奥氏体钢锻件无损检测超声(整理).docx

奥氏体不锈钢锻件超声检测1、适用范围 适用于奥氏体、奥氏体不锈钢锻件脉冲反射式手动超声检测机械 扫查方式，比如液浸法须在买卖双方同意的条件下方可适用 适用根据锻件形状和制造方法分为四类，其中 1，2，3 类形状比较 简单，4 类较复杂不适用： 滚轧棒，闭合锻件，涡轮转轴和发电机锻件 奥氏体不锈钢锻件的检测在本标准的第四部分2、 参考（略）3、 定义（略）4、 协商事项 以下事项由合同双方在签订合同时协商达成一致a） 扫查比率以及扫查方式是栅格扫查还是 100%全覆盖扫查（第 12 条）b） 近表面双晶探头的选用（第 7.2.6 条）c） 质量定级以及区域（第 14条）d） 除第 7，12 条提到以外，任何特殊扫查覆盖率，仪器或者耦合剂 使用时e） 扫查方式不是手动的（第 1条）f） 采用浸涂技术（第 15条）g） 灵敏度确定技术（第 11条）h） 检测是否要在买方或其代表在场时进行i) 是否应递交工艺卡予以买方承认(第 5条)j) 是否要做横波探头检测(11.3 条)k) 复杂锻件(4 类)的检测保留问题(12.2条)5.工艺卡5.1 概要超声检测应遵照工艺卡执行在合同双方技术协议有规定的情况之 下，工艺卡应在检测前递交给买方予以承认。

5.2 形式工艺卡应具有以下形式：a) 产品规格 或者b) 详细的实施工艺流程，或者c) EN10228 此部分5.3 内容工艺卡至少具有以下内容：a) 需要检测的锻件的规格描述b) 相关文件c) 检测人员的资格证明d) 检测时机e) 检测区域质量级别f) 表面扫查准备g) 耦合剂h) 检测仪器描述i) 校准和设置j) 扫查方式k) 检测顺序以及描述l) 缺陷记录m) 缺陷描述n) 合格级别o) 检测报告6. 人员资格检测人员须具有EN473资格证明7. 仪器和附件7.1 探伤仪符合prEN12668-l规定的A型扫描仪7.2 探头7.2.1 一般规定普通直探头和横波探头必须符合 PrEN12668-2 规定要求得到更加 详细的检测信息时也可用辅助探头，但辅助用的探头不能用于缺陷 的初检辅助探头须符合prEN12668-2规定7.2.2 造型造型应符合EB583-2要求7.2.3 公称频率公称频率在0.5MHZ〜6MHZ7.2.4直探头有效晶片直径10~40mm7.2.5 横波探头横波声束角度 35°~70°，晶片面积 20mm2~625mm27.2.6 双晶探头检测近表面缺陷时应使用双晶探头（第四条）7.3 标准试块应符合 prEN 1 2223规定7.4 对比试块要求用距离-波幅曲线（DAC）定灵敏度和当量法定缺陷当量尺寸 时，应制作对比试块。

对比试块表面状态应和检测部位表面一致 否则，对比试块必须在检测深度内有至少三个反射体对比试块的形式取决于实际探伤，应符合以下条件：a） 超过待检部位长度b） 和待检部位具有相同的材质以及热处理状态c） 和待检部位具有相似声特性除了用于验证 DGS 图的精确性之外，对比试块不能用于距离-增益- 大小（DGS）技术注：表 5，6中反射体的不同尺寸可用于检测灵敏度的相应调整7.5 耦合剂 应便于操作，在校准，灵敏度设置，扫查，缺陷定量时应使用同一 种耦合剂耦合剂存在影响加工、检查或者部件完整时，应在检测完之后予以清除注：合适的耦合剂如：水（含或不含腐蚀性抑制剂或软化剂），油 脂，甘油和化学浆糊8. 校验探伤系统（探伤仪和探头）的校验应符合 prEN12668-3 的 规 定9. 检测时机超声检测应在最终热处理后和机加工前进行注：对于需钻孔的圆柱和矩形锻件，推荐在钻孔前进行超声检测 10．表面状态10.1 概述扫查表面应无漆层，附着层以及影响耦合效果的干耦合剂，表面不 规则或其他物质，这些会阻碍探头的自由移动或者造成误判10.2 表面准备等级在机加工状态下，质量等级1, 2的表面粗糙度RaW12.5p m, 等级3的表面粗糙度RaW6.3p m,10.3 毛坯表面状态锻件以毛坯形式供货时，表面状态应达到指定的质量等级。

