ttl与非门参数的测试.doc

1成绩：教师评语一、实验目的及要求（1）理解 TTL 集成与非门的逻辑功能2）掌握 TTL 集成逻辑门主要参数的测量方法3）掌握集成逻辑电路相互衔接时应遵循的规则和实际衔接方法二、实验原理与内容实验采用的二输入四与非门 74LS00 为一块集成块内含有四个相互独立的与非门， 每个与非门有两个输入端其引脚排列与图形符号如图 1-1 所示图 1-1 74LS00 外引脚排列图1. 与非门的逻辑功能与非门的逻辑功能为：当输入端中有一个或一个以上是低电平时，输出端为高电平；只有当输入端全部为高电平时，输出端才是低电平，即有“0”得“1” ，全“1”得“0” 其逻辑表达式为：Y=ABTTL 集成与非门的主要参数有输出高电平 VOH、输出低电平 VOL、扇出系数 N0、电压传输特性和平均传输延迟时间tpd等1）TTL 门电路的输出高电平 VOH VOH是与非门有一个或多个输入端接地或接低电平时的输出电压值，此时与非工作管处于截止 状态空载时，VOH的典型值为 3.4~3.6V，接有拉电流负载时，VOH下降 （2）TTL 门电路的输出低电平 VOL2VOL是与非门所有输入端都接高电平时的输出电压值，此时与非工作管处于饱和导通状态。

空 载时，它的典型值约为 0.2V，接有灌电流负载时，VOL将上升3）TTL 门电路的电压传输特性 门的输出电压 Vo随输入电压 Vi而变化的曲线 Vo=f（Vi）称为门的电压传输特性，通过它可读 得门电路的一些重要参数，如输出高电平 VOH、输出低电平 VOL、关门电平 Voff、开门电平 VON等 值测试电路如图 1-2 所示，采用逐点测试法，即调节 Rw，逐点测得 Vi及 Vo，然后绘成曲线图 1-2 电压传输特性测试电路三、实验软硬件环境 1、数字逻辑电路实验箱 2、芯片 74LS00 3、5.1K，100Ω，200Ω，500Ω，1K 电阻；1K，10K 可调电阻 4、数字万用表四、实验过程（实验步骤、记录、数据、分析） 1、在 THD-2 型实验箱适当位置选取一个 14P 插座，按定位标记插好 74LS00 集成块，插座的 第 7 脚接上实验箱的地（GND） ，第 14 脚接上电源（VCC） ，与非门逻辑功能测试电路按 实验电路图 4-7 接线注意：接线前先将实验箱左上角的总电源开关断开门的两个输入 端接逻辑开关输出插口，开关向上提供逻辑电平“1” ，开关向下提供逻辑电平“0” 。

门的 输出端接由 LED 发光二极管组成的逻辑电频显示器的显示插口，LED 亮为逻辑“1” ，不 亮为逻辑“0” 与非门真值表输入输出AnBnY10001101132、按照实验原理第一、二部分用万用表测出 TTL 门电路的输出高电平 VOH，输出低电平 VOL并记录在表 1VOHVOL3、 按图 1-2 所示连线，调节电位器 RW，使 Vi从 0V 向高电平变化，逐点测量 Vi和 Vo,将结果 记入下表中然后根据表中数据绘成曲线Vi00.20.40.60.80.91.01.11.21.52.02.53.0Vo五、测试/调试及实验结果分析4六、实验结论与体会实验思考题结合课本第二章，说明 TTL 芯片的特点？2018 年 3 月 13 日。