又加深了对寄存器的了解，相信在下一次，我也一定能很好的完成实验。