SD卡、TF卡检验作业指导书HP-WI-QREVA.doc

HP-WI-Q069 REV:A.0SD卡检验作业指导书 Page 1 of 2SD卡\TF 卡检验作业指导书（HP-WI-Q069，第 A.0版）修订履历版本 日期 修改章节 修改理由或内容 拟制A.0 2010-2-23 新起草 刘涛是否需会签 □不需会签 ■需会签会签部门分发范围□总 办 □行政人事部 □研发中心 □财务部 □营销中心 □国际营销部 □产品企划部 □市场部 □工程部 □资材部 □生产部 □售后部 ■质量部 □文控中心 拟制 刘涛 2010-2-23 审核 批准 HP-WI-Q069 REV:A.0SD卡检验作业指导书 Page 2 of 21、目的为确保本公司 IQC 检验员对 SD、TF 卡来料有明确的检验依据及判断基准，而制定本标准。

2、范围适用于所有 SD、TF 卡来料3、职责3.1本标准由质量部 IQC组制定，经部门主管/经理核准后交文控发行3.2所制定之规格及标准如有修改时，须经原制订部门同意后方可修改 3.3所有 SD卡经供应商送于来司，IQC 均需按此标准检验4、抽样水准4.1所有物料均按照 GB/T 2828.1-2003 逐步检验抽样计划进行抽样检验4.2判定标准：AQL 取值AQL:CR=0 MA=0.4 MI=1.04.3 当一个产品含有两个或以上缺点时，以较严重之缺点为判定5、检测条件视力：具有正常视力 1.0---1.2 视力和色感照度：正常日光灯，室内无日光时用 40W日光灯或 60W普通灯泡的照度为标准目测距离： 眼睛距离产品 30--40CM为准观察时间：<10 秒 (每个可见平面需要 3秒)6、SD 卡检验标准检验内容 缺 陷 分 类NO. 检验项目验收标准 验收方法及工具 CR MA MI1 内存 内存大小符合承认范围 电脑测试 √2 丝印 与样品一致 目测 √3 外观检查 外表无机械损坏，脱落，变形等异常现象，引脚无锈 蚀或不洁 目测 √4 外观尺寸 符合设计要求 游标卡尺 √9 包装 包装良好, 随附出厂时间及检验合格证 目测 √7、支持性文件《来料检验规范》 HP-WI-Q0048、相关记录《IQC 检验报告》 HP-FM-Q009。