HIPOT Tester高压测试机内校标准.docx

HI-POT Tester)高压测试机内校标准1. 校正仪器：NA2. 校正项 (a)ACW , DCW , IR , Grounding 测试3. 校正方法：3. 1利用水泥电阻值不同方式以测试其显示关状况(Show “P” (PASS)orShow “F” (FATE))4. 校正环境要求4. 1本校正作业必须在下列环境条件下实施温度23C2C、相对湿度50%10%5. 安全考虑与准备事项5. 1安全考虑5. 1. 1执行校正前，必须熟读校正作业指导书及仪器使用说明书5.1. 2检视所有仪器外观是否破损或不完整5. 1.3检查连接导线是断线、破损、接触不良5.1. 4确认待校件与校正仪器Z电源电压选择器的设定，需与所用Z电源电压相符， 才能启动仪器电源开关5.1.5非特别标明，否则初期所有仪器之输出电压电流，应设定为零或置于STBY位置 5. 2准备事项5. 2. 1校正仪器与待校件，长吋间停机再开机吋，请至少暖机30分钟，若于暖机吋间 过后关机又再开机，请至少等待关机时间两倍的暖机时间(最长时间30分钟)， 若待校件有特别之暖机规定，则从其规定5. 2. 2将待校件之基木数据填入校正记录表5. 3系统确认5. 3.1确认标准件之校正状况(包括追溯日期、有效日期……)5. 3. 2校正进行前，先执行量测系统查核并确认处于系统管制范围内5. 3.3以查核件进行查核时，如发现查核所得的值超过管制界限吋，必须查明原因加 以排除，方可执行校正6. 仪器设定：6. 1 ACW （交流耐压测试）Voltage=56 V HiTimit二40 mA -^Lo-limit^O mA -**Ramp time二0.1 sec —Dwell time= 3 sec 〜Frequency二X Hz —ARC sense=5 — Scanner CH=O —Offset =X m Q -*Connect二ON6. 2 DOW （直流耐床测试）Voltage=10 V -*HiTimit二5000 uA -*• LoTimit二0・ 0 uA -*Ramp time二 1 sec -Dwe 11 time= 3 sec ->Frequency二X Hz —ARC sense=5 -* Charge—L0二 0 uA -*Ramp-HI二OFF —ARC sense二5 -►Scanner set CH=O — Offset =X m Q — Connect二ON6.3 TNULATTON （绝缘电阻测试）Voltage二500 V Charge-LOX f Hi-limit二OFF MQ ->Low-limit=l —Delaytime=3 sec —Seanner set CH=O ^Connect二OFF6.4 GROUNDING （接地电阻测试）Current二3A -*Voltage=8 V -*• HiTimit二200 mQ -*Lo-limit= OFF Q -*Dwell time= 3 sec —Frequency二X Hz -►Scanner CH二0 —Offset二0 mQ — Connect二OFF7. 测量方式7. 1选水泥电阻，0. IQ、50Q、1410KQ电阻（误差值5%）各1个7. 2将HI-POT机测试仪的测试试线（RETURN & H. V）夹于治具Hi-pot冶具铜柱两端， 用手压下TEST （绿色）按钮执行HI-POT测试，7.3使用1410KQ水泥电阻测试，HI-POT仪器屏幕显示〃PPP〃（测ACW , DOW and IR） 如图一：7.4使用50 Q水泥电阻测试，HITP0T仪器屏幕显示〃FFF”（测ACW , DCW and TR）7.5用0. 1 Q水泥电阻测,HI-P0T仪器屏幕显示〃P〃（测Grounding ）8. 特性允收标准8. 1 HI-P0T高压测试机使用1410Q号0. ]Q测试显“PPP”与“FFF”，表示仪器正常8.2 HI-P0T高压测试机使用50 Q测试显“PPP”，表示仪器正常8. 3相反HI-P0T高压测试机在丄述测试中若与其相反，表示仪器不正常9. 内校不合格时处理方式9.1若生产中发生不良，应产即停止使用，并通知品管单位处理9.2若生产完成，需将己经生产完成之产品重新测试10. 校正管制标准依ISO-17025执行.。