变压器制作流程-电子变压器特性量测

变压器制作流程-电子变压器特性量测                          电子变压器特性量测：电感量:LS定义：电压与电流时间变化之比例系数，测量的目的在检查使用磁芯之导磁系数U，机械尺寸完整性及绝对绕线圈数。一般采用LCR meter例：HP4282、CH1061、CH1062等数字电桥。电感的测试条件应与变压器的工作条件相一致，由于变压器磁芯磁化曲线的非线性，当频率、交流电压、直流磁化电流变化时，磁芯的有效导磁率也随着变化，从而引起电感的变化。测试条件：a、测试频率；                       b、变压器两端的交流电压；c、测试电路的模式（串/并联）        d、直流磁化电流；（当有需要加偏流时）1.测试前首先应调整归零，并采用4线制测试以扣除测试线电感与测试线电阻的影响。2.为什么要采用4线制测量？与2线制测量有什么差别？2线制测量时，配线（测试线）阻抗与接触阻抗会在测量结果中呈现出来，两者均会造成测量结果误差。而4线制测量则可扣除这些影响。 直流电阻（DCR）：铜线的电阻：测量的目的在检查出PIN焊点，铜线材料的使用，线股数、断线及设计线长等。直流电阻影响变压器的效率、温升、电压调整率等技术指标。常用欧姆表或专用的直流电阻测试仪等电桥。由于电阻温度系数的影响，在不同温度下直流电阻值也不同，一般以+20时的电阻为基准，（如客户对直流电阻的基准温度有特殊要求时，以客户为准，SPI：25时的DCR）。 A：20的DCR=室温的DCR/1+0.0039*(测温-20)B：234.5+T1/R1=234.5+T2/R2 铜的零电阻温度为-234.5、T1、T2为不同测温，R1、R2为T1、T2不同测温下的直流电阻值。直流电阻与温度成正比关系。  测试前应作短路归零，（对于1以下的电阻值测量归零必须达到小数点后两位为零，并采用毫欧档测试读值较准确）。 漏电感：LK漏磁束切割形成之等效感量。测量的目的在检查磁芯导磁系数U及绕线状况所形成的耦合系数。使用测试仪器及测试条件同测量电感相同，当测初级漏感时，次级绕组作短路，短路时注意PIN与短路线应接触良好，并使用电阻值较小的导线作短路线。 圈数比：TR主、次级（一、二次侧）之绕线比例。测量的目的在检查绕线比例及耦合系数： V2/V1K*N2/N1 耦合系数K偏低时误差偏大.所以在制程中发现当气隙越大时，其匝比偏差越大，而用平面磁芯测试则OK。常用Zentech301测试圈数比，Zentech3200系列测圈数。测试条件：频率、电压；测试方法：设定、主、次级的圈数，比值。同时为避免比值太大造成误差，常将次绕组串联测试。 相位：PH绕线方向：测试目的在检查主、次级的绕线方向及挂线的PIN位。测试方法等同圈数比。 耐压：HI-POT绝缘材料在印加指定电压时之漏电流；测试的目的在检查测点间之绝缘状况是否合乎安全规定。  使用测试仪器为耐压/绝缘电阻测试仪。测试方法：设定电压、漏电流及时间，测试过程中绕组不应有灼热、飞弧、击穿或损坏的迹象。制程中如要求之测试时间为1分钟或以上，可采用升高1.2倍电压的方式（例：3600V升高1.2倍就是4320V），改为测试时间2-3秒。 绝缘电阻：IR绝缘材料在印加指定电压时之电阻。测试的目的在检查测点间之绝缘状况是否合乎电气设计要求。使用测试仪器同耐压测试或专用绝缘电阻测试仪。测试绝缘电阻的直流电压为500V。常态下绝缘电阻应大于100M。 分布电容：CP线圈间之杂散静电容量。测量的目的在检查线圈间之距离，绝缘材料及隔离设计。使用测试仪器同电感测试仪。测试方法：设定条件：频率、电压；选择测试档位为C，测试模式为并联，采用开路归零的方式。 PIN短路：PS不应导通的PIN脚之间短路。测试的目的在检查线圈间之漆包线破皮或焊锡造成PIN间之短路。使用仪器同电感测试等。测试方法：测不应导通之间的两PIN脚间是否会有导通现象。 阻抗：Z次级在额定负载阻抗下，变压器输入端（初级）所呈现的阻抗。测试的目的在检查绕线的线径，排线状况及阻抗匹配及非线性失真的设计。使用的仪器：同电感测试。测试方法：使用电桥的 Z  档，一般采用中频1KHZ，次级并联1个负载电阻。 层间短路：LY（匝间耐压） 同一线圈之绕组层与层或圈与圈之间的短路及耐压不良。测试的目的在检查漆包线（层/圈间）或绝缘材料（层间）之绝缘不良或耐压设计不良。使用测仪器为专用层间耐压测试仪，如：怡和6815。测试方法：测试电压大于输入电压波最大额定峰值电压的两倍，其测试频率一般使用周期不大于预期工作波形的有效最短的半周期，测试时间1分钟。