手机可靠性测试准则.doc

更多设汁资料请访问金Edited by Foxit PDF EditorCopyright (c) by Foxit Software Companyp 2003 - 2009For Evaluation Only.可靠性测试标准了解了的一般结构之后，在开始结构设计之前，需要清楚地知道一部于机耍达到上市的要求需耍通 过哪些测试，达到什么样的标准可靠性测试(PRT)的口的是在特定的町接受的环境I、•不断的催化产品的殍命和疲劳度，可以在早期 预测和评估产品的质吊和可靠性于机结构设计工程师必须通晓可靠性测试的所仃标准，在设计阶段就必须 采取正确的设计和选择合适的材料來避免后续产品的质灵和可靠性问题的入网认证必须经过国家的可 靠性测试，而FI越来越严格，耍求也越来越高，这就対我们的设计提出了更高的耍求.町靠性测试包括六个部分加速寿命测试，气候适应测试.结构耐久测试，表面装饰测试，特殊条件测试, 及其他条件测试2.1.加速寿命测试 ALT (Accelerated Life Test)♦ 样机标准数量：PR1： 10台PR2： 12台 PR3： 12台 PIR： 12台♦ 试验周期：10・12天2. 1. 1室温下参数测试(Parametric Test)2. 1. 2 温度冲击测试(Thermal Shock)◊测试环境：低温箱：-30° C ；高温箱：+70° C◊试验方法：带电池，设置成关机状态先放置高温箱内持续45分钟后，在15秒内迅速移 入低温箱并持续45分钟后，再15抄内迅速回到高温箱。

此为一个循环，共循环27 次实验结束后将样机从温度冲击箱(高温箱)中取出，恢复2小时厉进行外观、 机械和电性能检査对于翻盖，应将一半样品打开翻盖;对于滑盖手札应将 一半样晶滑开到上限位置◊试验标准：于•机衷而喷涂无异变，结构无异常，功能正常，可正常拨打2. 1. 3 跌落试验(Drop Test)◊测试条件：1.5m高度，20mm厚人理石地板对「触挾屏，跌落高度为1.3m)◊试验方法：将处J：开机状态进行跌落刈「•直握，进行6个面的口由跌落实验，毎个 而的跌落次数为1次，每个面跌落之后进行外观、结构和功能检査对翻盖于•机, 进行8个面的自由跌落实验；梵中一半样品介上翻盖按直握的方法进行跌落，更多设讣资料请访问金三维视频教程网:http:〃\v\.另一半样品在跌正面和背面时须打开翻孟跌落结束后对外观、结构和功能进行检 査◊试验标准：外观，结构和功能符介耍求2. 1. 4 振动试验(Vibration Test)◊ 测试条件：振幅：0.38mm/振频：10~30Hz；振輛：0. 19mm/振频：30~55Hz：◊测试目的：测试样机抗振性能＜试验方法：将丁机开机放入振动箱内固尢夹紧•川动振动台按X、Y、Z二个轴向分别振动1个 小时，每个轴振完之后取出进行外观、结构和功能检査。

三个轴向振动试验结束后, 对样机进行参数测试◊试验标准：振动后内存和设置没有丢火现彖，外观，结构和功能符合要求，参数测试 正常,晃动无异响2. 1. 5 湿热试验(Humidity Test)◊测试环境：60° C, 95%RH◊测试目的：测试样机耐高温高湿性能◊试验方法：将乎机处J：关机状态，放入温湿度实验箱内的架子上，持续60个小时Z后取出，常 温恢复2小时，然后进行外观、结构和功能检脊.対翻盖，应将一半样品合 上翻盖，一半样品打开翻孟；对于滑盖，应将一半样晶滑开到上限位置◊试验标准：外观，结构和功能符合要求2. 1.6静电测试(ESD)◊测试条件：+/-4k旷+"8kV,开机并处于充电状态，+/-4kV接触和~+/-8kV空气放电各10次 具体测试方法详见公司测试标准细则◊测试目的：测试样机抗静电干扰性能◊试验标准：在+/-1KV和+/-8Kv时出现任何问题都要被计为故障2. 2.气候适应性测试 (Climatic Stress Test)♦ 样品标准数量：一般气候性测试5台：恶劣气候性测试3台♦ 测试周期：7天♦ 测试目的：模拟实际丁作环境对产品进行性能测试一般气候性测试恶劣气候性测试A： 一般气候性测试：2. 2.1.高温/低温参数测试(Parametric Test)◊测试环境：・25° C /+55。

C：持续2小时：电池充满电，处J：开机状态◊测试冃的：高温/低温应用性性能测试◊试验方法：对翻盖，应将一半样品合上翻盖，一半样胡打开翻盖；対「•滑盖，应将 一半样品滑开到上限位置◊试验标准：乎机电性能参数指标满足耍求，功能正常，外売无变形2. 2. 2.高温高湿参数测试(Parametric Test)◊测试环境：+45° C, 95%RH：持续48小时：电池充满电，处「•开机状态◊测试目的：高温高湿应用性性能测试◊试验标准：于机电性能指标满足要求，功能正常，外壳无变形2. 2. 3.高温/低温功能测试(Functional Test)◊测试环境：-40° C /+70° C, 2小时，恢复至常温，然后进行结构，功能和电性能检査◊测试目的：高温/低温应用性功能测试B：恶劣气候性测试2. 2. 4.灰尘测试(Dust Test)◊测试环境：室温，灰尘人小300冃，持续3个小时详细测试方法见公司测试标准细则◊测试目的：测试样机结构密闭性◊试验标准：于机并项功能正常，所仃活动冗器件运转11如，显示区域没仃明显灰尘2. 2. 5.盐雾测试(Salt fog Test)・#・更多设讣资料请访问金三维视频教程网:http:〃\v\.◊测试环境：35。

