备考2024湖北省无损检测技术资格人员考试题库附答案（典型题）.docx

备考2024湖北省无损检测技术资格人员考试题库附答案（典型题）一单选题(共60题)1、下列情况中导致互易定律失效的是() A. 胶片直接受射线照射曝光 B. 采用铅箔增感屏 C. 采用荧光增感屏 D. 以上都是 试题答案:C 2、固定式渗透检测设备由一系列分离的装置组成，其排列顺序主要根据:() A. 所采用的检验程序 B. 被检试件的数量 C. 现场设备的具体情况 D. 厂房面积大小 试题答案:A 3、放射性同位素衰变时，同位素的原子核以()方式蜕变 A. 粒子发射 B. K俘获 C. 淹灭辐射 D. A和B 试题答案:D 4、影响射线底片清晰度的主要因素是() A. 固有不清晰度 B. 几何不清晰度 C. 散射线 D. 以上都是 试题答案:D 5、下列哪种缺陷不能用渗透检测法发现() A. 表面分层 B. 内部锻造裂纹 C. 表面裂纹 D. 表面折叠 试题答案:B 6、60Co源的半衰期为5.3年，用一个新源进行射线照相可得到满意的射线底片，两年后用该源对同一工件按同样条件进行射线照相，为得到同样的底片，曝光时间() A. 不变 B. 约延长10% C. 约延长30% D. 约延长60-100% 试题答案:C 7、触头放置在焊缝两侧，两触头连线与焊缝垂直，此时可检出焊接接头的()。

A. 表面纵向裂纹 B. 表面横向裂纹 C. 近表面裂纹 D. 未焊透 试题答案:B 8、涡流检测的最基本根源是基于物体的() A. 导磁体 B. 传光性 C. 导电性 D. 传声性 试题答案:C 9、在湿式显像剂混合液中水分严重损失或显像剂浓度过大，可能引起() A. 荧光亮度降低 B. 不相关显示 C. 显像剂涂层发生裂纹 D. 以上都是 试题答案:C 10、提离效应可用来() A. 测量磁导率的变化 B. 测量电导率的变化 C. 测量不导电复层的厚度 D. 确定合适的检验频率 试题答案:C 11、连续X射线的总强度可表达为() A. I=kizV 2B. I=kizV 2C. I=kiλV 2D. I=kiμV 试题答案:B 12、润湿现象即液体在毛细管中呈()的现象 A. 凸面、上升 B. 凸面、下降 C. 凹面、上升 D. 凹面、下降 试题答案:C 13、下列哪种不属于无损检测方法,() A. 超声方法 B. 腐蚀方法 C. 涡流方法 D. 射线照相方法 试题答案:B 14、物质吸引其它物质的能力与哪种因素有关,() A. 磁场强度 B. 磁性 C. 矫顽力 D. 磁极强度 试题答案:B 15、下列显像剂哪种去除最容易() A. 溶剂悬浮 B. 水悬浮 C. 干粉 D. 水溶性 试题答案:D 16、铀棒内常有缺陷为() A. 断续分布的长条状缺陷 B. 热处理参数不当而产生的内裂纹 C. 残余应力 D. 上述三种缺陷都有 试题答案:D 17、下列哪项不属于决定工件对比度的因素,() A. 工件的特性 B. 所用射线的品质 C. 所用胶片的种类 D. 散射辐射的强度及其分布情况 试题答案:C 18、一般来说，荧光渗透法比着色渗透法的优越之处是()。

A. 可在光线较暗的环境下观察缺陷 B. 被探测零件表面不会被腐蚀 C. 对零件和环境的污染小 D. 较易检出微小的缺陷 试题答案:D 19、大焦点Χ射线机与小焦点Χ射线机相比，其特点是() A. 射线的能量低穿透力小; B. 射线不集中，强度小 C. 照相黑度不易控制; D. 照相清晰度差 试题答案:D 20、下列关于荧光磁粉探伤的叙述中，正确的是() A. 紫外光是可见光; B. 用来荧光磁粉探伤的紫外波长是3650埃; C. 被检工件表面上的紫外光光强不得低于970lx D. 波长小于3300,10m的紫外光对人眼有害; E. 除A以外都对-10 试题答案:E 21、以下有关γ射线机驱动机构的说法错误的是() A. 驱动机构用来将放射源从源容器的屏蔽储存位置驱动到曝光焦点位置 B. 驱动机构不能将放射源收回到源容器内 C. 驱动机构由控制部件、控制导管和驱动部件构成 D. 驱动机构分手动和自动两种 试题答案:B 22、底片上出现不规则状的小白点，其可能原因是() A. 底片盒漏光 B. 增感屏不洁 C. 水溅污了底片 D. 显影不均匀 试题答案:B 23、GB/T18182-2000《金属压力容器声发射检测及结果评价方法》中规定:通道灵敏度校准应在() A. 在检测开始之前和结束之后应进行 B. 在检测开始之前进行 C. 在检测结束之后应进行 D. 以上都不是 试题答案:A 24、考虑灵敏度补偿的理由是:() A. 被检工件厚度太大 B. 工件底面与探测面不平行 C. 耦合剂有较大声能损耗 D. 工件与试块材质，表面光洁度有差异 试题答案:D 25、10居里钴60源衰减到2.5居里时大约需多长时间:() A. 5.3年 B. 21.2年 C. 10.6年 D. 以上都不对 试题答案:C 26、将一个磁性材料放于加有磁化力(H)的区域中时，材料中的磁感应强度(B)是以哪种方式产生的,() A. 感应; B. 传导; C. 热传输; D. 磁畴移动 试题答案:A 27、声程大于3N且声程相同时，若孔径差1倍，平底孔回波高度差()dB A. 12 B. 3 C. 6 D. 12 E. 9 试题答案:A 28、针孔成像利用的是光的何种特性() A. 直线性 B. 折射 C. 反射 D. 透射 试题答案:A 29、以下关于γ射线的说法错误的是() A. γ射线只具有波动性 B. γ射线的波长比可见光短 C. γ射线是电磁波 D. 在真空中沿直线以光速前进 试题答案:A 30、对连续X射线的强度与靶材的原子序数关系的叙述正确的是()。

