超声检测技术1.ppt

1 综合知识综合知识1.1 无损检测概论无损检测概论1.1.1 无损检测通用方法及技术无损检测通用方法及技术 一、一、无损检测的定义：不破坏材料的外形和性能的情况下，检无损检测的定义：不破坏材料的外形和性能的情况下，检测该材料的内部结构（组织与不连续）和性能，该技术称为无测该材料的内部结构（组织与不连续）和性能，该技术称为无损检测英文全称：损检测英文全称：Non Destructive Testing (NDT) 二、 常用无损检测方法常用无损检测方法l射线检测：射线检测：Radiographic Testing (RT)l射线的种类与本质：射线的种类与本质： χ射线、射线、γ射线和中子射线射线和中子射线χ射线和射线和 γ射射线与无线电波、红外线、可见光、紫外线一样，都是电磁波；线与无线电波、红外线、可见光、紫外线一样，都是电磁波；而中子射线是粒子而中子射线是粒子lX射线的产生：射线的产生：X射线管射线管lγ射线的产生：射线的产生：γ射线是放射性原子核在衰变时放射出来的电磁射线是放射性原子核在衰变时放射出来的电磁波放射性衰变放射性衰变 #2024/9/61射线检测：原理、方法与应用射线检测：原理、方法与应用lχχ射线和射线和γγ射线通过物质时其强度逐渐减弱。

射线通过物质时其强度逐渐减弱 强度衰减公式：强度衰减公式： I I＝＝I I0 0e e-μx-μx l利利用用射射线线透透过过物物体体时时产产生生的的吸吸收收和和散散射射现现象象，，检检测测材材料料中中因因缺缺陷陷存存在在而而引引起起射射线线强强度度改改变变的的程程度度来来探探测测缺缺陷陷的的方方法法称称为为射射线线照相法照相法l检测技术类型：检测技术类型：照相法与投影关系照相法与投影关系；荧光屏法；；荧光屏法；工业电视法工业电视法；；l常用透照方法：常用透照方法：纵缝透照方法；环缝透照方法；双壁单影法；纵缝透照方法；环缝透照方法；双壁单影法；双壁双影法透照双壁双影法透照l检测对象检测对象类型类型：金属；非金属金属；非金属 焊缝；铸件焊缝；铸件l检测缺陷检测缺陷类型类型：：裂纹；气孔；未焊透；裂纹；气孔；未焊透；未融合；夹渣；疏松；未融合；夹渣；疏松；冷隔等2024/9/62超声检测：超声检测：Ultrasonic Testing (UT)l超声波的本质：超声波的本质：机械波，它是由于机械振动在弹性介质中机械波，它是由于机械振动在弹性介质中 引引起的波动过程，例如水波、声波、超声波等起的波动过程，例如水波、声波、超声波等l超声波的类型：超声波的类型：纵波和横波纵波和横波 表面波（瑞利波）、板波表面波（瑞利波）、板波l超声波的性质：超声波的性质： （（1）声速：与材料性质有关、与波的种类有关）声速：与材料性质有关、与波的种类有关 （（2））波的叠加、干涉及驻波波的叠加、干涉及驻波 （（3））反射、折射和波型转换反射、折射和波型转换#2024/9/63超声检测：原理、方法与应用超声检测：原理、方法与应用l 超声波的产生：仪器、探头超声波的产生：仪器、探头l 超声波与工件的接触：耦合剂超声波与工件的接触：耦合剂l 超声波在工件内的超声波在工件内的传播与反射传播与反射 、、波的接收波的接收l 超声波检测原理：探头发射的超声波通过耦合剂在工件中传超声波检测原理：探头发射的超声波通过耦合剂在工件中传 播，遇到缺陷时反射回来被探头接收。

根据反射回波在荧光屏上的播，遇到缺陷时反射回来被探头接收根据反射回波在荧光屏上的位置和波辐高低判断缺陷的大小和位置位置和波辐高低判断缺陷的大小和位置l 超声检测技术的特点：应用范围广；穿透能力大；设备轻便；超声检测技术的特点：应用范围广；穿透能力大；设备轻便； 定量不准确；定性困难定量不准确；定性困难l 检测技术类型：纵波法；横波法；表面波法；板波法，检测技术类型：纵波法；横波法；表面波法；板波法，…l 常用检测方法：常用检测方法：穿透法穿透法；；反射法；串列法反射法；串列法；；液浸（聚焦）法液浸（聚焦）法；；...l 检测对象检测对象类型类型：金属；非金属金属；非金属 焊缝；板件；管件；锻件焊缝；板件；管件；锻件l 检测缺陷检测缺陷类型类型：：面缺陷；体缺陷定性困难面缺陷；体缺陷定性困难l 数字化、数字化、智能化智能化发展前景宽广发展前景宽广2024/9/64磁粉检测磁粉检测: Magnetic Testing (MT) l漏磁场：铁磁材料磁化时磁力线由于折射而迤出到材料表面所形漏磁场：铁磁材料磁化时磁力线由于折射而迤出到材料表面所形成的磁场称为成的磁场称为漏磁场漏磁场l剩磁：剩磁：铁磁材料磁化时所具有的磁性在磁化电流取消后继续存在铁磁材料磁化时所具有的磁性在磁化电流取消后继续存在的性质称为的性质称为剩磁剩磁 l铁磁材料在磁场中被磁化后，缺陷处产生的漏磁场吸附磁粉而形铁磁材料在磁场中被磁化后，缺陷处产生的漏磁场吸附磁粉而形成磁痕。

磁痕的长度、位置、形状反映了缺陷的状态磁痕的长度、位置、形状反映了缺陷的状态l磁粉检测技术的特点：检测表面和近表面缺陷；铁磁材料；磁粉检测技术的特点：检测表面和近表面缺陷；铁磁材料；l常用检测方法：剩磁法；连续法常用检测方法：剩磁法；连续法l检测对象检测对象类型类型：：铁磁材料铁磁材料 焊缝；钢板；钢管；螺栓等焊缝；钢板；钢管；螺栓等...l检测缺陷检测缺陷类型类型：：裂纹；夹渣等裂纹；夹渣等... #2024/9/65渗透检测：渗透检测：Penetrate Testing (PT) l分子分子压强与表面张力：压强与表面张力：每一个离液面的距离小于分子作用半每一个离液面的距离小于分子作用半径径r r的分子，都受到一个指向液体内部的力的作用而这些表的分子，都受到一个指向液体内部的力的作用而这些表面分子及近表面分子组成的表面层，都受到垂直于液面且指面分子及近表面分子组成的表面层，都受到垂直于液面且指向液体内部的力的作用这种作用力就是表面层对整个液体向液体内部的力的作用这种作用力就是表面层对整个液体施加的压力，该压力在单位面积上的平均值叫施加的压力，该压力在单位面积上的平均值叫分子压强分子压强。

分分子压强是表面张力产生的原因子压强是表面张力产生的原因l液体润湿：液体润湿：液体铺展在固体材料的表面不呈球形，且能覆盖液体铺展在固体材料的表面不呈球形，且能覆盖表面，此现象称表面，此现象称液体润湿液体润湿现象l毛细现象：润湿液体在毛细管内的自动上升或下降称为毛细现象：润湿液体在毛细管内的自动上升或下降称为毛细毛细现象2024/9/66渗透检测：原理、方法与应用渗透检测：原理、方法与应用l具有润湿作用的渗透剂在毛细管作用下渗入表面开口缺陷具有润湿作用的渗透剂在毛细管作用下渗入表面开口缺陷在显象剂作用下由于毛细管作用渗入到开口缺陷内的渗透剂在显象剂作用下由于毛细管作用渗入到开口缺陷内的渗透剂被析出表面形成痕迹被析出表面形成痕迹l渗透检测渗透检测基本操作过程基本操作过程l渗透检测技术的特点：检测表面开口缺陷；渗透检测技术的特点：检测表面开口缺陷；l常用检测方法：着色法；荧光法常用检测方法：着色法；荧光法l检测对象检测对象类型类型：：金属与非金属材料金属与非金属材料 l检测缺陷检测缺陷类型类型：：裂纹裂纹2024/9/67涡流检测：涡流检测：Eddy Current Testing (ET) l由于电磁感应金属材料在交变磁场作用下产生由于电磁感应金属材料在交变磁场作用下产生涡流涡流。

l金属材料中存在的裂纹将金属材料中存在的裂纹将改变涡流的大小和分布改变涡流的大小和分布，分析这些，分析这些变化可检出铁磁性和非铁磁性材料中的缺陷变化可检出铁磁性和非铁磁性材料中的缺陷l涡流可用以分选材质、测膜层厚度和工件尺寸以及材料的某涡流可用以分选材质、测膜层厚度和工件尺寸以及材料的某些物理性能等些物理性能等l涡流检测技术的特点：适用于导电材料；检测近表面缺陷涡流检测技术的特点：适用于导电材料；检测近表面缺陷l常用检测方法：常用检测方法：穿过式线圈穿过式线圈；；内通过式线圈；探头式线圈内通过式线圈；探头式线圈l检测对象检测对象类型类型：：金属与非金属材料金属与非金属材料 l检测缺陷检测缺陷类型类型：：裂纹裂纹2024/9/681.1.2 常用无损检测方法的应用常用无损检测方法的应用 一、应用的部门一、应用的部门 航空、航天、机械、核工业、汽车制造、船舶、电航空、航天、机械、核工业、汽车制造、船舶、电子、钢结构、商检、进出口等子、钢结构、商检、进出口等 二、应用的对象二、应用的对象 （（1）） 缺陷探伤缺陷探伤 （（2）） 厚度测量厚度测量 （（3）） 性能测试性能测试 #2024/9/691.1. 3 常用无损检测方法的范围及局限性常用无损检测方法的范围及局限性方法方法 应用范围应用范围 局限性局限性 RT 各类材料的内部缺陷各类材料的内部缺陷 表面缺陷较难发现表面缺陷较难发现 UT 大厚度金属和部分大厚度金属和部分 仅限于弹性介质仅限于弹性介质 非金属材料的内部缺陷非金属材料的内部缺陷 定性定量困难定性定量困难 MT 表面和近表面缺陷表面和近表面缺陷 仅限于磁性介质仅限于磁性介质 PT 金属和部分非金属金属和部分非金属 仅限于表面开口缺陷仅限于表面开口缺陷 材料的表面缺陷材料的表面缺陷 ET 表面和近表面缺陷表面和近表面缺陷 仅限于导电材料仅限于导电材料 #2024/9/6101.2 材料及缺陷材料及缺陷1.2.1 金属及合金的结构金属及合金的结构一、金属一、金属 （（1）） 纯金属：单一原子构成的材料纯金属：单一原子构成的材料 （（2）合金：某一金属元素为基，添加一种或多种其他）合金：某一金属元素为基，添加一种或多种其他元素，通过冶金或粉末冶金方法制成的金属材料。

