t650操作手册_v2.24.pdf
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LEDLED 分光式光電測試儀分光式光電測試儀 Model：：T650 操作手冊操作手冊 目 錄目 錄 1. 簡介簡介. 1 1.1 手冊使用方法. 1 1.2 系統架構 2 2. 軟體操作說明軟體操作說明. 3 2.1 軟體系統方塊圖 . 3 2.2 軟體功能說明. 4 2.2.1 主畫面. 4 2.2.2 權限設定. 13 2.2.3 參數設定. 15 2.2.4 圖形分析. 33 2.2.5 報表編輯. 35 2.2.6 連線測試. 37 2.2.7 說 明. 38 2.2.8 離 開. 38 3. LINK & TEST LINE. 39 3.1 LINK LINE (25 PIN D-SUB) 40 3.2 TEST LINE (37 PIN D-SUB). 41 ※ 附錄※ 附錄A 43 1. 簡介簡介 隨著 LED 產品從早期的顯示用途擴展到照明設備的應用，加上封裝方式的多元化，不論是量測的正確性與量測 的方式，均已成為提升 LED 產品品質的重要課題為此，國際照明協會考量 LED 的發光特性，制訂了標準量 測規範(CIE 127-1997)，以便於業界對於量測結果得以有效溝通。
T650 是專為量測 LED 設計之光學與電性自動化測試儀器 ， 其設計符合 CIE 127-1997 的測試規範並能量測各式 全彩的 LED它是一套整合直流電流／電壓源、電表及色彩光譜分析儀的 LED 量測系統，其控制系統採用工業 電腦架構，人機介面以 Windows 為平臺，搭配光譜卡量測色彩，視效濾鏡量測亮度，直流電源驅動 LED 並量 測其電氣特性 此外，T650 是一款彈性且應用性高的多功能測試儀器；由於其量測快速精確且重覆性高，適合與自動化機台搭 配使用若搭配不同的機構治具，可測量各種形式的 LED，例如 LED 裸晶, SMD, Lamp, Module, LED Display 等 1.1 手冊使用方法手冊使用方法 本手冊為 T650 LED 光電特性量測系統之操作手冊 ， 使用者詳讀後並依以下章節 ， 按照指示 ， 定能正確使用 T650 並發揮其效能 第一章：第二節起為 T650 的系統架構解說，瀏覽完此章，使用者能更瞭解 T650 的系統架構 第二章：為軟體說明，瀏覽完此章，使用者能正確的使用軟體功能 第三章：包含儀器與自動機台連線之時序圖、接腳圖與測試線接腳說明。
以下章節開始為 T650 的詳盡的介紹 Chang-Yu Technology Co., Ltd. 1 1.2 系統架構系統架構 T650 系統由工業電腦(PC Base)搭配 A Board、B Board、C Board、D Board 和光譜卡加上光學測試模組所構 成，架構如圖 1-1 所示 IPC ISA BUS D Board Relay Matrix C3 Board Condition & Measurement C2 Board Condition & Measurement C1 Board Condition & Measurement A Board Link & I/O Spectral meter Main Board P4 2.4G CPU 0X308~30F 0X220~22F 0X220~22F 0X220~22F 0x300~307 0X310~31F D-sub 37 pin Test Line D-sub 25 pin Link Line Optical Compment B Board Iv Measurement Trigger Line 鍵盤 滑鼠 Moriter 15“ LCD USB Cable Fiber 【圖 1-1 系統架構圖】 各主要元件說明如下： (1) A Board：與自動機台連線和 I/O 功能(光譜卡外部觸發源)。
