第1期LED道路照明现场检测数据.doc

第1期LED道路照明现场检测数据 芯片测试结果分析一．测试说明 第二轮发布器件数据由国家半导体器件质量监督检验中心（中电科第十三所）测试提供，发布的数据均为2009年8月-9月测试结果所测器件均为国产化外延芯片封装，测试方法标准为 SJ/T 2355-2005半导体发光器件测试方法二．相关概念界定1.光效η 光效也称为光源的发光效率或者光源的功率因素，表征从光源中射出的光通量与光源所消耗的电功率之比即η=φ/E其中η为光效，φ为光源辐射的光能量，E为光源的功率2.色温Tc 光源的光辐射所呈现的颜色与在某一温度下黑体辐射的颜色相同时，称黑体的温度（）为光源的色温度对于相对光谱功率分布偏离黑体相对光谱功率分布较远的光源，用色度坐标与其最靠近的黑体温度来表示该光源的相关色温()3.显色性 用日光标准（参照光源），将人工光源（待测光源）与其比较，显示同色观测结果的性能叫做该人工光源的显色性显色性指数最高为100显色性指数的高低，就表示物体在待测光源下"变色"和"失真"的程度4.光衰 经过一段时间的点亮后,LED光强会比原来的光强要低,而低了的部分就是LED的光衰.本测试是在70℃的条件下，以700mA的直流电连续点亮LED 48小时来对比其点亮前后的光强。

5.热阻 物体对热量传导的阻碍效果热阻的单位为℃/W，即物体持续传热功率为1W时，导热路径两端的温差热阻值一般常用θ或是R表示，℃/W数值越低，表示芯片中的热量向外界传导越快因此，降低了芯片中PN结的温度有利于LED寿命的延长三.测试数据分析 本轮发布数据包括：350mA 大功率白光LED结果（老化前） 350mA 大功率白光LED结果（老化后） 350mA 大功率白光LED老化前结果如图1、图2所示从图1可以看出目前国产化大功率白光LED的光效主要集中在70-100lm/w，占到60%，部分器件光效达到100lm/w以上，表明国产芯片水平进步很大从图2中可以看出器件色温基本集中在5000-6000K左右，显色指数集中在65-75，还需进一步改进，提高器件光学性能图1. 350mA 大功率白光LED老化前光效分布图图2. 350mA大功率白光LED老化前光效、显色指数、色温对应图 350mA 大功率白光LED老化后结果如图3、图4、图5所示从图3可以看出，老化后器件光效有所下降，100lm/W以上的器件比例由老化前的6.5%下降到2.8%，部分老化前在80-100lm/W的器件光效降到70-80lm/W。

老化前后光效分布对比见图4所示图5给出了老化后光效、显色指数、色温对应图，可以发现老化后显色指数变化不大，仍然集中在65-75，但部分器件色温偏差较大，达到7000以上图3. 350mA 大功率白光LED老化后光效分布图图4. 老化前后光效分布对比图5. 350mA大功率白光LED老化后光效、显色指数、色温对应图 350mA大功率白光LED老化后光衰和热阻分布见图6、图7所示图6中，光衰在3%以下的器件占到16%，5%以下的器件占到32%，同时有28%的器件光衰达到10%以上，表明国产器件的可靠性问题仍然很严重图7中，热阻在9K/W以下的器件只占到48%，散热性能有待进一步提高图6. 350mA大功率白光LED老化后光衰分布图图7. 350mA大功率白光LED老化后光衰分布图 综上所述，目前大功率芯片存在高光效低显色指数的问题，下一步研究的重点应在提高光效的同时保证品质国产芯片水平进步较大，与国际差距减小但光衰和热阻还需进一步改进，提高LED器件的可靠性测得的LED器件性能分散性较大，表明国内外延芯片和封装企业水平参差不齐，应尽快建立公共检测平台标准，规范应用市场，部分具有核心竞争力的国内企业有望大规模进入应用市场。

检验技术范围：　　1.抽样检验：以“MIL-STD-105E”即“AQL”标准为准或客人指定标准　　2.产品外观：尺寸、颜色、造型、结构、做工等　　3.产品性能：（实际操作）　　4.产品安全性：刺手、漏电、运输安全（Drop test）等　　5.包装：外箱、内盒、标识、产品本身包装等　　6.测试：常规测试：跌落、油漆粘附力、拉力、高压、老化、燃点（蜡烛）等100 。