元素，通过冶金或粉末冶金方法制成的金属材料二、二、 单组元金属结构单组元金属结构 （（1）体心立方结构）体心立方结构 （（2）面心立方结构）面心立方结构 （（3）密排立方结构）密排立方结构 #2024/9/6111.2.1 金属及合金的结构金属及合金的结构二、二、 合金的结构合金的结构 合金的结构由多种成分组成，不是简单的体心、面合金的结构由多种成分组成，不是简单的体心、面心、六方而是由心、六方而是由“相相”来表示的：来表示的： 相：在合金内，一个或多个成份、结构和性质均匀相：在合金内，一个或多个成份、结构和性质均匀的区域称为的区域称为“相相” 一种合金可以有若干种不同的一种合金可以有若干种不同的“相相”构成，其结构构成，其结构也由也由“相相”所决定 #2024/9/6121.2.2 材料的性能材料的性能一、力学性能一、力学性能 （（1）） 金属材料的静拉伸力学性能金属材料的静拉伸力学性能l 强度：金属抗拉永久变形和断裂的能力强度：金属抗拉永久变形和断裂的能力l 塑性：又称范性，断裂前材料发生不可逆永久变形的能塑性：又称范性，断裂前材料发生不可逆永久变形的能力力l 韧性：金属在断裂前吸收变形能量的能力韧性：金属在断裂前吸收变形能量的能力 （（2）） 金属材料的弹性性能金属材料的弹性性能l 弹性（虎克定律）：弹性（虎克定律）： （（3）） 金属材料在静加载下的力学性能金属材料在静加载下的力学性能l 扭转性能扭转性能l 弯曲、压缩性能弯曲、压缩性能l 硬度硬度 # 2024/9/613一、力学性能一、力学性能（（4）） 金属材料的冲击性能金属材料的冲击性能（（5）） 金属材料的疲劳性能金属材料的疲劳性能（（6）） 金属材料的蠕变性能金属材料的蠕变性能二、物理性能二、物理性能（（1）） 密度、比热量、磁性、导电性、导热性等密度、比热量、磁性、导电性、导热性等（（2）） 光学性能光学性能（（3）） 声学性能声学性能 #2024/9/6141.2.3 金属材料中的各种缺陷及不连续性金属材料中的各种缺陷及不连续性一、不连续性：金属或合金内部结构的不均匀变化，称为一、不连续性：金属或合金内部结构的不均匀变化，称为不连续性。

不连续性二、缺陷：对金属材料的性能造成破坏的不连续性称为缺二、缺陷：对金属材料的性能造成破坏的不连续性称为缺陷 常见的焊接缺陷常见的焊接缺陷 气孔、夹渣、未融合、未焊透、裂纹、夹珠、钨夹杂气孔、夹渣、未融合、未焊透、裂纹、夹珠、钨夹杂 夹层等夹层等 #2024/9/6151.3 加工及缺陷加工及缺陷一、最初加工过程及相关缺陷一、最初加工过程及相关缺陷 （（1）） 铸造：将熔融金属浇注入铸型型腔，冷却后形成铸造：将熔融金属浇注入铸型型腔，冷却后形成工件的加工过程；工件的加工过程； 常见的铸造缺陷：气孔、缩孔、疏松、冷裂、热裂、常见的铸造缺陷：气孔、缩孔、疏松、冷裂、热裂、冷隔、偏析、夹杂冷隔、偏析、夹杂 （（2）塑性加工：锻、轧、拔、钣金等）塑性加工：锻、轧、拔、钣金等 常见的塑性加工缺陷：裂纹、折叠、分层、白点常见的塑性加工缺陷：裂纹、折叠、分层、白点（氢脆）（氢脆） #2024/9/616二、制造加工过程及相关缺陷二、制造加工过程及相关缺陷（（1）焊接：通过加热或加压，使填充材料熔化、冷却将）焊接：通过加热或加压，使填充材料熔化、冷却将工件连接在一起的加工方式称焊接；工件连接在一起的加工方式称焊接； 常见的焊接缺陷：气孔、夹渣、未融合、未焊透、常见的焊接缺陷：气孔、夹渣、未融合、未焊透、裂纹、夹珠、钨夹杂裂纹、夹珠、钨夹杂（（2）表面加工：车、铣、刨、镀、磨、喷丸、吹砂等）表面加工：车、铣、刨、镀、磨、喷丸、吹砂等 常见的表面加工缺陷：氢脆常见的表面加工缺陷：氢脆（（3）热处理：对金属材料加温并用不同方法冷却使其组）热处理：对金属材料加温并用不同方法冷却使其组织结构发生的方法称热处理；织结构发生的方法称热处理； 常见的热处理缺陷：淬裂常见的热处理缺陷：淬裂（（4）其他热加工工艺：粉末冶金等）其他热加工工艺：粉末冶金等 #2024/9/6171.4 在役中的材料在役中的材料1.4.1 在役中材料的行为在役中材料的行为 受力、受压、高低温、摩擦、腐蚀受力、受压、高低温、摩擦、腐蚀 ...1.4.2 在役工况导致缺陷和失效在役工况导致缺陷和失效 一、腐蚀：腐蚀裂纹、腐蚀坑、腐蚀减薄一、腐蚀：腐蚀裂纹、腐蚀坑、腐蚀减薄 二、疲劳：疲劳裂纹、疲劳断裂二、疲劳：疲劳裂纹、疲劳断裂 三、磨损：材料减薄、摩擦裂纹三、磨损：材料减薄、摩擦裂纹 四、过负载：变形、断裂四、过负载：变形、断裂 五、脆性断裂：镉脆、氢脆五、脆性断裂：镉脆、氢脆1.4.3 金属中破裂发展的概念金属中破裂发展的概念 一、缺陷的形成一、缺陷的形成 （应力集中）（应力集中） 二、缺陷的发展二、缺陷的发展 （载荷）（载荷） 三、断裂三、断裂 #2024/9/6181.5 质量及标准化质量及标准化1.5.1 质量、质量控制及标准化质量、质量控制及标准化一、质量的定义：（一、质量的定义：（GB/T 6583-92）） 反映产品或服务满足明确或隐含需要能力的特征和特反映产品或服务满足明确或隐含需要能力的特征和特性的总和。

性的总和 通常认为，质量有狭义和广义两种含义，狭义的质量通常认为，质量有狭义和广义两种含义，狭义的质量就是产品质量对无损检测而言，可以认为是指无损检就是产品质量对无损检测而言，可以认为是指无损检测各种方法检测结果的正确性和可靠性；广义的质量除测各种方法检测结果的正确性和可靠性；广义的质量除产品质量外，还包括了工作质量对无损检测而言，可产品质量外，还包括了工作质量对无损检测而言，可以认为是指无损检测人员在实施无损检测工作过程中，以认为是指无损检测人员在实施无损检测工作过程中，各个方面、各个环节工作的好坏它取决于工作人员的各个方面、各个环节工作的好坏它取决于工作人员的责任心与技术水平等综合条件，这些条件直接或间接的责任心与技术水平等综合条件，这些条件直接或间接的影响到无损检测的结果影响到无损检测的结果 # 2024/9/619二、质量控制的定义：二、质量控制的定义： （（GB/T 6583-92）） 为达到质量要求所采取的作业技术和活动为达到质量要求所采取的作业技术和活动 质量控制的目的，监视一个过程并排除不满意的原因，质量控制的目的，监视一个过程并排除不满意的原因，以取得经济效益。

以取得经济效益三、标准化的定义：制定和执行标准的过程三、标准化的定义：制定和执行标准的过程 1.5.2 质量体系质量体系一、定义：一、定义：为实施质量管理的组织结构，职责，程序过程为实施质量管理的组织结构，职责，程序过程和资源二、质量体系要素二、质量体系要素 在质量管理中，有关内容可分为若干个质量体系要在质量管理中，有关内容可分为若干个质量体系要素在GB/19004一一1SO9004”质量管理和质量体系要素质量管理和质量体系要素——指南指南”中质量体系要素有中质量体系要素有20个这些要素都取决于个这些要素都取决于人的因素、机器的因素、材料的因素、方法的因素以及人的因素、机器的因素、材料的因素、方法的因素以及工作环境的固素工作环境的固素 #2024/9/620二、质量体系要素二、质量体系要素 即人、机、料、法、环五个因素，无损检测就是从这即人、机、料、法、环五个因素，无损检测就是从这五个因素着手去提高质量对各种检测方法，其主要内五个因素着手去提高质量对各种检测方法，其主要内容容 ：： (1) 无损检测人员的管理无损检测人员的管理l 人人员员资资格格：：凡凡从从事事无无损损检检测测的的人人员员必必须须按按照照各各行行业业规规定定的的无无损损检检测测人人员员资资格格考考核核规规则则（（如如全全国国无无损损检检测测学学会会执执行行的的《《GB/T 9445：：1999 无无损损检检测测人人员员资资格格鉴鉴定定与与认认证证》》））参参加加培培训训和和考考核核，，取取得得相相应应的的资资洛洛证证书书、、方方可可从从事事该该行行业业相相应应方方法法和和等等级级的的无无损损检检测测工工作作。

