射线检测技术要求.doc

射线检测技术要求射线检测的一般要求除应符合NB/T 47013.1的有关规定外，还应符合下列规定1.1 射线检测人员1.1.1 从事射线检测人员上岗前应进行辐射安全知识的培训，并取得放射工作人员证1.1.2 射线检测人员未经矫正或经矫正的近（距）视力和远（距）视力应不低于5.0（小数记录值为1.0），测试方法应符合GB 11533 的规定从事评片的人员应每年检查一次视力1.2 设备和器材1.2.1 射线装置1.2.1.1 可以使用两种射线源：a) X射线机和加速器产生的X射线；b) 由Co60、Ir192、Se75、Yb169和Tm170射线源产生的γ射线1.2.1.2 经合同双方商定，允许采用其他新型射线源采用其他射线源时，有关检测技术要求仍应参照本部分的规定执行1.2.2 射线胶片1.2.2.1 胶片系统按照GB/T 19381.1分为六类，即C1、C2、C3、C4、C5和C6类C1为最高类别，C6为最低类别，胶片系统的特性指标见附录B1.2.2.2 胶片制造商应对所生产的胶片进行系统性能测试并提供类别和参数胶片处理方法、设备和化学药剂可按照GB/T 19381.2的规定，用胶片制造商提供的预先曝光胶片测试片进行测试和控制。

不得使用超过胶片制造商规定的使用期限的胶片胶片应按制造商推荐的温度和湿度条件予以保存，并应避免受任何电离辐射的照射1.2.3 观片灯观片灯的主要性能应符合GB/T 19802的有关规定，最大亮度应能满足评片的要求1.2.4 黑度计（光学密度计）1.2.1.1 黑度计可测的最大黑度应不小于1.5，测量值的误差应不超过0.051.2.1.2 黑度计首次使用前应进行核查，以后至少每六个月应进行一次核查，核查方法可参照附录C的规定进行，每次核查后应填写核查记录在工作开试时或连续工作超过8h后应在拟测量黑度范围内选择至少两点进行检查1.2.5 标准密度片标准密度片应至少有8个一定间隔的黑度基准，且能覆盖0.3～1.5黑度范围，应至少每2年校准一次必须特别注意标准密度片的保存和使用条件1.2.6 增感屏1.2.6.1 射线检测一般应使用金属增感屏或不用增感屏，金属增感屏应满足JB/T 5075的要求，增感屏应完全干净、抛光和无纹道1.2.6.2 使用增感屏时，胶片和增感屏之间应接触良好增感屏的选用应符合表1的规定表1 增感屏的材料和厚度射线源材料前屏后屏中屏c厚度/mm厚度/mm厚度/mmX射线（≤100kV）铅不用或≤0.03≤0.03－X射线d（＞100kV～150kV）铅0.02～0.100.02～0.1520.02～20.10X射线d（＞150kV～250kV）铅0.02～0.150.02～0.1520.02～20.10X射线d（＞250kV～500kV）铅0.02～0.200.02～0.2020.02～20.10Tm170铅不用或≤0.03≤0.03－Yb169d铅0.02～0.150.02～0.1520.02～20.10Se75铅A级0.02～0.20A级0.02～0.2020.10AB级、B级0.10～0.20aAB级、B级0.10～0.2020.10Ir192铅A级0.02～0.20A级0.02～0.2020.10AB级、B级0.10～0.20aAB级、B级0.10～0.2020.10Co60b钢或铜0.25～0.700.25～0.700.25铅（A级、AB级）0.50～2.00.50～2.020.10X射线（1MeV～4MeV）钢或铜0.25～0.700.25～0.700.25铅（A级、AB级）0.50～2.00.50～2.020.10mm或不用X射线（4MeV～12MeV）钢或铜或钽≤1.0铜、钢≤1.00.25钽≤0.500.25铅（A级、AB级）0.50～1.00.50～1.020.10mm或不用a 如果AB级、B级使用前屏≤0.03mm的真空包装胶片，应在工件和胶片之间加0.07mm～0.15mm厚的附加铅屏。