C; 5%的氯化钠溶液；关机；合上翻盖；样机用绳子悬挂起来;48小时 ◊测试目的：测试样机抗盐雾腐蚀能力◊试验标准：常温干燥后，于•机族项功能正常，外壳衷而及装饰件无明显腐蚀等异常现彖2. 3.结构耐久测试 (Mechanical Endurance Test)♦ 样品标准数量：11台♦ 测试周期：7天♦ 测试目的：各结构件寿命测试◊测试方法：导航键及其他任意键进行10力次按压按键测试◊试验标准：按键弹性及功能正常2. 3. 2.侧键测试(Side Key Test)◊测试环境：室温(20~25° C) : 1台：设置成关机状态：10万次按斥.・#・更多设讣资料请访问金三维视频教程网：http:〃\vwv. ◊试验标准：按键弹性及功能正常2. 3. 3.翻盖测试(Flip Life Test)◊测试环境：室温(20~25C) : 4台：设宣成开机状态；6力次开介翻盖测试◊试验标准：6万次后，外观，结构，及功能正常2. 3. 4.滑盖测试(Slide Life Test)◊测试环境：室温(20~25° C) : 4台；设置成开机状态；6力次滑孟测试◊试验标准：6万次后,外观，结构，及功能正常，滑盖不能何松动。

2. 3. 5.重复跌落测试(Micro-Drop Test)◊测试环境：室温(20~25° C) : 7cm高度,2CtnmPVC板；2台；开机状态：4力•次◊测试标准：各项功能止常，外壳无变形、破裂、掉漆，显示屏无破碎，见动无异响2. 3. 6.充电器插拔测试(Charger Test)◊测试环境：室温(20~25° C) : 2台◊试验方法：将充电器接上电源，连接充电接II，等待至充电界面显示正常后，拔除允 电插头在开机不插卡状态卜•插拔允电3000次◊检验标准：I/O接II无损坏，焊盘无脱落，充电功能正常无异常于•感2. 3. 7.笔插拔测试(Stylus Test)◊测试环境：室温(20~25° C) ； 2台；开机状态；2万次◊检验标准：笔输入功能正常，插入拔出结构功能、外壳及笔均正常2.3.8.触摸屏点击试验(Point Activation Life Test)◊试验条件：触扌夷屏测试仪(接触垫尖端半径为3. 75mm：锁度为40deg的硅树脂橡胶)◊试验方法：2台；将设置为开机状态，点击同一位置250, 000次，点击力度为250g； 点击速度：2次/秒；◊检验标准：不应出现电性能不良现彖：表面不应冇损伤2. 3. 9.触摸屏划线试验(Lineation Life Test)◊试验条件：触換屏测试仪，肖径为O.Snun的槊料手写笔或随机附带的手写笔◊试验方法：2台；将设宣为关机状态，在同一位置划线至少100, 000次，力度为250g, 滑行速度：60mm/秒◊检验标准：不賊出现电性能不良现象：表面不应有损伤2. 3.10.电池/电池盖拆装测试(Battery/Battery Cover Test)◊测试环境：室温(20~25° C) ； 2台；将电池/电池盖反复拆装2000次。

◊检验标准：及电池卡扣功能正常无变形，电池触片、电池连接器应无卜•陷、变形及膺损的 现彖，外观无异常2. 3.11 ・ SIM Card 拆装测试(SIM Card Test)◊测试环境：室温(20~25° C) ； 2台；SIM卡插上取卜反复1000次◊检验标准：SIM卡触片、SIM卡推扭开关正常，读卡功能使用正常2. 3.12.耳机插拔测试(Headset Test)◊测试环境：室温；2台：开机状态：耳机插入耳机插孔再拔出，3000次◊检验标准：实验后检查耳机插座无焊接故障，耳机插头无损伤，使用耳机通话接收与送话无杂 音(通话过程中转动耳机插头)，耳机插入耳机插孔时不会松动(可以承受得 住本身的t©)2. 3.13.导线连接强度试验(Cable Pulling 站durance Test)◊ 测试环境：室温(20~25° C):◊实验方法：选取靠近耳塞的一段导线，将Jt两端固定在实验机上，用20N±2N的力度持续拉伸 6秒，循环100次◊检验标准：导线功能正帘，被覆外皮不破裂，变形2. 3.14.导线折弯强度试验(Cable Bending Endurance Test)◊测试环境：室温(20~25° C):◊实验方法：分别选取靠近耳来和靠近插头的一段导线，将导线的两端固定在实验机卜.，做 Onun~25mm折弯实验3000次。

◊检验标准：导线功能正常，被覆外皮不破裂，变形2. 3.15.导线摆动疲劳试验(Cable Swing Endurance Test)◊测试环境：室温(20~25° C):◊实验方法:分别将耳机和插头固定在实验机上，用1N的力，以90~120的角度反复摆动耳 机末端3000次◊检验标准：导线功能正常，被覆外皮不破裂2. 4 表面装饰测试 (Decorative Surface Test)♦ 测试周期：4天♦ 样品标准数量：每种颜色6套外壳2. 4.1.磨擦测试(Abrasion Test ~ RCA)◊ 测试环境：室温(20~25° C)；◊试验方法：将最终喷涂的外壳固定在RCA试验机上，用175g力队同一点进行靡擦试验对 于表面摩擦300cycles»侧面和侧棱摩擦180 Cycleso◊检验标准：耐磨点涂层不能脱落，不可露出底材质地。