无无损损检检测测资资格格分分为为初初级级（（I级级））、、中中级级（（II级级））和高级（和高级（III级）三个等级级）三个等级l 培培训训考考核核：：培培训训可可以以是是长长期期的的或或短短期期的的，，集集中中的的或或分分散散的的，，一一般般应应有有培培训训记记录录一一个个单单位位的的无无损损检检测测部部门门或或其其主主管管部部门门，，应应当当制制订订培培训训计计划划，，以以便便于于按按照照人人员员情情况况：：工工作作需需要要进进行行人人员员技技术术培训 #2024/9/621 无损检测人员的管理无损检测人员的管理l 建建立立无无损损检检测测人人员员的的技技术术档档案案对对每每一一位位从从事事无无损损检检测测的的人人员员应应建建立立个个人人技技术术档档案案，，内内容容至至少少应应包包括括：：个个人人简简历历；；检检测测质质量量方方面面的的奖奖惩惩情情况况；；检检测测人人员员的的工工作作记记录录，，包包括括中中断断无无损损检检测测工工作作的的起起止止时时间间；；接接受受技技术术培培训训的情况等的情况等l 对对射射线线检检测测人人员员还还应应建建立立“健健康康档档案案”和和射射线线剂剂量量记记录录。

射射线线检检测测属属特特殊殊有有害害工工种种，，为为了了呆呆障障射射线线检检测测人人员员的的健健康康与与安安全全，，应应建建立立射射线线检检测测人人员员的的健健康康档档案案和和进进行行射射线线剂剂量量记记录录，，此此项项工工作作应应归归口口于于单单位位的的安安全全技技术术和和工工业业卫卫生生部部门门管管理理，，但但为为了了便便于于对对无无损损检检测测人人员员的的管管理理，，也应同时纳入无损捡测部门的质量管理之中也应同时纳入无损捡测部门的质量管理之中l 国际和我国无损检测人员资格认证现状国际和我国无损检测人员资格认证现状2024/9/622 (2)无损检测没备及器材的管理无损检测没备及器材的管理 该该项项管管理理主主要要是是建建立立设设备备台台帐帐和和设设备备使使用用卡卡以以及及设设备备的的周周期期捡捡定定(周周检检)制制度度,应应详详细细记记录录设设备备进进厂厂日日期期和和性性能能、、价价值值及及附附件件情情况况：：检检修修和和零零件件更更换换情情况况以以及及设设备备周周检检情情况况，，设设备备应应有有专专人人负负责责维维护护保保养养，，设设备备可可以以集集中中管管理理，，也也可可以以分分散散管管理理，，对对于于关关键键设设备备应应记记录录其其使使用用的的频频度度 分折设备利用率。

分折设备利用率 要要用用好好、、管管好好、、修修好好设设备备，，要要对对操操作作人人员员进进行行培培训训、、考考核核，，发发设设备备操操作作许许可可证证后后方方可可上上岗岗设设备备应应制制定定安安全全操操作作规规程程，，要要严严格格按按操操作作规规程程进进行行操操作作,设设备备发发生生事事故故，，应填写事故报告单以分析事故发生的原因和责任者应填写事故报告单以分析事故发生的原因和责任者 无损检测设备和器材管理的内容主要有无损检测设备和器材管理的内容主要有:l 检检测测设设备备的的管管理理（（包包话话X射射线线探探伤伤机机、、超超声声波波探探伤伤仪仪、、磁粉探伤仪等检测仪器设备）；磁粉探伤仪等检测仪器设备）； #2024/9/623 无损检测没备及器材的管理无损检测没备及器材的管理l 辅辅助助设设备备的的管管理理（（黑黑度度计计、、评评片片灯灯、、自自动动洗洗片片机机等等辅辅助设备）；助设备）；l 无无损损检检测测器器材材的的管管理理（（渗渗透透剂剂、、射射线线胶胶片片、、象象质质计计、、显定影液、增感屏等器材）显定影液、增感屏等器材）。

(3) 无损检测工艺的管理无损检测工艺的管理 检检测测工工艺艺的的管管理理是是质质量量管管理理重重要要组组成成部部分分，，无无损损检检测测工工艺艺应应符符合合有有关关规规范范，，规规程程和和标标准准，，并并随随这这些些标标准准的的变变化化，，按按年年号号修修订订以以及及按按新新颁颁标标准准制制定定相相应应的的工工艺艺规规程程检检测测工工艺艺是是质质量量管管理理和和质质量量保保证证手手册册中中一一种种强强制制性性的的要要求求对对于于具具体体的的产产品品或或重重要要的的特特殊殊结结构构的的检检测测，，还还应应建建立立工工艺艺卡卡，，作作为为射射线线检检测测人人员员具具体体操操作作的的指指导导性性工工艺艺文文件 #2024/9/624(4) 建立无损检测质量管理制度建立无损检测质量管理制度 无无损损检检测测质质量量管管理理制制度度是是质质量量管管理理的的具具体体文文件件它它应应对对无无损损检检测测整整个个工工作作内内容容，，在在质质量量方方面面作作出出规规定定它它是是整整个个质质量量管管理理和和质质量量保保证证体体系系中中的的核核心心内内容容和和文文件件其其内内容容应应包包括括：：检检测测的的工工作作程程序序，，即即从从检检测测项项目目的的委委托托、、编编号号、、检检测测操操作作、、标标记记报报告告等等作作出出规规定定。

同同时时, , 还还应应制制定定检检测测设设备备、、检检测测人人员员、、工工艺艺规规程程等等管管理理制制度度这这些些管管理理制制度度是是以以制制度度的的形形式式，，进进一一步步细细化化整整个个检检测测的的质质量量管管理理内容它们应具备具体实施的可操作性它们应具备具体实施的可操作性 上上述述的的内内容容就就构构成成了了整整个个无无损损检检测测质质量量管管理理和和质质量量保保证证体体系系的的基基本本内内容容，，这这些些内内容容又又是是互互相相有有联联系系的的一一个个整整体体各各个个单单位位可可以以根根据据本本草草位位（（工工厂厂企企业业、、事事业业，，公公司司等等实实体体〕〕的的具具体体情情况况，，作作出出补补充充性性的的一一些些质质量量管管理理制制度度如如建建立立有有关关工工艺艺纪纪律律监监督督的的制制度度，，以以保保证证工工艺艺规规程程的的正正确确实实施施建建立立审审片片制制度度，，以以确确保保评评片片质质量量等等以以上上这这些些制制度度正正常常运运作作之之后后，，就就能能够够有有效效地地确确保保检检测测的的工工作作质量 #2024/9/6251.5.3 检查、检查、 检验、检测检验、检测一、检查（一、检查（Check ）） 对机构、部门执行某个标准、规程或体系与规定的对机构、部门执行某个标准、规程或体系与规定的要求进行比较以确定其符合性的活动。

要求进行比较以确定其符合性的活动 二、检验（二、检验（ Inspection ）） 对产品或服务的一种或多种特性进行测量、检查、试对产品或服务的一种或多种特性进行测量、检查、试验、度量，并将这些特性与规定的要求进行比较以确定验、度量，并将这些特性与规定的要求进行比较以确定其符合性的活动其符合性的活动三、检测（三、检测（ Test ）） 开展检验的一种技术活动，通常采用仪器设备或器具，开展检验的一种技术活动，通常采用仪器设备或器具，按照规定的程序操作获取某些技术参数，从而对产品或按照规定的程序操作获取某些技术参数，从而对产品或服务的一种或多种特性做出结论服务的一种或多种特性做出结论 #2024/9/6261.5.4 标准、法规、技术条件及规程标准、法规、技术条件及规程一、标准（一、标准（ Standard ）） 二、法规（二、法规（ Code ）） 三、技术条件（三、技术条件（Technology Condition ））四、规程（四、规程（ Procedure ））五、作业指导书（工艺卡五、作业指导书（工艺卡 Instruction ）） #2024/9/6271.5.5 工艺卡、记录及报告工艺卡、记录及报告一、一、工艺卡工艺卡（（ Instruction ）） 根据工艺规程编制的用以指导根据工艺规程编制的用以指导ⅠⅠ、、ⅡⅡ级人员实际操作级人员实际操作的技术指导书，通常它是以表格的形式出现。

实际上工的技术指导书，通常它是以表格的形式出现实际上工艺卡是工艺规程的浓缩艺卡是工艺规程的浓缩二、记录（二、记录（Record）） ⅠⅠ、、ⅡⅡ级人员在实际操作时，对操作过程和技术参数级人员在实际操作时，对操作过程和技术参数所做的原始记录所做的原始记录三、报告（三、报告（Report）） ⅡⅡ级人员在实际操作后对检测结果的评定意见级人员在实际操作后对检测结果的评定意见 # 工艺卡、记录及报告工艺卡、记录及报告2024/9/6283 检测技术及它们的局限性检测技术及它们的局限性3.1 检测方法检测方法3.1.1 穿透法穿透法l穿穿透透法法是是依依据据脉脉冲冲波波或或连连续续波波穿穿透透试试件件之之后后的的能能量量变变化化来判断缺陷情况的一种方法，来判断缺陷情况的一种方法，如图所示如图所示l穿穿透透法法常常采采用用两两个个探探头头，，一一个个作作发发射射用用，，一一个个作作接接收收用用，，分分别别放放置置在在试试件件的的两两侧侧进进行行探探测测，，图图中中显显示示三三种种情情况况：：无无缺缺陷陷时时的的波波形形；；缺缺陷陷阻阻挡挡部部分分声声束束时时的的波波形形；；缺缺陷陷阻阻挡全部声束时的波形。