(2) B Board：量測光源強度單元，USB 介面與工業電腦作資料交換 (3) C Board：定電流、定電壓源及量測各電性參數單元 (4) D Board：各 Relay 組合的切換和極性判斷單元 (5) 光譜卡 ：量測光譜及計算色彩參數單元 Chang-Yu Technology Co., Ltd. 2 2. 軟體操作說明軟體操作說明 2.1 軟體系統方塊圖軟體系統方塊圖 T650 系統程式 輸入使用者 新增使用者 刪除使用者 修改密碼 權限設定參數設定圖形分析報表編輯連線測試說明離開 儲存 載入 種類編輯 測試組態編輯 量測編輯 分級編輯 校正功能 進行報表編輯 輸出 參數圖形功能與機台進行連線 線上說明 離開系統程式 單晶 雙晶(Lamp/SMD) 三晶(Lamp/SMD) 快速編輯 白光分級 分級檢查 積分時間設定 單步測試連續測試自動測試扣除背景光 依照組態執 行量測一次 清除所有資料儲存歷史資料儲存統計資料Clear One 依照組態執 行連續量測 與機台進行 連線並依照 組態執行量 測 與機台進行 連線並依照 組態執行量 測 滿料時,可進 行BinTable其 中一個Bin數 量的清除,但 比例值會持 續累計,除非 作＂清除所 有資料＂動 作 清除主畫面上所 有讀值,統計,BIN 資料及歷史資料 將統計資料值, 歷史資料儲存 到硬碟功能 將程式所紀 錄的歷史資 料儲存成檔 案 【圖 2-1】 Chang-Yu Technology Co., Ltd. 3 2.2 軟體功能說明軟體功能說明 2.2.1 主畫面主畫面 當執行 T650 系統主程式時，程式會先進入系統設定，使用者必須先選擇程式語言欲顯示為「繁體中文」或 「English」 ，確定之後，將進入主畫面。
【圖 2-2】 主畫面如圖 2-3 所示，主要可區分幾個區域，功能列、分級計數資料區、測試讀值和條件、訊息視窗、光譜圖 【圖 2-3】 Chang-Yu Technology Co., Ltd. 4 (1) 功能列功能列：程式功能操作按鈕，主功能可執行權限設定、參數設定、圖形分析、報表編輯、連線測試、說明、 離開和對 Bin Table 清除單一 Bin 計數的(Clear One)功能，另外與量測動作相關的操作可執行單步測試、連 續測試、自動測試、扣除背景光、清除資料(可選擇全部清除/清除歷史資料/清除統計資料)、儲存統計資料、 儲存歷史資料的功能 (2) 分級計數資料區分級計數資料區：顯示 Bin 的計數資料，包含數量及比例，其中 Clear Number 功能為當量測分類過程中發 生 Bin 滿料時，程式提供除可單獨對 Bin 數量作清除動作外，也可一次全部清除，但總數量程式會繼續作累 計，而比例依舊照原始數量作比例的顯示，此動作可滿足 Bin 數量與實際料盒數量一致功能 拉動捲軸後可看到累計數量 【圖 2-4】 Chang-Yu Technology Co., Ltd. 5 (3) 測試讀值和條件區測試讀值和條件區：分讀值統計數值顯示(黃色區塊)及測試條件顯示(綠色區塊)如圖 2-5 【圖 2-5】 在讀值統計顯示區塊，提供量測單位、讀值、平均值、最大值、最小值單位、讀值、平均值、最大值、最小值和標準差標準差，在統計計算上，程式是以讀 值是否在條件區塊內的 Max、Min 的範圍內，才列入統計，標準差公式定義如下： () 1 1 2 − − = ∑ = n xx S n i ni 標準差 在測試條件顯示區塊上，提供測試項目的條件值、量測的時間點控制(Delay)、上下限範圍、該項目指定 Fail Bin 及讀值修正參數的顯示，使用者可以很清楚知道所有測試條件狀況。
