射频微波器件测试解决方案
69页1、Agilent 射频与微波器件测试解决方案射频与微波器件测试解决方案 Agilent Measurement Forum 议程议程 射频微波器件及测试技术发展 Agilent 网络仪产品:PNA-X,E5061B 频率源测试技术 微波器件的系统级参数测试 热点技术问题的解决方案 有源电路非线性参数测试和建模分析 脉冲器件测试 混频器测试 噪声系数测试 太赫兹测试 Agilent Measurement Forum 电子系统对微波电路的要求电子系统对微波电路的要求 雷达系统雷达系统卫星系统卫星系统军用通信系统军用通信系统 宽频段 高功率 低噪声 线性好 高效率 低成本 Agilent Measurement Forum 微波半导体器件技术的发展微波半导体器件技术的发展 Agilent Measurement Forum 射频多芯片封装技术射频多芯片封装技术SIP Agilent Measurement Forum 系统中的射频微波器件系统中的射频微波器件 Mixer Test Single Connection: Gain compression, IMD, noise figure,
2、harmonics, true differential, PAE, hot S22 Amplifier Test T/R Module TestPulsed RF and DC On wafer OSC&PLL Agilent Measurement Forum 射频微波器件测试要求射频微波器件测试要求 器件线性特性测试 S参数,增益,反射,相位非线性,群时延,隔离度等 器件非线性特性测试 增益压缩,交调,谐波,杂散 变频器件和通道测试 变频增益,相位,群时延, 模块一致性测试 幅度一致性,相位一致性 噪声特性测试 相位噪声,噪声系数 器件功率特性测试 峰值功率,脉内功率,平均功率,功率下降 复杂激励下器件和通道特性测试 线性调制线性度,干扰测试,临道功率比测试 脉冲特性测试 脉冲边沿,过冲 Agilent Measurement Forum 微波电路测试的挑战微波电路测试的挑战 测试应用测试应用对测试仪表的要求对测试仪表的要求 功率放大器测试功率放大器测试 仪表提供满足要求的大功率激励信号。 仪表对大功率的承载能力,大功率状态仪表的校准问题和被测件参数测试。 热状态下S22参数测试
3、。 非线性参数的建模和非线性参数的测试 低噪声放大器低噪声放大器 完整的性能参数测试,包含传输反射参数,非线性参数,噪声系数。 小功率激励状态下仪表的测试精度 小噪声系数的精确测试,噪声参数的建模 混频器测试混频器测试 混频器完整传输反射参数测试,混频器传输相位参数测试 混频器各种工作模式下参数的测试(固定中频,固定本振等) 混频器本振信号的提供 T/R组件测试组件测试 脉冲的测试应用,脉冲状态下扫频合时域参数的测试。仪表满足各种脉冲宽度的测试要求。 脉冲状态下仪表的测试精度,特别是相位参数测试精度。 T/R组件增益参数大动态范围可控,需要仪表在具备相应的测试动态范围。 仪表的测试速度。 平衡器件测试平衡器件测试 完整的差分和共模混合S参数测试 真实的差分激励状态的参数测试 功率扫描模式下参数测试 Agilent Measurement Forum 器件测试新思路器件测试新思路 单次连接多参数测量单次连接多参数测量SCMM Gain, match, isolation Pulsed-RF IMD, harmonics, spurs 不仅仅是不仅仅是VNA,还是,还是 可内部和路的双源
4、矢量噪声系数分析 脉冲调制器和发生器 频谱仪 非线性分析 节省节省 时间时间, , 资金资金, , 尺寸尺寸, , 维修成本维修成本 改善改善 精度精度, , 速度,速度, 指标指标 Agilent Measurement Forum Page 10 Welcome to the PNA-X January 2009 关键模块微波特性测试系统关键模块微波特性测试系统 N8241A 1GHz E8267D Vector PSG Source NPR / 复杂信号激励复杂信号激励 80MHz or 1GHz BW Options 校准标准校准标准 N5242/4A PNA-X 单音或双音单音或双音CW测试,脉冲测试测试,脉冲测试 噪声测试,噪声测试,NVNA N9030A PXA 频谱分析频谱分析& NPR测试测试 解调分析解调分析 Scopes / Digitizers / VSA Software 外部源和信号分析外部源和信号分析 仪连接网络仪后背仪连接网络仪后背 板连接点,所有测板连接点,所有测 试使用同一个测试试使用同一个测试 通路通路 Power Sensor, E-Cal, N
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