x射线在材料学应用及具体实验(精品).doc

X射线衍射在材料科学中应用由X射线衍射原理可知,物质的X射线衍射花样与物质内部的晶体结构有关每种结晶 物质都有其特定的结构参数（包括晶体结构类型，晶胞大小，晶胞中原子、离子或分子的位置和 数目等）因此，没有两种不同的结晶物质会给出完全相同的衍射花样通过分析待测试样的 X射线衍射花样，不仅可以知道物质的化学成分，还能知道它们的存在状态，即能知道某元素 是以单质存在或者以化合物、混合物及同素异构体存在同时，根据X射线衍射试验还可以 进行结晶物质的定量分析、晶粒大小的测量和晶粒的取向分析1. 物相鉴定物相鉴定是指确定材料由哪些相组成和确定各组成相的含量，主要包括定性相分析和定 量相分析每种晶体由于其独特的结构都具有与之相对应的X射线衍射特征谱，这是X射线衍 射物相分析的依据将待测样品的衍射图谱和各种已知单相标准物质的衍射图谱对比，从而确 定物质的相组成确定相组成后，根据各相衍射峰的强度正比于该组分含量（需要做吸收校正 者除外），就可对各种组分进行定量分析X射线衍射物相定量分析有内标法、外标法、增量 法、无标样法和全谱拟合法等常规分析方法内标法和增量法等都需要在待测样品中加入参 考标相并绘制工作曲线，如果样品含有的物相较多，谱线复杂，再加入参考标相时会进一步增 加谱线的重叠机会,给定量分析带来困难。

无标样法和全谱拟合法虽不需要配制一系列内标标 准物质和绘制标准工作曲线，但需要烦琐的数学计算，其实际应用也受到了一定限制外标法 虽然不需要在样品中加入参考标相，但需要用纯的待测相物质制作工作曲线，这也给实际操作 带来一定的不便2. 点阵参数的测定点阵参数是物质的基本结构参数,任何一种晶体物质在一定状态下都有一定的点阵参数 测定点阵参数在研究固态相变、确定固溶体类型、测定固溶体溶解度曲线、测定热膨胀系数 等方面都得到了应用点阵参数的测定是通过X射线衍射线位置的测定而获得的，通过测定 衍射花样中每一条衍射线的位置均可得出一个点阵常数值3. 微观应力的测定微观应力是指由于形变、相变、多和物质的膨胀等因素引起的存在于材料内各晶粒之间 或晶粒之中的微区应力当一束X射线入射到具有微观应力的样品上时，由于微观区域应力 取向不同，各晶粒的晶面间距产生了不同的应变，即在某些晶粒中晶面间距扩张，而在另一些 晶粒中晶面间距压缩，结果使其衍射线并不像宏观内应力所影响的那样单一地向某一方向位 移，而是在各方向上都平均地作了一些位移，总的效应是导致衍射线漫散宽化材料的微观残 余应力是引起衍射线线形宽化的主要原因，因此衍射线的半高宽即衍射线最大强度一半处的 宽度是描述微观残余应力的基本参数。

4. 纳米材料粒径的表征纳米材料的颗粒度与其性能密切相关纳米材料由于颗粒细小,极易形成团粒，采用通常 的粒度分析仪往往会给出错误的数据采用X射线衍射线线宽法(谢乐法)E以测定纳米粒 子的平均粒径谢乐微晶尺度计算公式为:D二0189入PHKLcosO (1)其中入为X射线波长， BIIKL为衍射线半高峰宽处因晶粒细化引起的宽化度，测定过程中选取多条低角度(2 0 W 50 ) X射线衍射线计算纳米粒子的平均粒径3. 5 结晶度的测定结晶度是影响材料性能的重要参数在一些情况下，物质结晶和和非晶和的衍射图谱往往 会重叠结晶度的测定主要是根据结晶相的衍射图谱面积与非晶相图谱面积的比，在测定时.必 须把晶相、非晶相及背景不相干散射分离开来基本公式为：Xc = Ic / ( Ic + Kia ) (2)式中：Xc 一结晶度Ic 一晶相散射强度I a —非晶和散射强度K 一单位质量样品中晶和与非晶和散射系数之比目前主要的分峰法有儿何分峰法、函数分峰法等5. 晶体取向及织构的测定晶体取向的测定又称为单晶定向，就是找出晶体样品中晶体学取向与样品外坐标系的位 向关系虽然可以用光学方法等物理方法确定单晶取向，但X衍射法不仅可以精确地单晶定 向，同时还能得到晶体内部微观结构的信息。

i般用劳埃法单晶定向，其根据是底片上劳埃斑 点转换的极射赤面投影与样品外坐标轴的极射赤面投影之间的位置关系透射劳埃法只适用 于厚度小且吸收系数小的样品，背射劳埃法就无需特别制备样品，样品厚度大小等也不受限制, 因而多用此方法多晶材料中晶粒取向沿一定方位偏聚的现象称为织构，常见的织构有丝织构 和板织构两种类型为反映织构的概貌和确定织构指数，有三种方法描述织构:极图、反极图 和三维取向函数，这三种方法适用于不同的情况对于丝织构，要知道其极图形式，只要求出其 丝轴指数即可，照相法和衍射仪法是可用的方法板织构的极点分布比较复杂，需要两个指数 来表示，且多用衍射仪进行测定X射线衍射法测量残余应力实验X射线衍射测量残余内应力的基本原理是以测量衍射线位移作为原始数据，所测得的结 果实际上是残余应变，而残余应力是通过虎克定律由残余应变计算得到的其基本原理是：半试样中存在残余应力时，晶面间距将发生变化，发生布拉格衍射时， 产生的衍射峰也将随之移动，而且移动距离的大小与应力大小相关用波长入的X射线，先 后数次以不同的入射角照射到试样上，测出相应的衍射角20 ,求出2 0对sin2 w的斜率M, 便可算出应力。

