基于OTDR原理的光网络智能测试技术方案
4页1、基于OTDR原理的光网络智能测试技术方案来源:互联网随着光通信行业的大力发展,光缆大规模部署,光网络如何全面地测试成了运营商面临的主要问题。传统的测试方式有两种:光损测试和OTDR测试法。光损测试采用光源和光功率计相结合来测试光链路的损耗,其优点是设备价格低廉,使用简单,但是需要两名技术人员才能完成,并且无法准确定位光链路的故障点及其原因。OTDR测试可以测量光纤长度、传输衰减、接头衰减和故障定位,具有测试时间短、速度快和精度高等优点,但是使用OTDR测试,测试人员对测试结果有不同的解读,很大程度上取决于使用者的经验和能力,只有专家级的测试人员才能准确完成测试。这两种测量方式都已经无法满足快速简单、准确全面的测试要求。目前,业界提出一种智能测试技术,它以OTDR原理为基础,采用链路感知技术,快速确定光链路的元件组成,分析光链路的状态,诊断光链路的故障原因。测试人员不需要专业的技术知识即可快速、准确的完成光网络的测试。1链路感知技术原理链路感知技术的基本原理是:基于OTDR技术,采用不同的脉宽对光网络进行多次数据采集,使用短脉宽检测光纤近距离部分,用长脉宽检测光纤远端部分,最后合并、综合
2、分析采集的数据,得出光纤链路的元件组成,诊断光纤链路的状态及故障原因。通常,利用OTDR技术测量光纤链路时,需要使用合适的脉宽,然而单一脉宽的选择会带来一定的问题,用长脉宽(大于320ns)测量时,会丢失很多器件的信息,很多接头的衰减无法准确计算;用短脉宽(小于80ns)测量时,虽然能获得光纤链路中较小的细节,但是在PON网络中难以穿透分光器,无法获得端到端的损耗值。链路感知技术同时集成了长脉宽与短脉宽的优势,可充分感知光链路的状态。2光网络智能测试技术方案光网络智能测试技术的实现需要向光纤链路注入一定的光脉冲信号,通过接收光纤的后向散射和反射信号来分析光链路的组成。在硬件上,包括激光脉冲发射电路,光信号的接收光路和电路,信号采集电路,软件上包括数据处理与分析以及最终的结果显示。总体方案如图1所示。图1总体方案框图通常,激光器的波长选择1310nm或者1550nm.激光脉冲发射电路使用高速FPGA来控制激光器,通过FPGA的严格精确的时序来产生精确的脉冲宽度,并能根据脉宽的大小自适应地控制激光器的发射功率。接收光路采用APD光电探测器,将接收到的光信号转换成电信号,同时在电路上使用高性
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