挡全部声束时的波形3.1.2 脉冲反射法脉冲反射法 超声波探头发射脉冲波到被检试件内，根据反射波的超声波探头发射脉冲波到被检试件内，根据反射波的情况来检测试件缺陷的方法，称为脉冲反射法脉冲反情况来检测试件缺陷的方法，称为脉冲反射法脉冲反射法包括缺陷回波法、底波高度法和多次底波法射法包括缺陷回波法、底波高度法和多次底波法 #2024/9/6293.1.2 脉冲反射法脉冲反射法一、一、缺陷回波法：缺陷回波法： 根据仪器示波屏上显示的缺陷波形进行判断的方法，根据仪器示波屏上显示的缺陷波形进行判断的方法，称为缺陷回波法该方法是反射法的基本方法称为缺陷回波法该方法是反射法的基本方法 图图示示是是缺缺陷陷回回波波探探伤伤法法的的基基本本原原理理，，当当试试件件完完好好时时，，超超声声波波可可顺顺利利传传播播到到达达底底面面若若试试件件中中存存在在缺缺陷陷，，在在探探伤波形中，底面回波前有缺陷回波和底面回波两个信号伤波形中，底面回波前有缺陷回波和底面回波两个信号二二、、多多次次底底波波法法：：当当透透入入试试件件的的超超声声波波能能量量较较大大，，而而试试件件厚厚度度较较小小时时，，超超声声波波可可在在探探测测面面与与底底面面之之间间往往复复传传播播多多次次，，示示波波屏屏上上出出现现多多次次底底波波B1、、B2、、B3······。

如如果果试试件件存存在在缺缺陷陷，，则则由由于于缺缺陷陷的的反反射射以以及及散散射射而而增增加加了了声声能能的的损损耗耗，，底底面面回回波波次次数数减减少少，，在在底底面面回回波波之之间间出出现现缺缺陷陷回回波波F1、、F2、、F3······如图如图 #2024/9/6303.1.3 共振法共振法 一、原理一、原理 若声波（频率可调的连续波）在被检工件内传播，若声波（频率可调的连续波）在被检工件内传播，当工件的厚度为超声波的半波长的整数倍时，将引起共当工件的厚度为超声波的半波长的整数倍时，将引起共振，仪器显示出共振频率，若工件内存在缺陷则共振频振，仪器显示出共振频率，若工件内存在缺陷则共振频率发生变化，利用共振频率之差，判断工件内部状态率发生变化，利用共振频率之差，判断工件内部状态 二、胶接件的声振动检测二、胶接件的声振动检测 航空航天器上常用胶接结构，脱胶处常用航空航天器上常用胶接结构，脱胶处常用声振检测声振检测方法检测方法检测 #2024/9/6313.1.4 自动和半自动法自动和半自动法一、钢管自动检测线一、钢管自动检测线 原理、方法与应用原理、方法与应用照片照片二、相控阵技术二、相控阵技术 三、焊缝多探头检测技术三、焊缝多探头检测技术 #2024/9/6323.2 探头探头3.2.1 探头的基本知识探头的基本知识一、一、压电效应与压电材料压电效应与压电材料 某些单晶体和多晶体陶瓷材料在应力（压缩力和拉伸某些单晶体和多晶体陶瓷材料在应力（压缩力和拉伸力）作用下产生应变时引起晶体电荷不对称分配，异种力）作用下产生应变时引起晶体电荷不对称分配，异种电荷向正反两面集中，材料的晶体中就产生电场，这种电荷向正反两面集中，材料的晶体中就产生电场，这种效应称为正压电效应。

相反，当压电材料处于交变电场效应称为正压电效应相反，当压电材料处于交变电场中时，产生压缩或拉伸的应力和应变，这种效应称为逆中时，产生压缩或拉伸的应力和应变，这种效应称为逆压电效应，压电效应，如图所示如图所示 常常用用的的压压电电单单晶晶有有石石英英又又称称二二氧氧化化硅硅（（SiOSiO2 2））、、硫硫酸酸锂锂（（LiS0LiS04 4H H2 20 0））、、碘碘酸酸锂锂LiIOLiIO3 3））、、铌铌酸酸锂锂（（LiNbOLiNbO3 3））等等，，除除石石英英外外，，其其余余几几种种人人工工培培养养的的单单晶晶制制造造工工艺艺复复杂杂、、成成本高 #2024/9/6333.2.1 探头的基本知识探头的基本知识 常常用用的的压压电电陶陶瓷瓷有有钛钛酸酸钡钡（（BaTi0BaTi03 3））、、锆锆钛钛酸酸铅铅（（PZTPZT）、）、钛酸铅（钛酸铅（PbTiOPbTiO3 3) )、、偏铌酸铅（偏铌酸铅（PbNbPbNb2 2O O4 4））等二、探头的编号方法二、探头的编号方法 2.5 P 20 Z 5 Q 6×6 K3 | | | | | | | | | | | | | | | | 频率频率 材料材料 直径直径 直探头直探头 频率频率 材料材料 矩形矩形 K=3材料：材料： P-锆钛酸铅；锆钛酸铅；B-钛酸钡；钛酸钡；T-钛酸铅；钛酸铅；L-铌酸锂；铌酸锂； I-碘酸锂；碘酸锂；N-其他其他探头类型：探头类型： Z-直探头；直探头； K-斜探头；斜探头； SJ-水浸探头；水浸探头； FG-分隔探头；分隔探头；BM-表面探头；表面探头；KB-可变角探头；可变角探头； #2024/9/634三、三、探头的基本结构探头的基本结构 压电超声探头的种类繁多，用途各异，但它们的基本压电超声探头的种类繁多，用途各异，但它们的基本结构有共同之处，如图所示。

它们一般均由晶片、阻尼结构有共同之处，如图所示它们一般均由晶片、阻尼块、保护膜（对斜探头来说是有机玻璃透声楔）组成块、保护膜（对斜探头来说是有机玻璃透声楔）组成此外，还必须有与仪器相连接的高频电缆插件、支架、此外，还必须有与仪器相连接的高频电缆插件、支架、外壳等 #2024/9/6353.2.2 直探头直探头一、直探头的保护膜一、直探头的保护膜l 压压电电陶陶瓷瓷晶晶片片通通常常均均由由保保护护膜膜来来保保护护晶晶片片不不与与工工件件直直接接接接触触以以免免磨磨损损常常用用保保护护膜膜有有硬硬性性和和软软性性两两类类氧氧化化铝铝（（刚刚玉玉））、、陶陶瓷瓷片片及及某某些些金金属属都都属属于于硬硬性性保保护护膜膜，，它它们们适适用用于于工工件件表表面面光光洁洁度较高、且平整的情况用于粗糙表面时声能损耗达度较高、且平整的情况用于粗糙表面时声能损耗达2020～～3030dBdBl 软软性性保保护护膜膜有有聚聚胺胺酯酯软软性性塑塑料料等等，，用用于于表表面面光光洁洁度度不不高高或或有有一一定定曲曲率率的的表表面面时时，，可可改改善善声声耦耦合合，，提提高高声声能能传传递递效效率率，，且且探探伤伤结果的重复性较好，磨损后易于更换，它对声能的损耗达结果的重复性较好，磨损后易于更换，它对声能的损耗达6 6～～7 7dBdB。

l 保保护护膜膜材材料料应应耐耐磨磨、、衰衰减减小小、、厚厚度度适适当当为为有有利利于于阻阻抗抗匹匹配配，，其声阻抗其声阻抗Z Zm m应满足一定要求应满足一定要求l 试试验验表表明明：：所所有有固固体体保保护护膜膜对对发发射射声声波波都都会会产产生生一一定定的的畸畸变变，，使使分分辨辨率率变变差差、、灵灵敏敏度度降降低低，，其其中中硬硬保保护护膜膜比比软软保保护护膜膜更更为为严严重重因因此此，，应应根根据据实实际际使使用用需需要要选选用用探探头头及及其其保保护护膜膜与与陶陶瓷瓷晶晶片片相相比，石英晶片不易磨损，故所有石英晶片探头都不加保护膜比，石英晶片不易磨损，故所有石英晶片探头都不加保护膜 #2024/9/6362．直探头的吸收块．直探头的吸收块 为为提提高高晶晶片片发发射射效效率率，，其其厚厚度度均均应应保保证证晶晶片片在在共共振振状状态态下下工工作作，，但但共共振振周周期期过过长长或或晶晶片片背背面面的的振振动动干干扰扰都都会会导导致致脉脉冲冲变变宽宽、、盲盲区区增增大大为为此此，，在在晶晶片片背背面面充充填填吸吸收收这这类类噪噪声声能能量量的的阻阻尼尼材材料料，，使使干干扰扰声声能能迅迅速速耗耗散散，，降降低低探探头头本本身身的的杂杂乱乱的的信信号号。

目目前前，，常常用用的的阻阻尼尼材材料料为为环环氧氧树树脂和钨粉脂和钨粉 # 2024/9/6373.2.3 斜探头斜探头一、结构与类型一、结构与类型2024/9/6382024/9/639二、透声楔二、透声楔 斜探头都习惯于用有机玻璃作斜楔，以形成一个所需的声波入斜探头都习惯于用有机玻璃作斜楔，以形成一个所需的声波入射角，并达到波型转换的目的一发一收型分割式双直探头和双射角，并达到波型转换的目的一发一收型分割式双直探头和双斜探头也都以有机玻璃作为透声楔，这是因为有机玻璃声学性能斜探头也都以有机玻璃作为透声楔，这是因为有机玻璃声学性能良好、易加工成形，但它的声速随温度的变化有所改变又易磨损，良好、易加工成形，但它的声速随温度的变化有所改变又易磨损，所以对探头的角度应经常测试和修正水浸聚焦探头常以环氧树所以对探头的角度应经常测试和修正水浸聚焦探头常以环氧树脂等材料作为声透镜材料脂等材料作为声透镜材料三、晶片的厚度三、晶片的厚度 压电晶片的振动频率压电晶片的振动频率f f即探头的工作频率，它主要取决于晶片即探头的工作频率，它主要取决于晶片的厚度的厚度T T和超声波在晶片材料中的声速。