WoX射线衍射方法主要是测试沿试样表面某一方向上的内应力为此需利用弹性力学 理论求出6的表达式由于X射线对试样的穿入能力有限，只能探测试样的表层应力，这 种表层应力分布可视为二维应力状态，其垂直试样的主应力3^0(该方向的主应变 3乂0)由此，可求得与试样表面法向成甲角的应变甲的表达式为:E “ 7T 0（23） 2（1 + u） 180 a（siii2 *）甲的量值可以用衍射晶面间距的相对变化来表示，且与衍射峰位移联系起来即：e中== - cot 9甲-% ）式中0 0为无应力试样衍射峰的布拉格角，0 W为有应力试样衍射峰位的布拉格角于是将 上式代入并求偏导，可得：E n 翌）cr.= cot 6. 5 2（1 + u） 180S（sinw）令.匕=-一-—cot^0 — • A/= ,则 J = A>A/2（1 + u） 180 0（sin*） /其中K是只与材料本质、选定衍射面IIKL有关的常数，当测量的样品是同一种材料，而且选定 的衍射面指数相同时,K为定值,称为应力系数M是（20 ） -sin2 w直线的斜率,对同一衍 射面HKL,选择一组W值（0、1530、45测量相应的（20 ）甲以（20 ） -sin2 甲作图，并以最小二乘法求得斜率M,就可计算出应力（6是试样平面内选定主应力方向后, 测得的应力与主应力方向的夹角）。

由于"0,所以，M3时，为拉应力，M〉0时为压应力，而 M=0时无应力存在样品与衍射面之间的关系衍射仪测量测量残余应力的实验方法在使用衍射仪测量应力时，试样与探测器（）-2（）关系联动，属于固定W法通常W=0、 1545测量数次当W=0时，与常规使用衍射仪的方法一样，将探测器（记数管）放在理论算出的衍射角2（）处，此时入射线及衍射线相对于样品表面法线呈对称放射配置然后使试样与探测器按（）-2 0 联动在2（）处附近扫描得出指定的HKL衍射线的图谱当WKO时，将衍射仪测角台的（）-2（） 联动分开先使样品顺时针转过一•个规定的W角后，而探测器仍处于0然后联上（）-2（）联动 装置在2（）处附近进行扫描，得出同一条HKL衍射线的图谱最后，作2（）-sin2w的关系直线，最后按应力表达二K E2（）/Asin2w= K • M求出应力 值残余内应力测试的数据处理由布拉格方程可知，0角越大则起测量误差引起△ d /d的误差越小，所以测量时•应选择 角尽量大于衍射面取n个不同的W角度进行测定2 9 i（i=l, 2, 3,…，n）, 一般可取nN4, 采用数据处理程序对2甲的原始测量数据进行扣除背底、数值平滑、确定峰位等处理后给出 2。

中值然后采用最小二乘法将各数据点回归成直线：设直线方程为：16- b + M sin2 y/其中:▽ 28* sin sin 2 y/▽也▽ sui4 u/ b —（^2sin2 #） - 7/Vsiii4 甲式中n为测量数据的数目由上式可求得直线斜率虬查出弹性模量E和泊松比u,可计算出K,然后由二K・M求出应力衍射峰位的确定在宏观应力测量中，准确地测定衍射峰的位置是极其重要的常用的定峰方法很多，如 半高宽法、1/8高度法、峰顶法、切线法等，三点抛物线拟合定峰法等最常用的是三点抛 物线法，这是一种较为精确而不过于繁杂的定峰位法艮I〕：在衍射峰顶附近取以等角度间隔 A2（）分开的三个数据点，求得其抛物线顶点残余应力计算软件使用1数据测量先对样品作一个70-140范围内的扫描，观察样品的衍射峰情况，选择一个强度较高， 不漫散，衍射面指数较高的衍射峰作为研究对象峰按照残余应力测量的要求，设置不同的 W （0 , 15 , 30 , 45 ）角，以慢速扫描方式测量不同里角下的单峰衍射谱选择W角 时，尽量使sin2 w取点均匀而不是选择W的取值均匀，因为W-sin2w不呈线性关系2确定峰位软件可以接受多种方式计算出来的峰位数据：键盘输入，读拟合文件等。

3输入峰位打开软件，输入峰位数据4计算sin2w根据测量使用的W角，重新计算窗口中的sin2w5绘图-计算M、标注按窗口中的按钮排列顺序，先绘图，然后计算直线斜率M,如果需要，也可以标注数据6计算应力先要根据材料不同，查阅文献，获得所测物相的弹性模量和泊松比并输入到窗口中相应 的文本框中按下计算应力，应力常数K值、应力值就显示在窗口中的文本框中7保存结果。