A. 强度与原子序数成正比 B. 强度与原子序数不成正比 C. 强度与原子序数成反比 D. 强度与原子序数的平方成正比 试题答案:A 31、使用铅增感屏，由于什么原因增加了底片密度,() A. 被激发的荧光屏发出可见光，有助于胶片的曝光 B. 吸收散射线 C. 防止了背后散射线，不使底片产生灰雾 D. 铅箔在X射线或γ射线激发下发射出电子 试题答案:D 32、按ASME规定，选择像质计厚度时，背衬或背环应不计算，这是()的 A. 对 B. 错 C. 管件要算，板件不算 D. 可任意 试题答案:A 33、下述说法中正确的是:埋藏较深(表面下6,50mm)的缺陷的检测() A. 方法与检测表面裂纹相类似 B. 如果缺陷是由细小的气孔组成的，就不难检出 C. 如果缺陷的宽度可以估计出来，检测就很简单 D. 磁粉探伤方法很难检查出来 试题答案:D 34、离源200mm处的照射率为100mR/h，照射率为2mR/h辐射区边界标志源的距离约为() A. 0.7m B. 1.4m C. 2.8m D. 1m 试题答案:B 35、未焊透或未熔合在JIS标准中属于() A. 第一种缺陷 B. 第二种缺陷 C. 第三种缺陷 D. 第四种缺陷 试题答案:B 36、在射线底片上，使缺陷影像发生畸变最重要的原因是() A. 射源尺寸 B. 射源到缺陷的距离 C. 缺陷到胶片的距离 D. 缺陷相对于射源和胶片的位置和方向 试题答案:D 37、通电直导线周围的磁场强度可用下列哪个公式进行计算,() A. H=I/2πr B. H=2πr/I C. H=2π/Ir D. H=2r/πI 试题答案:A 38、制作X光曝光表时，下列哪些无需备注在图表上,() A. 焦距 B. 胶片种类 C. 黑度 D. 以上因素均需备注 试题答案:D 39、下列关于缺陷形成漏磁通的叙述，正确的是() A. 缺陷离试件表面越近，形成的漏磁通越小 B. 在磁化状态、缺陷类型和大小为一定时，其漏磁通密度受缺陷方向影响 C. 交流磁化时，近表面缺陷的漏磁通比直流磁化时的漏磁通要小 D. 在磁场强度、缺陷类型和大小为一定时，其漏磁通密度受磁化方向影响; E. 除A以外都对 试题答案:E 40、使用仪器的《抑制》可以抑制草状杂波，但将破坏仪器的()。

A. 水平线性 B. 垂直线性 C. 分辨力 D. 盲区 试题答案:B 41、已知某单能射线在钢中的半价层为3mm，则该射线在钢中的吸收系数为() A. 0.231cm ,1B. 2.31cm C. 2.079cm ,1D. 0.00231mm 试题答案:B 42、磁粉用磁性称量法检验时，其称量值应该(): A. 小于7克 B. 大于7克 C. 14克 D. 根据经验确定 试题答案:B 43、使用内窥镜检测缺陷的尺寸评定方法是() A. 对比测量 B. 由物距推估测量 C. 采用测量型内窥镜 D. 以上都可以 试题答案:D 44、当磁化电流为交流电且未配备断电相位控制器时，不宜使用()法: A. 剩磁法 B. 连续法 C. 复合磁化法 试题答案:A 45、渗透检测方法对下列哪种材料无效() A. 铝 B. 上釉的陶瓷 C. 玻璃 D. 镁 试题答案:B 46、与JB4730-1994相比，JB/T4730.5-2005增加的内容不包括() A. 灵敏度等级分类 B. 质量控制内容 C. 资料性引用文件 D. 渗透基本程序 试题答案:C 47、超声波检验装置中，显示超声波信号反射幅度与声波传递时间或反射体深度关系的脉冲显示法叫做() A. 连续波显示法 B. A扫描显示 C. B扫描显示 D. C扫描显示 试题答案:B 48、湿式荧光磁粉检验与标准的湿式磁粉检验方法的不同之处在于() A.。