b 采用Co60射线源透照有延迟裂纹倾向或标准抗拉强度Rm≥540MPa材料时，AB级和B级应采用钢或铜增感屏c 双胶片透照技术应增加使用中屏d 采用X射线和Yb169射线源时，每层中屏的厚度应不大于前屏厚度1.2.7 像质计1.2.7.1 底片影像质量采用线型像质计或孔型像质计测定通用线型像质计和等径线型像质计的型号和规格应符合JB/T 7902的规定，孔型像质计型号和规格应满足GB/T 23901.2的规定1.2.7.2 像质计的材料代号、材料和不同材料的像质计适用的工件材料范围可按照表2的规定执行，像质计材料的吸收系数应尽可能的接近或等同于被检材料的吸收系数，任何情况下不能高于被检材料的吸收系数表2 不同材料的像质计适用的材料范围像质计材料代号AlTiFeNiCu像质计材料工业纯铝工业纯钛碳素钢镍-铬合金3#纯铜适用材料范围铝，铝合金钛，钛合金钢镍-镍合金铜、铜合金1.2.8 暗室安全照射时间确定胶片应在胶片制造商所推荐的安全灯光条件下进行暗室处理，暗室安全照射时间的确定方法可参考附录D进行1.3 检测技术等级1.3.1 检测技术等级分为三级：A级——低灵敏度技术；AB级——中灵敏度技术；B级——高灵敏度技术。

1.3.2 射线检测技术等级选择应符合相关法规、规范、标准和设计技术文件的要求，同时还应满足合同双方商定的其他技术要求承压设备焊接接头的的射线检测，一般应采用AB级射线检测技术进行检测对重要设备、结构、特殊材料和特殊焊接工艺制作的对接焊接接头，可采用B级技术进行检测1.3.3 当检测中某些条件不能满足AB级（或B级）射线检测技术的要求时，经合同双方商定，在采取有效补偿措施（例如选用更高类别的胶片）的前提下，若底片的像质计灵敏度达到了AB级（或B级）射线检测技术的规定，则可认为按AB级（或B级）射线检测技术进行了检测1.3.4 承压设备在用检测中，检测的某些条件不能满足AB级射线检测技术的要求时，经合同双方商定，在采取有效补偿措施（例如选用更高类别的胶片）后可采用A级技术进行射线检测，但应同时采用其他无损检测方法进行补充检测1.4 检测工艺文件1.1.1 检测工艺文件包括工艺规程和操作指导书1.1.2 工艺规程除满足NB/T 47013.1的要求外，还应规定下列相关因素的具体范围或要求；如相关因素的变化超出规定时，应重新编制或修订工艺规程：a) 适用范围中的结构、材料类别及厚度；b) 射线源种类、能量及焦点尺寸；c) 检测技术等级；d) 透照技术；e) 透照方式；f) 胶片型号及等级；g) 像质计种类；h) 增感屏和滤光板型号（如使用）；i) 暗室处理方法或条件；j) 底片观察技术。

1.1.3 应针对具体检测对象根据标准和工艺规程编写操作指导书，其内容除满足NB/T 47013.1的要求外，至少应包括：a) 编制依据；b) 适用范围：被检测工件的类型（形状、结构等）、尺寸范围（厚度及其他几何尺寸）、所用材料的种类；c) 检测设备器材：射线源（种类、型号，焦点尺寸）、胶片（牌号及其分类等级）、增感屏（类型、数量和厚度）、像质计（种类和型号）、滤光板、背散射屏铅板、标记、胶片暗室处理和观察设备等；d) 检测技术与工艺：采用的检测技术等级、透照技术（单或双胶片），透照方式（源-工件-胶片相对位置）、射线源、胶片、曝光参数、像质计的类型、摆放位置和数量，标记符号类型和放置、布片原则等；e) 胶片暗室处理方法和条件要求；f) 底片观察技术（双片叠加或单片观察评定）；g) 底片质量要求：几何不清晰度、黑度、像质计灵敏度、标记等；h) 验收标准；i) 操作指导书的验证要求1.1.4 首次使用的操作指导书应进行工艺验证，以验证底片质量是否能达到标准规定的要求验证可通过专门的透照试验进行，或以产品的第一批底片作为验证依据在这两种情况下，作为依据的验证底片均应做出标识1.5 辐射安全防护1.5.1 辐射防护应符合GB 18871和GBZ 117和GBZ 132的有关规定。

1.5.2 现场进行X射线检测时，应按GBZ 117的规定划定控制区和管理区、设置警告标志检测工作人员应佩戴个人剂量计，并携带剂量报警仪1.5.3 现场进行γ射线检测时，应按GBZ 132的规定划定控制区和管理区、设置警告标志，检测时，应围绕控制区边界测定辐射水平检测工作人员应佩戴个人剂量计，并携带剂量报警仪。