铸件表 面难以进行全面的检测可进行喷丸，喷砂或者表面打磨处理，确 保超声耦合注：质量级别只为 1 级11 灵敏度11.1 概述 灵敏度应足够保证检测出记录和评级指定的最小缺陷（表 4，有需 要时表 5，6）如果由于晶粒粗大，灵敏度达不到要求时，如何判 定锻件合格，应买卖双方达成一致11.2 普通直探头 应采用以下一种方法来确定探头扫查灵敏度：a） 平底孔距离波幅曲线（DAC）b） DGS 技术应符合 prEN583-2 规定.11.3横波探头（4j条） 应采用以下一种方法来确定探头扫查灵敏度：a） ①3mm横孔距离波幅曲线（DAC）b） DGS 技术应符合 prEN583-2 规定.横波探头DAC和DGS技术无对比性1 1 .4重复检查重复检查时应采用与最初一致的确定灵敏度的方式（DAC或DGS） 12 扫查12.1 概述应采用手动接触式脉冲反射式扫查方式最小扫查覆盖率由锻件的种类决定，并取决于在双方在合同中是否 指定是栅格扫查还是 100%全覆盖扫查表 1 按形状和制作方法分 四种典型锻件类别表 2 第 1 ， 2 ， 3 类锻件直探头扫查覆盖要求表 3 3a,3b 类锻件（内外径之比小于 1.6 ： 1 ）横波探头扫查覆盖率。

横波圆周扫查有效深度受探头角度和锻件直径的限制（附录A）12.2 复杂锻件对于形状复杂或有部分形状复杂的锻件（第 4 类锻件）和小直径锻件，扫查覆盖率由合同双方在订立合同时达成一致应至少包括所需探头角度，扫查方向，扫查覆盖区域（栅格或100%）第 4k条）12.3 栅格扫查应用单个或是多个探头按表 2，3 确定的方式沿格子线扫查发现可 记录缺陷，应在发现缺陷处另作扫查以确定缺陷的边界12.4 100%扫查应按表 2，3 中详细说明在表面做 100%扫查，探头的每次扫查覆盖率应大于探头直径的 10%12.5 扫查速度探头扫查速度不应超过 150mm/s表 1 按形状和制作方法分 四种典型锻件类别类别形状一般制作方法D1a1)圆或近圆截面拉升而成如：棒，杆，圆柱体，轴，轴颈，棒切圆盘直接锻造lbi)矩形或近矩形截面拉升而成 如棒，杆，块，轴，轴颈，棒切部分直接锻造22)墩粗，如：圆盘，盘，调速轮墩粗3a3)4)空心圆柱体，如：瓶，压缩气瓶心轴锻造3b空心圆柱体，如：环，法兰，缘延伸3c切成圆形薄片4复杂形状锻件生产厂家确定注1)相对于主要尺寸钻孔锻件能归入1类锻件2)2类锻件可最终用来钻孔(如：紧密圆盘)表 2 直探头扫查覆盖率类别栅格扫查1)100% 扫查 1)2)11a直径D, mm扫查线在圆柱面圆周方向至少180°作100%扫查DW200200VDW500500VDW100 1000VD90°内2条60°内3条45°内4条1b在两垂直面作方形栅格线扫查3)4)在两垂直面作100%扫 查22沿方形栅格线 在圆柱面圆周 360°和一个侧面 扫查4)在圆柱面圆周至少180°作100%扫查 在一个侧面做100%扫 查33a沿方形栅格线 在圆柱外表面作 圆周360°扫查4)在圆柱外表面圆周方向360 °作100%扫查3b 和 3c沿方形栅格线 在圆柱面圆周 360°和一个侧面 扫查在圆柱外表面圆周360°做100%扫查 在一个侧面做100%扫 查4扫查覆盖率应在合同中规定注：1)在双方合同中有额外扫查(如在3a类两个轴向上)规定，可做。