另外 Max 、、Min 為限制量測讀值的上下限，當讀值落在設定的(Max , Min)範圍時，程式才進行分 BIN 動作， 若當讀值超出(Max , Min) 時，程式會依照 Fail Bin 直接顯示指定的 Bin Number Grade 的功能為指定 Iv 測試項目的放大電路選擇，目前程式設定為 Auto Factor、、Offset 為程式提供使用者作修正功能 ※※當測試項目中設定 THYscan 測試項目時，讀值讀值為 0 時，表示正常；讀值讀值為 1 時，表示 Fail ※※測試項目中ΔItem，主要用來判斷測試項目的差異性 Chang-Yu Technology Co., Ltd. 6 (4) 訊息視窗訊息視窗：顯示目前儀器操作的狀態訊息，如圖 2-6 【圖 2-6 訊息視窗】 ? 參數設定參數設定：顯示目前組態的檔案名稱 ? 總總 數數：顯示目前儀器所累計的測試總數目，可提供使用者作長期紀錄分析使用，此數值無法歸 零，隨測試持續累積 ? 測試數量：測試數量：顯示目前測試的測試數量，此數量可由清除所有資料清除所有資料按鈕作歸零動作 ? 權權 限限：顯示目前操作人員的權限，分 Manager、Engineer、Operator。
? 材料種類材料種類：使用者可在參數設定的介面中，寫入測試材料的型號編號，由此訊息欄位顯示出來 ? 極性方向極性方向：測試時，顯示目前測試極性，顯示正向、反向、正向、反向、Open、、Short ? 測試時間測試時間：顯示儀器測試所花的時間，單位msec(10-3秒) ? 測試速度測試速度：計算與機台連線測試時的速度，單位 PPH ? 良良 BIN 比例比例：顯示測試時的良 BIN 比例 ? BIN Code：顯示目前材料的 BIN Number ? 訊訊 息息：測試時，讀值發生超出使用者所設定的範圍時，訊息會直接顯示 Fail 及 Fail Bin ? 光譜圖無校正光譜圖無校正 / 光譜圖已校正光譜圖已校正：顯示 IS 光譜圖是否已校正 Chang-Yu Technology Co., Ltd. 7 (5) 光譜圖光譜圖：即時顯示LED光譜圖如圖 2-7 所示，橫軸座標為波長，單位nm(10-9公尺)，縱軸座標為相對強度， 單位%，在測試過程中，程式會顯示每個測試所讀取的光譜曲線 ? Max A/D Counts：：顯示光譜卡最大 A/D 讀值，最大值 65535 (16Bit A/D)，測試時為取得較好的 S/N 比，建議此數值至少 6000 為宜。
? Integrating：：顯示光譜卡積分時間，單位秒(sec) 【圖 2-7】 光譜圖下拉式選項 可選擇呈現： (1) 光譜圖 (2) 色度圖 (3) BIN 直方圖 (4) Bin Table (5) Raw Data (6) 極性 Fail Bin 【圖 2-8】 Chang-Yu Technology Co., Ltd. 8 提供給使用者做： ? 各式放大類型 ? 移動游標 ? 移動色度圖 按下此鈕 ， 畫面將回 復原來尺寸 按下 Zoom 鈕， 可放大色度圖 【圖 2-9】 放大後 Bin Code 秀於 右上角 色溫線 【圖 2-10】 ? 色度圖區，新增一條色溫線A：2856K（橘色） D：6500K（黃色） o：9300K（藍色） Chang-Yu Technology Co., Ltd. 9 按下 Zoom 鈕，可 放大 BIN 直方圖 【圖 2-11】 放大後 Bin Code 秀於 右上角 【圖 2-12】 Chang-Yu Technology Co., Ltd. 10 【圖 2-13】 ? 主畫面BIN Table所顯示的資料，即參數設定中的BIN Table所設定的資料。
【圖 2-14】 ? 每量測一次的讀值，會記錄到 Raw Data 裡 Chang-Yu Technology Co., Ltd. 11 【圖 2-15】 ? 可做極性判斷，並指定Fail Bin位置此區的相關設定，在參數設定 / 種類編輯裡 (6) 刷條碼模式刷條碼模式/Error燈號開關燈號開關：當Scan Barcode Mode燈號亮起時，允許列印條碼此功能需與條碼機。
