实验四连续系统串联校正.pdf
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实验四连续系统串联校正一、实验目的1. 加深理解串联校正装置对系统动态性能的校正作用2. 对给定系统进行串联校正设计，并通过模拟实验检验设计的正确性二、实验仪器1．EL-AT-II型自动控制系统实验箱一台2．计算机一台三、实验内容1．串联超前校正（1）系统模拟电路图如图4-1 ，图中开关S断开对应未校情况，接通对应超前校正图 4-1 超前校正电路图（2）系统结构图如图4-2 图 4-2 超前校正系统结构图图中 Gc1（s）=2 2（0.055s+1 ）Gc2（ s）= 0.005s+1 2 ．串联滞后校正（1）模拟电路图如图4-3 ，开关 s 断开对应未校状态，接通对应滞后校正图 4-3 滞后校正模拟电路图（2）系统结构图示如图4-4 图 4-4 滞后系统结构图图中 Gc1(s）=10 10（ s+1）Gc2（s）= 11s+1 四、实验步骤1. 启动计算机，在桌面双击图标 [ 自动控制理论 ] 运行软件2. 测试计算机与实验箱的通信是否正常, 通信正常继续如通信不正常查找原因使通信正常后才可以继续进行实验。
超前校正：3. 连接被测量典型环节的模拟电路( 图 4-1) 电路的输入U1接 A/D、 D/A 卡的 DA1输出，电路的输出U2接 A/D、 D/A 卡的 AD1输入检查无误后接通电源4. 开关 s 放在断开位置5. 选中 [ 实验课题→连续系统串联校正→超前校正] 菜单项 , 鼠标单击将弹出参数设置窗口 系统加入阶跃信号参数设置完成后鼠标单击确认测量系统阶跃响应，并记录超调量p 和调节时间ts 6. 开关 s 接通，重复步骤5, 将两次所测的波形进行比较并将测量结果记入下表1 中：滞后校正：7. 连接被测量典型环节的模拟电路( 图 4-3) 电路的输入U1接 A/D、 D/A 卡的 DA1输出，电路的输出U2接 A/D、 D/A 卡的 AD1输入检查无误后接通电源8. 开关 s 放在断开位置9. 选中 [ 实验课题→连续系统串联校正→滞后校正] 菜单项 , 鼠标单击将弹出参数设置窗口 系统加入阶跃信号参数设置完成后鼠标单击确认测量系统阶跃响应，并记录超调量p 和调节时间ts 10. 开关 s 接通，重复步骤9, 将两次所测的波形进行比较并将测量结果记入下表2中：五、实验结果及分析1.将实验中测得的曲线、数据及理论计算值，整理列表。
表格 1超前校正系统指标校正前校正后阶跃响应曲线δ% Tp（秒）Ts（秒）表格 2滞后校正系统指标校正前校正后阶跃响应曲线δ% Tp（秒）Ts（秒）2、实验分析（比较校正前后系统的阶跃响应曲线及性能指标，说明校正装置的作用六、实验心得。