晶片的共振频率（即基和超声波在晶片材料中的声速晶片的共振频率（即基频）是其厚度的函数可以证明，晶片厚度频）是其厚度的函数可以证明，晶片厚度T T为其传播波长一半为其传播波长一半时即产生共振，此时，在晶片厚度方向的两个面得到最大振幅，时即产生共振，此时，在晶片厚度方向的两个面得到最大振幅，晶片中心为共振的驻点晶片中心为共振的驻点 #2024/9/640三、晶片的厚度三、晶片的厚度 通常把晶片材料的频率通常把晶片材料的频率f f和厚度和厚度T T的乘积称为频率常数的乘积称为频率常数N Nt t，，若若T=λ/2T=λ/2，，则则 N Nt t = f T = C/2 = f T = C/2 式中：式中：C C为晶片材料中的纵波声速常用晶片材料如为晶片材料中的纵波声速常用晶片材料如PZTPZT的的N Nt t =1800 =1800～～2000m/s2000m/s，，石英晶片的石英晶片的N Nt t＝＝285Om/s285Om/s，，钛钛酸钡晶片的酸钡晶片的N Nt t＝＝2520m/s2520m/s，，钛酸铅晶片的钛酸铅晶片的N Nt t=2120m/s=2120m/s。

由式（由式（2.652.65）可知，频率越高，晶片越薄，制作越困）可知，频率越高，晶片越薄，制作越困难，且难，且N Nt t小的晶片材料不宜用于制作高频探头小的晶片材料不宜用于制作高频探头 #2024/9/6413.2.4 特殊探头特殊探头一、一、水浸聚焦探头水浸聚焦探头二、二、可变角探头可变角探头三、三、充水探头充水探头2024/9/6423.3 超声检测超声检测技术技术3.3.1 串列技术串列技术2024/9/6433.3.2 聚焦探头技术聚焦探头技术一、平面声波聚焦和发散的条件一、平面声波聚焦和发散的条件l 平面声波聚焦和发散的原因是声波在介质分界面的折平面声波聚焦和发散的原因是声波在介质分界面的折射；射；l 介质分界面二边的声速决定了平面声波是聚焦还是发介质分界面二边的声速决定了平面声波是聚焦还是发散；散；l 聚焦的条件聚焦的条件 声波进入凹面：入射介质内声速声波进入凹面：入射介质内声速C1＜＜折射介质内声速折射介质内声速C2 声波进入凸面：入射介质内声速声波进入凸面：入射介质内声速C1＞＞折射介质内声速折射介质内声速C2l 发散的条件发散的条件声波进入凹面：入射介质内声速声波进入凹面：入射介质内声速C1＞＞ 折射介质内声速折射介质内声速C2声波进入凸面：入射介质内声速声波进入凸面：入射介质内声速C1＜＜折射介质内声速折射介质内声速C2 #2024/9/644二、声透镜二、声透镜三、聚焦探头：直探头三、聚焦探头：直探头 + 声透镜声透镜 （楔块声透镜或压电体（楔块声透镜或压电体声透镜）声透镜） #2024/9/6453.3.3 双晶探头技术双晶探头技术一、一、双晶探头双晶探头的种类的种类l双晶纵波探头双晶纵波探头l双晶横波探头（纵波全反射）双晶横波探头（纵波全反射）二、应用：板材探伤二、应用：板材探伤 / 分层缺陷分层缺陷三、优点：三、优点：l灵敏度高灵敏度高l杂波少、盲区小杂波少、盲区小l近场区长度小近场区长度小2024/9/6463.3.4 表面波探头技术表面波探头技术l在曲率处转弯。

在曲率处转弯l曲率愈大，反射强烈曲率愈大，反射强烈2024/9/6473.3.5 液浸技术液浸技术一、一、一般技术一般技术l 探探头头和和工工件件浸浸于于液液体体中中以以液液体体作作耦耦合合剂剂进进行行探探伤伤的的方方法法，，称称为为液液浸浸法法耦耦合合剂剂可可以以是是水水，，也也可可以以是是油油当当以以水为耦合剂时，称为水浸法水为耦合剂时，称为水浸法l 液液浸浸法法探探伤伤时时，，探探头头不不直直接接接接触触试试件件，，所所以以此此方方法法适适用用于于表表面面粗粗糙糙的的试试件件，，探探头头也也不不易易磨磨损损，，耦耦合合稳稳定定，，探探测结果重复性好，便于实现自动化探伤测结果重复性好，便于实现自动化探伤l 液浸法按探伤方式不同又分为液浸法按探伤方式不同又分为全浸没式和局部浸没式全浸没式和局部浸没式l 根根据据探探头头与与试试件件探探测测面面之之间间液液层层的的厚厚度度，，液液浸浸法法又又可可分为高液层法和低液层法分为高液层法和低液层法 #2024/9/648二、充水法与水层计算二、充水法与水层计算l如图如图，由于水层关系水界面一次回波（，由于水层关系水界面一次回波（S））先于钢板底先于钢板底面回波（面回波（B）；）；l钢板底面第一回波（钢板底面第一回波（B1））与水界面二次回波（与水界面二次回波（S2））重重合称为一次重合法合称为一次重合法 ；；l钢板底面第二回波（钢板底面第二回波（B2））与水界面二次回波（与水界面二次回波（S2））重重合称为二次重合法合称为二次重合法 ；；l……l水界面一次回波（水界面一次回波（S1））由于声程差无法与钢板底面回波由于声程差无法与钢板底面回波重合；重合； 2024/9/649水层厚度计算水层厚度计算 C水水 δ C水、水、 C钢：纵波速度钢：纵波速度 H=n-------δ=n------- n：：重合次数重合次数 C钢钢 4 δ：：钢板厚度钢板厚度例：水浸法探例：水浸法探30毫米厚的钢板，采用毫米厚的钢板，采用4次重合法水层厚度次重合法水层厚度应为多少？应为多少？解：解： δ 30 H=n-------δ=4------= 30 毫米毫米 4 4 2024/9/6505 检测系统的校准检测系统的校准5.1 设备的校准设备的校准5.1.1 水平线性水平线性一、定义：仪器水平线性是示波屏上时基线的水平刻度与一、定义：仪器水平线性是示波屏上时基线的水平刻度与实际声程之间成正比的程度，即示波屏上多次底波等距实际声程之间成正比的程度，即示波屏上多次底波等距离的程度。

离的程度 水平线性用水平线性误差表示水平线性用水平线性误差表示二、测试步骤：二、测试步骤： （（1）将直探头置于）将直探头置于CSK--1A试块的试块的25mm厚大平底面上；厚大平底面上； （（2）通过）通过[微调微调][水平水平][脉冲位移脉冲位移]等按钮，使屏上出现等按钮，使屏上出现5次底波次底波 B1--B5，，当底波当底波B1B1和和B5B5的幅度分别为的幅度分别为5050％满刻％满刻度时，将它们的前沿分别对准刻度度时，将它们的前沿分别对准刻度2.02.0和和10.010.0B1B1和和B6B6的前沿位置在调整中如相互影响，则应反复进行调整的前沿位置在调整中如相互影响，则应反复进行调整2024/9/6515.1.1 水平线性水平线性 a2、、a3、、a4分别分别为为B2、、B3、、B4与与4.0、、6.0、、8.0的偏差3）水平线性误差计算：）水平线性误差计算： |amax| amax：： a2、、a3、、a4中的最大值中的最大值 δ=--------×100% b为示波屏水平满刻度值为示波屏水平满刻度值 0.8b * ZBY230--84规定：仪器的水平线性误差规定：仪器的水平线性误差≤2%例：用例：用IIW或或CSK-1A试块测仪器的水平线性，现测得试块测仪器的水平线性，现测得B1对准对准2.0，，B5对准对准10.0时，时，B2、、B3、、B4与与4.0、、6.0、、8.0的偏差分别为的偏差分别为0.5、、0.6、、0.8;求其水平误差为多少？求其水平误差为多少？解：解： 0.8 δ=--------------×100%=1% 0.8×1002024/9/6525.1.2 垂直线性垂直线性一、定义：仪器垂直线性是示波屏上波高与探头接收的信一、定义：仪器垂直线性是示波屏上波高与探头接收的信号幅值之间成正比的程度。

号幅值之间成正比的程度 垂直线性用垂直线性误差表示垂直线性用垂直线性误差表示二、测试步骤：二、测试步骤： （（1））[抑制抑制]至零，至零，[衰减器衰减器]保留保留30dB衰减余量；衰减余量； （（2）将直探头置于）将直探头置于CSK--1A试块的试块的25mm厚大平底面上，厚大平底面上， 恒定压力压住；恒定压力压住； （（3）调节仪器使试块上某次底波位于示波屏中央，并达）调节仪器使试块上某次底波位于示波屏中央，并达到到100%幅度，作为幅度，作为“0”dB; （（4））固定固定[增益增益]和其他旋钮，调衰减器，每次衰减和其他旋钮，调衰减器，每次衰减2dB,并记下相应的波高并记下相应的波高H填入表中，直到底波消失；填入表中，直到底波消失；2024/9/653二、测试步骤二、测试步骤 Hi(衰减衰减△△idB后波高后波高)上表中：实测相对波高上表中：实测相对波高%=----------------------------×100% H0(衰减衰减0dB后波高后波高) 理想相对波高是理想相对波高是△△i=2、、4、、6dB……时的波高比时的波高比（如（如△△i=6dB时时的的理想相对波高是理想相对波高是50.1%））2024/9/654三、计算垂直线性误差三、计算垂直线性误差 D=（（ |d1|+|d2| ）） 式中：式中： d1--实测值与理想值的最大正偏差实测值与理想值的最大正偏差 d2--实测值与理想值的最大负偏差实测值与理想值的最大负偏差* ZBY230--84规定：仪器的垂直线性误差规定：仪器的垂直线性误差D≤8%2024/9/6555.2 探头探头的验证的验证5.2.1 试块试块一、试块的用途一、试块的用途l 测试或校验仪器和探头的性能；测试或校验仪器和探头的性能；l 确定探测灵敏度和缺陷大小；确定探测灵敏度和缺陷大小；l 调整探测距离和确定缺陷位置；调整探测距离和确定缺陷位置；l 测定材料的某些声学特性。