2) 100%扫查时探头连续移动中至少有10%的交迭3) 1a 1b类，当有钻孔存在阻碍超声达到另外一面时，扫查线数目应对称的加倍4)栅格线间距应等于检测部位厚度，最大为200mm表 3 横波探头扫查覆盖率类别栅格扫查1）100%扫查 1) 2)33a3b沿圆周360° 双向扫查 栅格线间距等于 径向厚度，最大为200mm在圆柱外表面100%作双向扫查4扫查呈覆盖率应在合同中规定注：1）在双方合同中有额外扫查规定，可做2） 100%扫查时探头连续移动中至少有10%的交迭13质量分级等级评定13.1 缺陷定级 缺陷应根据至少在两个相互垂直方向扫查得到的反射动态图案判定级别a） 图1探头移动，A型扫描显示有个尖锐平滑上升到最高的振幅显示，然后平滑地下 降至零（图 1a）缺陷尺寸小于或等于-6dB波束截面,横孔得到的反射波形（图1b）b） 图2探头移动， A 型扫描显示有个尖锐平滑上升到最高的振幅显示（有无振幅变 化），然后平滑地下降至零（图 2a）缺陷尺寸大于-6dB波束截面，横孔得到的反射波形（图2b）图1A型显示和反射包络图显示图2 A型显示和反射包络图显示13.2 缺陷定级 缺陷应根据如下反射动态图案判定级别。

a） 点状缺陷 动态反射波型图1或者小于等于-6dB声束宽度（图3a）b） 延伸缺陷 动态反射波型图2或者大于-6dB声束宽度（图3b）c） 单个缺陷 相邻缺陷几何中心点与点之间距离d大于40mm（图3c）d） 密集缺陷 相邻缺陷几何中心点与点之间距离d小于或等于40mm（图 3d）图3a点状缺陷（LWDp） 图3b延伸缺陷（L>Dp）图3c单个缺陷（LWDp, d>40mm）图3d密集缺陷（LWDp, dW40mm） 图中：1表示通常情况下-6dB缺陷的外围Dp 表示缺陷处声束宽度d表示2个缺陷之间的距离L表示通常情况下-6dB缺陷的长度14缺陷记录和合格级别 多种质量等级能用作锻件分级，采用何种质量等级由合同双方协定表 4 直探头缺陷记录和质量分级 1）锻件厚度t（mm）缺陷记录合格级别d mm2)eq,单个点状缺陷d mm2)eq,延伸缺陷和密集 点状缺陷d mm2)eq1级tW75>5W8<575VtW250>8<11<8250VtW400>14<19<14t>400由缺陷引起底波 降低80%缺陷引起底波消失(当底波波幅下降 到初始值的5%以下时)2级tW75>3<5<375VtW250>5<8<5250VtW400>8<11<8400VtW600>11<15<11t>600由缺陷引起底波 降低80%缺陷引起底波消失(底波波幅下降到 初始值的5%以下时)。

3级tW75>2<3<275VtW250>3<5<3250VtW400>5<8<5400VtW600>8<11<8t>600由缺陷引起底波 降低80%缺陷引起底波消失，(当底波波幅下 降到初始值的5%以下时)注：(1)反射体直径不应认为是引起反射的缺陷的直径2)d平底孔当量直径 eq 表 5 应用 DGS 。