测定材料的某些声学特性二、试块的分类（主要分二类）二、试块的分类（主要分二类）l 标准试块标准试块l 对比试块（参考试块）对比试块（参考试块）l 其他叫法：校验试块、灵敏度试块；平底孔试块、横其他叫法：校验试块、灵敏度试块；平底孔试块、横孔试块、槽口试块；锻件试块、焊缝试块等孔试块、槽口试块；锻件试块、焊缝试块等2024/9/656三、试块简介三、试块简介1. 荷兰试块荷兰试块l 1955年荷兰人提出；年荷兰人提出；1958年国际焊接学会通过并命名年国际焊接学会通过并命名为为IIW试块；试块；ISO组织推荐使用组织推荐使用l 类似的有：类似的有：中国中国CSK-IA、、日本日本STB-A1、、英国英国BS-A、、西德西德DIN54521……2. IIW2试块（三角形试块、牛角试块）试块（三角形试块、牛角试块）l 适用于现场检验（体积小、轻、方便）；适用于现场检验（体积小、轻、方便）；l 用途较用途较IIW少少3. CSK-IA试块：中国的改型试块试块：中国的改型试块4. CS-1和和CS-2l 1986年通过，年通过，CS-1全套全套26块，块，CS-2全套全套66块；块；l 要求：要求：2024/9/657 （（1））D/L比不能太小，否则产生侧壁效应；比不能太小，否则产生侧壁效应； （（2）平底孔应足以分辨；）平底孔应足以分辨； （（3）材质衰减要小。

材质衰减要小 注：铸钢件试块与此形状相同、尺寸不同注：铸钢件试块与此形状相同、尺寸不同5. CSK-IIA / CSK-IIIA6. RB-1、、RB-2、、RB-37. 钢板试块钢板试块8. 半圆半圆试试块块9. 管子试块管子试块2024/9/6585.2.2 探头灵敏度探头灵敏度一、调节灵敏度的几个旋钮一、调节灵敏度的几个旋钮l[发射强度发射强度] 调节发射脉冲的输出幅度，发射强度大灵调节发射脉冲的输出幅度，发射强度大灵敏度高，但分辨率低；敏度高，但分辨率低；l[增益增益] 调节接收放大器的放大倍数，增益大灵敏度高；调节接收放大器的放大倍数，增益大灵敏度高；l[抑制抑制] 限制检波后信号的输出幅度，主要用于抑制杂限制检波后信号的输出幅度，主要用于抑制杂波、提高信噪比使用波、提高信噪比使用[抑制抑制]会使仪器的垂直线性变坏，会使仪器的垂直线性变坏，动态范围变小动态范围变小 [抑制抑制]增加，灵敏度降低，尽量不要增加，灵敏度降低，尽量不要用用 [抑制抑制]；；l[衰减器衰减器] 电路内专用器件，用于定量地调节示波屏上电路内专用器件，用于定量地调节示波屏上的波高，它是步进旋钮。

分：的波高，它是步进旋钮分：[粗调粗调][细调细调]二档，二档， [粗粗调调]步长步长10-20dB, [细调细调]步长步长1-2dBCTS-6型总衰减型总衰减量量50db;CTS-22型则为型则为80dB;2024/9/659调节灵敏度的几个旋钮调节灵敏度的几个旋钮l《《ZB Y230--84 A型脉冲反射超声探伤通用技术条件》型脉冲反射超声探伤通用技术条件》中规定：总衰减量不小于中规定：总衰减量不小于60dB;衰减误差：衰减误差：1dB / 12dB.二、直探头二、直探头 + 仪器的灵敏度余量测试仪器的灵敏度余量测试l探头对准探头对准200 / Φ2平底孔平底孔；；l[抑制抑制]：：0；； [发射强度发射强度] [增益增益]：最大；：最大；l调调[衰减器衰减器]使使Φ2孔最高回波达满刻度的孔最高回波达满刻度的50%（基准高），（基准高），这时衰减值为这时衰减值为N1dB;l提起探头，用提起探头，用[衰减器衰减器]将电噪声电平衰减到将电噪声电平衰减到10%以下，以下，这时这时衰减值为衰减值为N2dB;l灵敏度余量灵敏度余量 N=N1-N2（（dB））; 直探头的灵敏度余量要求直探头的灵敏度余量要求≥30dB2024/9/660三、斜探头三、斜探头 + 仪器的灵敏度余量测试仪器的灵敏度余量测试l探头对准探头对准IIW试块试块R100园弧面园弧面；；l[抑制抑制]：：0；； [发射强度发射强度] [增益增益]：最大；：最大；l调调[衰减器衰减器]使使R100回波达满刻度的回波达满刻度的50%（基准高），（基准高），这时衰减值为这时衰减值为N1dB;l提起探头，用提起探头，用[衰减器衰减器]将电噪声电平衰减到将电噪声电平衰减到10%以下，以下，这时衰减值为这时衰减值为N2dB;l灵敏度余量灵敏度余量 N=N1-N2（（dB））; 斜探头的灵敏度余量要求斜探头的灵敏度余量要求≥40dB2024/9/661四、探头盲区测定四、探头盲区测定 1 概念概念l盲区是指从探测面到能够发现缺陷处的最小距离，即始盲区是指从探测面到能够发现缺陷处的最小距离，即始脉冲宽度覆盖区的距离。

脉冲宽度覆盖区的距离l盲区与近场区的区别：盲区是始脉冲宽度与放大器引起盲区与近场区的区别：盲区是始脉冲宽度与放大器引起的，而近场区是波的干涉引起的盲区内缺陷一概不能的，而近场区是波的干涉引起的盲区内缺陷一概不能发现，而近场区内缺陷可以发现但很难定量发现，而近场区内缺陷可以发现但很难定量 2 测定方法测定方法 方法（方法（1）：）：l先将直探头在灵敏度试块上用先将直探头在灵敏度试块上用φ1平底孔调平底孔调80%基准高l将直探头放将直探头放于于盲区试块盲区试块上，能独立显示上，能独立显示φ1平底孔回波平底孔回波的最小深度为盲区的最小深度为盲区 2024/9/662盲区测定方法盲区测定方法方法（方法（2）：）：l用用IIW试块估算试块估算l将直探头放于将直探头放于IIW上方：能独立显示回波的，盲区上方：能独立显示回波的，盲区≤5mm无独立回波的，盲区＞无独立回波的，盲区＞5mml将直探头放于将直探头放于IIW左侧：能独立显示回波的，盲区左侧：能独立显示回波的，盲区5～～10mm无独立回波的，盲区＞无独立回波的，盲区＞10mm 2024/9/6635.2.3 探头分辨率探头分辨率一、概念：示波屏上区分相邻二缺陷的能力，能区分的相邻二缺陷一、概念：示波屏上区分相邻二缺陷的能力，能区分的相邻二缺陷的距离愈小，分辨率就愈高。

分辨率与仪器和探头的质量有关的距离愈小，分辨率就愈高分辨率与仪器和探头的质量有关二、纵波直探头分辨率测定二、纵波直探头分辨率测定l直探头放于直探头放于IIW试块试块85、、91、、100处，处，[抑制抑制]为为0，左右移动探头，，左右移动探头，使屏上出现使屏上出现A、、B、、C波；波；l若若A、、B、、C不能分开，先将不能分开，先将A、、B等高，并取等高，并取a1、、b1值值 求：求： a1 X=20 lg---- (dB) b1 然后用然后用[衰减器衰减器]使使B、、C等高，取相应的等高，取相应的a2、、b2值值 求：求： a2 Y=20 lg---- (dB) b2X、、Y值愈大分辨率愈高，一般值愈大分辨率愈高，一般X、、Y ≥ 15dB2024/9/664三、横波斜探头分辨率测定三、横波斜探头分辨率测定l如图如图,平行移动探头，使平行移动探头，使A、、B等高则分辨率：等高则分辨率： h1 X=20lg------- (dB) h2l平行移动探头，使平行移动探头，使B、、C等高则分辨率：等高则分辨率： h3 Y=20lg------- (dB) h4要求：要求：X或或Y≥ 6dB实测时，实测时，[衰减器衰减器]将将h1衰减衰减到到h2即即为为X值，将值，将h3衰减衰减到到h4即即为为Y值。

值2024/9/6655.2.4 斜探头的校准斜探头的校准一、入射点、前沿测试一、入射点、前沿测试l如图如图，斜探头入射到，斜探头入射到R100圆弧上，左右移动探头找到最大反射圆弧上，左右移动探头找到最大反射回波；如果试块上有圆心刻度，则刻度对应处为入射点；如果试回波；如果试块上有圆心刻度，则刻度对应处为入射点；如果试块上无圆心刻度则用钢尺量，使钢尺块上无圆心刻度则用钢尺量，使钢尺100处对准试块圆弧端，钢处对准试块圆弧端，钢尺尺0点即为入射点；使钢尺点即为入射点；使钢尺0点对准探头前端点，差值即为前沿点对准探头前端点，差值即为前沿二、斜探头二、斜探头K值测试值测试l如图如图，斜探头分别入射到试块的二个圆上，左右移动探头找到最，斜探头分别入射到试块的二个圆上，左右移动探头找到最大反射回波；探头入射点所对应的刻度即大反射回波；探头入射点所对应的刻度即K三、三、声束偏转角声束偏转角测定测定l概念：主声束中心线与声轴间的夹角称为声轴偏转角概念：主声束中心线与声轴间的夹角称为声轴偏转角l测定：探头置于试块面上，旋转移动找到最大回波，测定探头中测定：探头置于试块面上，旋转移动找到最大回波，测定探头中心线与试块上表面垂线间的夹角。

心线与试块上表面垂线间的夹角5.3 对曲面工件的校准对曲面工件的校准 （略）（略）2024/9/6665.4 距离距离-波幅曲线及校准波幅曲线及校准一、概念：一、概念： 描述同一反射体在不同声程时，其反射回波幅值关系的曲线称描述同一反射体在不同声程时，其反射回波幅值关系的曲线称为为距离距离-波幅曲线波幅曲线二、二、距离距离-波幅（分贝）曲线的绘制波幅（分贝）曲线的绘制 1.测探头入射点、测探头入射点、K值调扫描速度（通常调深度值调扫描速度（通常调深度1：：1）；）； 2.衰减器值定衰减器值定52dB（（设定），在设定），在CSK-IIIA试块上调试块上调[增益增益]使使10mm深的深的φ1×6孔的最高回波达基准的孔的最高回波达基准的60%，依次测，依次测20、、30…,填入下表，并依次数据画出填入下表，并依次数据画出曲线曲线 2024/9/667三、距离三、距离-波幅（面板）曲线的绘制波幅（面板）曲线的绘制1.测探头入射点、测探头入射点、K值调扫描速度（通常调深度值调扫描速度（通常调深度1：：1）；）；2. 在在CSK-IIIA试块上调试块上调[增益增益]找到找到10mm深的深的φ1×6孔的孔的最高回波达基准的最高回波达基准的100%，在面板上标记，在面板上标记①①,记下记下dB值值（例如选定（例如选定30dB）。

3.固定固定[增益增益][衰减器衰减器]，分别测得，分别测得20、、30、、40…90处的处的φ1×6孔的最高回波并标注出相应的孔的最高回波并标注出相应的②③②③…,连接各点便连接各点便成成面板曲线面板曲线该曲线为该曲线为φ1×6缺陷4. [衰减器衰减器]值调到值调到30-9=21dB,为评定线即为评定线即φ1×6 - 95. [衰减器衰减器]值调到值调到30-3=27dB,为定量线即为定量线即φ1×6 - 36. [衰减器衰减器]值调到值调到30+5=35dB,为判废线即为判废线即φ1×6+52024/9/668四、距离四、距离-波幅曲线的校准波幅曲线的校准l扫描量程的复核扫描量程的复核 如果距离－－波幅曲线上任意一点在扫描线上的偏移如果距离－－波幅曲线上任意一点在扫描线上的偏移超过扫描读数的超过扫描读数的10％，则扫描量程应予以修正，并在检％，则扫描量程应予以修正，并在检测记录中加以标明测记录中加以标明l距离－－波曲线的复核距离－－波曲线的复核 复复核核时时，，校校核核应应不不少少于于3点点如如曲曲线线上上任任何何一一点点幅幅度度下下降降2dＢＢ，，则则应应对对上上一一次次以以来来所所有有的的检检测测结结果果进进行行复复检检；；如幅度上升如幅度上升2dＢ，则应对所有的记录信号进行重新评定Ｂ，则应对所有的记录信号进行重新评定。

2024/9/6695.4 AVG（（DGS））曲线曲线一、概念一、概念 表示回波声程、幅度（表示回波声程、幅度（dB））和缺陷之间关系的曲线称和缺陷之间关系的曲线称为为AVG曲线可用于锻件检测时缺陷的面积当量计算可用于锻件检测时缺陷的面积当量计算 声程以直探头的近场区为单位，用声程以直探头的近场区为单位，用A表示表示 缺陷以探头的直径为单位，用缺陷以探头的直径为单位，用G表示表示 幅值以初始波高为单位，用幅值以初始波高为单位，用V表示表示 --缺陷回波幅值缺陷回波幅值 Vf --大平底回波幅值大平底回波幅值 Vb 换算关系为：换算关系为： 2024/9/6702024/9/671二、二、AVG曲线的类型曲线的类型 （（1）通用）通用AVG 按以上计算公式算得一组数据做出的曲线图称为按以上计算公式算得一组数据做出的曲线图称为通用通用AVG曲线曲线 （（2）实用）实用AVG 实用实用AVG曲线是在通用曲线是在通用AVG曲线的基础上经坐标曲线的基础上经坐标转换后得到的。

转换后得到的 实用实用AVG曲线曲线的坐标均以十进制的坐标均以十进制 2024/9/6725.6 耦合介质耦合介质一、概念一、概念l为为了了提提高高耦耦合合效效果果，，在在探探头头与与工工件件表表面面之之间间施施加加的的一一层层透透声声介介质质称为耦合剂称为耦合剂l耦耦合合剂剂的的作作用用在在于于排排除除探探头头与与工工件件表表面面之之间间的的空空气气，，使使超超声声波波能能有有效效地地传传入入工工件件达达到到探探伤伤的的目目的的此此外外耦耦合合剂剂还还有有减减少少摩摩擦擦的的作作用二、耦合效果与声阻抗有关，声阻抗大耦合性能好二、耦合效果与声阻抗有关，声阻抗大耦合性能好三三 、耦合介质的种类、耦合介质的种类l甘油声阻抗高，耦合性能好，常用于一些重要工件的精确探伤，甘油声阻抗高，耦合性能好，常用于一些重要工件的精确探伤，但价格较贵，对工件有腐蚀作用但价格较贵，对工件有腐蚀作用l水玻璃的声阻抗较高，常用于表面粗糙的工件探伤，但清洗不太水玻璃的声阻抗较高，常用于表面粗糙的工件探伤，但清洗不太方便，且对工件有腐蚀作用方便，且对工件有腐蚀作用l水的来源广，价格低，常用于水浸探伤，但易使工件生锈。

水的来源广，价格低，常用于水浸探伤，但易使工件生锈l机油和变压器油粘度、流动性、附着力适当，对工件无腐蚀、价机油和变压器油粘度、流动性、附着力适当，对工件无腐蚀、价格也不贵，因此是目前应用最广的耦合剂格也不贵，因此是目前应用最广的耦合剂l 2024/9/6745.6 耦合介质耦合介质l超声波探伤中常用耦合剂有机油、变压器油、甘油、水、水玻超声波探伤中常用耦合剂有机油、变压器油、甘油、水、水玻璃等它们的声阻抗璃等它们的声阻抗Z Z 如下：如下： 耦合剂耦合剂 机油机油 水水 水玻璃水玻璃 甘油甘油 Z Z×10106 6kg/mkg/m2 2·s 1.28 1.5 2.17 2.43s 1.28 1.5 2.17 2.43l 此外，近年来化学浆糊也常用来作耦合剂，耦合效果比较好此外，近年来化学浆糊也常用来作耦合剂，耦合效果比较好l 影响耦合的主要因素有：耦合层的厚度，耦合剂的声阻抗，影响耦合的主要因素有：耦合层的厚度，耦合剂的声阻抗，工件表面粗糙度和工件形状。

工件表面粗糙度和工件形状2024/9/6757. 法规、标准、技术条件和规程法规、标准、技术条件和规程7.1 与超声检测特别有关的法规、标准和技术条件与超声检测特别有关的法规、标准和技术条件（（1））GB/T 11345-89 钢焊缝手工超声波探伤方法和探伤结果的分钢焊缝手工超声波探伤方法和探伤结果的分级级（（2））JB4730-94 压力容器无损检测（将修订为锅炉、容器和管道压力容器无损检测（将修订为锅炉、容器和管道标准）标准）l压力容器原材料和另部件的超声检测，共有六个标准：钢板、锻压力容器原材料和另部件的超声检测，共有六个标准：钢板、锻件、复合钢板、高压无缝钢管、高压螺栓、奥氏体钢锻件件、复合钢板、高压无缝钢管、高压螺栓、奥氏体钢锻件l压力容器焊缝的超声检测，共有三个标准：压力容器焊缝的超声检测，共有三个标准： 钢焊缝、不锈钢堆焊层焊缝、铝焊缝钢焊缝、不锈钢堆焊层焊缝、铝焊缝 （（3））GB/T 15830-95 钢制管道对接环焊缝超声波探伤方法和检钢制管道对接环焊缝超声波探伤方法和检验结果的分级验结果的分级 2024/9/676与超声检测特别有关的法规、标准和技术条件与超声检测特别有关的法规、标准和技术条件 （（4））ZBJ 04 001 A型脉冲反射式超声探伤系统工作性能测试方法型脉冲反射式超声探伤系统工作性能测试方法 （（5））ZBY 230 A型脉冲反射式超声探伤仪通用技术条件型脉冲反射式超声探伤仪通用技术条件 （（6））ZBY 231 超声探伤用探头性能测试方法超声探伤用探头性能测试方法 （（7））ZBY 232 超声探伤用超声探伤用1#标准试块技术条件标准试块技术条件7.2 缺陷评定的相关标准缺陷评定的相关标准 （（1）焊缝：）焊缝：JB 4730-94 标准标准P45：：9.1.6---9.1.8.4 （（2））锻件：锻件：JB 4730-94 标准标准P28：：8.2.7 （（3））铸件：铸件：GB 7233-87 铸钢件超声探伤及质量评级方法铸钢件超声探伤及质量评级方法 标准汇编（标准汇编（I）） P151 JB 5439-91 压缩机球墨铸铁零件的超声波探伤压缩机球墨铸铁零件的超声波探伤 标准汇编（标准汇编（II）） P1122024/9/6777.3 检测规程检测规程7.3.1 检测规程制定和执行程序检测规程制定和执行程序l无损检测工程师和无损检测无损检测工程师和无损检测 III 级人员具有制定检测规程的资格；级人员具有制定检测规程的资格；l制定制定-审核审核-批准批准-使用使用l修定修定-审核审核-批准批准-使用使用7.3.2 检测规程的内容与检测规程的内容与格式格式l被检件相关参数被检件相关参数l检测标准检测标准l人员资格人员资格l设备与器材（仪器型号、探头、耦合剂等）设备与器材（仪器型号、探头、耦合剂等）l方法与技术（采用、扫查方式）方法与技术（采用、扫查方式）l验收标准验收标准l其他事项其他事项2024/9/6787.3.3 工艺卡工艺卡 一、一、工艺卡工艺卡的生成的生成二、工艺卡的执行二、工艺卡的执行2024/9/6798.结果的记录和评定结果的记录和评定8.1 记录记录8.2 评定评定 按按JB 4730-94解释解释标准标准8.3 报告报告2024/9/6809 特殊技术特殊技术9.1 自动和半自动技术自动和半自动技术9.2 数字技术数字技术一、模拟信号与数字信号一、模拟信号与数字信号l 模拟信号：振幅随时间连续变化的脉冲信号称为模拟模拟信号：振幅随时间连续变化的脉冲信号称为模拟信号信号l 数字信号：按一定时间间隔记录脉冲幅值的一组数据数字信号：按一定时间间隔记录脉冲幅值的一组数据称为数字信号称为数字信号l 模拟信号与数字信号之间的转换模拟信号与数字信号之间的转换---A/D转换转换2024/9/681二、数字（智能）超声仪二、数字（智能）超声仪lA型仪的特点型仪的特点显示：模拟量（连续波）；定位：线性对比；定量：当量法。

显示：模拟量（连续波）；定位：线性对比；定量：当量法优点：操作方便；成本低；实时性强优点：操作方便；成本低；实时性强局限：检测结果不能保存；定位、定量误差较大局限：检测结果不能保存；定位、定量误差较大l数字仪的特点和功能数字仪的特点和功能显显示示：：数数字字量量（（连连续续波波））；；定定位位：：数数学学计计算算；；定定量量：：数数学学计计算优点：检测结果能保存；定位、定量误差较小优点：检测结果能保存；定位、定量误差较小局限：操作复杂；成本较高；局限：操作复杂；成本较高；2024/9/682复习复习一、基础知识一、基础知识1.超声振动超声场的概念，什么是超声场？超声波产生超声振动超声场的概念，什么是超声场？超声波产生与传播的条件？正、负压电效应与传播的条件？正、负压电效应2.超声波的临界角概念及计算铝的临界角计算超声波的临界角概念及计算铝的临界角计算3.声场特性：指向性、近场区、扩散角声场特性：指向性、近场区、扩散角θ、、频率与晶片厚频率与晶片厚度的关系、度的关系、2024/9/6834.影响声速的主要因素影响声速的主要因素5.超声聚焦的条件、应用超声聚焦的条件、应用6.规则反射体距离改变、直径改变与回波的关系。

规则反射体距离改变、直径改变与回波的关系7.仪器上各旋钮的作用仪器上各旋钮的作用增益增益”“抑制抑制”“衰减器衰减器”的的作用2024/9/6848.超声频率与仪器重复频率的概念超声频率与仪器重复频率的概念9.二种介质分界面上二种介质分界面上垂直入射声波的声压关系（反射与透垂直入射声波的声压关系（反射与透过声压），与过声压），与Z的关系10.超声超声A、、B、、C扫描的概念扫描的概念11.超声检测对缺陷的敏感性超声检测对缺陷的敏感性 ：点状、面状缺陷；垂直、：点状、面状缺陷；垂直、平行入射平行入射2024/9/68512.MT、、PT、、ET能检测哪类缺陷？能检测哪类缺陷？13.[衰减器衰减器][抑制抑制] [增益增益]的作用14.牛角试块和半圆试块的声程走向及时基线调节牛角试块和半圆试块的声程走向及时基线调节15.超声衰减的原因超声衰减的原因16.粗糙表面探头的选择粗糙表面探头的选择17.用大平底校灵敏度的条件用大平底校灵敏度的条件18.指向角指向角θθx中，中，x的含义2024/9/686二、计算二、计算1.声透镜计算声透镜计算2.入射角与折射角（入射角与折射角（K值、临界角）计算值、临界角）计算3.厚壁管直探头在外径上探，用内壁调节灵敏度的计算厚壁管直探头在外径上探，用内壁调节灵敏度的计算4.不同深度平底孔回波计算不同深度平底孔回波计算5.水层计算水层计算6.缺陷声程定位（一、二次波）计算缺陷声程定位（一、二次波）计算7.近场计算近场计算8. 频率常数计算：若频率常数计算：若T=λ/2T=λ/2，，则：则：N Nt t = f T = C/2 = f T = C/2 2024/9/687三、标准三、标准1. 1. JB4730-94 JB4730-94 中的中的UTUT缺陷评定缺陷评定2. 2. 人员认证的职责人员认证的职责 2024/9/6882024/9/6892024/9/6902024/9/691实用实用AVG返回返回2024/9/692分贝曲线分贝曲线返回返回2024/9/693面板曲面板曲线线返回返回2024/9/694X射线产生示意图射线产生示意图返回返回 管电压决定射线的穿透力：管电压决定射线的穿透力： 硬射线、软射线硬射线、软射线2024/9/695γ射线的产生射线的产生返回返回2024/9/696射线照相检测原理射线照相检测原理射线吸收和强度减弱射线吸收和强度减弱 ：：  I= - I  d返回返回2024/9/697GB3323规定的透照方法规定的透照方法返回返回2024/9/698工业电视工业电视返回返回2024/9/699照相法与投照相法与投影关系影关系返回返回2024/9/6100裂纹裂纹 气孔气孔 未焊透未焊透返回返回2024/9/61012024/9/6102水平线性校准水平线性校准返回返回2024/9/6103水层计算水层计算返回返回2024/9/6104纵波和横波纵波和横波返回返回2024/9/6105超声波的反射、折射和波型转换超声波的反射、折射和波型转换返回返回2024/9/6106超声波在探测面、缺陷面与底面之间的传播与反射超声波在探测面、缺陷面与底面之间的传播与反射返回传播与反射返回传播与反射返回缺陷回波法返回缺陷回波法2024/9/6107超声波在底面的多次反射超声波在底面的多次反射返回返回2024/9/6108声振检测声振检测返回返回2024/9/6109返回返回压电效应压电效应 正压电效应 逆压电效应2024/9/6110聚焦和发散的条件聚焦和发散的条件返回返回2024/9/6111液浸（聚焦）法液浸（聚焦）法返回返回液浸（聚焦）法液浸（聚焦）法返回水浸聚焦、返回水浸聚焦、充水探头充水探头返回返回液浸技术液浸技术2024/9/6112双探头检测双探头检测返回返回2024/9/6113通用通用AVG返回返回2024/9/6114穿透法穿透法返回返回原理、方法与应用原理、方法与应用返回穿透法返回穿透法2024/9/6115IIW返回返回CSK-IA2024/9/6116CSK-IA返回返回IIW2024/9/6117IIW2返回返回2024/9/6118CS1/CS2 返回返回2024/9/6119半圆试块半圆试块返回返回2024/9/6120CSK-IIA CSK-IIIA返回返回2024/9/6121RB返回返回2024/9/6122钢板试块钢板试块返回返回2024/9/6123管子试块管子试块返回返回2024/9/6124多探头技术多探头技术返回返回2024/9/6125分辨率测定分辨率测定返回返回2024/9/6126斜探头分辨率斜探头分辨率返回返回ABC2024/9/6127双晶探头双晶探头返回返回隔声层隔声层压电晶体压电晶体2024/9/6128灵敏度余量测试灵敏度余量测试返回直探头返回直探头返回斜探头返回斜探头返回灵敏度返回灵敏度返回斜探头灵敏度返回斜探头灵敏度2024/9/6129盲区测定盲区测定返回返回盲区测定盲区测定1返回盲区测定返回盲区测定2返回分辨率测定返回分辨率测定2024/9/6130入射点、入射点、K值测定值测定返回返回K≤1.51.5 ＜＜ K ≤ 2.5＞＞2.52024/9/6131声束偏转角测试声束偏转角测试返回返回2024/9/6132声束特性声束特性返回返回2024/9/6133始脉冲宽度测试始脉冲宽度测试返回返回2024/9/6134双峰探头双峰探头返回返回2024/9/6135直探头直探头返回返回2024/9/6136斜探头斜探头返回返回2024/9/6137斜探头声束特性斜探头声束特性返回返回2024/9/6138返回返回2024/9/61392024/9/6140全浸没式和局部浸没式全浸没式和局部浸没式返回返回2024/9/6141自动检测系统自动检测系统（（2））返回返回2024/9/6142自动检测系统自动检测系统（（1））下一张下一张2024/9/6143智能化：裂纹低倍图智能化：裂纹低倍图返回返回上一上一张张2024/9/6144智能化：计算机模拟图智能化：计算机模拟图下一张下一张2024/9/6145数字信号数字信号返回返回2024/9/61462024/9/6147漏磁场漏磁场返回返回2024/9/6148剩磁剩磁返回返回2024/9/6149分子压强分子压强返回返回2024/9/6150液体润湿液体润湿返回返回2024/9/6151毛细现象毛细现象返回返回2024/9/6152操作的基本步骤操作的基本步骤返回返回2024/9/6153螺栓裂纹螺栓裂纹下一张下一张2024/9/6154气阀门（铜）上的裂纹气阀门（铜）上的裂纹返回返回上一张上一张2024/9/6155涡流涡流返回返回2024/9/6156裂纹对涡流的影响裂纹对涡流的影响返回返回2024/9/6157涡流检测方式涡流检测方式返回返回2024/9/6158上课教师上课教师 屠耀元屠耀元 简介简介l华东理工大学无损检测教研室华东理工大学无损检测教研室 原主任、教授原主任、教授l中国机械工程学会无损检测学会中国机械工程学会无损检测学会 常务理事常务理事 无损检测学会无损检测信息中心无损检测学会无损检测信息中心 主任主任 无损检测学会教育培训科普工作委员会无损检测学会教育培训科普工作委员会 主任主任 | 无损检测无损检测黄页黄页/蓝页蓝页 | 无损检测信息总无损检测信息总汇汇l上海斯耐特无损检测技术有限公司上海斯耐特无损检测技术有限公司 总经理总经理 计算机软硬件开发计算机软硬件开发 | 无损检测八技服务无损检测八技服务 | 无损检测设备与备件零售无损检测设备与备件零售l电电 话话: : (021) 64252964 64238320 l Email: ddy0114@ l 邮邮 编编: 200237 上海市梅陇路上海市梅陇路130130号华东理工大学号华东理工大学522522信箱信箱返回返回2024/9/61592024/9/6160屠耀元联系地址：屠耀元联系地址：电电 话话: (021) 64252964 64238320 Email: ddy0114@ 邮邮 件件: 200237 上海市梅陇路上海市梅陇路130号号华东理工大学华东理工大学522信箱信箱2024/9/6161。